JPH01169640A - 情報処理装置の擬似障害発生方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、擬似障害発生方式に関し、特に自己診断・回
復機能を有する情報処理装置の擬似的障害発生方式に関
するものである。

〔従来の技術〕

情報処理装置の製品出荷にあたっては、その全ての機能
について事前に正常性を検査、確認する必要があるが、
誤動作検出機構、ことに再実行機能の検査は困難である
。すなわち、装置は当然のことながら、正常な状態にお
いては、誤動作を起こさないように設計されているので
、検出機構の正常性は通常では検証できない。また、再
実行機能はインタミツテントな誤動作を想定しているた
め、ますます検証が困難となる。

従来、装置の誤動作検出機構と再実行機能を検証するた
めの障害発生方式には次のようなものがある。

（１）リバースパリティ方式 強制的にパリティビットを反転させ障害を発生させる方
式。

（２）マスターチエツク方式 チエツクラッチの集合体であるマスターチエツク出力を
１にセットシて障害を発生させる方式。

（３）エラーインジェット方式 パネルまたはサービスプロセッサ等からアドレスコンベ
アアドレス、および障害を発生させたいラッチを指定し
、マイクロ命令アドレスまたは命令アドレスとアドレス
コンベアアドレスが一致した時に、前記で指定したラッ
チを強制的に点灯させる方式。

（４）ワンショットスキャンイン方式 処理装置のイニシャル情報の設定やログアウトのために
設けられているスキャン手段。

特にスキャンイン機能を用いて、装置の各レジスタに割
当てされたスキャンアドレスで１−ビットのレジスタを
指定し、指定したレジスタにスキャンインして障害を発
生させる方式。

この方式は、指定したルジスタにスキャンインする意味
からワンショッ１−スキャンイン方式と呼ばれる。この
種の方式で、プログラムからスキャンアドレスおよび障
害発生時点（プログラムから指定したアドレス比較アド
レスと、たとえば、マイクロ命令アドレスが一致した時
）を設定できるように工夫した例としては、特公昭５８
−３３５７９号公報などがある。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記（１）の方式は、強制的にパリティピットを反転さ
せパリティエラーを発生させるため、装置のいたる所で
パリティエラーが発生し、再実行機能の確認には至らな
い。上記（２）の方式は、マスタチエツクを１とするた
め、再実行機能の一応の確認は取れるが、本来のチエツ
クラッチが点灯しているわけでもないため、障害処理の
詳細な検証には至らないこと、および障害検出機構（た
とえば、パリティチエツク回路）からマスターチエツク
ラッチに至る検証が取れない不都合点がある。

上記（３）の方式は、一応、任意の一般チェックラッチ
や一般データラッチを使用して障害検証ができるが、パ
ネル、サービスプロセッサから人手で、障害検証に必要
な値を設定しなければならないため障害の検証に多大な
時間と労力が必要なこと、および障害検証の再現性に乏
しい問題がある。

上記（４）の方式は、プログラムから特殊命令にて擬似
的な障害発生に必要なデータを設定できるために一般命
令とのデス１〜組合せが簡単にできるが、障害を発生さ
せるためのスキャンイン時面が通常論理動作タイミング
とは全く非同期にラッチを１にするため、論理動作タイ
ミングとスキャンイン信号の時間関係により指定したラ
ッチに障害を発生させても、期待する障害検出回路以外
の障害検出回路にて障害を検出してしまうケースが発生
し、期待する再実行結果が得られない問題がある。

第５図（ａ）は、従来のワンショッ１〜スキャンの問題
点を説明するため論理構成図を示す。その構成は、２重
化されたランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ５０．ＲＡＭ
５１）とランダムアクセスメモリの出力レジスタＡＯＲ
５２，ＡｌＲ５３及びセレクタ回路５ＥＬ５４と５ＥＬ
５４出力信号が接続されるレジスタＢＲ５５から成り、
各レジスタにはパリティチエツク回路５６とチエツクラ
ッチ（ＥＲＯＡ５７．ＥＲＩＡ５８．ＥＲＢ５９）を具
備している。

また、セレクター回路５４の入カセレクト信号はレジス
タＡＯＲ５２のパリティチエツク５６の出力信号により
制御され、レジスタＡＯＲでパリティエラー検出時はレ
ジスタＡｌＲ５３出力をセレクトする。

本構成において２重化論理が正常に動作するかのテス１
〜をレジスタＡＯＲ５２中のある１ピッｌ−をワンショ
ットスキャイン信号（図中：○５ＳＩＴ）により、パリ
ティエラーになる値に擬似障害を注入し行なう時に、期
待するチエツクラッチはＥＲＯＡ５７のみであるが、第
５図（ｂ）のタイムチャートに示す様に、０８ＳＩＴ信
号がレジスタ八０Ｒ５２の更新タイミングＴｏとＢＲ５
５の更新タイミングＴ２の間に変化すると、レジスタ八
〇Ｒ５２の擬似障害がＢＲ５５に伝帳し、チエツクラッ
チＦＲＢが点灯してしまう。それゆえに期待する障害処
理結果が得られない問題があった。

また別の問題としては、複数処理装置から成るシステム
で障害試験をする場合、（１）各処理装置から共通使用
可能な場所、（２）他処理装置から入いるリフニスＩ・
信号により影響を受ける場所の障害テストは、障害試験
側処理でしかけた擬似障害を他装置からのアクセスした
時に障害を検出してしまうため、障害処理期待を誤まる
という問題があった。上記（」）の場所としては、ダイ
アデック処理装置における主記憶装置制御部内に持つＫ
ＥＹス１〜レージなどがあげられ、（２）としては他処
理装置からのバッファ記憶装置キャンセル要求で影響を
受ける場所などがある。なぜなら主記憶装置を共通に利
用するシステムでかつ主記憶装置の写しであるバッファ
記憶装置を各処理装置内に持つシステムでは、−台の処
理装置からストア動作が発生すると、他処理装置内のバ
ッファ記憶装置内にス１〜ア動作で書換られた内容があ
るか否かをチエツクし、あればキャンセルする必要があ
るため、他処理装置からのリクエストによって障害が発
生してしまう。

本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、自己
診断・回復機能を有する情報処理装置において、通常で
は検証困難な障害処理、再実行機能の検証を、人手をか
けずに行える情報処理装置の擬似障害発生方式を提供す
ることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決するため、本発明の情報処理装置の擬
似障害発生方式は、装置の自己診断・回復手段を有する
１台または複数台の情報処理装置を備え、各情報処理装
置内には通常の動作制御回路とは全く独立に装置内部の
レジスタをアドレス指定してセット、リセットするスキ
ャンイン手段と、該スキャンイン手段が動作開始に必要
な情報を特殊な命令により設定する手段とを具備したシ
アー ステムにおいて、各情報処理装置は上記命令でアドレス
指定されたレジスタを、通常の動作制御回路の状態とは
全く独立にレジスタ使用タイミングに同期させてセット
またはりセラ１へし、後刻実行される一般命令処理中に
擬似障害を発生させ、さらに複数台の情報処理装置から
共通に使用されるアクセス場所の障害試験を行う時に、
擬似障害をしかけた時点から擬似障害を検出するまでの
間、擬似障害をしかけた情報処理装置以外の情報処理装
置から共通アクセス場所へのアクセスを凍結させること
に特徴がある。

〔作用〕

本発明においては、擬似的な障害を発生させるための信
号、スキャンイン信号は通常論理動作でラッチ、レジス
タを更新する動作タイミングと同期して動作するため、
通常論理動作とスキャンイン信号が同時に発行されても
、プログラムで指定したレジスタに擬似的障害を作るこ
とができ、意図した障害検出機構の検証ができる。また
、複数の処理装置から共通の場所の障害試験も他処理装
置を意識することなくできる。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を、図面により詳細に説明する
。

第１図は、本発明の一実施例を示す情報処理装置の擬似
障害発生方式の全体構成図である。

第１図において、コントロールメモリ２はマイクロプロ
グラムを格納しておくメモリで、マイクロ命令アドレス
レジスタ１によってアクセスされ、読出したデータがマ
イクロ命令レジスタ３にセットされる。アドレス比較レ
ジスタ４．スキャンアドレスレジスタ６および、スキャ
ンインデータレジスタ７は、セットデータ線２０を介し
てプログラムからの特殊な命令により上記３つのレジス
タにデータセットすることが可能なことを意味している
。

スキャン制御部８は、ログアウトなど通常のスキャンイ
ン、スキャンアウトする時に制御を司どる制御部で、各
種信号を出力するが、ここではスキャンイン信号２３．
スキャンインデータ線２４が示されている。本実施例で
はマイクロ命令アドレスレジスタ１とアドレス比較レジ
スタ４の内容をアドレス比較回路５で比較し、その出力
がオア回路９ａでオアされ、スキャンインデータインタ
フェース線２５として、スキャンイン信号同期回路１１
に送出される。また、スキャンインデータレジスタ７の
出力線２２が、オア回路９ｂでオアされ、スキャンイン
データインタフェース線２６として、装置各部に送出さ
れる。同様にスキャンアドレスレジスタ６の出力線２１
も装置各部に送出される。

受信側では、装置の各レジスタにあらかじめ割当てされ
ているスキャンアドレスを９停るため、スキャンアドレ
スレジスタ出力線２Ｊの内容を、スキャンアドレスデコ
ード回路１０でデコードし、該当フリップフロップアド
レス２７を作り出す。

またスキャンインデータインタフェース線２５は、受信
側で各レジスタの各々のタイミングに合わせられるよう
に、スキャンイン信号同期回路↑１で同期化される。フ
リップフロップ１４は、通常動作時はタイミンクＴｏで
、データ線２８をセラＩ・し使用されている。スキャン
インの時は、対象フリップフロップを指定するアドレス
線２７．スキャンインデータインタフェース線２６．お
よびスキャンイン信号同期回路１１出力線で指定された
値がアンド回路１２．ノット回路１３を通してフリップ
フロップ１４に接続される。

次に擬似障害を発生させる時の動作モードについて述べ
る。プログラムから擬似障害を発生させたい場所（スキ
ャンアドレス）、擬似障害にしたい値（スキャンインデ
ータ）および、障害を発生させたい時点（アイクロ命令
コンベアアドレス）を表現した値を特殊な命令２例えば
診断命令でスキャンアドレスレジスタ６、スキャンイン
データレジスタ７および、アドレス比較レジスタ４にセ
ラＩ・する。以下の準備の後、試験プログラム走行に移
る。

擬似障害発生設定時点にくるとマイクロ命令アドレス１
ノジスタ１−とアドレス比較１ノジスタ４の一致が比較
回路５で検出され、その出力がオア回路９ａで通常スキ
ャン信号とオアされた後、装置各−１１＝ 部に配られる。一方、スキャンアドレスレジスタ６は、
デコード回路１０でデコードされ、対象フリップフロッ
プが指定される。このデコード回路１０で指定されたフ
リップフロップ１４は、通常動作を実行中ながら、強制
的にフリップフロップタイミングに同期してスキャンイ
ンが行われ、見かけ上インターミツテン１−な障害があ
ったのと同じ状態を作る。以後は装置の機能に基づいて
障害処理、再実行が行われ装置の正常性の検証が可能と
なる。

第２図は、第１図の破線１００内と同様な論理を別方法
で表したフリップフロップへの同期化スキャンイン例を
示す図である。

通常論理タイミングとスキャンイン時の同期化は同一タ
イミングをスキャンイン時も使用することにより行って
いる。

第３図は、複数処理装置から共通に使用可能な場所をテ
ス１−するために、必要な機能を具備した装置のシステ
ム構成例を示す図である。

本システムは、２台の処理装置３０．この処理装［３０
から発行されるリクエスト要求を受は付ける主記憶装置
制御ユニッ１〜（以下、ＳＣという）３４および主記憶
装置３６から構成され、各処理装置３０内には、他処理
装置から５Ｃ３４に対するリクエスト要求の凍結を指示
するＳＣフリーズラッチ３１を持つ。

また５Ｃ３４内にはＳＣリクエスト要求制御部３５を有
し、この制御部３５に各処理装置３０からリクエスト要
求信号３２．他装置リクエスト要゛　未凍結指示線３３
が接続されている。

処理装置」二の共通部の障害機能を認識するために、必
要な動作例を第４図の共通部テストフロー図を基にして
説明する。１台の処理装置が共通部の障害機能テストプ
ログラム実行中に、もう１台の処理装置は障害機能テス
トプログラム以外の一般命令テストプログラムを走行で
きることは、独立に２台の処理装置のテス１−ができ、
装置のテスト効率向上に良い。しかし、本実施例では、
障害機能テストプログラム処理側の処理装置から発行し
た擬似障害を、一般命令実行側の処理装置で検出を防ぐ
ため、障害機能処理側の処理装置は、第４図に示す手順
（ステップ）でプログラムを組み実行する。ここで、ス
テップ中、＊は特殊な命令を意味する。

まず、ＳＣフリーズ開始命令を実行する。この命令を実
行すると、処理装置３０内のＳＣフリースラッチ３１に
対し、セットＳＣフリーズ信号（ＳＳＣＦＬＺ）を出力
して、ラッチ３１をセットさせる（ステップ４０１）。

次にスキャンイン情報設定命令を実行し、擬似障害をス
キャンインで発生させるのに必要な情報値をセットする
（ステップ４０２）。次に一般テス１−命令をステップ
４０２で設定した情報により、実行する（ステップ４０
３）。この命令実行中に、障害が発生する。すると、Ｓ
Ｃフリーズ解除命令は、リセッ１−フリーズ信号（Ｒ８
ＣＦＬＺ）を出力し、ステップ４０］でセノトシたラッ
チ３１をリセッ１〜する（ステップ４０４）。

５Ｃ３４内のＳＣＣリフニス１〜求制御部３５は、上記
ＳＣフリーズラッチ３」が“４″の間は他処理装置から
のリクエスト要求３２を凍結し、自処理装置からのリク
エスト要求３２を優先させることが可能になり、期待通
りの擬似障害を期待した側の処理装置で発生させること
ができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、自己診断・回復
機能を有する情報処理装置において、通常では検証困難
な障害処理、再実行機能の検証が、確実に、より完全に
、しかも短時間で人手をかけずに可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すスキャンイン擬似障害
発生方式の全体構成図、第２図は本発明の他の実施例を
示す対象フリップフロップへのスキャンイン同期方式の
構成図、第３図は複数処理装置から共通に使用可能な場
所を障害テストするために必要な機能を具備する装置の
システム構成図、第４図は第３図で示す共通部のテスＩ
−フロー図、第５図は従来のスキャンイン擬似障害発生
方式の全体構成図である。 １−二マイクロ命令アドレスレジスタ、４ニアドレス比
較レジスタ、５ニアドレス比較回路、６：スキヤンアＩ
くレスレジスタ、７：スキャンインデータレジスタ、１
０ニスキャンアドレスデコード回路、１１ニスキャンイ
ン信号同期回路、１４：対象フリップフロップ、３０：
処理装置、３１：ＳＣフリーズラッチ、３４：主記憶装
置制御ユニット、３５：ＳＣリクエスト要求制御部、３
６二主記憶装置、５１，５３ニ一般レジスタ。 １６一 タイミング ＲＭＯ出力デー ５ＳＩＴ ＯＲ ＲＯＡ Ｒ ＲＢ ＴＯＴＩ　Ｔ２　　Ｔ３　Ｔｏ　　Ｔｌ−９Ｑつ−

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、装置の自己診断・回復手段を有する１台または複数
   台の情報処理装置を備え、各情報処理装置内には通常の
   動作制御回路とは全く独立に装置内部のレジスタをアド
   レス指定してセット、リセットするスキャンイン手段と
   、該スキャンイン手段が動作開始に必要な情報を特殊な
   命令により設定する手段とを具備したシステムにおいて
   、各情報処理装置は上記命令でアドレス指定されたレジ
   スタを、通常の動作制御回路の状態とは全く独立にレジ
   スタ使用タイミングに同期させてセットまたはリセット
   し、後刻実行される一般命令処理中に擬似障害を発生さ
   せ、さらに複数台の情報処理装置から共通に使用される
   アクセス場所の障害試験を行う時に、擬似障害をしかけ
   た時点から擬似障害を検出するまでの間、擬似障害をし
   かけた情報処理装置以外の情報処理装置から共通アクセ
   ス場所へのアクセスを凍結させることを特徴とする情報
   処理装置の擬似障害発生方式。