JPH01182759A - ケルビン測定用コンタクト - Google Patents
ケルビン測定用コンタクトInfo
- Publication number
- JPH01182759A JPH01182759A JP63005618A JP561888A JPH01182759A JP H01182759 A JPH01182759 A JP H01182759A JP 63005618 A JP63005618 A JP 63005618A JP 561888 A JP561888 A JP 561888A JP H01182759 A JPH01182759 A JP H01182759A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- terminal
- measured
- contacts
- kelvin
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical class C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Multi-Conductor Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣ，ＬＳＩ等の電子装置の電気的特性測定用
のコンタクトに関し、特にケルビン測定用コンタクトに
関する。
のコンタクトに関し、特にケルビン測定用コンタクトに
関する。
ＩＣ，ＬＳＩ等の電子装置の電気的特性を、比較的大き
な電流を流すことにより測定する際、被測定端子と測定
用コンタクトの接触面に生じる接触抵抗成分による電圧
降下が大きくなり、特性の正確な測定が困難な場合、電
流供給用コンタクトと電圧測定用コンタクトの２つのコ
ンタクトを用いて電気的特性測定での接触抵抗成分の影
響を取り除くケルビン測定法が用いられ、従来１種々の
ケルビン測定用コンタクトが考案されている。
な電流を流すことにより測定する際、被測定端子と測定
用コンタクトの接触面に生じる接触抵抗成分による電圧
降下が大きくなり、特性の正確な測定が困難な場合、電
流供給用コンタクトと電圧測定用コンタクトの２つのコ
ンタクトを用いて電気的特性測定での接触抵抗成分の影
響を取り除くケルビン測定法が用いられ、従来１種々の
ケルビン測定用コンタクトが考案されている。
第５図に従来のケルビン測定用コンタクトの一例を示す
。
。
第６図は第５図の縦断面図、第７図は第５図のＡ−Ａ線
断面図である。従来のケルビン測定用コンタクトは円筒
型の第１のコンタクト１の内部に絶縁層３によって電気
的に絶縁された円柱型の第２のコンタクトを有″する二
重構造としたものである。また４は２つのコンタクト１
及び２を支持する台座であり、２つのコンタクト１及び
２はこの台座４に固定されている。５及び６は第１のコ
ンタクト１及び第２のコンタクト２の引き出し部で、こ
の引き出し部５及び６に測定治具又は測定器からの配線
を結線する。このようにコンタクト部を円筒型及び円柱
型の二重構造とすることによりコンタクトの接触部を小
さくすることができ、表面実装タイプのＩＣの外部リー
ドのように面積の狭い被測定端子にも２つのコンタクト
内接触させることができる。
断面図である。従来のケルビン測定用コンタクトは円筒
型の第１のコンタクト１の内部に絶縁層３によって電気
的に絶縁された円柱型の第２のコンタクトを有″する二
重構造としたものである。また４は２つのコンタクト１
及び２を支持する台座であり、２つのコンタクト１及び
２はこの台座４に固定されている。５及び６は第１のコ
ンタクト１及び第２のコンタクト２の引き出し部で、こ
の引き出し部５及び６に測定治具又は測定器からの配線
を結線する。このようにコンタクト部を円筒型及び円柱
型の二重構造とすることによりコンタクトの接触部を小
さくすることができ、表面実装タイプのＩＣの外部リー
ドのように面積の狭い被測定端子にも２つのコンタクト
内接触させることができる。
上述した従来のケルビン測定用コンタクトは、コンタク
ト部が円筒型と円柱型の２つのコンタクトが共に台座に
固定されている構造であることにより、被測定端子がコ
ンタクトに対して垂直に接しない場合１円柱型の第２の
コンタクトが被測定端子に接触しないという欠点がある
。
ト部が円筒型と円柱型の２つのコンタクトが共に台座に
固定されている構造であることにより、被測定端子がコ
ンタクトに対して垂直に接しない場合１円柱型の第２の
コンタクトが被測定端子に接触しないという欠点がある
。
この欠点を図を用いて説明する。
第８図は第５図で示した従来のケルビン測定用コンタク
トが被測定端子と斜めに接触した場合の縦断面図である
。
トが被測定端子と斜めに接触した場合の縦断面図である
。
第８図でわかるように被測定端子７がコンタクトに対し
て垂直に接しない場合、円筒型の第１のコンタクト１は
被測定端子７に接触するが、円柱型の第２のコンタクト
２は、被測定端子７に接触せず、ケルビン測定ができな
くなる。
て垂直に接しない場合、円筒型の第１のコンタクト１は
被測定端子７に接触するが、円柱型の第２のコンタクト
２は、被測定端子７に接触せず、ケルビン測定ができな
くなる。
本発明の目的は前記問題点を解消したケルビン測定用コ
ンタクトを提供することにある。
ンタクトを提供することにある。
上述した従来のケルビン測定用コンタクトに対し１本発
明のケルビン測定用コンタクトは２つの」ンタクトの少
なくとも一方が他方に対して移動するという相違点を有
する。
明のケルビン測定用コンタクトは２つの」ンタクトの少
なくとも一方が他方に対して移動するという相違点を有
する。
本発明は筒型の第１のコンタクトと、該第１のコンタク
ト内に電気的に絶縁して相対的に出入可能に内装された
第２のコンタクトとを有することを特徴とするケルビン
測定用コンタクトである。
ト内に電気的に絶縁して相対的に出入可能に内装された
第２のコンタクトとを有することを特徴とするケルビン
測定用コンタクトである。
次に本発明について図面を参照して説明する。
（実施例１）
第１図は本発明の実施例１の側面図である。第２図は同
縦断面図、第３図は第１図のＡ−Ａ線断面図である。
縦断面図、第３図は第１図のＡ−Ａ線断面図である。
本発明は円筒型の第１のコンタクト１の内部に絶縁層３
によって電気的に絶縁された円柱型の第２のコンタクト
２を有する二重構造となっている。
によって電気的に絶縁された円柱型の第２のコンタクト
２を有する二重構造となっている。
本実施例では第１のコンタクト１は台座４に固定され、
第２のコンタクト２は台座４及び第１のコンタクト１と
は固定されずに軸方向を相対変位可能に支持され、ばね
８によって通常は先端部が第１のコンタクト１から突出
した状態となっている。
第２のコンタクト２は台座４及び第１のコンタクト１と
は固定されずに軸方向を相対変位可能に支持され、ばね
８によって通常は先端部が第１のコンタクト１から突出
した状態となっている。
５及び６は第１のコンタクト１及び第２のコンタクト２
の引き出し部で、この引き出し部５及び６に測定治具又
は測定器からの配線を結線する。
の引き出し部で、この引き出し部５及び６に測定治具又
は測定器からの配線を結線する。
コンタクト部と被測定端子を接触させる動作を図を用い
て説明する。第４図は第１図で示した本発明によるケル
ビン測定用コンタクトが、被測定端子と斜めに接触した
場合の縦断面図である。被測定端子７がコンタクト部に
斜めに接触する際。
て説明する。第４図は第１図で示した本発明によるケル
ビン測定用コンタクトが、被測定端子と斜めに接触した
場合の縦断面図である。被測定端子７がコンタクト部に
斜めに接触する際。
第２のコンタクト２が第１のコンタクト１より突出して
いることにより、まず第２のコンタクト２が先に被測定
端子７に接触する。さらに圧力が加えられると、第１の
コンタクト１が被測定端子７に接触するまで、第２のコ
ンタクト２が上方に移動し、第４図のように第１のコン
タクト１及ヒ第２のコンタクト２は共に被測定端子７に
確実に接触する。
いることにより、まず第２のコンタクト２が先に被測定
端子７に接触する。さらに圧力が加えられると、第１の
コンタクト１が被測定端子７に接触するまで、第２のコ
ンタクト２が上方に移動し、第４図のように第１のコン
タクト１及ヒ第２のコンタクト２は共に被測定端子７に
確実に接触する。
コンタクト部と被測定端子が垂直に接触する場合も上記
の動作で２つのコンタクトが共に被測定端子７に確実に
接触するのはいうまでもない。
の動作で２つのコンタクトが共に被測定端子７に確実に
接触するのはいうまでもない。
（実施例２）
次に本発明による他の実施例について図面を用いて説明
する。
する。
第９図は本発明の実施例２の側面図である。第１０図は
同縦断面図、第１１図は第９図のＡ−Ａ線断面図である
。
同縦断面図、第１１図は第９図のＡ−Ａ線断面図である
。
本実施例では、第２のコンタクト２を台座４に固定し、
第１のコンタクト１を台座４及び第２のコンタクト２と
は固定せずに変位可能にしたものであり、ばね８によっ
て通常は第１のコンタクト１の先端部を第２のコンタク
ト２から突出した状態になっている。その他の部分の構
造は実施例１と同様である。
第１のコンタクト１を台座４及び第２のコンタクト２と
は固定せずに変位可能にしたものであり、ばね８によっ
て通常は第１のコンタクト１の先端部を第２のコンタク
ト２から突出した状態になっている。その他の部分の構
造は実施例１と同様である。
コンタクト部と被測定端子を接触させる動作を実施例１
と同様に図を用いて説明する。第１２図は第９図で示し
た本発明による実施例２のケルビン測定用コンタクトが
、被測定端子と斜めに接触した場合の縦断面図である。
と同様に図を用いて説明する。第１２図は第９図で示し
た本発明による実施例２のケルビン測定用コンタクトが
、被測定端子と斜めに接触した場合の縦断面図である。
被測定端子７がコンタクト部に斜めに接触する際、第１
のコンタクト１が第２のコンタクト２より突出している
ことにより、まず第１のコンタクト１が先に被測定端子
７に接触する。さらに圧力が加えられると、第２のコン
タクト２が被測定端子７に接触するまで、第１のコンタ
クトが上方に移動し、第１２図のように第１のコンタク
ト１及び第２のコンタクト２は共に被測定端子７に確実
に接触する。
のコンタクト１が第２のコンタクト２より突出している
ことにより、まず第１のコンタクト１が先に被測定端子
７に接触する。さらに圧力が加えられると、第２のコン
タクト２が被測定端子７に接触するまで、第１のコンタ
クトが上方に移動し、第１２図のように第１のコンタク
ト１及び第２のコンタクト２は共に被測定端子７に確実
に接触する。
コンタクト部と被測定端子が垂直に接触する場合も上記
の動作で２つのコンタクトが共に被測定端子７に確実に
接触するのはいうまでもない。
の動作で２つのコンタクトが共に被測定端子７に確実に
接触するのはいうまでもない。
以上説明したように本発明は筒型の第１のコンタクトと
第１のコンタクトの内部に電気的に絶縁された柱型の第
２のコンタクトとの少なくとも一方を他方に対して相対
変位させることにより、被測定端子がコンタクトに対し
て斜めに接触する場合でも、２つのコンタクトを共に被
測定端子に確実に接触させることができる効果がある。
第１のコンタクトの内部に電気的に絶縁された柱型の第
２のコンタクトとの少なくとも一方を他方に対して相対
変位させることにより、被測定端子がコンタクトに対し
て斜めに接触する場合でも、２つのコンタクトを共に被
測定端子に確実に接触させることができる効果がある。
第１図は本発明のケルビン測定用コンタクトの実施例１
を示す側面図、第２図は第１図の縦断面図、第３図は第
１図のＡ−Ａ線断面図、第４図は本発明の実施例１の動
作説明図、第５図は従来のケルビン測定用コンタクトの
側面図、第６図は第５図の縦断面図、第７図は第５図の
Ａ−Ａ線断面図、第８図は従来例の問題点を説明する図
、第９図は本発明のケルビン測定用コンタクトの実施例
２を示す側面図、第１０図は第９図の縦断面図、第１１
図は第９図のＡ−Ａ線断面図、第１２図は本発明の実施
例２の動作説明図である。 １・・・第１のコンタクト ２・・・第２のコンタクト
３・・・絶縁層 ４・・・台座５・・・第
１のコンタクトの引き出し部６・・・第２のコンタクト
の引き出し部 。
を示す側面図、第２図は第１図の縦断面図、第３図は第
１図のＡ−Ａ線断面図、第４図は本発明の実施例１の動
作説明図、第５図は従来のケルビン測定用コンタクトの
側面図、第６図は第５図の縦断面図、第７図は第５図の
Ａ−Ａ線断面図、第８図は従来例の問題点を説明する図
、第９図は本発明のケルビン測定用コンタクトの実施例
２を示す側面図、第１０図は第９図の縦断面図、第１１
図は第９図のＡ−Ａ線断面図、第１２図は本発明の実施
例２の動作説明図である。 １・・・第１のコンタクト ２・・・第２のコンタクト
３・・・絶縁層 ４・・・台座５・・・第
１のコンタクトの引き出し部６・・・第２のコンタクト
の引き出し部 。
Claims (1)
- １、筒型の第１のコンタクトと、該第１のコンタクト内
に電気的に絶縁して相対的に出入可能に内装された第２
のコンタクトとを有することを特徴とするケルビン測定
用コンタクト。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63005618A JPH01182759A (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | ケルビン測定用コンタクト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63005618A JPH01182759A (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | ケルビン測定用コンタクト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01182759A true JPH01182759A (ja) | 1989-07-20 |
Family
ID=11616168
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63005618A Pending JPH01182759A (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | ケルビン測定用コンタクト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01182759A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012083234A (ja) * | 2010-10-13 | 2012-04-26 | Hioki Ee Corp | プローブおよび測定装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6314169B2 (ja) * | 1978-05-24 | 1988-03-29 | Nippon Jidosha Buhin Sogo Kenkyusho Kk |
-
1988
- 1988-01-13 JP JP63005618A patent/JPH01182759A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6314169B2 (ja) * | 1978-05-24 | 1988-03-29 | Nippon Jidosha Buhin Sogo Kenkyusho Kk |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012083234A (ja) * | 2010-10-13 | 2012-04-26 | Hioki Ee Corp | プローブおよび測定装置 |
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