JPH01184836A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH01184836A JPH01184836A JP63005519A JP551988A JPH01184836A JP H01184836 A JPH01184836 A JP H01184836A JP 63005519 A JP63005519 A JP 63005519A JP 551988 A JP551988 A JP 551988A JP H01184836 A JPH01184836 A JP H01184836A
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- JP
- Japan
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- lead frame
- thickness
- semiconductor device
- strength
- wall portion
- Prior art date
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- Pending
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- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/536—Shapes of wire connectors the connected ends being ball-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
-
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/736—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Die Bonding (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
廉果上座ガ月分!
本発明は、半導体装置、1特に、ホール素子等の半導体
素子をリードフレームに取り付けた半導体装置に関する
。
素子をリードフレームに取り付けた半導体装置に関する
。
従来の 術と解決課題
近年、半導体装置の小形化、薄形化の要求が強い。例え
ば、ホール素子ではそれが組み込まれるモータの小形化
、薄形化の要請に対応するため、半導体装置自体の小形
化、薄形化が要求されている。
ば、ホール素子ではそれが組み込まれるモータの小形化
、薄形化の要請に対応するため、半導体装置自体の小形
化、薄形化が要求されている。
従来、ホール素子は所定形状を有するリードフレーム上
に載置され、リードフレームとはワイヤボンディングに
て接続されていた。そこで、装置全体の薄形化を達成す
る一つの手段としてリードフレームを薄形化することが
考えられる。装置全体の厚さを要求されている0、5m
m以下とするためには、リードフレームの厚さを0.1
mm以下とすることが望ましい。しかしながら、リード
フレームの厚さを全体として0.1mm以下にすると剛
性9強度が低下し、モールド樹脂の外へ引き出される端
子部分の強度が不足し、取り扱いが困難になるという問
題点を有している。
に載置され、リードフレームとはワイヤボンディングに
て接続されていた。そこで、装置全体の薄形化を達成す
る一つの手段としてリードフレームを薄形化することが
考えられる。装置全体の厚さを要求されている0、5m
m以下とするためには、リードフレームの厚さを0.1
mm以下とすることが望ましい。しかしながら、リード
フレームの厚さを全体として0.1mm以下にすると剛
性9強度が低下し、モールド樹脂の外へ引き出される端
子部分の強度が不足し、取り扱いが困難になるという問
題点を有している。
そこで、本発明は、ホール素子等の半導体装置において
、リードフレームの強度を損なうことなく、装置全体と
しての薄形化を達成することを課題とする。
、リードフレームの強度を損なうことなく、装置全体と
しての薄形化を達成することを課題とする。
課題を解決するための手段と作用
以上の課題を解決するため、本発明に係る半導体装置は
、リードフレームの一部表面に薄肉部を設け、この薄肉
部に半導体素子を載置0たことを特徴とする。
、リードフレームの一部表面に薄肉部を設け、この薄肉
部に半導体素子を載置0たことを特徴とする。
即ち、半導体素子がリードフレームの部分的な薄肉部に
載置されることにより、装置全体としての厚さが薄くな
る。そして、半導体素子の周囲は樹脂でモールドきれ、
リードフレームの薄肉部分の強度不足が補われる。一方
、モールド樹脂から引き出された部分は従来と同様の厚
さを有し、強度不足を来すおそれはない。
載置されることにより、装置全体としての厚さが薄くな
る。そして、半導体素子の周囲は樹脂でモールドきれ、
リードフレームの薄肉部分の強度不足が補われる。一方
、モールド樹脂から引き出された部分は従来と同様の厚
さを有し、強度不足を来すおそれはない。
実施例
以下、本発明に係る半導体装置の一実施例を添付図面に
従って説明する。
従って説明する。
この実施例はホール素子に適用したものであり、第1図
中、ホール素子チップ1はリードフレーム5の薄肉部5
a上に載置され、金製のワイヤ4にて各リードフレーム
5,6,7.8と電気的に接続されている。
中、ホール素子チップ1はリードフレーム5の薄肉部5
a上に載置され、金製のワイヤ4にて各リードフレーム
5,6,7.8と電気的に接続されている。
リードフレーム5,6,7.8は、りん青銅からなり、
第2図に示す平面形状に形成され、その一つのリードフ
レーム5は周囲にリブ状の突起5bを残して段差を有す
る薄肉部5aとされている。
第2図に示す平面形状に形成され、その一つのリードフ
レーム5は周囲にリブ状の突起5bを残して段差を有す
る薄肉部5aとされている。
リードフレーム5,6,7.8の加工は上下面よりエツ
チングを施して行なった。詳しくは、第4A図に示す様
に、リードフレーム材10の上下面にフレームの形状と
して残すべき箇所に耐エツチングマスク11を設け、厚
さ0.1mmのリードフレーム材10に対して上下面を
約0.05mmの深さにエツチングを行なった。これに
て第4B図に示す様に、マスク11の設けられていない
部分が溶かし出されてリードフレーム5,6,7.8の
外形が形成され、前記薄肉部5aは上面のみが溶かし出
されて0、05mmの厚さに形成されることとなる。
チングを施して行なった。詳しくは、第4A図に示す様
に、リードフレーム材10の上下面にフレームの形状と
して残すべき箇所に耐エツチングマスク11を設け、厚
さ0.1mmのリードフレーム材10に対して上下面を
約0.05mmの深さにエツチングを行なった。これに
て第4B図に示す様に、マスク11の設けられていない
部分が溶かし出されてリードフレーム5,6,7.8の
外形が形成され、前記薄肉部5aは上面のみが溶かし出
されて0、05mmの厚さに形成されることとなる。
以上の如く形成されたリードフレーム5の薄肉部5a上
に前記ホール素子チップ1を載置し、ワイヤボンディン
グを行なった後、チップ1の周囲を樹脂20にてモール
ドし、ホール素子として完成される。
に前記ホール素子チップ1を載置し、ワイヤボンディン
グを行なった後、チップ1の周囲を樹脂20にてモール
ドし、ホール素子として完成される。
厚さに関して、−例として記述すると、リードフレーム
5,6,7.8の厚さDaは0.1mm、薄肉部5aの
厚さDbは0.05mm、 リードフレーム5の底面
からチップ1の上面までの厚さDCは0.25mm、ワ
イヤの高さDdは0.05mm、チップ1の上面からモ
ールド樹脂20の上面までの厚さDeは0.1mm、モ
ールド樹脂20の下面からリードフレーム5の下面まで
の厚さDfは0.05mm、モールド樹脂20の全体厚
さDhは0.4mmである。
5,6,7.8の厚さDaは0.1mm、薄肉部5aの
厚さDbは0.05mm、 リードフレーム5の底面
からチップ1の上面までの厚さDCは0.25mm、ワ
イヤの高さDdは0.05mm、チップ1の上面からモ
ールド樹脂20の上面までの厚さDeは0.1mm、モ
ールド樹脂20の下面からリードフレーム5の下面まで
の厚さDfは0.05mm、モールド樹脂20の全体厚
さDhは0.4mmである。
以上の構成において、チップ1は薄肉部5a上に載置き
れることから装置全体としての厚さが薄くなる。そして
、薄肉部5aの強度は突起5bによって補強されている
が、同時に、樹脂20でモールドすることで十分なもの
とされている。一方、モールド樹脂20から露出した端
子部分は0.1mmの厚さを有し、剛性9強度の点で問
題はない。
れることから装置全体としての厚さが薄くなる。そして
、薄肉部5aの強度は突起5bによって補強されている
が、同時に、樹脂20でモールドすることで十分なもの
とされている。一方、モールド樹脂20から露出した端
子部分は0.1mmの厚さを有し、剛性9強度の点で問
題はない。
なお、本発明に係る半導体装置は以上の実施例に限定さ
れるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変形する
ことができる。
れるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変形する
ことができる。
例えば、チップ1を載置する薄肉部5aの強度に問題が
なければ、突起5bは必ずしも必要ではなく、載置部分
を全体的にフラットな薄肉部としても良い。また、リー
ドフレームの加工はエツチングの他にプレス加工等にて
行なうことも可能である。
なければ、突起5bは必ずしも必要ではなく、載置部分
を全体的にフラットな薄肉部としても良い。また、リー
ドフレームの加工はエツチングの他にプレス加工等にて
行なうことも可能である。
発明の効果
以上の説明で明らかな様に、本発明によれば、リードフ
レームの一部表面に設けた薄肉部に半導体素子を載置し
、該素子とリードフレームとを電気的に接続した後、該
素子を樹脂でモールドしたため、装置全体の厚さが小さ
くなり、小形化、薄形化の要求を満足させると同時に、
端子部分の強度も何ら損なうことがない。
レームの一部表面に設けた薄肉部に半導体素子を載置し
、該素子とリードフレームとを電気的に接続した後、該
素子を樹脂でモールドしたため、装置全体の厚さが小さ
くなり、小形化、薄形化の要求を満足させると同時に、
端子部分の強度も何ら損なうことがない。
図面は本発明に係る半導体装置の一実施例を示し、第1
図は装置の垂直断面図、第2図はリードフレームの平面
図、第3図は第2図のA−A断面図、第4A図、第4B
図はリードフレームの加工工程を示す断面図である。 1・・・ホール素子チップ、4・・・ワイヤ、5,6゜
7.8・・・リードフレーム、5a・・・?1j肉部、
20・・・モールド樹脂。
図は装置の垂直断面図、第2図はリードフレームの平面
図、第3図は第2図のA−A断面図、第4A図、第4B
図はリードフレームの加工工程を示す断面図である。 1・・・ホール素子チップ、4・・・ワイヤ、5,6゜
7.8・・・リードフレーム、5a・・・?1j肉部、
20・・・モールド樹脂。
Claims (1)
- (1)所定形状を有するリードフレーム上に半導体素子
を載置し、半導体素子とリードフレームとを電気的に接
続した後、半導体素子を樹脂でモールドした半導体装置
において、 前記リードフレームの一部表面に薄肉部を設け、この薄
肉部に前記半導体素子を載置したこと、を特徴とする半
導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63005519A JPH01184836A (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63005519A JPH01184836A (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01184836A true JPH01184836A (ja) | 1989-07-24 |
Family
ID=11613437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63005519A Pending JPH01184836A (ja) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01184836A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02170584A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-07-02 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁電変換素子およびその製造方法 |
| JPH0629149U (ja) * | 1991-10-15 | 1994-04-15 | 新電元工業株式会社 | 樹脂封止型半導体装置 |
-
1988
- 1988-01-13 JP JP63005519A patent/JPH01184836A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02170584A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-07-02 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 磁電変換素子およびその製造方法 |
| JPH0629149U (ja) * | 1991-10-15 | 1994-04-15 | 新電元工業株式会社 | 樹脂封止型半導体装置 |
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