JPH01189014A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents

薄膜磁気ヘッド

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JPH01189014A
JPH01189014A JP1098788A JP1098788A JPH01189014A JP H01189014 A JPH01189014 A JP H01189014A JP 1098788 A JP1098788 A JP 1098788A JP 1098788 A JP1098788 A JP 1098788A JP H01189014 A JPH01189014 A JP H01189014A
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JP
Japan
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layer
magnetic
protecting
thin film
magnetic head
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Pending
Application number
JP1098788A
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English (en)
Inventor
Takashi Kubo
隆 久保
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は薄膜磁気ヘッドに関し、更に詳述すれば、磁性
層上に積層される保護層が改良された薄膜磁気ヘッドに
関する。
〔従来技術〕
薄膜磁気ヘッドは、フェライト或いはサファイア等の耐
摩耗性材料より成る基板上に、センダスト、アモルファ
ス等により形成した複数の磁性層、導電性金属から成る
コイル導体層及び絶縁層等を順次成膜及びエツチングを
繰返して所定の形状にバターニングし、最後に記録媒体
の走行による摩耗等から前記磁性層を保護する目的で保
護層を形成して設けられている。
処で、上記のような構成において、保護層が磁性層に較
べて充分に硬いと、記録媒体の走行による摩耗が磁性層
側に早く及び、磁性層に偏摩耗が生じてスペーシング・
ロスを発生することは良く知られている。
一方、前記保護層は軟らか過ぎると全体の摩耗が早くな
り、ヘッド寿命を短かくする。従って、保護層の硬度は
磁性層と路間しか、これよりも幾分低い硬さに設けられ
ていることが望ましい。
例えば、磁性層のビッカース硬度がHv =600〜6
50kg/mm2 のとき、保護層はHv =400〜
600kg/mm” の範囲に設定されていることが望
ましい。
また、前記保護層の厚みは、記録媒体の摺動性、耐偏摩
耗の点から20〜40μm程度以上を必要とする。しか
しこの程度の厚みになると、通常、累積された内部応力
により保護層が剥離又は保護層に亀裂を生じる。このた
め内部応力を極力小さくする必要がある。この問題を解
決する1つの有効手段は、ヘッドを構成する各材料の熱
膨張係数を合わせることである。しかしながら、一般に
従来は金属磁性材料と保護層の熱膨張係数を合わせるこ
とは難しかった。
特開昭62−16218号公報には、偏摩耗の発生を効
果的に抑制できる保護層としてMgOと5in2の混合
物が開示されている。更に、MgOと5iOz の組成
比をSiC2を濃度にして10〜70%とすることによ
り、適度な硬さ(Hv=450〜850)と所望の熱膨
張係数が得られることが記載されている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、本発明者が種々実験を重ねたところ、上
記MgO−3iO□系では硬度及び応力の自由度は大き
いが、耐水性に劣り実用上大きな欠点があることが分か
った。すなわち、望ましいビッカース硬度範囲(550
kg/mm”以上)は、MgOの組成比が70モル%以
上であり、この場合は耐水性が著しく悪く実用に適さな
い。一方、MgOの組成を70モル%以下にすると、耐
水性は向上し一応満足できる程度にはなるが、軟らか(
なり過ぎ、すなわちビッカース硬度が不適当な範囲とな
り、この場合も実用に適さないことを見出した。
本発明の目的は、上記事情に鑑みなされたもので、偏摩
耗を生じさせないでかつ耐水性に優れた保護層を形成し
た薄膜磁気ヘッドを提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
すなわち、本発明の上記目的は、基板上に磁性層、コイ
ル導体層及び絶縁層を形成し、保護層を前記磁性層上に
積層した構成から成る薄膜磁気ヘッドにおいて、前記保
護層の組成がNiOとSiO□ とから成ることを特徴
とする薄膜磁気ヘッドにより達成される。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図の1実施例は、本発明の薄膜磁気ヘッドの構造を
示す断面図であり、製造プロセスに基づいて説明する。
図において、フェライト基板10上にスパッタ法により
Co−Nb−Zr合金の強磁性体を10μm付着し、下
部磁性層11を形成する。次に下部磁性層11上にSi
n、等よりなる非磁性絶縁層12及びCu、A1等より
なるコイル導体層13を適宜形成した後、略台形状にイ
オンミリングにより加工し、フロントギャップ部17及
び図示しないリアギャップ部で下部磁性層11を露出せ
しめ、ギャップ層14を形成する。前記非磁性絶縁層1
2上に下部磁性層11とフロントギャップ部及びリアギ
ャップ部で磁気的に接合するようにCo−Nb−Zr合
金の金属磁性材料をスパッタ法で15μm付着し、上部
磁性層15を形成する。
次に、本発明の要部である保護層16を上部磁性層15
の上に形成する。
なお、保護層は電子ビーム蒸着(真空度=゛1xIQ−
2Pa、基板温度=200℃、付着速度=100OA/
分)により、30μm厚に成膜した。
上述のようにして保護層16が形成された後、従来と同
様、前記保護層16を平坦化し、接着剤層18を介して
保護板19と貼着して製作される。
第2図にNiOのモル%とビッカース硬度の関係を示す
。ビッカース硬度Hv=400〜600kg/mm’ 
の硬度範囲に対して、NiOのモル%は45%〜75%
で得られることがわかる。
前記の通りに構成した薄膜磁気ヘッド面に対して記録媒
体を、1000時間走行させて偏摩耗を観察した。偏摩
耗はオプティカルフラットにより干渉縞を観察し、磁性
層と保護層との段差を調べることにより行った。その結
果、上記組成範囲の保護層で、段差は認められなかった
又、上記組成範囲の保護層の内部応力は0.1×10’
  dyn/crI〜3.9X 10’  dyn/c
atでSiO2単体に比べて、凡そ1桁小さい事がわか
った。
さらに、純水浸漬試験の結果、何ら変化は認められず、
耐水性上、何ら問題がないことが確認された。
〔発明の効果〕
以上記載したとおり、本発明によれば、磁性層に積層さ
れる保護層の硬度を適当としたことにより、記録媒体の
走行による偏摩耗の発生が好適に阻止され、かつ耐水性
の良好な薄膜磁気ヘッドを得ることができ、前記従来技
術の欠点を除いて優れた性能を有する薄膜磁気ヘッドを
提供することができる。
なお、N i Oと8102以外の第3物質を少量添加
しても本発明の効果が損われることはない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に基づいて構成される薄膜磁気ヘッドの
断面図、第2図はNiOのモル%とビッカース硬度の関
係を示した図である。 10 フェライト基板、11 下部磁性層、12 非磁
性絶縁層、13 コイル導体層、14 ギャップ層、1
5 上部磁性層、16−保護層、17 フロントギャッ
プ部、18 接着剤層、19−・保護板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に少なくとも磁性層、コイル導体層及び絶縁層を
    形成し、保護層を前記磁性層上に積層した構成から成る
    薄膜磁気ヘッドにおいて、前記保護層の組成がNiOと
    SiO_2から成ることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
JP1098788A 1988-01-22 1988-01-22 薄膜磁気ヘッド Pending JPH01189014A (ja)

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JP1098788A JPH01189014A (ja) 1988-01-22 1988-01-22 薄膜磁気ヘッド

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