JPH01191147A - フォトレジスト塗布装置 - Google Patents
フォトレジスト塗布装置Info
- Publication number
- JPH01191147A JPH01191147A JP1617488A JP1617488A JPH01191147A JP H01191147 A JPH01191147 A JP H01191147A JP 1617488 A JP1617488 A JP 1617488A JP 1617488 A JP1617488 A JP 1617488A JP H01191147 A JPH01191147 A JP H01191147A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- chamber
- photoresist
- solvent
- substrate
- film thickness
- Prior art date
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- Pending
Links
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 5
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、フォトレジスト塗布装置、特に、高い膜厚再
現性が要求されるフォトレジスト塗布装置に関する。
現性が要求されるフォトレジスト塗布装置に関する。
従来のフォトレジスト塗布装置は、フォトレジスト液を
基板上から滴下させ、基板を回転させることにより遠心
力で基板全面に塗り広げるものである。
基板上から滴下させ、基板を回転させることにより遠心
力で基板全面に塗り広げるものである。
次に、従来例について、図面を参照して詳細に説明する
。
。
第3図は従来の一例を示す模式図である。
第3図に示すフォトレジスト塗布装置は、回転モータ1
と、前記回転モータ1により駆動される回転台2とを含
んでいる。
と、前記回転モータ1により駆動される回転台2とを含
んでいる。
フォトレジスト膜を形成しようとする基板3の上には、
フォトレジスト液を滴下するためのフォトレジスト滴下
ノズル4があり、これらは塗布が行われるチャンバー5
内に収容されている。また、前記チャンバー5内を排気
するための排気口6と、この排気口6の開閉を行う電磁
バルブ7とを含んでいる。
フォトレジスト液を滴下するためのフォトレジスト滴下
ノズル4があり、これらは塗布が行われるチャンバー5
内に収容されている。また、前記チャンバー5内を排気
するための排気口6と、この排気口6の開閉を行う電磁
バルブ7とを含んでいる。
このようなフォトレジスト塗布装置について、作用動作
を説明する。
を説明する。
まず、回転台2に真空チャッキングなどにより基板3が
固定された後、電磁バルブ7の開閉により、排気口6か
ら一定時間排気が行われる。
固定された後、電磁バルブ7の開閉により、排気口6か
ら一定時間排気が行われる。
次に、フォトレジスト滴下ノズル4よりフォトレジスト
液が基板3上に滴下される。滴下後、基板3を回転台2
を介して所定の回転数で回転させるとフォトレジスト液
は遠心力により基板3全面に広がり、回転数に応じたフ
ォトレジスト膜厚が得られる。
液が基板3上に滴下される。滴下後、基板3を回転台2
を介して所定の回転数で回転させるとフォトレジスト液
は遠心力により基板3全面に広がり、回転数に応じたフ
ォトレジスト膜厚が得られる。
しかしながら、このような上述した従来のフォトレジス
ト塗布装置は、排気口より一定時間排気が行われた後、
塗布が行われる構成となっており、排気量や滴下後基板
周囲に飛散したフォトレジスト液からの溶剤蒸発量の微
妙な変化によりチャンバー内の溶剤蒸気圧が変動し、そ
れに伴って基板上に残ったフォトレジスト液中の溶剤の
揮発速度が影響され、得ようとするフォトレジスト膜厚
の再現性が損なわれるという欠点があった。
ト塗布装置は、排気口より一定時間排気が行われた後、
塗布が行われる構成となっており、排気量や滴下後基板
周囲に飛散したフォトレジスト液からの溶剤蒸発量の微
妙な変化によりチャンバー内の溶剤蒸気圧が変動し、そ
れに伴って基板上に残ったフォトレジスト液中の溶剤の
揮発速度が影響され、得ようとするフォトレジスト膜厚
の再現性が損なわれるという欠点があった。
本発明のフォトレジスト塗布装置は、塗布が行われるチ
ャンバー内に溶剤を供給する供給手段と、前記溶剤から
発生する蒸気を前記チャンバー内に均一に攪拌するため
の攪拌手段とを含んで構成される。
ャンバー内に溶剤を供給する供給手段と、前記溶剤から
発生する蒸気を前記チャンバー内に均一に攪拌するため
の攪拌手段とを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例を示す模式図である。
第1図に示すフォトレジスト塗布装置は、回転モータ1
によって駆動される回転台2の上にフォトレジスト膜を
形成しようとする基板3が真空チャッキングにより固定
され、基板3の上部にはフォトレジスト滴下用ノズル4
が配置され、塗布が行われる毎にチャンバー5内が常に
高い濃度の溶剤雰囲気が作られるよう溶剤供給ノズル8
と攪拌治具9とを含んで構成されている。
によって駆動される回転台2の上にフォトレジスト膜を
形成しようとする基板3が真空チャッキングにより固定
され、基板3の上部にはフォトレジスト滴下用ノズル4
が配置され、塗布が行われる毎にチャンバー5内が常に
高い濃度の溶剤雰囲気が作られるよう溶剤供給ノズル8
と攪拌治具9とを含んで構成されている。
次に、第1図に示す実施例の作用動作について、説明す
る。
る。
まず、回転台2に塗布しようとする基板3が固定された
後、電磁弁7が開いて、排気口6より排気が行われる。
後、電磁弁7が開いて、排気口6より排気が行われる。
一定時間の排気後、電磁弁7が閉じ、溶剤供給ノズル8
より一定量の溶剤がチャンバー5内に供給される。
より一定量の溶剤がチャンバー5内に供給される。
そこで、回転モータ1により回転台2に取り付けられた
基板3を高速回転数で一定時間回転させる。これと、同
時に回転機構部に取り付けられた攪拌治具8も回転され
ることになる。これによりチャンバー5内に供給された
溶剤の蒸発が促進され、高濃度の溶剤蒸気がチャンバー
5内に作られる。
基板3を高速回転数で一定時間回転させる。これと、同
時に回転機構部に取り付けられた攪拌治具8も回転され
ることになる。これによりチャンバー5内に供給された
溶剤の蒸発が促進され、高濃度の溶剤蒸気がチャンバー
5内に作られる。
次に、基板3を低速で回転させながら、フォトレジスト
滴下ノズル4より一定量のフォトレジスト液が滴下され
た後、所定の回転数で一定時間回転させることにより基
板3上に所望の厚さの7オトレジスト膜が形成される。
滴下ノズル4より一定量のフォトレジスト液が滴下され
た後、所定の回転数で一定時間回転させることにより基
板3上に所望の厚さの7オトレジスト膜が形成される。
このとき常に高い溶剤蒸気雰囲気中で膜形成が行われる
ことになるので基板3表面上に塗り広げられたフォトレ
ジスト液からの溶剤の蒸発が抑制され、膜厚再現性が長
幼になり同時にストリエーションの発生も防止できる。
ことになるので基板3表面上に塗り広げられたフォトレ
ジスト液からの溶剤の蒸発が抑制され、膜厚再現性が長
幼になり同時にストリエーションの発生も防止できる。
第2図は第1図に示す実施例の塗布前の高速回転時間(
高速回転数一定)と得られたフォトレジスト膜厚の関係
を示したグラフであり、このグラフから時間が短いとチ
ャンバー5内の溶剤蒸気がまだ高濃度に達せず、得られ
るフォトレジスト膜厚が厚くなるが、一定時間以上回転
させれば膜厚は安定することが分かる。
高速回転数一定)と得られたフォトレジスト膜厚の関係
を示したグラフであり、このグラフから時間が短いとチ
ャンバー5内の溶剤蒸気がまだ高濃度に達せず、得られ
るフォトレジスト膜厚が厚くなるが、一定時間以上回転
させれば膜厚は安定することが分かる。
このような結果から塗布前の高速回転数−時間を100
0rpm−60secに設定し、フォトレジスト塗布を
試みたところ所望膜厚1200人に対し、従来では日に
よる変動が±30人であったが、±10Å以下に小さく
なり、同時に一枚の基板内での膜厚差も従来値の約60
人から30人へと減少した。
0rpm−60secに設定し、フォトレジスト塗布を
試みたところ所望膜厚1200人に対し、従来では日に
よる変動が±30人であったが、±10Å以下に小さく
なり、同時に一枚の基板内での膜厚差も従来値の約60
人から30人へと減少した。
本発明のフォトレジスト塗布装置は、塗布が行われるチ
ャンバー内に溶剤を供給する供給手段と供給された溶剤
から発生する蒸気をチャンバー内に均一に攪拌するため
の攪拌手段とを追加することにより、常に高い溶剤蒸気
雰囲気中で膜形成が行われるため、フォトレジストの膜
厚に高い再現性が得られるという効果がある。
ャンバー内に溶剤を供給する供給手段と供給された溶剤
から発生する蒸気をチャンバー内に均一に攪拌するため
の攪拌手段とを追加することにより、常に高い溶剤蒸気
雰囲気中で膜形成が行われるため、フォトレジストの膜
厚に高い再現性が得られるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す模式図、第2図は第1
図に示す実施例における塗布前の高速回転時間(高速回
転数一定)と得られたフォトレジスト膜厚の関係を示す
グラフ、第3図は従来の一例を示す模式図である。 1・・・・・・回転モータ、2・・・・・・回転台、3
・・・・・・基板、4・・・・・・フォトレジスト滴下
ノズル、5・・・・・・チャンバニ、6・・・・・・排
気口、7・・・・・・電磁弁、8・・・・・・溶剤供給
ノズル、9・・・・・・攪拌治具。 代理人 弁理士 内 原 音 47オ)Lン”スト膚丁ノスール 猶1図 0 30 Δθ り0 /2
θ西速団転峙間(Sec) (高速回転数にθθr7=yyt g)第2回 4、フfllヅストJ7”ノス)し ¥; 313丁
図に示す実施例における塗布前の高速回転時間(高速回
転数一定)と得られたフォトレジスト膜厚の関係を示す
グラフ、第3図は従来の一例を示す模式図である。 1・・・・・・回転モータ、2・・・・・・回転台、3
・・・・・・基板、4・・・・・・フォトレジスト滴下
ノズル、5・・・・・・チャンバニ、6・・・・・・排
気口、7・・・・・・電磁弁、8・・・・・・溶剤供給
ノズル、9・・・・・・攪拌治具。 代理人 弁理士 内 原 音 47オ)Lン”スト膚丁ノスール 猶1図 0 30 Δθ り0 /2
θ西速団転峙間(Sec) (高速回転数にθθr7=yyt g)第2回 4、フfllヅストJ7”ノス)し ¥; 313丁
Claims (1)
- 基板を載置するための回転台と、前記回転台を回転させ
るための回転モーターと、前記基板を回転台とともに収
容するチャンバーと、フォトレジスト液を前記基板上に
滴下させて塗布が行われるチャンバー内に溶剤を供給す
る供給手段と、前記溶剤から発生する蒸気を前記チャン
バー内で均一に撹拌するための攪拌手段とを含むことを
特徴とするフォトレジスト塗布装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1617488A JPH01191147A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | フォトレジスト塗布装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1617488A JPH01191147A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | フォトレジスト塗布装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01191147A true JPH01191147A (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=11909145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1617488A Pending JPH01191147A (ja) | 1988-01-26 | 1988-01-26 | フォトレジスト塗布装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01191147A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017008261A1 (zh) * | 2015-07-10 | 2017-01-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种光阻汲取装置 |
-
1988
- 1988-01-26 JP JP1617488A patent/JPH01191147A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017008261A1 (zh) * | 2015-07-10 | 2017-01-19 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种光阻汲取装置 |
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