JPH01192016A - 高耐熱性基板 - Google Patents
高耐熱性基板Info
- Publication number
- JPH01192016A JPH01192016A JP1762088A JP1762088A JPH01192016A JP H01192016 A JPH01192016 A JP H01192016A JP 1762088 A JP1762088 A JP 1762088A JP 1762088 A JP1762088 A JP 1762088A JP H01192016 A JPH01192016 A JP H01192016A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- plating
- plating film
- electroless
- nicup
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims abstract description 89
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 23
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 abstract description 11
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 10
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 9
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 abstract description 8
- 238000011282 treatment Methods 0.000 abstract description 8
- 238000005238 degreasing Methods 0.000 abstract description 4
- 229910017888 Cu—P Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000005336 cracking Methods 0.000 abstract 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- NDKWCCLKSWNDBG-UHFFFAOYSA-N zinc;dioxido(dioxo)chromium Chemical compound [Zn+2].[O-][Cr]([O-])(=O)=O NDKWCCLKSWNDBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 84
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 229910001096 P alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- JUWOETZNAMLKMG-UHFFFAOYSA-N [P].[Ni].[Cu] Chemical compound [P].[Ni].[Cu] JUWOETZNAMLKMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 5
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- NWONKYPBYAMBJT-UHFFFAOYSA-L zinc sulfate Chemical compound [Zn+2].[O-]S([O-])(=O)=O NWONKYPBYAMBJT-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000005554 pickling Methods 0.000 description 3
- 229910001566 austenite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- SZVJSHCCFOBDDC-UHFFFAOYSA-N ferrosoferric oxide Chemical compound O=[Fe]O[Fe]O[Fe]=O SZVJSHCCFOBDDC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003322 NiCu Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-M phosphinate Chemical compound [O-][PH2]=O ACVYVLVWPXVTIT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000002250 progressing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
(産業上の利用分野)
本発明は高耐熱性基板に係り、特に磁気ディスク、磁気
ドラム等の高記録密度媒体用の高耐熱性基板に関するも
のである。 (従来の技術) 近年、情報量の増大に伴い記録媒体単位面積における記
録密度の向上が望まれている。 一般に、記録密度を考察する場合、孤立波再生出力が半
分になるところの次式で示される限界記録密度り、。が
使われている。 二二で、g:ヘッドのギャップ長 d: 〃 浮上高さ a:磁化遷移幅 δ:媒体膜厚 3 Br:残留磁束密度 m:角形性に関する因子 HC:保磁力 上式より明らかなように、記録密度を高めるには磁化遷
移幅a、ヘッドのギャップ長g及び浮上高さdの全てを
小さくする必要がある。このうち。 磁化遷移幅aは媒体性能により決定されるものである。 この点、γ−Fa、O,,を用いたコーティング媒体で
は、Brが小さいため、出力を得るためには膜厚を厚く
する必要があり、またHcも大きくできない等の理由か
ら磁化遷移幅aに限界を生じており、高密度化には問題
がある。そのため、現在ではめっき法によるCo−N1
−P或いはC。 −P、スパッタ法によるCo−Ni、 ’I −Fe、
O。 等のようなHc、Brを大きくできる金属媒体の研究開
発が進められている。 また、ヘッド側よりみた場合、高密度化のためには浮上
高さdの減少が有効であるが、このためには基板に要求
される平滑度或いは表面粗さ等が重要となる。現在、高
密度記録においては0.3μI以下の浮上高さdが必要
となっており、この場合、基板に要求される表面粗さは
浮上高さdの1710以下が必要であると云われている
。 しかし、このような表面粗さをA0合金板そのもので得
ることは不可能であり°、また上述の媒体性能の限界等
から、a在主流であるA1合金板を用いたコーティング
媒体に代え、A0合金板に無電解NLPめっきを施して
表面粗さを改善し、スパッタ法或いはめっき法により金
属磁性体を形成する薄膜媒体へと、媒体作製方法が変わ
りつつある。 (発明が解決しようとする課題) 現在、めっき法による媒体の作製及びスパッタ法による
媒体の作製では、下地膜として無電解NiPめっき膜が
使われている。この場合、下地膜は、めっき媒体では保
護膜作製時に、またスパッタ媒体では全工程において高
温に曝されることになる。 一般にNLPめっき膜は媒体の出力減少或いはエラーを
発生させないために非磁性であることが必要であるが、
このように高温度に曝されることで磁化する可能性があ
る。媒体特性を高めるためには高温度の処理が有効であ
るが、NLPめっき膜を用いる限り不可能である。 一方、γ−Fe、O,をスパッタ法で作製する場合には
、直接γ−Fe、O)が得られないため。 Fe3O4を300℃以上で熱処理することにより得て
いる。この場合には下地膜としてアルマイト膜或いはN
i Cu Pめっき膜が用いられているが、後者のN
iCuPめっき膜の方が特性が良いとの報告力(ある、
しかし、NiCuPめっき膜の場合には高温で磁化しな
いが膜が厚くなると膜厚偏差が大きくなり、また高温処
理でひび割れを生じる等の問題がある(例、電子通信学
会技報VoQ、86翫27.p、1〜8参照)。 また、信頼性の点からすると、下地膜はその種類に拘ら
ず、約10μ園以上必要であると云われており、NiC
uPの場合はNLPに比べて成長速度が遅く、高コスト
である等の問題がある。 本発明はかへる事情に鑑みてなされたものであって、磁
気ディスク、磁気ドラム等の高記録密度媒体用として、
安価で且つ高温に耐え得る高耐熱性基板を提供すること
を目的とするものである。 (課題を解決するための手段) 前記目的を達成するため、本発明者は、媒体の下地膜が
磁化せず、つまり磁気を遮蔽する効果(磁気遮蔽効果)
を有していること及びヘッド等の衝撃を十分吸収し、耐
食性、すなわち信頼性の高い構造を有していることが重
要であるとの観点から、鋭意研究を重ねた結果、磁気遮
蔽効果は無電解NiCuPめっき層によりもたせ、また
強度等全体的な信頼性を無電解NLPめっき層でもたせ
る構造とするならば、媒体性能或いはヘッド性能等によ
り両めっき層の厚さを適切に決定することで安価で高温
に耐え得るめっき膜が得られることを見い出し、ここに
2層膜方式であるところの高耐熱性基板の発明をなした
ものである。 すなわち、本発明は、Al合金板上に無電解NLPめっ
き膜と更にその上に無電解NiCuPめつき膜の2層膜
構造を設けたことを特徴とする高記録密度媒体用高耐熱
性基板を要旨とするものである。 以下に本発明を更に詳細に説明する。 前述の如く、本発明は、要するに、AΩ合金板上に無電
解めっき膜を形成するに際し、脱脂、酸洗後ジンケート
処理し、無電解ニッケルめっき浴を用いてNLPめっき
膜を形成し1次いで無電解ニッケルー銅−リン合金浴を
用いてNiCuPめつき膜を形成することにより、第1
図に示すように、Al合金板上に2層のめつき膜を形成
することを骨子とするものである。 その技術的理由は以・下に述べるとおりである。 NLPめっき膜の形成用に一般に用いられる次亜リン酸
塩を還元剤に用いる無電解ニッケルめっき浴においては
、浴のpH及び還元剤の濃度によりP含有量を3〜15
%の範囲で調整することができる。無電解NLPめっき
膜の磁気特性はこのP含有量に大きく依存しており、P
含有量の多いものは非磁性となる。しかし、高温保持に
よってもひび割れ等は生じないものの、たやすく磁化し
、その磁化する温度は最高でも280℃程度である。 これに反し、NiCuPめっき膜では、Cuの含有量が
ある程度になると300℃以上で保持しても磁化しない
。しかし、膜厚が厚くなると被めっき物の膜厚偏差が大
きくなり、また高温保持によりひび割れを生じやすくな
る等の欠点を有している。また、粗度を良くする点にお
いては、NiCuP膜の場合、膜厚が薄いほど硬度は高
くなり、研磨により平滑な面が得られやすくなるという
長所がある。 これらの点をNiCuPめっき膜の高コストと合わせて
考えると、NiCuPめっき膜は薄いほど、磁気遮蔽効
果は別として、その特性が良いことになる。よって、信
頼性を高めるために10μ−以上の下地膜が必要である
ことから、本発明者は、N i Cu P膜の不足する
膜厚分を厚くつけても膜厚偏差は非常に小さく1強度が
高く、なお且つ高温処理でもひび割れを生じないNLP
膜に置き替えれば、安価でしかも高温に耐え得る下地膜
が得られることを知見した。 本発明は、この知見に基づき、NiPめっき膜とNiC
uPめっき膜の2層膜とすることによって各々のめっき
膜の長所のみを利用することにより、安価でしかも高温
に耐え得る良質の下地膜を得ることを可能にしたもので
ある。 具体的には、まず、A12合金板を脱脂、酸洗及びジン
ケート処理後、無電解ニッケルめっき浴を用いてめっき
を行うのである。この場合、めっき条件としてはpH或
いは温度等特別に規定する必要はなく、NLPめっき膜
の表面状態により決定すればよい、NLPめっき膜が薄
いとビット等表面欠陥が発生し好ましくなく、また厚く
なるとコスト高になるので、5〜15μ閣程度が好まし
い。 更に、本発明者の実験研究により、このNLPめっき膜
はこの膜上にNiCuPめっき膜が均一に成長する性質
を有していることが確認された。また、NLPめっき膜
を洗浄、乾燥後研磨するならば、表面粗度を改善した後
でもNiCuPめっき膜がNLPめっき膜上に均一に成
長するということも確認された。 次いで、本発明では、無電解NLPめっきを行った後、
引き続き無電解ニッケルー銅−リン合金めっき浴を用い
て無電解NiCuPめっきを行い。 NLPとN i Cu Pの2層めっき膜を成膜するの
である。 この場合、無電解NiCuPめっき膜厚が問題となるが
、2層めっき膜構造において無電解NiPめっき層が磁
化した際、無電解NiCuPめっき膜厚によっては媒体
の漏れ磁束及び書き込みヘッドの磁束が無電解NLPめ
っき層の方へ回り込む等により媒体性能の悪化を招くお
それがある。この点について、本発明者は、種々の媒体
及び磁気へラドを用いて検討した結果、磁気遮蔽効果を
もたせるためには無電解NiCuPめっき層厚は少なく
とも0.5層園以上は必要であることが判明した。 したがって、上記問題に対処する場合には、無電解Ni
CuPめっき膜の膜厚は0.5〜10μ園の範囲にする
ことが好ましい、0.5μ諷以下では媒体性能を悪化さ
せ、一方、30μm以上では熱処理によりひび割れを生
じ、或いは膜厚偏差が大きくなり、またコスト高になる
等のために好ましくなり1゜ なお、本発明の2層膜構造を得る際に用いる無電解ニッ
ケルめっき浴及び無電解ニッケルー銅−リン合金めっき
浴の浴組成は、特に限定されるものではなく、勿論、後
述の実施例に制限されるものではない、また、めっき条
件も特に制限されない。 また、本発明において対象とするA4合金板はこの種の
用途に供される適宜材質、寸法のものでよいことは云う
までもなく、また脱脂、酸洗及びジンケート処理等は従
来と同様の条件で行えばよbl。 次に本発明の実施例を示す。 (実施例) 鏡面仕上げしたJ l55086相当のAl合金板に通
常の脱脂、酸洗及びジンケート処理を行った後、上相工
業(株)装態電解ニッケルめっき浴パニムデンHDX”
(商品名)を後述のようにpH調整した浴を用い、膜厚
15μmのめっきを行った。その後、研磨によりNLP
めつき膜厚を13゜5μ■とじた。 次いで、このように研磨したNLPめっき下地について
、脱脂、酸洗後、上相工業(株)装態電解ニッケルー銅
−リン合金めっき浴“NCP”(商品名)を後述のよう
にpH調整した浴を用い、膜厚6〜14μ−のNiCu
Pめっき膜を成膜した。 更に研磨を行い、NiCuPめっき膜厚を4〜12μm
とした。 得られた2層からなる無電解めっき膜について磁性めっ
きを行い1表面観察すると共に電磁変換特性の測定を行
った。更に350℃にて2時間人外中での熱処理を行い
、同様に表面状態の観察、電磁変換特性及び磁、気持性
の測定を行った。それらの結果を第1表に示す。 なお、ここで用いためつき条件としては。 V/A=20cm (但し、■=浴容量(Cm3)。 A:被めっき物の表面積(cm”) とし、被めっき物の回転(回転数2Orpm)及びめっ
き浴の攪拌を実施し、またpH調整は無電解ニッケルめ
っき浴 ・・・pH=4.6(25℃のとき) 無電解ニッケルー銅−リン合金めっき浴・・・PH=8
.7 (25℃のとき) とした。 (比較例1) 上記実施例に供したものと同様のAl合金板について、
同様に前処理を行った後、同じ無電解ニッケルめっき浴
を用いてp、ft解NiPめつき膜を成長させた。更に
研磨によりぬつき膜厚を13゜5μIとし、その後、実
施例と同様の処理及び評価試験を行った。その結果を第
1表に併記する。 (比較例2) 比較例1で用いた無電解ニッケルめっき浴に代え、実施
例で用いたのと同じ無電解ニッケルー銅−リン合金めっ
き浴を用いて、無電解NiCuPめっき膜を成長させ、
研磨により14.5μ謙にした。 その後、同様の処理及び評価を行った。その結果を第1
表に併記する。 第1表より明らかなように1本発明の実施例により°無
電解ニッケルめっき浴と無電解ニッケルー銅−リン合金
めっき浴からそれぞれ成長させた2層の無電解めっき膜
は、350℃、2時間の熱処理後も媒体特性は悪化せず
、NiCuPめっき膜にひび割れも生じていない、しか
も、NLPめっき膜層は磁化しているにも拘らず、Ni
CuPめっき膜の膜厚を適切に制御するならば磁気遮蔽
効果により十分使用に耐える無電解めっき膜が得られる
ことがわかる。 一方、NLPめっき膜単独(比較例1)では350℃、
2時間の熱処理により磁化し、媒体特性は大きく悪化し
ている。また、NiCuPめつき膜単独(比較例2)で
は350℃、2時間の熱処理により、特性は向上したも
のの1表面にひび割れを生じており、そのまま使用する
ことは国難である。
ドラム等の高記録密度媒体用の高耐熱性基板に関するも
のである。 (従来の技術) 近年、情報量の増大に伴い記録媒体単位面積における記
録密度の向上が望まれている。 一般に、記録密度を考察する場合、孤立波再生出力が半
分になるところの次式で示される限界記録密度り、。が
使われている。 二二で、g:ヘッドのギャップ長 d: 〃 浮上高さ a:磁化遷移幅 δ:媒体膜厚 3 Br:残留磁束密度 m:角形性に関する因子 HC:保磁力 上式より明らかなように、記録密度を高めるには磁化遷
移幅a、ヘッドのギャップ長g及び浮上高さdの全てを
小さくする必要がある。このうち。 磁化遷移幅aは媒体性能により決定されるものである。 この点、γ−Fa、O,,を用いたコーティング媒体で
は、Brが小さいため、出力を得るためには膜厚を厚く
する必要があり、またHcも大きくできない等の理由か
ら磁化遷移幅aに限界を生じており、高密度化には問題
がある。そのため、現在ではめっき法によるCo−N1
−P或いはC。 −P、スパッタ法によるCo−Ni、 ’I −Fe、
O。 等のようなHc、Brを大きくできる金属媒体の研究開
発が進められている。 また、ヘッド側よりみた場合、高密度化のためには浮上
高さdの減少が有効であるが、このためには基板に要求
される平滑度或いは表面粗さ等が重要となる。現在、高
密度記録においては0.3μI以下の浮上高さdが必要
となっており、この場合、基板に要求される表面粗さは
浮上高さdの1710以下が必要であると云われている
。 しかし、このような表面粗さをA0合金板そのもので得
ることは不可能であり°、また上述の媒体性能の限界等
から、a在主流であるA1合金板を用いたコーティング
媒体に代え、A0合金板に無電解NLPめっきを施して
表面粗さを改善し、スパッタ法或いはめっき法により金
属磁性体を形成する薄膜媒体へと、媒体作製方法が変わ
りつつある。 (発明が解決しようとする課題) 現在、めっき法による媒体の作製及びスパッタ法による
媒体の作製では、下地膜として無電解NiPめっき膜が
使われている。この場合、下地膜は、めっき媒体では保
護膜作製時に、またスパッタ媒体では全工程において高
温に曝されることになる。 一般にNLPめっき膜は媒体の出力減少或いはエラーを
発生させないために非磁性であることが必要であるが、
このように高温度に曝されることで磁化する可能性があ
る。媒体特性を高めるためには高温度の処理が有効であ
るが、NLPめっき膜を用いる限り不可能である。 一方、γ−Fe、O,をスパッタ法で作製する場合には
、直接γ−Fe、O)が得られないため。 Fe3O4を300℃以上で熱処理することにより得て
いる。この場合には下地膜としてアルマイト膜或いはN
i Cu Pめっき膜が用いられているが、後者のN
iCuPめっき膜の方が特性が良いとの報告力(ある、
しかし、NiCuPめっき膜の場合には高温で磁化しな
いが膜が厚くなると膜厚偏差が大きくなり、また高温処
理でひび割れを生じる等の問題がある(例、電子通信学
会技報VoQ、86翫27.p、1〜8参照)。 また、信頼性の点からすると、下地膜はその種類に拘ら
ず、約10μ園以上必要であると云われており、NiC
uPの場合はNLPに比べて成長速度が遅く、高コスト
である等の問題がある。 本発明はかへる事情に鑑みてなされたものであって、磁
気ディスク、磁気ドラム等の高記録密度媒体用として、
安価で且つ高温に耐え得る高耐熱性基板を提供すること
を目的とするものである。 (課題を解決するための手段) 前記目的を達成するため、本発明者は、媒体の下地膜が
磁化せず、つまり磁気を遮蔽する効果(磁気遮蔽効果)
を有していること及びヘッド等の衝撃を十分吸収し、耐
食性、すなわち信頼性の高い構造を有していることが重
要であるとの観点から、鋭意研究を重ねた結果、磁気遮
蔽効果は無電解NiCuPめっき層によりもたせ、また
強度等全体的な信頼性を無電解NLPめっき層でもたせ
る構造とするならば、媒体性能或いはヘッド性能等によ
り両めっき層の厚さを適切に決定することで安価で高温
に耐え得るめっき膜が得られることを見い出し、ここに
2層膜方式であるところの高耐熱性基板の発明をなした
ものである。 すなわち、本発明は、Al合金板上に無電解NLPめっ
き膜と更にその上に無電解NiCuPめつき膜の2層膜
構造を設けたことを特徴とする高記録密度媒体用高耐熱
性基板を要旨とするものである。 以下に本発明を更に詳細に説明する。 前述の如く、本発明は、要するに、AΩ合金板上に無電
解めっき膜を形成するに際し、脱脂、酸洗後ジンケート
処理し、無電解ニッケルめっき浴を用いてNLPめっき
膜を形成し1次いで無電解ニッケルー銅−リン合金浴を
用いてNiCuPめつき膜を形成することにより、第1
図に示すように、Al合金板上に2層のめつき膜を形成
することを骨子とするものである。 その技術的理由は以・下に述べるとおりである。 NLPめっき膜の形成用に一般に用いられる次亜リン酸
塩を還元剤に用いる無電解ニッケルめっき浴においては
、浴のpH及び還元剤の濃度によりP含有量を3〜15
%の範囲で調整することができる。無電解NLPめっき
膜の磁気特性はこのP含有量に大きく依存しており、P
含有量の多いものは非磁性となる。しかし、高温保持に
よってもひび割れ等は生じないものの、たやすく磁化し
、その磁化する温度は最高でも280℃程度である。 これに反し、NiCuPめっき膜では、Cuの含有量が
ある程度になると300℃以上で保持しても磁化しない
。しかし、膜厚が厚くなると被めっき物の膜厚偏差が大
きくなり、また高温保持によりひび割れを生じやすくな
る等の欠点を有している。また、粗度を良くする点にお
いては、NiCuP膜の場合、膜厚が薄いほど硬度は高
くなり、研磨により平滑な面が得られやすくなるという
長所がある。 これらの点をNiCuPめっき膜の高コストと合わせて
考えると、NiCuPめっき膜は薄いほど、磁気遮蔽効
果は別として、その特性が良いことになる。よって、信
頼性を高めるために10μ−以上の下地膜が必要である
ことから、本発明者は、N i Cu P膜の不足する
膜厚分を厚くつけても膜厚偏差は非常に小さく1強度が
高く、なお且つ高温処理でもひび割れを生じないNLP
膜に置き替えれば、安価でしかも高温に耐え得る下地膜
が得られることを知見した。 本発明は、この知見に基づき、NiPめっき膜とNiC
uPめっき膜の2層膜とすることによって各々のめっき
膜の長所のみを利用することにより、安価でしかも高温
に耐え得る良質の下地膜を得ることを可能にしたもので
ある。 具体的には、まず、A12合金板を脱脂、酸洗及びジン
ケート処理後、無電解ニッケルめっき浴を用いてめっき
を行うのである。この場合、めっき条件としてはpH或
いは温度等特別に規定する必要はなく、NLPめっき膜
の表面状態により決定すればよい、NLPめっき膜が薄
いとビット等表面欠陥が発生し好ましくなく、また厚く
なるとコスト高になるので、5〜15μ閣程度が好まし
い。 更に、本発明者の実験研究により、このNLPめっき膜
はこの膜上にNiCuPめっき膜が均一に成長する性質
を有していることが確認された。また、NLPめっき膜
を洗浄、乾燥後研磨するならば、表面粗度を改善した後
でもNiCuPめっき膜がNLPめっき膜上に均一に成
長するということも確認された。 次いで、本発明では、無電解NLPめっきを行った後、
引き続き無電解ニッケルー銅−リン合金めっき浴を用い
て無電解NiCuPめっきを行い。 NLPとN i Cu Pの2層めっき膜を成膜するの
である。 この場合、無電解NiCuPめっき膜厚が問題となるが
、2層めっき膜構造において無電解NiPめっき層が磁
化した際、無電解NiCuPめっき膜厚によっては媒体
の漏れ磁束及び書き込みヘッドの磁束が無電解NLPめ
っき層の方へ回り込む等により媒体性能の悪化を招くお
それがある。この点について、本発明者は、種々の媒体
及び磁気へラドを用いて検討した結果、磁気遮蔽効果を
もたせるためには無電解NiCuPめっき層厚は少なく
とも0.5層園以上は必要であることが判明した。 したがって、上記問題に対処する場合には、無電解Ni
CuPめっき膜の膜厚は0.5〜10μ園の範囲にする
ことが好ましい、0.5μ諷以下では媒体性能を悪化さ
せ、一方、30μm以上では熱処理によりひび割れを生
じ、或いは膜厚偏差が大きくなり、またコスト高になる
等のために好ましくなり1゜ なお、本発明の2層膜構造を得る際に用いる無電解ニッ
ケルめっき浴及び無電解ニッケルー銅−リン合金めっき
浴の浴組成は、特に限定されるものではなく、勿論、後
述の実施例に制限されるものではない、また、めっき条
件も特に制限されない。 また、本発明において対象とするA4合金板はこの種の
用途に供される適宜材質、寸法のものでよいことは云う
までもなく、また脱脂、酸洗及びジンケート処理等は従
来と同様の条件で行えばよbl。 次に本発明の実施例を示す。 (実施例) 鏡面仕上げしたJ l55086相当のAl合金板に通
常の脱脂、酸洗及びジンケート処理を行った後、上相工
業(株)装態電解ニッケルめっき浴パニムデンHDX”
(商品名)を後述のようにpH調整した浴を用い、膜厚
15μmのめっきを行った。その後、研磨によりNLP
めつき膜厚を13゜5μ■とじた。 次いで、このように研磨したNLPめっき下地について
、脱脂、酸洗後、上相工業(株)装態電解ニッケルー銅
−リン合金めっき浴“NCP”(商品名)を後述のよう
にpH調整した浴を用い、膜厚6〜14μ−のNiCu
Pめっき膜を成膜した。 更に研磨を行い、NiCuPめっき膜厚を4〜12μm
とした。 得られた2層からなる無電解めっき膜について磁性めっ
きを行い1表面観察すると共に電磁変換特性の測定を行
った。更に350℃にて2時間人外中での熱処理を行い
、同様に表面状態の観察、電磁変換特性及び磁、気持性
の測定を行った。それらの結果を第1表に示す。 なお、ここで用いためつき条件としては。 V/A=20cm (但し、■=浴容量(Cm3)。 A:被めっき物の表面積(cm”) とし、被めっき物の回転(回転数2Orpm)及びめっ
き浴の攪拌を実施し、またpH調整は無電解ニッケルめ
っき浴 ・・・pH=4.6(25℃のとき) 無電解ニッケルー銅−リン合金めっき浴・・・PH=8
.7 (25℃のとき) とした。 (比較例1) 上記実施例に供したものと同様のAl合金板について、
同様に前処理を行った後、同じ無電解ニッケルめっき浴
を用いてp、ft解NiPめつき膜を成長させた。更に
研磨によりぬつき膜厚を13゜5μIとし、その後、実
施例と同様の処理及び評価試験を行った。その結果を第
1表に併記する。 (比較例2) 比較例1で用いた無電解ニッケルめっき浴に代え、実施
例で用いたのと同じ無電解ニッケルー銅−リン合金めっ
き浴を用いて、無電解NiCuPめっき膜を成長させ、
研磨により14.5μ謙にした。 その後、同様の処理及び評価を行った。その結果を第1
表に併記する。 第1表より明らかなように1本発明の実施例により°無
電解ニッケルめっき浴と無電解ニッケルー銅−リン合金
めっき浴からそれぞれ成長させた2層の無電解めっき膜
は、350℃、2時間の熱処理後も媒体特性は悪化せず
、NiCuPめっき膜にひび割れも生じていない、しか
も、NLPめっき膜層は磁化しているにも拘らず、Ni
CuPめっき膜の膜厚を適切に制御するならば磁気遮蔽
効果により十分使用に耐える無電解めっき膜が得られる
ことがわかる。 一方、NLPめっき膜単独(比較例1)では350℃、
2時間の熱処理により磁化し、媒体特性は大きく悪化し
ている。また、NiCuPめつき膜単独(比較例2)で
は350℃、2時間の熱処理により、特性は向上したも
のの1表面にひび割れを生じており、そのまま使用する
ことは国難である。
(発明の効果)
以上詳述したように、本発明によれば、無電解NiPめ
っき膜及び無電解NiCuPめっき膜の2層めっき膜構
造にしたので、NLPめっき膜にみられる熱処理による
磁化の影響をなくし、更にはNiCuPめっき膜にみら
れる膜厚偏差を小さくし、熱処理によるひび割れの発生
等をなくすことができる。また、NiCuPめっき膜の
磁気遮蔽効果膜厚を磁気ヘッド及び媒体性能に併せて決
定することにより、安価でしかも高温で使用し得る高記
録密度媒体用高耐熱性基板を作製することが可能となる
等、優れた効果が得られる。
っき膜及び無電解NiCuPめっき膜の2層めっき膜構
造にしたので、NLPめっき膜にみられる熱処理による
磁化の影響をなくし、更にはNiCuPめっき膜にみら
れる膜厚偏差を小さくし、熱処理によるひび割れの発生
等をなくすことができる。また、NiCuPめっき膜の
磁気遮蔽効果膜厚を磁気ヘッド及び媒体性能に併せて決
定することにより、安価でしかも高温で使用し得る高記
録密度媒体用高耐熱性基板を作製することが可能となる
等、優れた効果が得られる。
第1図は本発明により成膜される高耐熱性基板の断面図
である。 1・・・A1合金板、2・・・無電解NLPめっき膜、
3・・・無電解N i Cu Pめっき膜。 特許出願人 株式会社神戸製鋼所 代理人弁理士 中 村 尚 第1図
である。 1・・・A1合金板、2・・・無電解NLPめっき膜、
3・・・無電解N i Cu Pめっき膜。 特許出願人 株式会社神戸製鋼所 代理人弁理士 中 村 尚 第1図
Claims (1)
- Al合金板上に無電解NiPめっき膜と更にその上に無
電解NiCuPめっき膜の2層膜構造を設けたことを特
徴とする高記録密度媒体用高耐熱性基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1762088A JPH01192016A (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 高耐熱性基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1762088A JPH01192016A (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 高耐熱性基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01192016A true JPH01192016A (ja) | 1989-08-02 |
Family
ID=11948915
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1762088A Pending JPH01192016A (ja) | 1988-01-28 | 1988-01-28 | 高耐熱性基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01192016A (ja) |
-
1988
- 1988-01-28 JP JP1762088A patent/JPH01192016A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4479572B2 (ja) | 垂直磁気記録媒体用ディスク基板の製造方法、垂直磁気記録媒体用ディスク基板及び垂直磁気記録媒体 | |
| CN100411017C (zh) | 用于垂直磁记录介质的基板和用该基板的垂直磁记录介质 | |
| JPH01192016A (ja) | 高耐熱性基板 | |
| JPH04259908A (ja) | 磁気ディスク基板 | |
| JPS6313118A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH0429739B2 (ja) | ||
| JPH0515790B2 (ja) | ||
| EP0152684B1 (en) | Protection of thin cobaltous films for magnetic recording | |
| JPH0241089B2 (ja) | ||
| JPH03273525A (ja) | 磁気記録媒体の製造方法 | |
| JPH05282668A (ja) | 垂直磁気記録用サブストレート、磁気ディスク及びその製造方法 | |
| JPH0159359B2 (ja) | ||
| JPS62149025A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH03142708A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH0514325B2 (ja) | ||
| JPS63104214A (ja) | 磁気記憶体およびその製造方法 | |
| JPS6339128A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH0315254B2 (ja) | ||
| JPH0310085A (ja) | 基板の表面処理方法 | |
| JPS61184725A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
| JPH03266402A (ja) | 面内磁気記録媒体、その製造方法及び磁気記憶装置 | |
| JPS6243832A (ja) | 磁気記録媒体 | |
| JPH08249643A (ja) | 磁気記録媒体および磁性膜形成用ターゲット | |
| JPS61276122A (ja) | 磁気記録媒体及びその製造方法 | |
| JPH01223628A (ja) | 高耐熱性基盤とその製造法 |