JPH01194360A - 電荷結合素子 - Google Patents

電荷結合素子

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JPH01194360A
JPH01194360A JP63018110A JP1811088A JPH01194360A JP H01194360 A JPH01194360 A JP H01194360A JP 63018110 A JP63018110 A JP 63018110A JP 1811088 A JP1811088 A JP 1811088A JP H01194360 A JPH01194360 A JP H01194360A
Authority
JP
Japan
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electrode
reset
directly under
charge
conductivity type
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Pending
Application number
JP63018110A
Other languages
English (en)
Inventor
Tokuo Koizumi
小泉 徳夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電荷結合素子であるCOD (チャージカップ
ルド デバイス)に係り、イメージセンサ、デレーライ
ン、フィルタ等に使用されるアナログシフトレジスタに
関するものである。
〔発明の概要〕
本発明はアナログ信号を順次転送するCODにおいて、
第1項に記述した如くすることによってCODの駆動電
圧を下げ、低電圧化(5v)を計ったものである。
〔従来の技術〕
電荷結合素子であるCCDは、イメージセンサ、遅延線
、フィルタ等、極めて広い分野で使用されている。これ
等の応用分野で最も多く採用されているCODの電荷検
出方式はFDA (Noatinu Diffusio
n Au1ifier)法で、埋め込みチャンネル型C
ODである。説明の簡単化のなめ、CCDの駆動方式は
4相駆動力式、転送される電荷は電子として説明するが
駆動方式の違い(例えば2相及び3相駆動方式)及び転
送される電荷が正孔の場合でも、本発明が有効であるの
はいうまでもない。
第5図は従来のCODの構造図を示す、P型半導体基板
11の主平面に、埋め込みチャンネルを形成するn型不
純物層12、CODの出力部を形成するn型拡散N10
.14を形成し、P型半導体基板11の主表面には、絶
縁膜15を介し転送電極群16〜20が配置され、出力
ゲート21、リセットゲート22が形成されている。
第2図は動作を説明するためのタイミングチャートであ
る。φ、〜φ、が4相の転送りロック波形であり、転送
型f!16〜20に印加される。φRQはCODの出力
部を構成するリセット電極22に印加されるリセットパ
ルスであり、■。吋はフローティングデイフュージョン
23で信号電荷を電圧に変換された出力波形である。
第3図にCODの動作を説明するための、ポテンシャル
図を示す、第2図のタイミングチャートで示す時間t、
〜し5のポテンシャル分布を第3図に示している。
1+の時間の時、φ1及びφ2はLowが印加されてお
り、φ、及びφ、はHighが印加されているため、φ
1及びφ4が印加されている電極の直下のポテンシャル
は、φ1及びφ2が印加されている電極直下のポテンシ
ャルより大きく、信号電荷である電子31は、φ、及び
φ4が印加されている電極直下に蓄積される。また信号
な荷32はフローティングデイフュージョンに蓄積され
ており、出力電圧V。IJTとして出力されている4t
2の時間の時は前記の説明と同様になり、φ、及びφ4
が印加される電極に信号電荷31が蓄積される。すなわ
ち信号電荷31はφ、とφ、の電極直下から、φ4とφ
、の電極直下へ移動されている。
次にし、の時間において、信号な荷31はφ1の電極直
下のみに蓄積される。前bitの信号電荷32は、φR
OがHighになることによって、リセット電極直下の
ポテンシャルが、Voo(リセットバイアス電位)の電
位を越えるため、フローティングデイフュージョンの電
位はVooの電位にセラ1〜されると同時に信号電荷3
2がリセットされる。1<の時間においてφROがLo
wになり、リセット電極直下のポテンシャルが下がり、
フローティングデイフュージョンは、VODと同等の電
位でV。。端子と切り離され、フローティングとなる。
次にt、の時間の時φ1はLow状態になるときに信号
電荷31は出力ゲートを通りフローティングデイフュー
ジョンへ読み出される。信号電荷31の電荷量をqとし
、フローティングデイフュージョンの容量をCpoとす
るとV。u7は次式となる。
すなわちFDA法は、信号電荷qをフローティングの容
量に読み出し、その容量の電位変化を出力する0通常こ
のV。IJTをMOSトランジスタで構成したソースホ
ロアAMPで増幅して出力される。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし以下の欠点を有しているため実用化が、はばまれ
る。
第4図に、電極に印加されるゲート電圧■。に対する、
電極直下のポテンシャルVCPの関係を示す、VCPは
次式で現わされる。
Vcp(Va )=aVo +Vcp(Va =ov)
・・・(2) 但しa<1であり、酸化膜厚1200人、酸化膜の比誘
電率3.8とするとaξ0.8となる。
Vcp (Va =OV )の値はn型不純’lII層
12の濃度で決定される。
CODの出力部での各電極の直下のポテンシャルの相対
条件は次の様になる。
例えば■。o=i2v、タロツク電圧の振幅を12■と
すると、具体的な値は下記の様になる。
これ等を満足する様な(2)式のVcp(Va”’0)
の条件は、次の様になる。
・リセット電極部 VcP(VQ=o)ン2.4V Vcp(Vo−=Oi <9V      −(5)・
転送電極部 V、p(V、=0)<0.4V VCP(V(1=O) <7V     =−(6)よ
って■。p(Va =ov)の条件はリセット電極部、
転送電極部両方を満足する2、4V〜7Vとなる。
現在実用化されているCCDのほとんどが12vt源、
12Vの駆動パルス及びクロックであるなめ以下の2点
の問題を有している。
まず第1にタロツクの振幅が大きいためにタロツク雑音
が発生ずる。そのため情報機器等に適用されているVC
CI規制値を満足することが几しい、第2にCODの駆
動ドライバーの設計が鉗しい等の欠点を有している。そ
こでクロック電圧を現在多くの機器で使用されている5
Vにすることが有力な手段となる。よって前記の通り5
V&iUのクロックにした場合の出力部の条件は下記の
通りとなる。
・リセット電極部 Vcp(Va =0 ) >8V Vcp(Vo=O)<9V      −(7)・転送
電極部 Vcp(Vo =O) >6V Vcp(Va =Q ) <7V      −(8)
よってVC,(V、=O)の榮件は成り立たなくなり、
タロツク電圧5V化の実用化がはばまれている。そこで
本発明は、クロック電柱5Vを実現することを目的とす
る。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の電荷結合素子は、第一導電型の半導体基板と、
該半導体基板の1主表面に絶縁膜を介して設けられた多
数の転送電極と、前記転送電極の最終段の電極直下部に
少なくとも隣接する反対導電型領域を含む電荷検出部と
、前記電荷検出部の信号電荷をリセットするために設け
られたリセット・電極と、前記リセット電極直下部に少
なくとも隣接する反対導電型領域を含むリセット部と、
から成る電荷結合素子において、前記リセット電極直下
の反対導電型領域の不純物層の濃度が、前記転送電極の
最終段の電極直下の反対導電型領域の不純物層の濃度よ
り、少なくとも1,1倍の濃度を有した前記リセット電
極直下の反対導電型領域を形成したことを特徴とする。
〔作 用〕
本発明の上記の構造にすることによって、次の作用を得
る。
CCDの駆動クロックの低電圧化が可能となりクロック
雑音の低減、駆動ドライバーの設計が容易になる。
〔実 施 例〕
本発明の電荷結合素子の実施例を第1図に示す。
従来の第5図の電荷結合素子と比較して異なる点は、従
来の構造は転送電極直下とリセット電極直下のn型不純
物層が12に示す様に同じ濃度であるのに対して本発明
は、転送電極直下のn型不純01層12とリセット電極
直下の不純物層13の濃度が異なっている点である。
第4図にゲート電圧■。とゲート電極直下のポテンシャ
ルVcPの関係を示す、1の直線が転送電極直下の■c
P−■。特性を示し、2の直線が、リセット電極直下の
Vc、V。特性を示す。
クロック電圧の低電圧化、例えば5■化を実現するには
、前記の式(7)、(8)を満足しなくてはいけない、
リセット電極部のVcp (Va ”” O)の条件は
8■〜9■の範囲であり、第4図2の直線となる。転送
電極部のVC,(V、=O)の条件は6V〜7vとなり
、第4図の1の直線となる。
この様に本発明は、転送電極直下のチャンネルポテンシ
ャルと、リセット電極直下のチャンネルポテンシャルを
変えるために、t [i直下のn型不純物層の濃度を転
送電極よりリセット電極の方が少なくとも1゜1倍の濃
度を有しなn型不純物層を備えることによって、CCD
を5■電圧のクロックで駆動することが、可能となった
〔発明の効果〕
本発明は、リセット電極と転送電極直下のn型不純物層
の濃度に対し、リセット電極直下の濃度を少なくとも1
.1倍にいすることによって、チャンネルポテンシャル
を大きくすることが可能になり、信号電荷を完全にリセ
ット可能となったため、CCDの5VISIK動が実現
でき、クロック雑音の低減及びCODドライバーの簡単
化、消費電力の低減か可能となる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による電荷結合素子の構造図であり、第
2図は駆動状態のタイミングチャートであり、第3図は
駆動状態のポテンシャル関係図であり、第4図はゲート
電圧に対する電極直下のポテンシャル図である。第5図
は従来の電荷結合素子のjrf4造図である。 1・・・転送電極直下の■cP−Vo特性2・・・リセ
ット電極直下のVcp  Va特性11・・・P型半導
体基板 12・・・n型不純物層 13・・・n型不純物層 10.14・・n型拡散層 15・・・絶縁膜 16〜22・・電極(Poly  5i)23・・・フ
ローティング デイフュージョン25・・・アウトプッ
ト ソース電圧 (リセット電圧) 31.32・・信号電荷 以上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 最 上  務(fl!!1名)あl固 −ψ;)G        ”  、“ 。 11 12  t3t4 15 舅2M 3 φl φ2φ3−φI 向−φ局−3EJ 5m

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  第一導電型の半導体基板と、該半導体基板の1主表面
    に絶縁膜を介して設けられた多数の転送電極と、前記転
    送電極の最終段の電極直下部に少くとも隣接する反対導
    電型領域を含む電荷検出部と、前記電荷検出部の信号電
    荷をリセットするために設けられたリセット電極と、前
    記リセット電極直下部に少くとも隣接する反対導電型領
    域を含むリセット部と、から成る電荷結合素子において
    、前記リセット電極直下の反対導電型領域の不純物層の
    濃度が、前記転送電極の最終段の電極直下の反対導電型
    領域の不純物層の濃度より、少なくとも1.1倍の濃度
    を有した前記リセット電極直下の反対導電型領域を形成
    したことを特徴とする電荷結合素子。
JP63018110A 1988-01-28 1988-01-28 電荷結合素子 Pending JPH01194360A (ja)

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