JPH01200647A - 半導体集積回路装置 - Google Patents
半導体集積回路装置Info
- Publication number
- JPH01200647A JPH01200647A JP2617588A JP2617588A JPH01200647A JP H01200647 A JPH01200647 A JP H01200647A JP 2617588 A JP2617588 A JP 2617588A JP 2617588 A JP2617588 A JP 2617588A JP H01200647 A JPH01200647 A JP H01200647A
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- Japan
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- power supply
- logic circuit
- circuit section
- delay
- delay time
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、同一サイズのトランジスタをアレイ状に配置
してなり、遅延回路部を有するマスタースライス方式の
半導体集積回路装置(LSI)に関する。
してなり、遅延回路部を有するマスタースライス方式の
半導体集積回路装置(LSI)に関する。
〈従来の技術〉
マスタースライス方式とは、設計された基本パターンに
従って同一サイズのトランジスタ等の素子をアレイ状に
配置し、必要に応じて素子間の接続態様を変えて個々の
LSIを製造する方式をいう。このマスタースライス方
式で作られたLSIの遅延回路部は、トランジスタ等を
組み合わけてなる多段の論理ゲートで措成され、この論
理ゲートを通過さU゛ることにより信号を遅延さl′る
ものである。
従って同一サイズのトランジスタ等の素子をアレイ状に
配置し、必要に応じて素子間の接続態様を変えて個々の
LSIを製造する方式をいう。このマスタースライス方
式で作られたLSIの遅延回路部は、トランジスタ等を
組み合わけてなる多段の論理ゲートで措成され、この論
理ゲートを通過さU゛ることにより信号を遅延さl′る
ものである。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、遅延回路は、各トランジスタのゲート幅を狭
くしたりゲート長を長くしたりして、ゲート1段当たり
の遅延時間を延ばすことによっても実現できる。しかし
ながら、上記マスタースライス方式のLSIでは、マス
タウェハに作り込まれた各トランジスタは、全て同一サ
イズで、しかも高速動作を目標としているため1段当た
りの遅延時間が短い。従って、上記従来のLSIで遅延
回路を実現しようとすると、論理ゲートの段数を増加せ
ざるを得す、そのために多くのトランジスタ等の素子が
必要となり、遅延回路以外の論理回踏部などに使用でき
る素子数が減少してしまうという欠点がある。
くしたりゲート長を長くしたりして、ゲート1段当たり
の遅延時間を延ばすことによっても実現できる。しかし
ながら、上記マスタースライス方式のLSIでは、マス
タウェハに作り込まれた各トランジスタは、全て同一サ
イズで、しかも高速動作を目標としているため1段当た
りの遅延時間が短い。従って、上記従来のLSIで遅延
回路を実現しようとすると、論理ゲートの段数を増加せ
ざるを得す、そのために多くのトランジスタ等の素子が
必要となり、遅延回路以外の論理回踏部などに使用でき
る素子数が減少してしまうという欠点がある。
そこで、本発明の目的は、トランジスタゲートの遅延時
間が電源電圧によって変化することに着目し、少ない素
子数で遅延回路部を構成することができ、論理回路部等
により多くの素子を使用することができるマスタースラ
イス方式の半導体集積回路装置(LSI)を提供するこ
とである。
間が電源電圧によって変化することに着目し、少ない素
子数で遅延回路部を構成することができ、論理回路部等
により多くの素子を使用することができるマスタースラ
イス方式の半導体集積回路装置(LSI)を提供するこ
とである。
く課題を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、本発明のマスタースライス方
式の半導体集積回路装置は、論理回路部と、この論理回
路部に給電する論理回路用電源供給線と、入力信号を遅
延させて出力する遅延回路部と、上記論理回路用電源供
給線と別系統であって上記遅延回路部に給電する遅延回
路用電源供給線とを備えたことを特徴とする。
式の半導体集積回路装置は、論理回路部と、この論理回
路部に給電する論理回路用電源供給線と、入力信号を遅
延させて出力する遅延回路部と、上記論理回路用電源供
給線と別系統であって上記遅延回路部に給電する遅延回
路用電源供給線とを備えたことを特徴とする。
く作用〉
半導体集積回路装置を構成する個々のMOS形等のトラ
ンジスタにおける信号遅延時間は、電源電圧が低くなる
ほど長くなる。従って、遅延回路用電源供給線に論理回
路用電源供給線上りら低い電源電圧を印加すれば、遅延
回路部のゲート1段当たりの遅延時間が長くなって、少
ない段数即ち少ないトランジスタ数で廣望の遅延時間を
得ることができる。
ンジスタにおける信号遅延時間は、電源電圧が低くなる
ほど長くなる。従って、遅延回路用電源供給線に論理回
路用電源供給線上りら低い電源電圧を印加すれば、遅延
回路部のゲート1段当たりの遅延時間が長くなって、少
ない段数即ち少ないトランジスタ数で廣望の遅延時間を
得ることができる。
〈実施例〉
以下、本発明を図示の実施例により詳細に説明する。
第1図は本発明のマスタースライス方式の半導体集積回
路装置(LSI)の一実施例を示す模式図であり、1.
4は論理回路部、2はインバータ2aを多段接続してな
り、上記論理回路部1からの人力信号を遅延させて出力
する遅延回路部、3はこの遅延回路部2の出力信号のレ
ベルを上げて上記論理回路部4へ伝送するレベル変換回
路部、5は上記論理回路部1.4およびレベル変換回路
部3へ711源電圧Vccを供給する論理回路用電源供
給線、6は上記遅延回路部2とレベル変換回路部3へ上
記電源電圧Vccよりも低い電源電圧Vcc’を供給す
る遅延回路用電源供給線であり、上記各回路部1.2,
3.4は、具体的にはマスタウェハにアレイ状に作り込
まれた同一サイズのMOSFET(MO8形電界効果ト
ラジジスタ)を相互に適宜接続して構成される。
路装置(LSI)の一実施例を示す模式図であり、1.
4は論理回路部、2はインバータ2aを多段接続してな
り、上記論理回路部1からの人力信号を遅延させて出力
する遅延回路部、3はこの遅延回路部2の出力信号のレ
ベルを上げて上記論理回路部4へ伝送するレベル変換回
路部、5は上記論理回路部1.4およびレベル変換回路
部3へ711源電圧Vccを供給する論理回路用電源供
給線、6は上記遅延回路部2とレベル変換回路部3へ上
記電源電圧Vccよりも低い電源電圧Vcc’を供給す
る遅延回路用電源供給線であり、上記各回路部1.2,
3.4は、具体的にはマスタウェハにアレイ状に作り込
まれた同一サイズのMOSFET(MO8形電界効果ト
ラジジスタ)を相互に適宜接続して構成される。
第2図は、上記レベル変換回路部3の構成例を示す回路
図である。このレベル変換回路部3は、N。
図である。このレベル変換回路部3は、N。
PチャンネルFET(Tn、Tp)からなる前段のCM
OSインバータIOと、NチャンネルFET(Tn)を
夫々3個並列接続してなる第1および第2並列!?ET
11.12と、PチャンネルFET(Tp)を夫々3個
直列接続してなる第1および第2直列FET13,14
と、後段のインバータ15からなる。
OSインバータIOと、NチャンネルFET(Tn)を
夫々3個並列接続してなる第1および第2並列!?ET
11.12と、PチャンネルFET(Tp)を夫々3個
直列接続してなる第1および第2直列FET13,14
と、後段のインバータ15からなる。
そして、いま入力端子INにI−Iの信号が人力されて
いるとすると、CMOSインバータ10のFET (T
n)および第2並列F’ET 12と第1直列FET
l3がオンに、第1並列FETIIと第2直列FE’l
’14がオフで、出力端子OU ’1”に1夏の信号が
出力されているとき、入力端子INにLの信号が入力さ
れると、CMOSインバータlOのFE’r(Tp)お
よび第1並列rjET l 1がオンになり並列FET
12がオフになる。このときノード17は、第2並列F
’ET12.第2直列17 E’1’ 14が共にオフ
になるため電位か定まらないが、ノード16の電位は第
1並列r;’Eq”ttがオンしており、この能力が第
1直列FET l 3より高いためノード!7と同電位
である第1直列FET13の入力にかかわらず、ノード
16の電位はLになる。この結果、第2直列FET14
がオンに、第1直列FET13がオフになって、出力端
子00′rにLの信号が出力されるようになっている。
いるとすると、CMOSインバータ10のFET (T
n)および第2並列F’ET 12と第1直列FET
l3がオンに、第1並列FETIIと第2直列FE’l
’14がオフで、出力端子OU ’1”に1夏の信号が
出力されているとき、入力端子INにLの信号が入力さ
れると、CMOSインバータlOのFE’r(Tp)お
よび第1並列rjET l 1がオンになり並列FET
12がオフになる。このときノード17は、第2並列F
’ET12.第2直列17 E’1’ 14が共にオフ
になるため電位か定まらないが、ノード16の電位は第
1並列r;’Eq”ttがオンしており、この能力が第
1直列FET l 3より高いためノード!7と同電位
である第1直列FET13の入力にかかわらず、ノード
16の電位はLになる。この結果、第2直列FET14
がオンに、第1直列FET13がオフになって、出力端
子00′rにLの信号が出力されるようになっている。
入力がLから11に変わったときも同様に第2直列FE
T14と第2並列r’ET l 2の能力差によりI−
1が出力される。
T14と第2並列r’ET l 2の能力差によりI−
1が出力される。
第3図は、第1図、第2図に示した実施例の具体的パタ
ーンを示す平面図である。このLSIは、第3図に示す
基板の左側に縦方向に等間隔をおいて矩形のN拡散領域
20を、右側に同様に矩形のP拡散領域21を夫々形成
し、各N拡散領域20に延在する一対のポリシリコンゲ
ート(G n、 G n)を形成してNチャンネルFE
T(Tn)となす一方、各PtM領域2■に延在する一
対のポリシリコンゲート(Gp、Gp)を形成してPチ
ャンネルF’ET(T[))となすとともに、左のNヂ
ャンネル側に接地線GNDを、右のPヂャンネル側にV
cc、 V cc’を供給する電源供給線5.6を夫
々縦に形成してなる。
ーンを示す平面図である。このLSIは、第3図に示す
基板の左側に縦方向に等間隔をおいて矩形のN拡散領域
20を、右側に同様に矩形のP拡散領域21を夫々形成
し、各N拡散領域20に延在する一対のポリシリコンゲ
ート(G n、 G n)を形成してNチャンネルFE
T(Tn)となす一方、各PtM領域2■に延在する一
対のポリシリコンゲート(Gp、Gp)を形成してPチ
ャンネルF’ET(T[))となすとともに、左のNヂ
ャンネル側に接地線GNDを、右のPヂャンネル側にV
cc、 V cc’を供給する電源供給線5.6を夫
々縦に形成してなる。
そして、上記N、PヂャンネルF’ET(Tn、Tp)
、接地線CND、電源供給線5.6を互いに多数のコン
タクトホール22を介して配線23で適宜接続して回路
が構成され、図中の1〜4は、第1図の論理回路部1,
4、遅延回路部2、レベル変換回路部3に夫々対応して
いる。
、接地線CND、電源供給線5.6を互いに多数のコン
タクトホール22を介して配線23で適宜接続して回路
が構成され、図中の1〜4は、第1図の論理回路部1,
4、遅延回路部2、レベル変換回路部3に夫々対応して
いる。
即ち、上記遅延回路部2は、N、PチャンネルFET(
Tn、Tp)からなるCMOSインバータ2a(第1図
参照)を5段直列接続してなり、論理回路部1からの入
ツJ信号はゲートG、〜G、を経るたびに反転される。
Tn、Tp)からなるCMOSインバータ2a(第1図
参照)を5段直列接続してなり、論理回路部1からの入
ツJ信号はゲートG、〜G、を経るたびに反転される。
また上記レベル変換回路部3は、第2図にも述べたよう
に、CMOSインバータlOと、NチャンネルF’ET
(Tn)を夫々3個並列接続してなる第1および第2並
列FETII、12と、PチャンネルFET(Tp)を
夫々3個直列接続してなる第1および第2直列FBT1
3.+4と、後段のCMOSインパーク15からなる。
に、CMOSインバータlOと、NチャンネルF’ET
(Tn)を夫々3個並列接続してなる第1および第2並
列FETII、12と、PチャンネルFET(Tp)を
夫々3個直列接続してなる第1および第2直列FBT1
3.+4と、後段のCMOSインパーク15からなる。
そして、レベル変換@踏部3の最終段のドレインを、次
の論理回路部4の初段のゲートG1.に接続している。
の論理回路部4の初段のゲートG1.に接続している。
上記構成のLSIの作用、動作について次に述べる。
遅延回路部2は、論理回路部!、4の電源電圧Vcc(
例えば5V)よりも低い電源電圧Vcc’(例えば2.
5V)で駆動されるため、論理回路部1から5段の各イ
ンバータ2aを通過して論理回路部4に人力される信号
の遅延時間も、論理回路部1゜4における信号の遅延時
間よりも長くなる。従って、電源電圧Vccで駆動され
る場合に比して少数個のインバータ2aで同じ遅延時間
を実現することができ、所望の遅延時間を得るに必要な
F ET個敢が少なくて済み、論理回路部1.4等に、
より多くのF E Tを使用できるという利点がある。
例えば5V)よりも低い電源電圧Vcc’(例えば2.
5V)で駆動されるため、論理回路部1から5段の各イ
ンバータ2aを通過して論理回路部4に人力される信号
の遅延時間も、論理回路部1゜4における信号の遅延時
間よりも長くなる。従って、電源電圧Vccで駆動され
る場合に比して少数個のインバータ2aで同じ遅延時間
を実現することができ、所望の遅延時間を得るに必要な
F ET個敢が少なくて済み、論理回路部1.4等に、
より多くのF E Tを使用できるという利点がある。
なお、バックアップモード時や動作時の消費電流が大き
くてもよければ、上記レベル変換回路部3を第4図に示
すように構成することもできる。
くてもよければ、上記レベル変換回路部3を第4図に示
すように構成することもできる。
このレベル変換回路部3°は、第2図に示したCMOS
インバータ10のPチャンネルFET(TI))を、P
ET(TI))を3個直列接続してなる電源Vccで駆
動される直列FET25に、CMOSインバータlOの
NチャンネルFET(Tn)を、FET(Tn)を3個
並列接続してなる並列FET26に夫々変更したもので
ある。このレベル変換回路3°では、直列インバータ2
5のソースSpに印加される電源電圧Vccが、入力端
子INの信号レベル(V cc’ )よりも大きいため
、V cc’に相当する+(の信号が入力端子INに入
力されると、直列PET25が完全にはオフにならず半
ば導通して、インバータ15にLの信号が入力され、こ
れが反転されて出力端子OUTにトrの出力信号が得ら
れるが、導通した上記両インバータ26.25を介して
アースに貫通電流が流れ、消費電力が多くなり、またバ
ックアップモード時にも同様の欠点があるが、素子数が
少なくて済むという利点がある。
インバータ10のPチャンネルFET(TI))を、P
ET(TI))を3個直列接続してなる電源Vccで駆
動される直列FET25に、CMOSインバータlOの
NチャンネルFET(Tn)を、FET(Tn)を3個
並列接続してなる並列FET26に夫々変更したもので
ある。このレベル変換回路3°では、直列インバータ2
5のソースSpに印加される電源電圧Vccが、入力端
子INの信号レベル(V cc’ )よりも大きいため
、V cc’に相当する+(の信号が入力端子INに入
力されると、直列PET25が完全にはオフにならず半
ば導通して、インバータ15にLの信号が入力され、こ
れが反転されて出力端子OUTにトrの出力信号が得ら
れるが、導通した上記両インバータ26.25を介して
アースに貫通電流が流れ、消費電力が多くなり、またバ
ックアップモード時にも同様の欠点があるが、素子数が
少なくて済むという利点がある。
第5図は、上記遅延回路部2等を構成する各FETの駆
動電圧とゲート遅延時間の関係を示すグラフである。図
から明らかなように、電源電圧を1/2にするとゲート
遅延時間は略3〜4倍になる。従って、論理回路部1.
4の電源電圧Vcc=5■のとき、遅延回路部2のf、
源電圧Vcc’−2゜5■とすれば、遅延回路部2を構
成するに必要な素子数は従来の1/3〜1/4まで削減
することができ、削減した素子を論理回路部1.4等に
使用することができる。
動電圧とゲート遅延時間の関係を示すグラフである。図
から明らかなように、電源電圧を1/2にするとゲート
遅延時間は略3〜4倍になる。従って、論理回路部1.
4の電源電圧Vcc=5■のとき、遅延回路部2のf、
源電圧Vcc’−2゜5■とすれば、遅延回路部2を構
成するに必要な素子数は従来の1/3〜1/4まで削減
することができ、削減した素子を論理回路部1.4等に
使用することができる。
なお、本発明が上記実施例に限られないのはいうまでも
ない。
ない。
〈発明の効果〉
以上の説明で明らかなように、本発明のマスタースライ
ス方式の半導体集積回路装置は、遅延回路部に論理回路
部より低い電源電圧を供給して、個々の論理ゲートにお
ける信号遅延時間を延ばすことにより、遅延回路部の構
成に必要な素子数を従来の!/3〜l/4程度に削減す
ることができ、削減した素子を他の回路部に有効に用い
ることができる。
ス方式の半導体集積回路装置は、遅延回路部に論理回路
部より低い電源電圧を供給して、個々の論理ゲートにお
ける信号遅延時間を延ばすことにより、遅延回路部の構
成に必要な素子数を従来の!/3〜l/4程度に削減す
ることができ、削減した素子を他の回路部に有効に用い
ることができる。
第1図は本発明のマスタースライス方式のLSIの一実
施例を示す模式図、第2図は第1図のレベル変換回路部
の一例を示す回路図、第3図は上記実施例の具体的パタ
ーンを示す平面図、第4図は変換回路部の他の例を示す
回路図、第5図はFETの駆動電圧とゲート遅延時間の
関係を示す図である。 1.4・・・論理回路部、 2・・・遅延回路部、2a
・・・インバータ、3・・・レベル変換回路部、5・・
・論理回路用電源供給線、 6・・・遅延回路用電源供給線。
施例を示す模式図、第2図は第1図のレベル変換回路部
の一例を示す回路図、第3図は上記実施例の具体的パタ
ーンを示す平面図、第4図は変換回路部の他の例を示す
回路図、第5図はFETの駆動電圧とゲート遅延時間の
関係を示す図である。 1.4・・・論理回路部、 2・・・遅延回路部、2a
・・・インバータ、3・・・レベル変換回路部、5・・
・論理回路用電源供給線、 6・・・遅延回路用電源供給線。
Claims (1)
- (1)同一サイズのトランジスタをアレイ状に配置して
なるマスタースライス方式の半導体集積回路装置におい
て、論理回路部と、この論理回路部に給電する論理回路
用電源供給線と、入力信号を遅延させて出力する遅延回
路部と、上記論理回路用電源供給線と別系統であって上
記遅延回路部に給電する遅延回路用電源供給線とを備え
たことを特徴とする半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2617588A JPH01200647A (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | 半導体集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2617588A JPH01200647A (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | 半導体集積回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01200647A true JPH01200647A (ja) | 1989-08-11 |
Family
ID=12186199
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2617588A Pending JPH01200647A (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | 半導体集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01200647A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7007257B2 (en) | 2002-05-22 | 2006-02-28 | Renesas Technology Corp. | Automatic placement and routing apparatus for designing integrated circuit that controls its timing using multiple power supplies |
-
1988
- 1988-02-04 JP JP2617588A patent/JPH01200647A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7007257B2 (en) | 2002-05-22 | 2006-02-28 | Renesas Technology Corp. | Automatic placement and routing apparatus for designing integrated circuit that controls its timing using multiple power supplies |
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