JPH0120808B2 - - Google Patents
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- JPH0120808B2 JPH0120808B2 JP56098018A JP9801881A JPH0120808B2 JP H0120808 B2 JPH0120808 B2 JP H0120808B2 JP 56098018 A JP56098018 A JP 56098018A JP 9801881 A JP9801881 A JP 9801881A JP H0120808 B2 JPH0120808 B2 JP H0120808B2
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- circuit
- overcurrent
- switching element
- transistor
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/082—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit
- H03K17/0826—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage by feedback from the output to the control circuit in bipolar transistor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
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- Dc-Dc Converters (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Protection Of Static Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、パルス幅変調型のスイツチングレギ
ユレータ、増幅回路などのパルス幅変調回路方式
を用いたシステムにおいて、過電流からスイツチ
ング素子およびその周辺素子を保護する保護装置
に関するものである。
ユレータ、増幅回路などのパルス幅変調回路方式
を用いたシステムにおいて、過電流からスイツチ
ング素子およびその周辺素子を保護する保護装置
に関するものである。
第1図および第2図は、この種の過電流保護手
段を備えた従来例の保護システムを示すブロツク
図である。第1図、第2図では、パルス幅変調回
路1の出力1cによりスイツチング素子、平滑回
路等の負荷を含む出力部2が制御され、出力部2
の過電流を過電流検出回路3で検出して出力部2
内のスイツチング素子等を保護するものである。
特に、第1図の場合は過電流検出回路3の出力3
bをパスル幅変調回路1へ供給し、その出力1c
を遮断することで保護作用するものである。第2
図の場合は過電流検出回路3の出力3bをパルス
幅変調回路1と出力部2との間に挿入されたスイ
ツチ回路4へ供給し、その開成により出力1cの
供給を禁止するものである。従つて、第1図の場
合はパルス幅変調回路1の出力1cが直接に、第
2図の場合はスイツチ回路4を通じて、出力部2
の内部のスイツチング素子あるいはその前段のド
ライバ等をスイツチすることにより、電流を負荷
の平滑回路に供与し、その出力端子2bに出力電
圧を供給する。なお、第1図、第2図において、
パルス幅変調回路1の入力1aと出力端子2bよ
りの帰環入力1bとを設けているが、システムが
スイツチングレギユレータなどの閉ループ制御型
のシステムであれば入力端子1aは除外し、パル
ス幅変調型増幅回路であれば1bへの帰環入力は
必らずしも必要ではない。
段を備えた従来例の保護システムを示すブロツク
図である。第1図、第2図では、パルス幅変調回
路1の出力1cによりスイツチング素子、平滑回
路等の負荷を含む出力部2が制御され、出力部2
の過電流を過電流検出回路3で検出して出力部2
内のスイツチング素子等を保護するものである。
特に、第1図の場合は過電流検出回路3の出力3
bをパスル幅変調回路1へ供給し、その出力1c
を遮断することで保護作用するものである。第2
図の場合は過電流検出回路3の出力3bをパルス
幅変調回路1と出力部2との間に挿入されたスイ
ツチ回路4へ供給し、その開成により出力1cの
供給を禁止するものである。従つて、第1図の場
合はパルス幅変調回路1の出力1cが直接に、第
2図の場合はスイツチ回路4を通じて、出力部2
の内部のスイツチング素子あるいはその前段のド
ライバ等をスイツチすることにより、電流を負荷
の平滑回路に供与し、その出力端子2bに出力電
圧を供給する。なお、第1図、第2図において、
パルス幅変調回路1の入力1aと出力端子2bよ
りの帰環入力1bとを設けているが、システムが
スイツチングレギユレータなどの閉ループ制御型
のシステムであれば入力端子1aは除外し、パル
ス幅変調型増幅回路であれば1bへの帰環入力は
必らずしも必要ではない。
これら第1図、第2図の従来方式では瞬時的な
過電流に対する出力部2のスイツチング素子等の
保護が行なわれる。しかしながら、負荷インピー
ダンスが極端に小さくなつて過電流が連続的に検
出されるような異常時には、出力部2におけるス
イツチング動作は継続され、出力部2への信号1
cの完全な遮断は行なわれずにスイツチング素子
等の劣化、破壊さらにはシステム全体の破壊に通
じる場合もある。
過電流に対する出力部2のスイツチング素子等の
保護が行なわれる。しかしながら、負荷インピー
ダンスが極端に小さくなつて過電流が連続的に検
出されるような異常時には、出力部2におけるス
イツチング動作は継続され、出力部2への信号1
cの完全な遮断は行なわれずにスイツチング素子
等の劣化、破壊さらにはシステム全体の破壊に通
じる場合もある。
本発明の目的は、瞬時的な過電流に対する素子
等の保護に加えて、上述の異常時における素子の
破壊をも防止する保護システムを提供するもので
ある。
等の保護に加えて、上述の異常時における素子の
破壊をも防止する保護システムを提供するもので
ある。
本発明の保護システムのブロツク図の例を第3
図に、および本保護システムを使用した場合の保
護動作のタイミング・チヤートを第4図、第5
図、第6図に示す。
図に、および本保護システムを使用した場合の保
護動作のタイミング・チヤートを第4図、第5
図、第6図に示す。
第3図における本システムでは、パルス幅変調
回路1の出力1cは第1のスイツチ回路4を介し
て出力部2へ供給される。出力部2での過電流は
過電流検出回路3で検出され、その検出出力が第
1の双安定マルチバイブレータ11のセツト入力
Sへ供給される。第1の双安定マルチバイブレー
タ11の出力は第1のスイツチ回路4および第2
のスイツチ回路6へ供給されて、それらの開閉を
制御する。第2のスイツチ回路6は、定電流回路
5と抵抗7およびコンデンサ8の並列回路との間
に挿入されている。これらで充放電回路15が構
成される。充放電回路15の出力、即ちコンデン
サ8の出力電圧(以下、積分電圧という)は基準
電圧12と電圧比較器10で比較される。その比
較結果は第2の双安定マルチバイブレータ14の
セツト入力Sへ供給される。双安定マルチバイブ
レータ14の出力14cは第1のスイツチ回路4
へ供給されてその開閉を制御する。第1および第
2の双安定マルチバイブレータ11および14は
リセツト入力Rを備えている。第1の双安定マル
チバイブレータのリセツト入力Rにはパルス幅変
調回路1の出力がインバータ9を介して入力さ
れ、第2のそれのリセツト入力Rには初期設定回
路13の出力が供給される。
回路1の出力1cは第1のスイツチ回路4を介し
て出力部2へ供給される。出力部2での過電流は
過電流検出回路3で検出され、その検出出力が第
1の双安定マルチバイブレータ11のセツト入力
Sへ供給される。第1の双安定マルチバイブレー
タ11の出力は第1のスイツチ回路4および第2
のスイツチ回路6へ供給されて、それらの開閉を
制御する。第2のスイツチ回路6は、定電流回路
5と抵抗7およびコンデンサ8の並列回路との間
に挿入されている。これらで充放電回路15が構
成される。充放電回路15の出力、即ちコンデン
サ8の出力電圧(以下、積分電圧という)は基準
電圧12と電圧比較器10で比較される。その比
較結果は第2の双安定マルチバイブレータ14の
セツト入力Sへ供給される。双安定マルチバイブ
レータ14の出力14cは第1のスイツチ回路4
へ供給されてその開閉を制御する。第1および第
2の双安定マルチバイブレータ11および14は
リセツト入力Rを備えている。第1の双安定マル
チバイブレータのリセツト入力Rにはパルス幅変
調回路1の出力がインバータ9を介して入力さ
れ、第2のそれのリセツト入力Rには初期設定回
路13の出力が供給される。
次に、パルス幅変調回路1からの出力パルス1
cがハイレベルのときに出力部2のスイツチング
素子が導通するものとして、第4図のタイミン
グ・チヤートにより瞬時的な過電流に対する第3
図の保護システムの動作を説明する。
cがハイレベルのときに出力部2のスイツチング
素子が導通するものとして、第4図のタイミン
グ・チヤートにより瞬時的な過電流に対する第3
図の保護システムの動作を説明する。
今、パルス幅変調回路1の入力1aに加えられ
る入力信号V1aにより、その信号レベルに応じて
パルス幅変調されたパルスV1cが出力1cに供給
される。このパルスV1cは通常は閉じた状態にあ
る第1のスイツチ回路4を通じて出力部2の入力
2aにパルスV2aとして印加される。このパルス
V2aがハイレベルのときに出力部2のスイツチン
グ素子が導通し、負荷に電流が供給されて出力部
2の出力2bには出力電圧V2bが出力される。
尚、スイツチング素子は導通、遮断をくり返す
が、スイツチング素子に接続されたフイルターに
より負荷には直流電圧が供給される。ここで、出
力部2のスイツチング素子に過電流が過電流検出
回路3により検出されると、その出力3bにはパ
ルスV3bが発生する。そこで、これを入力とする
第1の双安定マルチバイブレータ11はセツトさ
れ、この出力11cの信号が第1のスイツチ回路
4を開成する。このため、出力部2への信号路が
遮断される。その結果、端子2aに加わるパルス
は、端子3bよりパルスV3bが出力された時点で
ロウレベルとなり、端子1cからのパルスV1cの
一部が欠けたパルスとなる。
る入力信号V1aにより、その信号レベルに応じて
パルス幅変調されたパルスV1cが出力1cに供給
される。このパルスV1cは通常は閉じた状態にあ
る第1のスイツチ回路4を通じて出力部2の入力
2aにパルスV2aとして印加される。このパルス
V2aがハイレベルのときに出力部2のスイツチン
グ素子が導通し、負荷に電流が供給されて出力部
2の出力2bには出力電圧V2bが出力される。
尚、スイツチング素子は導通、遮断をくり返す
が、スイツチング素子に接続されたフイルターに
より負荷には直流電圧が供給される。ここで、出
力部2のスイツチング素子に過電流が過電流検出
回路3により検出されると、その出力3bにはパ
ルスV3bが発生する。そこで、これを入力とする
第1の双安定マルチバイブレータ11はセツトさ
れ、この出力11cの信号が第1のスイツチ回路
4を開成する。このため、出力部2への信号路が
遮断される。その結果、端子2aに加わるパルス
は、端子3bよりパルスV3bが出力された時点で
ロウレベルとなり、端子1cからのパルスV1cの
一部が欠けたパルスとなる。
次に、出力1cがロウレベルとなると、その信
号もしくはパルス幅変調回路1の内部でこの期間
に同期したパルスにより、第1の双安定マルチバ
イブレータ11はリセツトされる。この結果、出
力11cのパルスで第1のスイツチ回路4が再び
閉成される。以上の一連の動作により瞬時的な過
電流に対するスイツチング素子等の保護が行なわ
れる。
号もしくはパルス幅変調回路1の内部でこの期間
に同期したパルスにより、第1の双安定マルチバ
イブレータ11はリセツトされる。この結果、出
力11cのパルスで第1のスイツチ回路4が再び
閉成される。以上の一連の動作により瞬時的な過
電流に対するスイツチング素子等の保護が行なわ
れる。
また、瞬時的な過電流が検出されて第1のスイ
ツチ回路4が開している期間中、同時に第1の双
安定マルチバイブレータ11の出力11cの信号
により充放電回路15の第2のスイツチ回路6が
閉成される。このため、定電流回路5からの定電
流によりコンデンサ8が充電される。前記のごと
く第1の双安定マルチバイブレータ11が再びリ
セツトされると、この出力11cの信号で第2の
スイツチ回路6は開成される。従つて、コンデン
サ8の電荷は抵抗7を介して放電される。従つ
て、充放電回路15の積分電圧波形は第4図の電
圧波形V10aとなる。なお、これらの説明で、過電
流検出回路3はスイツチング素子が導通している
期間中に過電流検出をリアルタイムに行なうもの
である。
ツチ回路4が開している期間中、同時に第1の双
安定マルチバイブレータ11の出力11cの信号
により充放電回路15の第2のスイツチ回路6が
閉成される。このため、定電流回路5からの定電
流によりコンデンサ8が充電される。前記のごと
く第1の双安定マルチバイブレータ11が再びリ
セツトされると、この出力11cの信号で第2の
スイツチ回路6は開成される。従つて、コンデン
サ8の電荷は抵抗7を介して放電される。従つ
て、充放電回路15の積分電圧波形は第4図の電
圧波形V10aとなる。なお、これらの説明で、過電
流検出回路3はスイツチング素子が導通している
期間中に過電流検出をリアルタイムに行なうもの
である。
次に、過電流が連続的に検出されるごとき異常
時における完全な出力遮断の動作を、第5図の電
圧・電流波形を用いて説明する。前記のように過
電流検出により信号路が一時的に遮断されている
期間中に充放電回路15は充電され、信号路が非
遮断時には放電される。放電時定数はパルス幅変
調回路1からの出力パルスV1cの周期よりも長く
設定してある。従つて、負荷短絡時のごとく過電
流が連続的に検出される場合には、コンデンサ8
の充電電圧は除々に上昇する。この充放電によつ
て生じる積分電位波形V10aは基準電圧12の出力
V10bで電圧比較器10により比較される。従つ
て、積分電位V10aが基準電圧12の出力V10bより
高電位となる時点で、電圧比較器10の出力10
cはハイレベルになる。この出力は第2の双安定
マルチバイブレータ14へ供給されてこれをセツ
トする。そうすると、その出力14cの信号で第
1のスイツチ回路4は開成される。この結果、パ
ルス幅変調回路1からの信号路が完全に遮断され
る。従つて、異常時における完全な出力遮断によ
りスイツチング素子等の劣化、破壊に対する保護
が行なわれる。上述から、第1のスイツチ回路4
は、第1もしくは第2の双安定マルチバイブレー
タ11,14の出力のうち、いずれか一方の信号
でも第1のスイツチ回路4と開成にする出力状態
にあればオープン状態となる。これは、第2のス
イツチ回路6の形成の回路、即ち一つの制御信号
によりその開閉が制御されるスイツチ回路を信号
路中に2つ直列に挿入し、これらの開、閉を行な
う制御信号に各々2つの双安定マルチバイブレー
タ11,14の出力信号を割りあてることによつ
ても実現可能である。
時における完全な出力遮断の動作を、第5図の電
圧・電流波形を用いて説明する。前記のように過
電流検出により信号路が一時的に遮断されている
期間中に充放電回路15は充電され、信号路が非
遮断時には放電される。放電時定数はパルス幅変
調回路1からの出力パルスV1cの周期よりも長く
設定してある。従つて、負荷短絡時のごとく過電
流が連続的に検出される場合には、コンデンサ8
の充電電圧は除々に上昇する。この充放電によつ
て生じる積分電位波形V10aは基準電圧12の出力
V10bで電圧比較器10により比較される。従つ
て、積分電位V10aが基準電圧12の出力V10bより
高電位となる時点で、電圧比較器10の出力10
cはハイレベルになる。この出力は第2の双安定
マルチバイブレータ14へ供給されてこれをセツ
トする。そうすると、その出力14cの信号で第
1のスイツチ回路4は開成される。この結果、パ
ルス幅変調回路1からの信号路が完全に遮断され
る。従つて、異常時における完全な出力遮断によ
りスイツチング素子等の劣化、破壊に対する保護
が行なわれる。上述から、第1のスイツチ回路4
は、第1もしくは第2の双安定マルチバイブレー
タ11,14の出力のうち、いずれか一方の信号
でも第1のスイツチ回路4と開成にする出力状態
にあればオープン状態となる。これは、第2のス
イツチ回路6の形成の回路、即ち一つの制御信号
によりその開閉が制御されるスイツチ回路を信号
路中に2つ直列に挿入し、これらの開、閉を行な
う制御信号に各々2つの双安定マルチバイブレー
タ11,14の出力信号を割りあてることによつ
ても実現可能である。
尚ここで、第4図および第5図を参照して述べ
たように、過電流が検出されて直ちに出力部2を
遮断状態にせずに、過電流検出状態が続くことに
より遮断状態にする理由は次による。すなわち、
出力部2のスイツチングトランジスタに流れる過
電流は、負荷短絡以外にも電流電圧の変動、負荷
側のノイズ信号等による疑似短絡状態等によつて
も生じる。これらの原因による過電流は、連続的
なものではなくて瞬時的なものである。従つて、
第4図に示したように、ある時点で過電流が検出
されても次の時点では検出されない。このため、
過電流が検出されて直ちに第2の双安定マルチバ
イブレータをセツトすると、回路的には正常な機
能であるにもかかわらず、負荷への電力供給が行
なわれなくなる。再び回路動作を正常に行なわせ
るには、初期設定回路13により第2の双安定マ
ルチバイブレータ14をリセツトしなければなら
ない。
たように、過電流が検出されて直ちに出力部2を
遮断状態にせずに、過電流検出状態が続くことに
より遮断状態にする理由は次による。すなわち、
出力部2のスイツチングトランジスタに流れる過
電流は、負荷短絡以外にも電流電圧の変動、負荷
側のノイズ信号等による疑似短絡状態等によつて
も生じる。これらの原因による過電流は、連続的
なものではなくて瞬時的なものである。従つて、
第4図に示したように、ある時点で過電流が検出
されても次の時点では検出されない。このため、
過電流が検出されて直ちに第2の双安定マルチバ
イブレータをセツトすると、回路的には正常な機
能であるにもかかわらず、負荷への電力供給が行
なわれなくなる。再び回路動作を正常に行なわせ
るには、初期設定回路13により第2の双安定マ
ルチバイブレータ14をリセツトしなければなら
ない。
一方、負荷短絡等では出力部2のスイツチング
トランジスタでの過電流が連続的に検出される。
従つて、この連続的な過電流検出状態を充放電回
路15の積分電圧の上昇により判定し、そして第
1のスイツチ回路4を開成している。この結果、
出力部2の劣化、破壊さらにはシステム全体の破
壊が防止される。
トランジスタでの過電流が連続的に検出される。
従つて、この連続的な過電流検出状態を充放電回
路15の積分電圧の上昇により判定し、そして第
1のスイツチ回路4を開成している。この結果、
出力部2の劣化、破壊さらにはシステム全体の破
壊が防止される。
なお、第2の双安定マルチバイブレータ14の
リセツトは、初期設定回路13により、電源投入
時およびこの初期設定回路13の入力端子13a
に信号が加えられた時に行なわれる。以上の説明
では、パルス幅変調回路1の出力1cのパルスが
ハイレベルの時にスイツチング素子が導通すると
いう仮定のもとに説明したが、パルスのロウレベ
ル時にスイツチする場合にも、単にインバータ回
路9を除いて出力1cを直接に第1の双安定マル
チバイブレータ11のR入力に接続するだけで対
応できる。
リセツトは、初期設定回路13により、電源投入
時およびこの初期設定回路13の入力端子13a
に信号が加えられた時に行なわれる。以上の説明
では、パルス幅変調回路1の出力1cのパルスが
ハイレベルの時にスイツチング素子が導通すると
いう仮定のもとに説明したが、パルスのロウレベ
ル時にスイツチする場合にも、単にインバータ回
路9を除いて出力1cを直接に第1の双安定マル
チバイブレータ11のR入力に接続するだけで対
応できる。
次に、第6図をもとに、前述の充放電回路15
における定電流回路5の電流値I、抵抗器7の抵
抗値Rそしてコンデンサ8の容量Cの絶対値と、
最初に過電流を検出してから、パルス幅変調回路
1の出力に対して連続的に過電流を検出し続けた
場合の出力の完全な遮断に至るまでの時間の関係
について述べる。今、過電流を検出し始めてから
K番目の検出によつて、充放電回路15の出力で
ある積分電圧V10aが第6図に表わされるとする。
すなわち、K番目の検出時の積分電圧をv0,k-1、
過電流検出により充電される時間および電圧を
t1、k、v1,k,そして放電される時間および電圧を
t2、k、v0,kとする。まず、基準電圧12からの
電圧VRとI、Rの関係において、積分電圧が基
準電圧を越えるという条件より式を満たさなけ
ればならない。
における定電流回路5の電流値I、抵抗器7の抵
抗値Rそしてコンデンサ8の容量Cの絶対値と、
最初に過電流を検出してから、パルス幅変調回路
1の出力に対して連続的に過電流を検出し続けた
場合の出力の完全な遮断に至るまでの時間の関係
について述べる。今、過電流を検出し始めてから
K番目の検出によつて、充放電回路15の出力で
ある積分電圧V10aが第6図に表わされるとする。
すなわち、K番目の検出時の積分電圧をv0,k-1、
過電流検出により充電される時間および電圧を
t1、k、v1,k,そして放電される時間および電圧を
t2、k、v0,kとする。まず、基準電圧12からの
電圧VRとI、Rの関係において、積分電圧が基
準電圧を越えるという条件より式を満たさなけ
ればならない。
R×IVR ……
ここで第6図において、K番目の検出における
積分電圧の波高値は式、式、式で与えられ
る。
積分電圧の波高値は式、式、式で与えられ
る。
v1,1=RI(1−e-t1,1/CR) ……
v1,k=R・I.k
〓i=1
{(1−e-t1,i/CR)
・k−1
〓
l=i
(K≠1)e-t2,l/CR} ……
v0,k=v1,k・e-t2,k/CR ……
(ただし、式でk-1
〓l=1
=0(l>k−1)と定義す
る。) 今、簡単のため式、式を仮定する。
る。) 今、簡単のため式、式を仮定する。
t1,1=t1,2=t1,3=……=t1,k= ……
t2,1=t2,2=t2,3=……=t2,k= ……
ここで、最初に過電流を検出してから、式で
示される積分電位の波高値が基準電位よりも高く
なり、出力の完全な遮断が行なわれるまでの時間
をTOFFとし、TOFFと瞬時的に出力が遮断されてい
る時間t1,1のパルス周期Tに対する割合t1,1/Tと
の関係を求めると第7図で示される。ここで
t1,1/Tが大であることは、パルス幅変調回路1
の出力パルスによりスイツチング素子を導通して
から遮断するまでの期間において、スイツチング
素子がONされた時点から瞬時的な過電流が検出
されるまでの時間が短いことに対応するから、
t1,1/Tが大であるほど異常である度合いが大き
いと言える。これより、第7図によれば、本保護
システムを使用することにより異常度が大である
ほど出力の完全な遮断までに要する時間TOFFが短
くなるという実用上好ましい出力の完全な遮断が
行なわれる。次に、定電流値I、抵抗値R、コン
デンサ容量値C、基準電圧値VRなどの絶対値の
選定にあたつては、式の条件式を満足する関係
にあれば、第7図のTOFF対t1,1/Tの関係図等よ
り、所望の出力完全遮断時間TOFFを有する保護シ
ステムを設計することは容易であり、これらの選
定についての自由度は非常に大きい。また、出力
完全遮断時間の温度特性としては、第3図におい
て、電圧比較器10の入力に加わる積分電位と基
準電位との温度特性の相対的な調整により温度に
対して平担な、あるいは温度上昇とともに減少す
る等の特性を持たせる操作が従来の回路技術によ
り容易に実現可能である。
示される積分電位の波高値が基準電位よりも高く
なり、出力の完全な遮断が行なわれるまでの時間
をTOFFとし、TOFFと瞬時的に出力が遮断されてい
る時間t1,1のパルス周期Tに対する割合t1,1/Tと
の関係を求めると第7図で示される。ここで
t1,1/Tが大であることは、パルス幅変調回路1
の出力パルスによりスイツチング素子を導通して
から遮断するまでの期間において、スイツチング
素子がONされた時点から瞬時的な過電流が検出
されるまでの時間が短いことに対応するから、
t1,1/Tが大であるほど異常である度合いが大き
いと言える。これより、第7図によれば、本保護
システムを使用することにより異常度が大である
ほど出力の完全な遮断までに要する時間TOFFが短
くなるという実用上好ましい出力の完全な遮断が
行なわれる。次に、定電流値I、抵抗値R、コン
デンサ容量値C、基準電圧値VRなどの絶対値の
選定にあたつては、式の条件式を満足する関係
にあれば、第7図のTOFF対t1,1/Tの関係図等よ
り、所望の出力完全遮断時間TOFFを有する保護シ
ステムを設計することは容易であり、これらの選
定についての自由度は非常に大きい。また、出力
完全遮断時間の温度特性としては、第3図におい
て、電圧比較器10の入力に加わる積分電位と基
準電位との温度特性の相対的な調整により温度に
対して平担な、あるいは温度上昇とともに減少す
る等の特性を持たせる操作が従来の回路技術によ
り容易に実現可能である。
第3図において、充放電回路15として破線で
囲まれた回路を示したが、他の実施例として第8
図を挙げる。第8図は演算増幅器19、コンデン
サ16、抵抗器17,18、定電圧回路21より
なる広く使用されている積分器と、スイツチ回路
20とを組み合わせた充放電回路22である。そ
して、この充放電回路22の出力を第3図の電圧
比較器10の一方の入力10aに加え、第1の双
安定マルチバイブレータ11の出11cの信号で
スイツチ回路20を駆動する。なお、第8図にお
いて抵抗器17,18の絶対値をR1、R2、コン
デンサ16の絶対値をC、定電圧回路21の出力
の絶対値を−Vとすると、、式の条件を付加
することで、第3図の破線で囲まれた充放電回路
15の場合と同じ議論ができる。
囲まれた回路を示したが、他の実施例として第8
図を挙げる。第8図は演算増幅器19、コンデン
サ16、抵抗器17,18、定電圧回路21より
なる広く使用されている積分器と、スイツチ回路
20とを組み合わせた充放電回路22である。そ
して、この充放電回路22の出力を第3図の電圧
比較器10の一方の入力10aに加え、第1の双
安定マルチバイブレータ11の出11cの信号で
スイツチ回路20を駆動する。なお、第8図にお
いて抵抗器17,18の絶対値をR1、R2、コン
デンサ16の絶対値をC、定電圧回路21の出力
の絶対値を−Vとすると、、式の条件を付加
することで、第3図の破線で囲まれた充放電回路
15の場合と同じ議論ができる。
R1/R2・V>VR ……
R1=R ……
ここで、前記過電流検出回路3と初期設定回路
13との具体的回路例を第9図、第10図に示
し、これらの動作について説明する。第9図で、
出力部2のスイツチング素子23より負荷24に
抵抗33を通じて負荷電流が供給される際に、負
荷電流による抵抗33における電圧降下がトラン
ジスタ30を導通させるのに必要なベース・エミ
ツタ間電圧(VBE(ON))以上となつてスイツチング
素子に流れる電流が過電流として検出されると、
トランジスタ30のコレクタ電流の一部が抵抗3
1を通じてトランジスタ29のベース電流として
供給されてトランジスタ29は導通する。同時に
トランジスタ29のコレクタ電位が下降すること
よりトランジスタ26も導通し、抵抗27に電源
ライン25より電流が供給されて過電流検出回路
出力端子3bは上昇する。一方、抵抗33におけ
る電圧降下がトランジスタ30のVBE(ON)以下にな
ると、トランジスタ30,29および26はすべ
て遮断状態となり、出力端子3bはローレベルで
ある。以上の一連の動作により出力端子3bに
は、過電流を検出すると、正のパルスが発生さ
れ、上述した所望の動作をする。なお、過電流検
出回路3は第9図以外の例として、トランスの1
次側をスイツチング素子の電流路に挿入し、スイ
ツチング素子に流れる電流をトランスの2次側で
検出し、この2次側の電流と2次側の電流路に挿
入された抵抗とによる電圧降下を設定された閾値
と比較することによつても容易に実現される。
13との具体的回路例を第9図、第10図に示
し、これらの動作について説明する。第9図で、
出力部2のスイツチング素子23より負荷24に
抵抗33を通じて負荷電流が供給される際に、負
荷電流による抵抗33における電圧降下がトラン
ジスタ30を導通させるのに必要なベース・エミ
ツタ間電圧(VBE(ON))以上となつてスイツチング
素子に流れる電流が過電流として検出されると、
トランジスタ30のコレクタ電流の一部が抵抗3
1を通じてトランジスタ29のベース電流として
供給されてトランジスタ29は導通する。同時に
トランジスタ29のコレクタ電位が下降すること
よりトランジスタ26も導通し、抵抗27に電源
ライン25より電流が供給されて過電流検出回路
出力端子3bは上昇する。一方、抵抗33におけ
る電圧降下がトランジスタ30のVBE(ON)以下にな
ると、トランジスタ30,29および26はすべ
て遮断状態となり、出力端子3bはローレベルで
ある。以上の一連の動作により出力端子3bに
は、過電流を検出すると、正のパルスが発生さ
れ、上述した所望の動作をする。なお、過電流検
出回路3は第9図以外の例として、トランスの1
次側をスイツチング素子の電流路に挿入し、スイ
ツチング素子に流れる電流をトランスの2次側で
検出し、この2次側の電流と2次側の電流路に挿
入された抵抗とによる電圧降下を設定された閾値
と比較することによつても容易に実現される。
次に、初期設定回路13の動作を第10図によ
り説明する。今、入力端子13aには電流が供給
されていないとする。電源ライン25の電位を
Vcc、抵抗34,36の抵抗値をR34、R36、ダイ
オード40,41の各々両端間の電位差をVDと
し、トランジスタ37がONするために必要なベ
ース・エミツタ間電圧をVBE37(ON)とすれば、第2
の双安定マルチバイブレータ14のリセツト入力
に接続された初期設定回路13の出力の状態は、 2VD−R36/R34+R36・Vcc≧VBE37(ON) …… の時、トランジスタ37がONして抵抗38には
電源ライン25より抵抗39を通じトランジスタ
37のエミツタ電流の一部がコレクタ電流として
供給されるからハイレベルとなる。逆に、式が
成立するときには、抵抗38には電流が供給され
ずにロウレベルとなる。
り説明する。今、入力端子13aには電流が供給
されていないとする。電源ライン25の電位を
Vcc、抵抗34,36の抵抗値をR34、R36、ダイ
オード40,41の各々両端間の電位差をVDと
し、トランジスタ37がONするために必要なベ
ース・エミツタ間電圧をVBE37(ON)とすれば、第2
の双安定マルチバイブレータ14のリセツト入力
に接続された初期設定回路13の出力の状態は、 2VD−R36/R34+R36・Vcc≧VBE37(ON) …… の時、トランジスタ37がONして抵抗38には
電源ライン25より抵抗39を通じトランジスタ
37のエミツタ電流の一部がコレクタ電流として
供給されるからハイレベルとなる。逆に、式が
成立するときには、抵抗38には電流が供給され
ずにロウレベルとなる。
2VD−R36/R34+R36・Vcc<VBE37(ON) ……
今、簡単のため、
VBE37(ON)=VD ……
を仮定し、電源投入時において、電源ライン25
の電位Vccが0より除々に上昇し、最終値Vcc0に
達するとすれば、 0Vcc(1+R34/R36)VR …… の時、初期設定回路13の出力はハイレベルとな
り、 (1+R34/R36)・VDVccVcc0 …… の時、出力はロウレベルとなり、電源ライン25
の立上りとともに、第2の双安定マルチバイブレ
ータ14のリセツト入力Rには、パルスが印加さ
れて初期設定が行なわれる。さらに、電源ライン
25に通常の電位Vcc0が与えられている時に、入
力端子13dに外部より電流を供給すると、トラ
ンジスタ35が導通して抵抗36の両端間をイン
ピーダンスとする。このため、トランジスタ37
のベース電位が下降してトランジスタ37が導通
する。すなわち、入力端子13aに正のパルスを
印加することで、第2の双安定マルチバイブレー
タのリセツト入力Rにはパルス印加され、リセツ
トが行なわれる。また、第10図ではダイオード
40,41を2個使用しているが、これは式を
満たすnの範囲内の数のダイオードを直列に接続
して置換可能である。
の電位Vccが0より除々に上昇し、最終値Vcc0に
達するとすれば、 0Vcc(1+R34/R36)VR …… の時、初期設定回路13の出力はハイレベルとな
り、 (1+R34/R36)・VDVccVcc0 …… の時、出力はロウレベルとなり、電源ライン25
の立上りとともに、第2の双安定マルチバイブレ
ータ14のリセツト入力Rには、パルスが印加さ
れて初期設定が行なわれる。さらに、電源ライン
25に通常の電位Vcc0が与えられている時に、入
力端子13dに外部より電流を供給すると、トラ
ンジスタ35が導通して抵抗36の両端間をイン
ピーダンスとする。このため、トランジスタ37
のベース電位が下降してトランジスタ37が導通
する。すなわち、入力端子13aに正のパルスを
印加することで、第2の双安定マルチバイブレー
タのリセツト入力Rにはパルス印加され、リセツ
トが行なわれる。また、第10図ではダイオード
40,41を2個使用しているが、これは式を
満たすnの範囲内の数のダイオードを直列に接続
して置換可能である。
0<(1+R34/R36)(nVD−VBE37(ON))<Vcc0……
第11図は第3図で示した第1のスイツチ回路
4の具体的回路構成を示す回路図である。第1お
よび第2の双安定マルチバイブレータの出力11
cおよび14cが共にロウレベルのとき、パルス
幅変調回路1からのハイレベル出力1cは抵抗5
0を介してトランジスタ55のベースに供給さ
れ、このトランジスタ55が導通する。このた
め、定電流源61からの電流はトランジスタ58
へ供給されずに遮断状態となる。従つて、電源
Vccから抵抗53を介してトランジスタ59のベ
ースへ電流が供給されて導通し、出力2aがハイ
レベルとなる。一方、ロウレベル出力1cにより
トランジスタ55は遮断状態となるので、定電流
源61からのトランジスタ58への電流供給によ
り導通する。このため、トランジスタ59は遮
断、トランジスタ60は導通するので出力2aは
ロウレベルとなる。このように、パルス幅変調回
路1からのパルス信号は、第1のスイツチ回路4
を介して出力部2へ伝達される。ここで、前述の
ように、出力部2での過電流が瞬時的又は連続的
に検出されると、第1および第2の双安定マルチ
バイブレータ11又は14の出力11c又は14
cがハイレベルとなる。このため、トランジスタ
56又は57が導通し、トランジスタ58が遮断
して出力2aはハイレベルとなる。ここで注意し
なければならない事は、上述した動作説明とは逆
になつていることである。しかしながら、出力部
2aのスイツチングトランジスタは、出力2aが
ハイレベルのとき遮断するものとすれば上述の説
明と何ら変ることはない。
4の具体的回路構成を示す回路図である。第1お
よび第2の双安定マルチバイブレータの出力11
cおよび14cが共にロウレベルのとき、パルス
幅変調回路1からのハイレベル出力1cは抵抗5
0を介してトランジスタ55のベースに供給さ
れ、このトランジスタ55が導通する。このた
め、定電流源61からの電流はトランジスタ58
へ供給されずに遮断状態となる。従つて、電源
Vccから抵抗53を介してトランジスタ59のベ
ースへ電流が供給されて導通し、出力2aがハイ
レベルとなる。一方、ロウレベル出力1cにより
トランジスタ55は遮断状態となるので、定電流
源61からのトランジスタ58への電流供給によ
り導通する。このため、トランジスタ59は遮
断、トランジスタ60は導通するので出力2aは
ロウレベルとなる。このように、パルス幅変調回
路1からのパルス信号は、第1のスイツチ回路4
を介して出力部2へ伝達される。ここで、前述の
ように、出力部2での過電流が瞬時的又は連続的
に検出されると、第1および第2の双安定マルチ
バイブレータ11又は14の出力11c又は14
cがハイレベルとなる。このため、トランジスタ
56又は57が導通し、トランジスタ58が遮断
して出力2aはハイレベルとなる。ここで注意し
なければならない事は、上述した動作説明とは逆
になつていることである。しかしながら、出力部
2aのスイツチングトランジスタは、出力2aが
ハイレベルのとき遮断するものとすれば上述の説
明と何ら変ることはない。
第12図は充放電回路15の具体的構成図であ
る。第1の双安定マルチバイブレータ11の出力
11cは第2のスイツチ回路6を構成する抵抗7
6を介してトランジスタ74へ供給される。出力
11cがハイレベルであれば、トランジスタ74
が導通してトランジスタ73も導通する。その結
果、トランジスタ71,72によるカレントミラ
ー回路構成の定電流源5の電流はコンデンサ8を
充電する。
る。第1の双安定マルチバイブレータ11の出力
11cは第2のスイツチ回路6を構成する抵抗7
6を介してトランジスタ74へ供給される。出力
11cがハイレベルであれば、トランジスタ74
が導通してトランジスタ73も導通する。その結
果、トランジスタ71,72によるカレントミラ
ー回路構成の定電流源5の電流はコンデンサ8を
充電する。
以上のように、本発明の方式によれば、スイツ
チング素子等に流れる過電流に対する信号路の瞬
時的な遮断、および過電流検出の頻度や異常度の
度合いにより自動的に行なわれる信号路の完全な
遮断の2つの手段を兼ね備え、保護されるべきス
イツチング素子等の実用的な完全保護を行なう
事、さらに設計の自由度の大なる保護システムを
提供できる等実用上の利益は多大である。従つ
て、本発明はテレビ用電源のためのスイツチング
レギユレータに適用し得るものである。この場
合、入力端子1aは必要でない。
チング素子等に流れる過電流に対する信号路の瞬
時的な遮断、および過電流検出の頻度や異常度の
度合いにより自動的に行なわれる信号路の完全な
遮断の2つの手段を兼ね備え、保護されるべきス
イツチング素子等の実用的な完全保護を行なう
事、さらに設計の自由度の大なる保護システムを
提供できる等実用上の利益は多大である。従つ
て、本発明はテレビ用電源のためのスイツチング
レギユレータに適用し得るものである。この場
合、入力端子1aは必要でない。
第1図、第2図は従来例のブロツク図を示す。
第3図は本発明のブロツク図を示す。第4図、第
5図、第6図は本発明の方式を実施した場合の動
作のタイミング・チヤート図の例を示す。第7図
は出力が完全に遮断されるまでに要する時間につ
いての説明図、第8図は充放電回路の一例を示
す。第9図は過電流検出回路、第10図は初期設
定回路の一回路例を示す。第11図は第1のスイ
ツチ回路、第12図は充放電回路の一回路例を示
す。 1a,1b,1c,2a,2b,3b,10
a,10b,10c,13a,14c,R,S…
…端子、1……パルス幅変調回路、2……出力
部、3……過電流検出回路、4,6,20……ス
イツチ回路、5……定電流回路、7,17,1
8,27,28,31,32,33,34,3
6,38,39,50〜54,62,75,76
……抵抗、8,16……コンデンサ、9……イン
バータ回路、10……電圧比較器、11,14…
…双安定マルチバイブレータ、12……基準電
位、13……初期設定回路、19……演算増幅
器、21……定電圧回路、15,22……充放電
回路、23……スイツチング素子、24……負
荷、25……電源ライン、26,29,30,3
5,37,55〜59,71〜74……トランジ
スタ、40,41……ダイオード。
第3図は本発明のブロツク図を示す。第4図、第
5図、第6図は本発明の方式を実施した場合の動
作のタイミング・チヤート図の例を示す。第7図
は出力が完全に遮断されるまでに要する時間につ
いての説明図、第8図は充放電回路の一例を示
す。第9図は過電流検出回路、第10図は初期設
定回路の一回路例を示す。第11図は第1のスイ
ツチ回路、第12図は充放電回路の一回路例を示
す。 1a,1b,1c,2a,2b,3b,10
a,10b,10c,13a,14c,R,S…
…端子、1……パルス幅変調回路、2……出力
部、3……過電流検出回路、4,6,20……ス
イツチ回路、5……定電流回路、7,17,1
8,27,28,31,32,33,34,3
6,38,39,50〜54,62,75,76
……抵抗、8,16……コンデンサ、9……イン
バータ回路、10……電圧比較器、11,14…
…双安定マルチバイブレータ、12……基準電
位、13……初期設定回路、19……演算増幅
器、21……定電圧回路、15,22……充放電
回路、23……スイツチング素子、24……負
荷、25……電源ライン、26,29,30,3
5,37,55〜59,71〜74……トランジ
スタ、40,41……ダイオード。
Claims (1)
- 1 パルス信号により駆動されるスイツチング素
子と、このスイツチング素子に流れる過電流を検
出する過電流検出手段と、この検出手段からの過
電流検出出力に応答してその時点から前記パルス
信号が前記スイツチング素子を駆動し得ないレベ
ルをとるまでの期間前記パルス信号が前記スイツ
チング素子へ供給されることを禁止する手段と、
前記過電流検出手段が前記過電流検出出力を連続
的に発生することに応答して制御信号を発生しこ
の制御信号を保持する手段と、この手段からの前
記制御信号に応答して前記パルス信号が前記スイ
ツチング素子に供給されることを禁止する手段と
を具備することを特徴とする保護装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098018A JPS57212825A (en) | 1981-06-24 | 1981-06-24 | Protective device |
| DE8282105455T DE3268106D1 (en) | 1981-06-24 | 1982-06-22 | Pulse signal processing circuit having a protection circuit against over-current breakdown |
| EP82105455A EP0068405B2 (en) | 1981-06-24 | 1982-06-22 | Pulse signal processing circuit having a protection circuit against over-current breakdown |
| US06/391,754 US4476427A (en) | 1981-06-24 | 1982-06-24 | Pulse signal processing circuit having a protection circuit against over-current breakdown |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56098018A JPS57212825A (en) | 1981-06-24 | 1981-06-24 | Protective device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57212825A JPS57212825A (en) | 1982-12-27 |
| JPH0120808B2 true JPH0120808B2 (ja) | 1989-04-18 |
Family
ID=14208104
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56098018A Granted JPS57212825A (en) | 1981-06-24 | 1981-06-24 | Protective device |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4476427A (ja) |
| EP (1) | EP0068405B2 (ja) |
| JP (1) | JPS57212825A (ja) |
| DE (1) | DE3268106D1 (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4493002A (en) * | 1983-02-28 | 1985-01-08 | Westinghouse Electric Corp. | Electronic circuit breaker |
| DE3519151C1 (de) * | 1985-05-29 | 1987-01-02 | Piller Gmbh Co Kg Anton | Statischer Wechselrichter mit einer Schaltung zur Stromueberhoehung im Kurzschlussfall |
| FR2596927B1 (fr) * | 1986-04-04 | 1988-05-20 | Thomson Csf | Circuit de protection d'alimentation a decoupage |
| JPH0533071Y2 (ja) * | 1987-08-31 | 1993-08-24 | ||
| US4965692A (en) * | 1989-07-31 | 1990-10-23 | Siemens Transmission Systems, Inc. | Overload detector and protection circuit |
| US5748428A (en) * | 1995-07-28 | 1998-05-05 | United Technologies Automotive, Inc. | Pulse width modulation and protection circuit |
| AU754201B2 (en) * | 1997-04-22 | 2002-11-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
| JP2000299924A (ja) * | 1999-02-14 | 2000-10-24 | Yazaki Corp | 電源供給制御装置及び方法 |
| US6636081B1 (en) * | 2002-03-26 | 2003-10-21 | E-Cmds Corporation | Voltage-comparing device with analog-signal converter |
| JP2006053898A (ja) * | 2004-07-15 | 2006-02-23 | Rohm Co Ltd | 過電流保護回路およびそれを利用した電圧生成回路ならびに電子機器 |
| JP2006105620A (ja) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Advantest Corp | 電源装置及び試験装置 |
| US20070070668A1 (en) * | 2005-09-26 | 2007-03-29 | The Boeing Company | Programmable electrical power systems and methods |
| US9136691B2 (en) * | 2013-08-08 | 2015-09-15 | Tyco Electronics Corporation | Solid state relay protective device |
| JP6068310B2 (ja) * | 2013-10-09 | 2017-01-25 | 新電元工業株式会社 | 異常検出保護回路および異常検出保護回路の制御方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE353821B (ja) * | 1970-02-09 | 1973-02-12 | Asea Ab | |
| JPS5512261Y2 (ja) * | 1974-11-14 | 1980-03-17 | ||
| JPS5392657A (en) * | 1977-01-25 | 1978-08-14 | Toshiba Corp | Transistor circuit |
| US4315295A (en) * | 1979-12-17 | 1982-02-09 | Gould Inc. | Timing circuit for an overcurrent relay |
-
1981
- 1981-06-24 JP JP56098018A patent/JPS57212825A/ja active Granted
-
1982
- 1982-06-22 DE DE8282105455T patent/DE3268106D1/de not_active Expired
- 1982-06-22 EP EP82105455A patent/EP0068405B2/en not_active Expired
- 1982-06-24 US US06/391,754 patent/US4476427A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0068405A2 (en) | 1983-01-05 |
| EP0068405B1 (en) | 1985-12-27 |
| DE3268106D1 (en) | 1986-02-06 |
| EP0068405B2 (en) | 1989-04-19 |
| JPS57212825A (en) | 1982-12-27 |
| US4476427A (en) | 1984-10-09 |
| EP0068405A3 (en) | 1983-11-30 |
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