JPH01212733A - 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔 - Google Patents
電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔Info
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- JPH01212733A JPH01212733A JP3839188A JP3839188A JPH01212733A JP H01212733 A JPH01212733 A JP H01212733A JP 3839188 A JP3839188 A JP 3839188A JP 3839188 A JP3839188 A JP 3839188A JP H01212733 A JPH01212733 A JP H01212733A
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- ing And Chemical Polishing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、銅(以下Cuとする)、マグネシウム(以下
Mgとする)、及びコバルト(以下C。
Mgとする)、及びコバルト(以下C。
とする)及び/又はニッケル(以下Niとする)を合金
成分とする新規な組成の電解コンデンサ陰極用アルミニ
ウム(以下AQとする)合金箔に関する。
成分とする新規な組成の電解コンデンサ陰極用アルミニ
ウム(以下AQとする)合金箔に関する。
従来技術とその問題点
電解コンデンサの静電容量(C)を増大させるためには
、陽極部の静電容量(CA)のみならず、陰極部(co
)をも増大させる必要がある。
、陽極部の静電容量(CA)のみならず、陰極部(co
)をも増大させる必要がある。
従来からも、エツチングによってAΩ箔の表面積を拡大
させ、陰極部の静電容量を増大させることが行われてい
る。例えば、特開昭44−25016号公報は、Cuを
0.1〜0.5%(本明細書においては、“%゛とある
のは、全て“重囲%”を表す)含有する電解コンデンサ
用AQ合金箔を開示している。しかしながら、電解コン
デンサを使用する各種分野での急速な技術の進歩に伴っ
て、電解コンデンサの陰極部の静電容量についても、更
に一段の改善が望まれている。
させ、陰極部の静電容量を増大させることが行われてい
る。例えば、特開昭44−25016号公報は、Cuを
0.1〜0.5%(本明細書においては、“%゛とある
のは、全て“重囲%”を表す)含有する電解コンデンサ
用AQ合金箔を開示している。しかしながら、電解コン
デンサを使用する各種分野での急速な技術の進歩に伴っ
て、電解コンデンサの陰極部の静電容量についても、更
に一段の改善が望まれている。
すなわち、現在使用されている陰極箔は、エツチング前
に焼鈍による調質を行うことが多いが、この焼鈍時に形
成される箔表面の酸化皮膜が、通常強固で且つ不均一で
あるため、化学反応を主体とするエツチングにおいては
、エツチングが十分に進行しなかったり、均一なエツチ
ングが行われなかったりする。従って、箔の酸化皮膜が
薄く且つ均一な状態でエツチングを行うために、酸素濃
度の極めて低い条件下に箔の焼鈍を行ったり、或いはエ
ツチングに先立って箔から酸化皮膜を除去する前処理を
行ったりしている。
に焼鈍による調質を行うことが多いが、この焼鈍時に形
成される箔表面の酸化皮膜が、通常強固で且つ不均一で
あるため、化学反応を主体とするエツチングにおいては
、エツチングが十分に進行しなかったり、均一なエツチ
ングが行われなかったりする。従って、箔の酸化皮膜が
薄く且つ均一な状態でエツチングを行うために、酸素濃
度の極めて低い条件下に箔の焼鈍を行ったり、或いはエ
ツチングに先立って箔から酸化皮膜を除去する前処理を
行ったりしている。
問題点を解決するための手段
本発明者は、上記の如き技術の現状に鑑みて鋭意研究を
重ねた結果、AQに特定量のCu、Mg並びにCo及び
/又はNiを配合した合金が、電解コンデンサ陰極用A
Q合金箔として優れた特性を具備していることを見出し
た。すなわち、本発明は、CuO,1〜0.7%、Mg 0.005〜1.0%及びCo並びにNiの少なくとも
一種0.005〜1.0%を含有する電解コンデンサ陰
極用A9合金箔を提供するものである。
重ねた結果、AQに特定量のCu、Mg並びにCo及び
/又はNiを配合した合金が、電解コンデンサ陰極用A
Q合金箔として優れた特性を具備していることを見出し
た。すなわち、本発明は、CuO,1〜0.7%、Mg 0.005〜1.0%及びCo並びにNiの少なくとも
一種0.005〜1.0%を含有する電解コンデンサ陰
極用A9合金箔を提供するものである。
化学反応を主体とするAQ箔のエツチングにおいては、
所定のエツチング溶液に対するAQ箔の化学反応力を高
めるために、以下の条件を満たす必要がある: (1)箔表面に形成された酸化皮膜の耐蝕性を適度に低
下させる。
所定のエツチング溶液に対するAQ箔の化学反応力を高
めるために、以下の条件を満たす必要がある: (1)箔表面に形成された酸化皮膜の耐蝕性を適度に低
下させる。
(2)エツチング開始点となる拠点を増加させる。
(3)箔の厚さ方向の中心に向かってエツチングが進行
し易くする。
し易くする。
上記の条件(1)に関しては、主としてMgが大きく寄
与する。すなわち、Mgが0.005〜1%の範囲内に
ある場合には、エツチング前に行われる焼鈍による調質
時に、Mgが1箔の表面に拡散して濃縮し、焼鈍により
形成される酸化皮膜の耐蝕性を低下させるので、エツチ
ングが円滑に進行する。Mgの量が1%を上回る場合に
は、焼鈍時のAQ箔間の密着が強固となり、巻戻しが困
難となる。Mgが0.005%未満の場合には、添加の
効果がほとんど認められない。
与する。すなわち、Mgが0.005〜1%の範囲内に
ある場合には、エツチング前に行われる焼鈍による調質
時に、Mgが1箔の表面に拡散して濃縮し、焼鈍により
形成される酸化皮膜の耐蝕性を低下させるので、エツチ
ングが円滑に進行する。Mgの量が1%を上回る場合に
は、焼鈍時のAQ箔間の密着が強固となり、巻戻しが困
難となる。Mgが0.005%未満の場合には、添加の
効果がほとんど認められない。
条件(2)に関しては、0.005〜1%の範囲で含有
されるCOおよび/またはNiが、主として効果を発揮
する。これらの元素は、AQマトリックス中にほとんど
固溶せず、AR−Co化合物またはAl2−Ni化合物
として析出する。これらの化合物は、AQに対して貴で
あるので、該化合物とAQ・マトリックスとの間の電位
差が高まる。従って、この様な化合物を均一に分散させ
た状態でAQ合金箔をエツチングに供する場合には、A
Q・マトリックス中にエツチング開始点を多数発生させ
ることが出来る。Coおよび/またはNiの足が0.0
05%未満の場合には、添加の効果があまり無く、一方
、1%を超える場合には、エツチングのコントロールが
困難となる。
されるCOおよび/またはNiが、主として効果を発揮
する。これらの元素は、AQマトリックス中にほとんど
固溶せず、AR−Co化合物またはAl2−Ni化合物
として析出する。これらの化合物は、AQに対して貴で
あるので、該化合物とAQ・マトリックスとの間の電位
差が高まる。従って、この様な化合物を均一に分散させ
た状態でAQ合金箔をエツチングに供する場合には、A
Q・マトリックス中にエツチング開始点を多数発生させ
ることが出来る。Coおよび/またはNiの足が0.0
05%未満の場合には、添加の効果があまり無く、一方
、1%を超える場合には、エツチングのコントロールが
困難となる。
条件(3)に関しては、0.1〜0.7%の範囲で含有
されるCuが主に効果を発揮する。Cuは、AQ・マト
リックス中に固溶し易く、マトリックスの腐蝕電位を高
め、化学的溶解を促進するため、エツチングビットが成
長し易くなる。Cuの量が0.1%未満では、添加の効
果があまり認められず、一方、0.7%を上回る場合に
は、やはりエツチングのコントロールが困難となる。
されるCuが主に効果を発揮する。Cuは、AQ・マト
リックス中に固溶し易く、マトリックスの腐蝕電位を高
め、化学的溶解を促進するため、エツチングビットが成
長し易くなる。Cuの量が0.1%未満では、添加の効
果があまり認められず、一方、0.7%を上回る場合に
は、やはりエツチングのコントロールが困難となる。
なお、本発明AQ合金箔は、夫々0.5%までのF 6
% S t sまた夫々0.05%までのM n 。
% S t sまた夫々0.05%までのM n 。
ZnSTiなどの微量の不可避不純物を含んでいても良
い。
い。
発明の効果
本発明によれば、以下の如き効果が達成される。
(イ)焼鈍時にAQ箔表面に形成される酸化皮膜の耐蝕
性が低いので、エツチングがスムースに進行する。
性が低いので、エツチングがスムースに進行する。
(ロ)エツチング時の反応性が高いので、エツチング箔
の表面積が著しく拡大される。
の表面積が著しく拡大される。
(ハ)電解コンデンサ陰極箔としての静電容世が高い。
(ニ)エツチング後の箔の強度が高い。
実施例
以下実施例を示し、本発明の特徴とするところをより一
層明確にする。
層明確にする。
実施例1
一次電解AQ地金に所定量の添加成分を加えて、溶解し
、AQ合金スラブを鋳造した。
、AQ合金スラブを鋳造した。
得られたスラブを通常の熱間圧延及び冷間圧延に供して
、厚さ50μmの合金箔を得た後、真空下に400°C
で5時間焼鈍を行い、次いで冷却した。
、厚さ50μmの合金箔を得た後、真空下に400°C
で5時間焼鈍を行い、次いで冷却した。
かくして得られた合金箔のAQ以外の合金成分含有量(
%)を第1表に示す。
%)を第1表に示す。
なお、第1表において、試料N001〜6は、本発明に
よるA9合金を示し、試料No、 7〜12は、比較A
2合金を示す。
よるA9合金を示し、試料No、 7〜12は、比較A
2合金を示す。
第1表
試料 Fe Si Cu Mg Co N
iNo。
iNo。
1 0.070.040.200.050.03−2
// // // // Q、1Q−3//
// // // Q、3Q−4// /
/ // // 0.Q35 // //
// // Q、lQ6 // //
// // Q、3Q7 〃” 〃0.0
00.10− 8 // // // // Q、IQ9
0.15’〆 〃0.05−− 10 0.300.10 ” 〃−−11ll”
” 0.00− − 12 0.070.040.000.050.10−得
られた箔を以下の2つの条件でエツチングした。
// // // // Q、1Q−3//
// // // Q、3Q−4// /
/ // // 0.Q35 // //
// // Q、lQ6 // //
// // Q、3Q7 〃” 〃0.0
00.10− 8 // // // // Q、IQ9
0.15’〆 〃0.05−− 10 0.300.10 ” 〃−−11ll”
” 0.00− − 12 0.070.040.000.050.10−得
られた箔を以下の2つの条件でエツチングした。
条件I:
100℃に保持した10%塩酸溶液に箔を15秒間浸漬
し、化学エツチングを行った。次いで、5%ホウ酸溶液
中で3vの化成を行った後、8%ホウ酸アンモニウム液
中でLCRメーターにより静電容量(Cap:単位はμ
F/c♂)を測定した。
し、化学エツチングを行った。次いで、5%ホウ酸溶液
中で3vの化成を行った後、8%ホウ酸アンモニウム液
中でLCRメーターにより静電容量(Cap:単位はμ
F/c♂)を測定した。
条件■:
条件Iと同一のエツチング液中で箔の溶解量が約4.0
mg/ctlとなるまでエツチングを行なった後、条件
Iと同様にして、静電容ff1(Cap:単位はμF/
cJ)を測定した。また、この時のエツチド箔の強度(
単位はkg/ 1 cm巾)を測定した。
mg/ctlとなるまでエツチングを行なった後、条件
Iと同様にして、静電容ff1(Cap:単位はμF/
cJ)を測定した。また、この時のエツチド箔の強度(
単位はkg/ 1 cm巾)を測定した。
結果は、第2表に示す通りである。
第2表
Nα
1 373 410 1.8
2 420 430 2.0
3 485 445 2.1
4 358 403 1.8
5 405 425 2.0
6 472 431 2.2
7 245 366 1.6
8 262 392 1.7
9 256 389 1.9
10 298 377 2.0
11 201 346 1.5
12 142 193 2.5
参考例1
実施例1の試料2合金箔と試料7合金箔のエツチング後
の断面の形状を同一倍率で顕微鏡観察したところ、それ
ぞれ第1図及び第2図に概要を示すようなピットの形成
状況が観察された。
の断面の形状を同一倍率で顕微鏡観察したところ、それ
ぞれ第1図及び第2図に概要を示すようなピットの形成
状況が観察された。
第1図に示す本発明合金による箔(試料2合金箔)の場
合には、第2図に示す比較合金による箔(試料7合金箔
)の場合に比して、より微細なピットが均一に発生して
いることが明らかである。
合には、第2図に示す比較合金による箔(試料7合金箔
)の場合に比して、より微細なピットが均一に発生して
いることが明らかである。
第1図は、本発明AQ合金による箔のエツチング後の断
面形状の概要を示す図面、第2図は、比較AQ合金によ
る箔のエツチング後の断面形状の概要を示す図面である
。 (以上) 舅 1 図
面形状の概要を示す図面、第2図は、比較AQ合金によ
る箔のエツチング後の断面形状の概要を示す図面である
。 (以上) 舅 1 図
Claims (1)
- (1)銅0.1〜0.7%、マグネシウム0.005〜
1.0%及びコバルト並びにニッケルの少なくとも一種
0.005〜1.0%を含有する電解コンデンサ陰極用
アルミニウム合金箔。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3839188A JPH01212733A (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3839188A JPH01212733A (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01212733A true JPH01212733A (ja) | 1989-08-25 |
Family
ID=12523984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3839188A Pending JPH01212733A (ja) | 1988-02-19 | 1988-02-19 | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01212733A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07211593A (ja) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Showa Alum Corp | 電解コンデンサ電極用アルミニウム箔及びそのエッチング方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56133444A (en) * | 1980-03-22 | 1981-10-19 | Kobe Steel Ltd | Al alloy for cathode foil of electrolytic capacitor |
| JPS57126941A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-06 | Showa Alum Corp | Aluminum alloy foil for cathode of electrolytic capacitor |
| JPS62149858A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-03 | Toyo Alum Kk | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔の製造方法 |
-
1988
- 1988-02-19 JP JP3839188A patent/JPH01212733A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56133444A (en) * | 1980-03-22 | 1981-10-19 | Kobe Steel Ltd | Al alloy for cathode foil of electrolytic capacitor |
| JPS57126941A (en) * | 1981-01-28 | 1982-08-06 | Showa Alum Corp | Aluminum alloy foil for cathode of electrolytic capacitor |
| JPS62149858A (ja) * | 1985-12-24 | 1987-07-03 | Toyo Alum Kk | 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔の製造方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07211593A (ja) * | 1994-01-21 | 1995-08-11 | Showa Alum Corp | 電解コンデンサ電極用アルミニウム箔及びそのエッチング方法 |
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