JPH01212733A - 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔 - Google Patents

電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔

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JPH01212733A
JPH01212733A JP3839188A JP3839188A JPH01212733A JP H01212733 A JPH01212733 A JP H01212733A JP 3839188 A JP3839188 A JP 3839188A JP 3839188 A JP3839188 A JP 3839188A JP H01212733 A JPH01212733 A JP H01212733A
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JP
Japan
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foil
etching
alloy
alloy foil
electrolytic capacitor
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Application number
JP3839188A
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English (en)
Inventor
Masashi Mehata
将志 目秦
Kenshiro Yamaguchi
山口 謙四郎
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Toyo Aluminum KK
Original Assignee
Toyo Aluminum KK
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、銅(以下Cuとする)、マグネシウム(以下
Mgとする)、及びコバルト(以下C。
とする)及び/又はニッケル(以下Niとする)を合金
成分とする新規な組成の電解コンデンサ陰極用アルミニ
ウム(以下AQとする)合金箔に関する。
従来技術とその問題点 電解コンデンサの静電容量(C)を増大させるためには
、陽極部の静電容量(CA)のみならず、陰極部(co
)をも増大させる必要がある。
従来からも、エツチングによってAΩ箔の表面積を拡大
させ、陰極部の静電容量を増大させることが行われてい
る。例えば、特開昭44−25016号公報は、Cuを
0.1〜0.5%(本明細書においては、“%゛とある
のは、全て“重囲%”を表す)含有する電解コンデンサ
用AQ合金箔を開示している。しかしながら、電解コン
デンサを使用する各種分野での急速な技術の進歩に伴っ
て、電解コンデンサの陰極部の静電容量についても、更
に一段の改善が望まれている。
すなわち、現在使用されている陰極箔は、エツチング前
に焼鈍による調質を行うことが多いが、この焼鈍時に形
成される箔表面の酸化皮膜が、通常強固で且つ不均一で
あるため、化学反応を主体とするエツチングにおいては
、エツチングが十分に進行しなかったり、均一なエツチ
ングが行われなかったりする。従って、箔の酸化皮膜が
薄く且つ均一な状態でエツチングを行うために、酸素濃
度の極めて低い条件下に箔の焼鈍を行ったり、或いはエ
ツチングに先立って箔から酸化皮膜を除去する前処理を
行ったりしている。
問題点を解決するための手段 本発明者は、上記の如き技術の現状に鑑みて鋭意研究を
重ねた結果、AQに特定量のCu、Mg並びにCo及び
/又はNiを配合した合金が、電解コンデンサ陰極用A
Q合金箔として優れた特性を具備していることを見出し
た。すなわち、本発明は、CuO,1〜0.7%、Mg 0.005〜1.0%及びCo並びにNiの少なくとも
一種0.005〜1.0%を含有する電解コンデンサ陰
極用A9合金箔を提供するものである。
化学反応を主体とするAQ箔のエツチングにおいては、
所定のエツチング溶液に対するAQ箔の化学反応力を高
めるために、以下の条件を満たす必要がある: (1)箔表面に形成された酸化皮膜の耐蝕性を適度に低
下させる。
(2)エツチング開始点となる拠点を増加させる。
(3)箔の厚さ方向の中心に向かってエツチングが進行
し易くする。
上記の条件(1)に関しては、主としてMgが大きく寄
与する。すなわち、Mgが0.005〜1%の範囲内に
ある場合には、エツチング前に行われる焼鈍による調質
時に、Mgが1箔の表面に拡散して濃縮し、焼鈍により
形成される酸化皮膜の耐蝕性を低下させるので、エツチ
ングが円滑に進行する。Mgの量が1%を上回る場合に
は、焼鈍時のAQ箔間の密着が強固となり、巻戻しが困
難となる。Mgが0.005%未満の場合には、添加の
効果がほとんど認められない。
条件(2)に関しては、0.005〜1%の範囲で含有
されるCOおよび/またはNiが、主として効果を発揮
する。これらの元素は、AQマトリックス中にほとんど
固溶せず、AR−Co化合物またはAl2−Ni化合物
として析出する。これらの化合物は、AQに対して貴で
あるので、該化合物とAQ・マトリックスとの間の電位
差が高まる。従って、この様な化合物を均一に分散させ
た状態でAQ合金箔をエツチングに供する場合には、A
Q・マトリックス中にエツチング開始点を多数発生させ
ることが出来る。Coおよび/またはNiの足が0.0
05%未満の場合には、添加の効果があまり無く、一方
、1%を超える場合には、エツチングのコントロールが
困難となる。
条件(3)に関しては、0.1〜0.7%の範囲で含有
されるCuが主に効果を発揮する。Cuは、AQ・マト
リックス中に固溶し易く、マトリックスの腐蝕電位を高
め、化学的溶解を促進するため、エツチングビットが成
長し易くなる。Cuの量が0.1%未満では、添加の効
果があまり認められず、一方、0.7%を上回る場合に
は、やはりエツチングのコントロールが困難となる。
なお、本発明AQ合金箔は、夫々0.5%までのF 6
% S t sまた夫々0.05%までのM n 。
ZnSTiなどの微量の不可避不純物を含んでいても良
い。
発明の効果 本発明によれば、以下の如き効果が達成される。
(イ)焼鈍時にAQ箔表面に形成される酸化皮膜の耐蝕
性が低いので、エツチングがスムースに進行する。
(ロ)エツチング時の反応性が高いので、エツチング箔
の表面積が著しく拡大される。
(ハ)電解コンデンサ陰極箔としての静電容世が高い。
(ニ)エツチング後の箔の強度が高い。
実施例 以下実施例を示し、本発明の特徴とするところをより一
層明確にする。
実施例1 一次電解AQ地金に所定量の添加成分を加えて、溶解し
、AQ合金スラブを鋳造した。
得られたスラブを通常の熱間圧延及び冷間圧延に供して
、厚さ50μmの合金箔を得た後、真空下に400°C
で5時間焼鈍を行い、次いで冷却した。
かくして得られた合金箔のAQ以外の合金成分含有量(
%)を第1表に示す。
なお、第1表において、試料N001〜6は、本発明に
よるA9合金を示し、試料No、 7〜12は、比較A
2合金を示す。
第1表 試料  Fe  Si  Cu  Mg  Co  N
iNo。
1 0.070.040.200.050.03−2 
 //  //  //  //  Q、1Q−3//
  //  //  //  Q、3Q−4//  /
/  //  //   0.Q35  //  //
  //  //   Q、lQ6  //  // 
 //  //   Q、3Q7  〃”  〃0.0
00.10− 8  //  //  //  //   Q、IQ9
 0.15’〆 〃0.05−− 10 0.300.10 ”  〃−−11ll”  
”  0.00− − 12 0.070.040.000.050.10−得
られた箔を以下の2つの条件でエツチングした。
条件I: 100℃に保持した10%塩酸溶液に箔を15秒間浸漬
し、化学エツチングを行った。次いで、5%ホウ酸溶液
中で3vの化成を行った後、8%ホウ酸アンモニウム液
中でLCRメーターにより静電容量(Cap:単位はμ
F/c♂)を測定した。
条件■: 条件Iと同一のエツチング液中で箔の溶解量が約4.0
mg/ctlとなるまでエツチングを行なった後、条件
Iと同様にして、静電容ff1(Cap:単位はμF/
cJ)を測定した。また、この時のエツチド箔の強度(
単位はkg/ 1 cm巾)を測定した。
結果は、第2表に示す通りである。
第2表 Nα 1 373  410 1.8 2 420  430 2.0 3 485  445 2.1 4 358  403 1.8 5 405  425 2.0 6 472  431 2.2 7 245  366 1.6 8 262  392 1.7 9 256  389 1.9 10 298  377 2.0 11 201  346 1.5 12 142  193 2.5 参考例1 実施例1の試料2合金箔と試料7合金箔のエツチング後
の断面の形状を同一倍率で顕微鏡観察したところ、それ
ぞれ第1図及び第2図に概要を示すようなピットの形成
状況が観察された。
第1図に示す本発明合金による箔(試料2合金箔)の場
合には、第2図に示す比較合金による箔(試料7合金箔
)の場合に比して、より微細なピットが均一に発生して
いることが明らかである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明AQ合金による箔のエツチング後の断
面形状の概要を示す図面、第2図は、比較AQ合金によ
る箔のエツチング後の断面形状の概要を示す図面である
。 (以上) 舅 1  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)銅0.1〜0.7%、マグネシウム0.005〜
    1.0%及びコバルト並びにニッケルの少なくとも一種
    0.005〜1.0%を含有する電解コンデンサ陰極用
    アルミニウム合金箔。
JP3839188A 1988-02-19 1988-02-19 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔 Pending JPH01212733A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07211593A (ja) * 1994-01-21 1995-08-11 Showa Alum Corp 電解コンデンサ電極用アルミニウム箔及びそのエッチング方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56133444A (en) * 1980-03-22 1981-10-19 Kobe Steel Ltd Al alloy for cathode foil of electrolytic capacitor
JPS57126941A (en) * 1981-01-28 1982-08-06 Showa Alum Corp Aluminum alloy foil for cathode of electrolytic capacitor
JPS62149858A (ja) * 1985-12-24 1987-07-03 Toyo Alum Kk 電解コンデンサ陰極用アルミニウム合金箔の製造方法

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