JPH01213933A - 電子管用陰極 - Google Patents
電子管用陰極Info
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- JPH01213933A JPH01213933A JP63039904A JP3990488A JPH01213933A JP H01213933 A JPH01213933 A JP H01213933A JP 63039904 A JP63039904 A JP 63039904A JP 3990488 A JP3990488 A JP 3990488A JP H01213933 A JPH01213933 A JP H01213933A
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- cathode
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、TV用ジブラウン管どに用いられる電子管
用陰極に関するものである。
用陰極に関するものである。
第2図は従来のTV用ジブラウン管撮像管に用いられて
いる陰極を示すものであり、図において、(1)はシリ
コン(Si) 、マグネシウム(Mg)などの還元性元
素を微量含む主成分がニッケルからなる有底筒状の基体
、(2)はこの基体(1)の底部上面に被着され、少な
くともバリウム(Ba)を含み、他にストロンチウム(
Sr)および/またはカルシウム(Ca)を含むアルカ
リ土類金属酸化物からなる電子放射物質層、(3)は上
記基体(1)内に配設されたヒータ(3)で、加熱によ
抄上配電子放射物質層(2)から熱電子を放出させるた
めのものである。
いる陰極を示すものであり、図において、(1)はシリ
コン(Si) 、マグネシウム(Mg)などの還元性元
素を微量含む主成分がニッケルからなる有底筒状の基体
、(2)はこの基体(1)の底部上面に被着され、少な
くともバリウム(Ba)を含み、他にストロンチウム(
Sr)および/またはカルシウム(Ca)を含むアルカ
リ土類金属酸化物からなる電子放射物質層、(3)は上
記基体(1)内に配設されたヒータ(3)で、加熱によ
抄上配電子放射物質層(2)から熱電子を放出させるた
めのものである。
この様に構成された電子管用陰極において、基体(1)
への電子放射物質層(2)の被着は次の様にして行なわ
れる。まず、アルカリ土類金属(Ba 、 Sr 。
への電子放射物質層(2)の被着は次の様にして行なわ
れる。まず、アルカリ土類金属(Ba 、 Sr 。
Ca)の三元炭酸塩からなる懸濁液を基体(1)の底部
上面に塗布し、真空排気工程中にヒータ(3)によって
加熱する。この時、アルカリ土類金属の炭酸塩はアルカ
リ土類金属の酸化物に変わる。その後、アルカリ土類金
属の酸化物の一部を還元して半導体的性質を有するよう
に活性化を行なうことにより、基体(1)上にアルカリ
土類金属の酸化物からなる電子放射物質層(2)を被着
形成している。
上面に塗布し、真空排気工程中にヒータ(3)によって
加熱する。この時、アルカリ土類金属の炭酸塩はアルカ
リ土類金属の酸化物に変わる。その後、アルカリ土類金
属の酸化物の一部を還元して半導体的性質を有するよう
に活性化を行なうことにより、基体(1)上にアルカリ
土類金属の酸化物からなる電子放射物質層(2)を被着
形成している。
この活性化工程において、アルカリ土類金属の酸化物の
一部は次の様に反応する。つまり、基体(1)内に含有
されたシリコン、マグネシウム等の還元性元素は拡散に
よりアルカリ土類金属の酸化物と基体(1)の界面に移
動し、アルカリ土類金属酸化物と反応する。たとえば、
アルカリ土類酸化物として酸化バリウム(BaO)であ
れば次式(1) # (2)の様に反応する。
一部は次の様に反応する。つまり、基体(1)内に含有
されたシリコン、マグネシウム等の還元性元素は拡散に
よりアルカリ土類金属の酸化物と基体(1)の界面に移
動し、アルカリ土類金属酸化物と反応する。たとえば、
アルカリ土類酸化物として酸化バリウム(BaO)であ
れば次式(1) # (2)の様に反応する。
BaO+1/2Si=Ba+1/2SiO,・−=−(
1)BaO+Mg =Ba+MgO・・・−・・・
・ (2)この反応の結果、基体(1)上に被着形成さ
れたアルカリ土類金属酸化物の一部が還元され、酸素欠
乏型の半導体となり、陰極温度700〜SOO℃の動作
温度で0.5〜0.8〜層の電子放射が得られることに
なる。
1)BaO+Mg =Ba+MgO・・・−・・・
・ (2)この反応の結果、基体(1)上に被着形成さ
れたアルカリ土類金属酸化物の一部が還元され、酸素欠
乏型の半導体となり、陰極温度700〜SOO℃の動作
温度で0.5〜0.8〜層の電子放射が得られることに
なる。
ところが、上記電子管用陰極では、電子放射が0.5〜
0.8 A/d以上の電流密度は取り出せない。その理
由として、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元反応さ
せた場合、上記(1) e (2)式からも明らかなよ
うに、基体(1)とアルカリ土類金属酸化物層との界面
1c Si O,、MgOまt: l、i BaO、S
i O,などの複合酸化物層(中間層)が形成され、こ
の中間層が高抵抗層となって電流の流れを妨げること、
および上記中間層が基体(1)中の還元性元素(S i
* Mg)が電子放射物質層(2)の表面側へ拡散する
のを妨げるため十分な量のバリウム(Ba)が生成され
ないためであると考えられている。つまり、電子管動作
中に基体(1)と電子放射物質層(2)の界面近傍、特
に基体(1)表面近傍のニッケル結晶粒界と上記界面よ
り10μm程度電子放射物質層(2)内側の位置に上記
中間層が偏析するため、電流の流れおよび電子放射物質
層(2)表面側への還元性元素の拡散が妨げられ、高電
流密度下の十分な電子放出特性が得られないという問題
があった。
0.8 A/d以上の電流密度は取り出せない。その理
由として、アルカリ土類金属酸化物の一部を還元反応さ
せた場合、上記(1) e (2)式からも明らかなよ
うに、基体(1)とアルカリ土類金属酸化物層との界面
1c Si O,、MgOまt: l、i BaO、S
i O,などの複合酸化物層(中間層)が形成され、こ
の中間層が高抵抗層となって電流の流れを妨げること、
および上記中間層が基体(1)中の還元性元素(S i
* Mg)が電子放射物質層(2)の表面側へ拡散する
のを妨げるため十分な量のバリウム(Ba)が生成され
ないためであると考えられている。つまり、電子管動作
中に基体(1)と電子放射物質層(2)の界面近傍、特
に基体(1)表面近傍のニッケル結晶粒界と上記界面よ
り10μm程度電子放射物質層(2)内側の位置に上記
中間層が偏析するため、電流の流れおよび電子放射物質
層(2)表面側への還元性元素の拡散が妨げられ、高電
流密度下の十分な電子放出特性が得られないという問題
があった。
これに対して特願昭60−229303の出願には、基
体に0.01〜0.5重量%の希土類金属を含有させる
ことによって電子放射物質層を基体に被着形成する際の
活性化時に、アルカリ土類金属の炭酸塩が分解する際、
あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが解離反応
を起こす際に基体が酸化する反応を防止するとともに、
電子放射物質層中への基体に含有された還元性元素の拡
散を適度に制御し、還元性元素による歌合酸化物からな
る中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍に集中的
に形成されることを防止し、中間層を電子放射物質層内
に分散させるという技術が示されている。つまり、この
第2の従来例の電子管用陰極においては、中間層が分散
されるために、1〜3A/7程度の高電流密度動作での
エミッション劣化が少ないという優れた特性を有するも
のである。
体に0.01〜0.5重量%の希土類金属を含有させる
ことによって電子放射物質層を基体に被着形成する際の
活性化時に、アルカリ土類金属の炭酸塩が分解する際、
あるいは陰極としての動作中に酸化バリウムが解離反応
を起こす際に基体が酸化する反応を防止するとともに、
電子放射物質層中への基体に含有された還元性元素の拡
散を適度に制御し、還元性元素による歌合酸化物からな
る中間層が基体と電子放射物質層との界面近傍に集中的
に形成されることを防止し、中間層を電子放射物質層内
に分散させるという技術が示されている。つまり、この
第2の従来例の電子管用陰極においては、中間層が分散
されるために、1〜3A/7程度の高電流密度動作での
エミッション劣化が少ないという優れた特性を有するも
のである。
しかしながら第2の実施例の電子管用陰極においては初
期に安定なエミッションを得るために時間を要し、エー
ジング時間を長くする必要があり、製造に要する時間が
長くなるという問題点があった。
期に安定なエミッションを得るために時間を要し、エー
ジング時間を長くする必要があり、製造に要する時間が
長くなるという問題点があった。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、容易な製造により初期に安定なエミッション特性を
有する電子管用陰極を得ることを目的とする。
で、容易な製造により初期に安定なエミッション特性を
有する電子管用陰極を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る電子管用陰極は、主成分がニッケルから
なる基体中に希土類金属を0.01〜10重量%;およ
び第2の添加剤としてベリリウム(Be) 。
なる基体中に希土類金属を0.01〜10重量%;およ
び第2の添加剤としてベリリウム(Be) 。
チタン(Ti)、ジルコニウム(Zr)、ハフニウム(
Hf)。
Hf)。
アルミニウム(AI) 、コバルト(Co) 、カドミ
ウム(Cd) 、 7 ンチモン(Sb)−銅(Cu)
、鉛(Pb) 、ビスマス(Bi)、タリウム(Tl
)、銀(Ag) 、金(Au) 、パラジウム(Pd)
、白金(Pt) 、 ルテニウA (Ru) * レ
ニ’) A(Re) 、オスミラA (Os) 、イリ
ジウA(Ir)、鉄(Fe)。
ウム(Cd) 、 7 ンチモン(Sb)−銅(Cu)
、鉛(Pb) 、ビスマス(Bi)、タリウム(Tl
)、銀(Ag) 、金(Au) 、パラジウム(Pd)
、白金(Pt) 、 ルテニウA (Ru) * レ
ニ’) A(Re) 、オスミラA (Os) 、イリ
ジウA(Ir)、鉄(Fe)。
スズ(Sn) 、バナジウム(V)、亜鉛(Zn) 、
ガリウム(Ga) 、インジウム(In) 、モリブデ
ン輸)、クロム(Cr) 、タングステン(W)、ホウ
素(B)、マンガン(IVh) 、 :−オブ(Nb)
、タンタル(Ta) 、テクネチウム(Tc)、lz
−ラム(Re) 、ゲルマニラA (Ge) 、炭素(
qのうち少なくとも1種の元素を0.01〜1重量%含
有させたものである。
ガリウム(Ga) 、インジウム(In) 、モリブデ
ン輸)、クロム(Cr) 、タングステン(W)、ホウ
素(B)、マンガン(IVh) 、 :−オブ(Nb)
、タンタル(Ta) 、テクネチウム(Tc)、lz
−ラム(Re) 、ゲルマニラA (Ge) 、炭素(
qのうち少なくとも1種の元素を0.01〜1重量%含
有させたものである。
この発明においては、第2の実施例に比較して早期にニ
ッケル結晶粒界に、SCが拡散してくるために、動作初
期から、ニッケル結晶粒界に複合酸化物層が偏析するの
を防止でき、エージング時間を短縮することができる。
ッケル結晶粒界に、SCが拡散してくるために、動作初
期から、ニッケル結晶粒界に複合酸化物層が偏析するの
を防止でき、エージング時間を短縮することができる。
以下、この発明の一実施例を第1図に基づいて説明する
。図において(1)は主成分がニッケルからなる基体で
、この基体(1)中には、希土類金属、この例ではSc
を0.1重量%含有し、さらに第2の添加剤としてTi
を0.06重量%含有している。この他還元剤として、
Siと鞠を微量含有している。(2)は基体(1)の底
部上面に被着され、少なくともバリウムを含み、他にス
トロンチウムおよび/またはカルシウムを含むアルカリ
土類金属酸化物を生成分とする電子放射物質層である。
。図において(1)は主成分がニッケルからなる基体で
、この基体(1)中には、希土類金属、この例ではSc
を0.1重量%含有し、さらに第2の添加剤としてTi
を0.06重量%含有している。この他還元剤として、
Siと鞠を微量含有している。(2)は基体(1)の底
部上面に被着され、少なくともバリウムを含み、他にス
トロンチウムおよび/またはカルシウムを含むアルカリ
土類金属酸化物を生成分とする電子放射物質層である。
次にこの様に構成された電子管用陰極において、まず、
バリウム、ストロンチウム、カルシウムの三元炭酸塩と
バインダー及び溶剤を添加混合し、懸濁液を作成する。
バリウム、ストロンチウム、カルシウムの三元炭酸塩と
バインダー及び溶剤を添加混合し、懸濁液を作成する。
この懸濁液をニッケルを主成分とし、予め515Mg等
の還元性元素(各々0.03〜0.1重量%)とともに
希土類金属として0.1重量%のScおよび、第2の添
加剤としてTiを含有させた基体(1)上にスプレィに
より約加ミクロンの厚みで塗布し、その後、従来のもの
と同様に、炭酸塩から酸化物への分解過程及び酸化物の
一部を還元する活性化過程を経て、電子放射物質層(2
)を基体(1)に被着せしめるものである。
の還元性元素(各々0.03〜0.1重量%)とともに
希土類金属として0.1重量%のScおよび、第2の添
加剤としてTiを含有させた基体(1)上にスプレィに
より約加ミクロンの厚みで塗布し、その後、従来のもの
と同様に、炭酸塩から酸化物への分解過程及び酸化物の
一部を還元する活性化過程を経て、電子放射物質層(2
)を基体(1)に被着せしめるものである。
さらに、この電子管用陰極を1時間エージングすると所
定のエミッション電流をとることが可能になる。またこ
の電子管用陰極を用いて2極管真空管を作成し、寿命試
験を行ったところ、第2の従来例と同様、1〜3A/c
rItの高電流密度動作でのエミッション劣化が少ない
という優れた特性を有していることが確認された。
定のエミッション電流をとることが可能になる。またこ
の電子管用陰極を用いて2極管真空管を作成し、寿命試
験を行ったところ、第2の従来例と同様、1〜3A/c
rItの高電流密度動作でのエミッション劣化が少ない
という優れた特性を有していることが確認された。
一方第2の従来例においては1時間のエージングではエ
ミッション電流が安定しないものが約菊%あり、長い場
合、エミッション電流を安定させるために約4時間必要
なものもあった。
ミッション電流が安定しないものが約菊%あり、長い場
合、エミッション電流を安定させるために約4時間必要
なものもあった。
この第2の従来例において、エミッション電流が安定し
ない理由を調べたところ次のことが判明した。基体中の
希土類金属は基体(1)と電子放射物質層(2)の界面
および、基体のニッケル結晶の粒界で複合酸化物の生成
を抑λる効果があるが、活性化工程直後、特に粒界部分
で複合酸化物が生成することが判明した。さらに、この
粒界部分には、活性化工程直後、希土類金属は少なく、
その後のエージング時間、および動作時に希土類金属が
析出してくることが判明した。このことから活性化工程
直後は、粒界部分で希土類金属が少ないため複合酸化物
ができ、−時的に(1) D (2)の反応が抑えられ
、十分なエミッション電流力悪得られまで時間を要する
ことが考えられる。
ない理由を調べたところ次のことが判明した。基体中の
希土類金属は基体(1)と電子放射物質層(2)の界面
および、基体のニッケル結晶の粒界で複合酸化物の生成
を抑λる効果があるが、活性化工程直後、特に粒界部分
で複合酸化物が生成することが判明した。さらに、この
粒界部分には、活性化工程直後、希土類金属は少なく、
その後のエージング時間、および動作時に希土類金属が
析出してくることが判明した。このことから活性化工程
直後は、粒界部分で希土類金属が少ないため複合酸化物
ができ、−時的に(1) D (2)の反応が抑えられ
、十分なエミッション電流力悪得られまで時間を要する
ことが考えられる。
一方上記実施例においては活性化工程直後に、すで(こ
粒界部分に希土類金属が十分存在し、複合酸化物の生成
が少ないことが観測された。このことから、上記の実施
例においては第2の添加剤が、希土類金属の粒界への析
出を促する作用があることが考えられる。この理由は、
第2の添加剤が、希土類金属の拡散速度を上げること、
あるいは、粒界の成長を促し、早期から希土類金属の析
出が開始するようにしていることなどが考えられる。
粒界部分に希土類金属が十分存在し、複合酸化物の生成
が少ないことが観測された。このことから、上記の実施
例においては第2の添加剤が、希土類金属の粒界への析
出を促する作用があることが考えられる。この理由は、
第2の添加剤が、希土類金属の拡散速度を上げること、
あるいは、粒界の成長を促し、早期から希土類金属の析
出が開始するようにしていることなどが考えられる。
このような第2の添加剤としては上記実施例ではTiで
あったが、Tiの他特にZr 、 Coで効果が大きく
、C(7)他、Be、Hf 、Al 、Cd、Sb、C
u、Pb、Bi。
あったが、Tiの他特にZr 、 Coで効果が大きく
、C(7)他、Be、Hf 、Al 、Cd、Sb、C
u、Pb、Bi。
TI 、Ag、Au、Pd、Pt 、Ru、Re、Os
、 Ir、Fe、Sn。
、 Ir、Fe、Sn。
V、Zn、Ga、In、Mo、Cr、W、B、Mn、N
b、’l”a、Tc。
b、’l”a、Tc。
Re 、 Ge 、 Cで効果が見られた。また、この
うち2種以上を組み合せても効果が見られた。
うち2種以上を組み合せても効果が見られた。
この第2の添加剤は、基体中に0.01〜1重量%の範
囲で含有させた場合に効果が見られた。この下限値未満
では効果が見られず、上限値を越えると、希土類金属が
複合酸化物の生成を抑える効果を抑制したり、環元剤の
拡散を抑制したり、さらには(をン(2)式の反応を抑
える場合があり、好ましくない。
囲で含有させた場合に効果が見られた。この下限値未満
では効果が見られず、上限値を越えると、希土類金属が
複合酸化物の生成を抑える効果を抑制したり、環元剤の
拡散を抑制したり、さらには(をン(2)式の反応を抑
える場合があり、好ましくない。
上記実施例では希土類金属としてScを例に説明したが
これは他の希土類金属でも効果がある。また希土類金属
の添加範囲も0.01〜10重量%であれば効果があり
、0.01重量%未満の場合は複合酸化物を析出させな
い効果が小さく、10重量%を越えると希土類金属が環
元剤の拡散を過度に抑えるためエミッションの劣化が大
きくなる。
これは他の希土類金属でも効果がある。また希土類金属
の添加範囲も0.01〜10重量%であれば効果があり
、0.01重量%未満の場合は複合酸化物を析出させな
い効果が小さく、10重量%を越えると希土類金属が環
元剤の拡散を過度に抑えるためエミッションの劣化が大
きくなる。
また、電子放射物質層に希土類金属酸化物を0.1〜2
0重量%含有させると、エミッションの劣化はさらに小
さくなり、基体への第2の添加剤の効果も大きくなる。
0重量%含有させると、エミッションの劣化はさらに小
さくなり、基体への第2の添加剤の効果も大きくなる。
以上説明したように、この発明によれば、基体に、希土
類金属と第2の添加剤とを添加すること蚤こより、基体
の粒界への複合酸化物の偏析を活性化工程直後から抑え
ることができるので、長いエージング時間が不必要で、
かつ高電流密度の十分なエミッション特性を得ることが
でき、従来より長寿命で、かつ安価で製造できる電子管
用陰極が得られるという効果を有する。
類金属と第2の添加剤とを添加すること蚤こより、基体
の粒界への複合酸化物の偏析を活性化工程直後から抑え
ることができるので、長いエージング時間が不必要で、
かつ高電流密度の十分なエミッション特性を得ることが
でき、従来より長寿命で、かつ安価で製造できる電子管
用陰極が得られるという効果を有する。
第1図はこの発明の一実施例を示す断面図、第2図は従
来の電子管用陰極を示す断面図である。 図において(1)は基体、(2)は電子放射物質層を示
す。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
来の電子管用陰極を示す断面図である。 図において(1)は基体、(2)は電子放射物質層を示
す。 なお、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- (1)主成分がニッケルからなる基体中に希土類金属を
0.01〜10重量%、および、ヘリウムBe、チタン
Ti、ジルコニウムZr、ハフニウムHf、アルミニウ
ムAl、コバルトCo、カドミウムCd、アンチモンS
b、銅Cu、鉛Pb、ビスマスBi、タリウムTi、銀
Ag、金Au、パラジウムPd、白金Pt、ルテニウム
Ru、レニウムRe、オスミウムOs、イリジウムIr
、鉄Fe、スズSn、バナジウムV、亜鉛Zn、ガリウ
ムGa、インジウムIn、モリブデンMo、クロムCr
、タングステンW、ホウ素B、マンガンMn、ニオブN
b、タンタルTa、テクネチウムTc、レニウムRe、
ゲルマニウムGe、炭素Cのうち少なくとも1種の元素
を0.01〜1重量%含有させ、少なくともバリウムを
含むアルカリ土類金属酸化物を主成分とする電子放射物
質層を被着形成したことを特徴とする電子管用陰極。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63039904A JPH01213933A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 電子管用陰極 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63039904A JPH01213933A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 電子管用陰極 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01213933A true JPH01213933A (ja) | 1989-08-28 |
Family
ID=12565947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63039904A Pending JPH01213933A (ja) | 1988-02-22 | 1988-02-22 | 電子管用陰極 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01213933A (ja) |
-
1988
- 1988-02-22 JP JP63039904A patent/JPH01213933A/ja active Pending
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