JPH0122353B2 - - Google Patents

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JPH0122353B2
JPH0122353B2 JP55114623A JP11462380A JPH0122353B2 JP H0122353 B2 JPH0122353 B2 JP H0122353B2 JP 55114623 A JP55114623 A JP 55114623A JP 11462380 A JP11462380 A JP 11462380A JP H0122353 B2 JPH0122353 B2 JP H0122353B2
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/001Interlayers, transition pieces for metallurgical bonding of workpieces
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/001Interlayers, transition pieces for metallurgical bonding of workpieces
    • B23K2035/008Interlayers, transition pieces for metallurgical bonding of workpieces at least one of the workpieces being of silicium
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明はスパツタリング装置のための冷却皿上
の円盤状または板状であるターゲツト材料の固定
方法に関する。
スパツタリング装置においては飛散されるべき
材料は円盤または板として水冷の皿上に備えられ
る。その水冷はスパツタリング装置におけるター
ゲツト材料のプラズマ放電の際において生ずる電
子による昇温を阻止しなければならない。良好な
冷却効果の達成のために冷却皿は多くは銅でつく
られている。しかし良好な冷却はターゲツト材料
と冷却皿の間に良好な熱接触が存在する時にだけ
保証される。
ターゲツト材料が軟ろう箔を用いて冷却皿と結
合されているターゲツトは知られている。多くは
ろう付できないターゲツト材料においては軟ろう
箔はごく僅かな付着能力を持つだけであるから、
ターゲツト材料は操作中にしばしば一部または完
全剥離する。
本発明は、実際的にすべての通例のターゲツト
と固着し良好な熱接触をもつて結合される方法を
提供することを目的とする。この目的は円盤状ま
たは板状であるターゲツト材料を銅、銅−ガラス
混合物または銀からなるろう付可能な層によつて
ターゲツト材料に適合した付着層を介してプラズ
マ噴射によりろう付可能に被覆し、つづいて冷却
皿と軟ろう付することによつて達せられる。この
方式で良好な付着だけでなく、良好な熱接触も保
証される。
円板状または板状であるターゲツト材料の上に
プラズマ噴射によつてターゲツト物質に適合した
付着層、中間層およびろう付可能な表面層を設け
るならば有効である。
この場合付着層か付加的中間層が同時に軟ろう
に対する拡散阻止体として役立つことができる。
この場合ろう付可能な表面層の層厚さがそれが軟
ろう中への拡散によつて無くなることがないほど
大きいことが重要である。
付着層およびろう付可能層の設置の後の円盤状
または板状であるターゲツト材料ならびにろう付
前の冷却皿を適当な軟ろうフラツクスの使用の下
でろう予備被覆することが望ましい。このように
ろう予備被覆されたターゲツト円盤またはターゲ
ツト板をそれからフラツクスなしに冷却皿とろう
付するが、再融解ろう付によるのが望ましい。
図に本発明に基づく方法によつてろう付された
二つのターゲツトが示され、そこにおいて第1図
ではターゲツトは円盤状を、第2図は板状を呈す
る。
符号1は冷却皿2の上にろうによつて固定され
ている任意の材料からなるターゲツト円盤を示
す。第2図はターゲツト板3を示し、それは方形
の冷却皿4にろう付されている。
第1図に示されたターゲツトの製作は、次のよ
うにターゲツト円盤1上にターゲツト材料に対応
して適合した付着層をプラズマ噴射によつて設け
ることが先行する。つづいてこの付着層の上に同
様にプラズマ噴射によつて、ターゲツト円盤1を
ろう付可能にするために銅、銅−ガラスまたは銀
層を設ける。プラズマ噴射層の設置の前に金属タ
ーゲツト材料の使用の際には円盤に結合部におい
てサンドブラストをかけ、適切に浄化する。付着
層とろう付可能層の設置の後にターゲツト円盤1
ならびに冷却皿2に適当な軟ろうフラツクスの使
用の下で予備ろう被覆をする。その後ターゲツト
円盤と冷却皿を浄化し、それによつてフラツクス
残渣を除去する。その後再融解ろう付によつてタ
ーゲツト円盤1を冷却皿2とフラツクスを使用し
ないでろう付する。
例えばアルミニウム、アルミニウム−けい素、
アルミニウム−タンタル、タンタル、クロム、モ
リブデンのようなろう付できない金属ターゲツト
材料の場合には、付着層としてニツケル、ニツケ
ル−クロム合金、中でも80/20%の組成のニツケ
ル−アルミニウム混合物、Ni−Al−Mo混合物、
アルミニウム青銅、モリブデン、タングステン、
アルミニウム、アルミニウム−けい素合金、亜
鉛、銅および銅−ガラス混合物がすぐれているこ
とがわかつた。付着層はこの場合同時に拡散阻止
体として役立つ。
ガラス、酸化物セラミツクスおよびけい素から
なるターゲツト材料が用いられるならば、付着層
としてアルミニウム、アルミニウム−けい素合金
または亜鉛を用いるのが望ましい。ターゲツト材
料として黒鉛を用いる場合は、タングステンから
なる付着層を用いるのが有効である。ろう付可能
な表面層はどの場合にも約30ないし100μmの層
厚さを持つ銅、銅−ガラス混合物または銀から成
る。
本発明に基づく方法によりしかし例えば金、
銀、パラジウム、白金および硬ろうのように軟ろ
うに対し強い溶解度を有し従つてろう付作業の間
に軟ろうと合金してその組成が変化する直接ろう
付可能のターゲツト材料も固定することもでき
る。プラズマ噴射された付着層もしくは別の中間
層はこれらの材料の場合には特に良好な結合の目
的だけでなくて、その上になおターゲツト材料の
軟ろうとの合金を阻止する拡散阻止体として作用
する。付着層としてニツケル、ニツケル−クロム
合金、中でも80/20%の組成のニツケル−アルミ
ニウム混合物、Ni−Al−Mo混合物、アルミニウ
ム青銅、モリブデン、タングステン、アルミニウ
ム、アルミニウム−けい素合金、亜鉛、銅および
銅−ガラス混合物が用いられ、それが同時に軟ろ
うに対して拡散阻止体として役立つか、又は拡散
阻止体としてこれらの材料の一つを適当な付着層
の上に中間層として噴射する。ろう付可能な表面
層はどの場合にも約30ないし100μmの層厚さを
もつ銅、銅−ガラス混合物または銀から成る。
ろう付可能の層の比較的大きな層厚さは、それ
が軟ろう中への拡散によつて溶けてなくならない
ことを保証する。それによつて操作の際にろうの
融解点の近くまでのターゲツトの熱的過負荷が、
ろう付部が全体または一部分離れることなしに長
い時間にわたつても可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図はそれぞれ本発明による方法の
実施の対象の一例であるターゲツトの固定状態を
示す斜視図である。 1,3…ターゲツト、2,4…冷却皿。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ターゲツト円盤またはターゲツト板1,3に
    ターゲツト材料に適合した付着層が設けられ、続
    いて銅、銅−ガラス混合物または銀から成る約30
    ないし100μmの厚さのろう付可能な被覆層がプ
    ラズマ溶射により設けられ、このようにして被覆
    されたターゲツト円盤またはターゲツト板1,3
    および冷却皿2,4が相互に別々にろう予備被覆
    され、続いてフラツクスを使用せずに軟ろうによ
    り相互に結合されることを特徴とするスパツタリ
    ング装置のための冷却皿上の円盤状または板状で
    あるターゲツト材料の固定方法。 2 ターゲツト円盤またはターゲツト板1,3お
    よび冷却皿2,4は再融解ろう付によつて相互に
    結合されることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の方法。 3 ターゲツト材料に適合した付着層は同様にプ
    ラズマ溶射によりターゲツト円盤またはターゲツ
    ト板1,3上に設けられることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項または第2項記載の方法。 4 ガラス、酸化物セラミツクスおよびけい素か
    らなるターゲツト円盤またはターゲツト板1,3
    の場合に付着層としてアルミニウム、アルミニウ
    ム−けい素合金、銅、銅−ガラス混合物、亜鉛、
    タングステン、アルミニウム青銅またはモリブデ
    ンを用いることを特徴とする特許請求の範囲第1
    項ないし第3項のいずれかに記載の方法。 5 ターゲツト円盤またはターゲツト板1,3に
    ターゲツト材料に適合した付着層が設けられ、該
    付着層の形成後中間層が同様にプラズマ溶射によ
    り形成され、続いて銅、銅−ガラス混合物または
    銀から成る約30ないし100μmの厚さのろう付可
    能な被覆層がプラズマ溶射により設けられ、この
    ようにして被覆されたターゲツト円盤またはター
    ゲツト板1,3および冷却皿2,4が相互に別々
    にろう予備被覆され、続いてフラツクスを使用せ
    ずに軟ろうにより相互に結合されることを特徴と
    するスパツタリング装置のための冷却皿上の円盤
    状または板状であるターゲツト材料の固定方法。 6 金属のターゲツト円盤またはターゲツト板
    1,3の際に付着層または付着層上に設けられた
    中間層としてニツケル、ニツケル−クロム合金、
    ニツケル−アルミニウム混合物、ニツケル−アル
    ミニウム−モリブデン混合物、アルミニウム青
    銅、モリブデン、タングステン、アルミニウム、
    アルミニウム−けい素合金、亜鉛、銅および銅−
    ガラス混合物が用いられること特徴とする特許請
    求の範囲第5項記載の方法。 7 ターゲツト円盤またはターゲツト板1,3と
    して黒鉛を用いる場合に付着層としてタングステ
    ンを用い、付着層上にニツケル、ニツケル−アル
    ミニウム混合物、ニツケル−アルミニウム−モリ
    ブデン混合物、アルミニウム青銅、アルミニウ
    ム、またはアルミニウム−けい素合金からなる中
    間層が拡散阻止体として設けられることを特徴と
    する特許請求の範囲第5項または第6項記載の方
    法。
JP11462380A 1979-08-21 1980-08-20 Fixing of target material Granted JPS5633476A (en)

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JPS5633476A JPS5633476A (en) 1981-04-03
JPH0122353B2 true JPH0122353B2 (ja) 1989-04-26

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EP (1) EP0024355B1 (ja)
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Families Citing this family (80)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57188680A (en) * 1981-05-16 1982-11-19 Kemisuton:Kk Target for sputtering and production thereof
US4613069A (en) * 1981-11-23 1986-09-23 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior Method for soldering aluminum and magnesium
DE3148354A1 (de) * 1981-12-07 1983-06-09 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Vorrichtung zur kathodenzerstaeubung eines metalles
DE3233215C1 (de) * 1982-09-07 1984-04-19 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zum Befestigen von in Scheiben- oder Plattenform vorliegenden Targetmaterialien auf Kuehlteller fuer Aufstaeubanlagen
JPS5956971A (ja) * 1982-09-27 1984-04-02 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk スパツタリング用タ−ゲツトの製造方法
US4545882A (en) * 1983-09-02 1985-10-08 Shatterproof Glass Corporation Method and apparatus for detecting sputtering target depletion
US4479862A (en) * 1984-01-09 1984-10-30 Vertimag Systems Corporation Sputtering
JPS60181269A (ja) * 1984-02-27 1985-09-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd スパツタ−タ−ゲツト
US4597847A (en) * 1984-10-09 1986-07-01 Iodep, Inc. Non-magnetic sputtering target
US5215639A (en) * 1984-10-09 1993-06-01 Genus, Inc. Composite sputtering target structures and process for producing such structures
JPS61227166A (ja) * 1985-03-29 1986-10-09 Mitsubishi Metal Corp スパツタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ−ゲツト
US4623555A (en) * 1985-04-25 1986-11-18 Aluminum Company Of America Connection method
US4596354A (en) * 1985-07-03 1986-06-24 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Oxidation resistant filler metals for direct brazing of structural ceramics
JPS62158862A (ja) * 1986-01-08 1987-07-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd スパツタリングタ−ゲツト
JPS62222060A (ja) * 1986-03-20 1987-09-30 Hitachi Metals Ltd スパツタリング用タ−ゲツト
JPS63121662A (ja) * 1987-10-14 1988-05-25 Hitachi Metals Ltd スパッタリング用ターゲット
US4849247A (en) * 1987-12-14 1989-07-18 Sundstrand Corporation Enhanced adhesion of substrate materials using ion-beam implantation
DE3839775C2 (de) * 1988-11-25 1998-12-24 Vaw Ver Aluminium Werke Ag Kathoden-Zerstäubungstarget und Verfahren zu seiner Herstellung
JPH0313570A (ja) * 1989-06-09 1991-01-22 Mitsubishi Electric Corp 半導体製造装置及び半導体製造装置用ターゲット
US5198308A (en) * 1990-12-21 1993-03-30 Zimmer, Inc. Titanium porous surface bonded to a cobalt-based alloy substrate in an orthopaedic implant device
DE4107660C2 (de) * 1991-03-09 1995-05-04 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Montage von Silizium-Plättchen auf metallischen Montageflächen
JPH0586462A (ja) * 1991-06-28 1993-04-06 Mitsubishi Materials Corp スパツタリング用ターゲツト及びその製造方法
US5143590A (en) * 1991-07-10 1992-09-01 Johnson Matthey Inc. Method of manufacturing sputtering target assembly
FR2680799B1 (fr) * 1991-09-03 1993-10-29 Elf Aquitaine Ste Nale Element de cible pour pulverisation cathodique, procede de preparation dudit element et cibles, notamment de grande surface, realisees a partir de cet element.
DE4138029A1 (de) * 1991-11-19 1993-05-27 Thyssen Guss Ag Targetkuehlung
FR2685011B1 (fr) * 1991-12-13 1994-02-04 Elf Aquitaine Ste Nale Procede de preparation d'un element de cible pour pulverisation cathodique et cibles, notamment de grande surface, realisees a partir de cet element.
US5282943A (en) * 1992-06-10 1994-02-01 Tosoh Smd, Inc. Method of bonding a titanium containing sputter target to a backing plate and bonded target/backing plate assemblies produced thereby
US5693203A (en) * 1992-09-29 1997-12-02 Japan Energy Corporation Sputtering target assembly having solid-phase bonded interface
US5965278A (en) * 1993-04-02 1999-10-12 Ppg Industries Ohio, Inc. Method of making cathode targets comprising silicon
US5428882A (en) * 1993-04-05 1995-07-04 The Regents Of The University Of California Process for the fabrication of aluminum metallized pyrolytic graphite sputtering targets
US5342496A (en) * 1993-05-18 1994-08-30 Tosoh Smd, Inc. Method of welding sputtering target/backing plate assemblies
US5567512A (en) * 1993-10-08 1996-10-22 Hmt Technology Corporation Thin carbon overcoat and method of its making
US5687600A (en) * 1994-10-26 1997-11-18 Johnson Matthey Electronics, Inc. Metal sputtering target assembly
US5593082A (en) * 1994-11-15 1997-01-14 Tosoh Smd, Inc. Methods of bonding targets to backing plate members using solder pastes and target/backing plate assemblies bonded thereby
WO1996015283A1 (en) * 1994-11-15 1996-05-23 Tosoh Smd, Inc. Method of bonding targets to backing plate member
US5879524A (en) * 1996-02-29 1999-03-09 Sony Corporation Composite backing plate for a sputtering target
US6099974A (en) * 1997-07-16 2000-08-08 Thermal Spray Technologies, Inc. Coating that enables soldering to non-solderable surfaces
US6579431B1 (en) 1998-01-14 2003-06-17 Tosoh Smd, Inc. Diffusion bonding of high purity metals and metal alloys to aluminum backing plates using nickel or nickel alloy interlayers
ATE393319T1 (de) 1998-09-03 2008-05-15 Ge Novasensor Inc Proportionale, mikromechanische vorrichtung
US6523560B1 (en) 1998-09-03 2003-02-25 General Electric Corporation Microvalve with pressure equalization
US7011378B2 (en) 1998-09-03 2006-03-14 Ge Novasensor, Inc. Proportional micromechanical valve
US6774339B1 (en) * 1999-11-09 2004-08-10 Tosoh Smd, Inc. Hermetic sealing of target/backing plate assemblies using electron beam melted indium or tin
US6845962B1 (en) * 2000-03-22 2005-01-25 Kelsey-Hayes Company Thermally actuated microvalve device
US6287437B1 (en) 2000-05-05 2001-09-11 Alcatel Recessed bonding of target for RF diode sputtering
US6619537B1 (en) * 2000-06-12 2003-09-16 Tosoh Smd, Inc. Diffusion bonding of copper sputtering targets to backing plates using nickel alloy interlayers
US6505811B1 (en) 2000-06-27 2003-01-14 Kelsey-Hayes Company High-pressure fluid control valve assembly having a microvalve device attached to fluid distributing substrate
WO2002014571A2 (en) * 2000-08-17 2002-02-21 Tosoh Smd, Inc. High purity sputter targets with target end-of-life indication and method of manufacture
CN1608141A (zh) * 2001-09-17 2005-04-20 黑罗伊斯有限公司 废弃溅射靶的修复
WO2003084709A1 (de) 2002-04-11 2003-10-16 Grillo-Werke Ag Verfahren zum verbinden von teilen
TWI223673B (en) * 2002-07-25 2004-11-11 Hitachi Metals Ltd Target and manufacturing method thereof
US20070251586A1 (en) * 2003-11-24 2007-11-01 Fuller Edward N Electro-pneumatic control valve with microvalve pilot
WO2005052420A1 (en) * 2003-11-24 2005-06-09 Alumina Micro Llc Microvalve device suitable for controlling a variable displacement compressor
US8011388B2 (en) * 2003-11-24 2011-09-06 Microstaq, INC Thermally actuated microvalve with multiple fluid ports
JP2007525630A (ja) * 2004-02-27 2007-09-06 アルーマナ、マイクロウ、エルエルシー ハイブリッド・マイクロ/マクロ・プレート弁
WO2005091820A2 (en) * 2004-03-05 2005-10-06 Alumina Micro Llc Selective bonding for forming a microvalve
US20050236270A1 (en) * 2004-04-23 2005-10-27 Heraeus, Inc. Controlled cooling of sputter targets
US7156365B2 (en) * 2004-07-27 2007-01-02 Kelsey-Hayes Company Method of controlling microvalve actuator
CN100591916C (zh) * 2005-01-14 2010-02-24 麦克罗斯塔克公司 用于控制变容积式压缩机的方法和系统
US20060289304A1 (en) * 2005-06-22 2006-12-28 Guardian Industries Corp. Sputtering target with slow-sputter layer under target material
US8156962B2 (en) 2006-12-15 2012-04-17 Dunan Microstaq, Inc. Microvalve device
US20080236738A1 (en) * 2007-03-30 2008-10-02 Chi-Fung Lo Bonded sputtering target and methods of manufacture
CN101675280B (zh) 2007-03-30 2013-05-15 盾安美斯泰克公司(美国) 先导式微型滑阀
WO2008121365A1 (en) 2007-03-31 2008-10-09 Microstaq, Inc. Pilot operated spool valve
WO2010019329A2 (en) * 2008-08-09 2010-02-18 Microstaq, Inc. Improved microvalve device
US8113482B2 (en) * 2008-08-12 2012-02-14 DunAn Microstaq Microvalve device with improved fluid routing
US8540207B2 (en) 2008-12-06 2013-09-24 Dunan Microstaq, Inc. Fluid flow control assembly
CN101543923B (zh) * 2009-03-12 2012-07-04 宁波江丰电子材料有限公司 靶材与背板的焊接方法
WO2010117874A2 (en) 2009-04-05 2010-10-14 Microstaq, Inc. Method and structure for optimizing heat exchanger performance
US20120145252A1 (en) 2009-08-17 2012-06-14 Dunan Microstaq, Inc. Micromachined Device and Control Method
US8956884B2 (en) 2010-01-28 2015-02-17 Dunan Microstaq, Inc. Process for reconditioning semiconductor surface to facilitate bonding
CN102792419B (zh) 2010-01-28 2015-08-05 盾安美斯泰克股份有限公司 高温选择性融合接合的工艺与构造
US8996141B1 (en) 2010-08-26 2015-03-31 Dunan Microstaq, Inc. Adaptive predictive functional controller
KR20140015367A (ko) 2011-02-14 2014-02-06 토소우 에스엠디, 인크 확산-접합 스퍼터링 타겟 조립체 및 그 제조 방법
US8925793B2 (en) 2012-01-05 2015-01-06 Dunan Microstaq, Inc. Method for making a solder joint
US9140613B2 (en) 2012-03-16 2015-09-22 Zhejiang Dunan Hetian Metal Co., Ltd. Superheat sensor
CN102814585B (zh) * 2012-07-09 2015-06-10 有研亿金新材料股份有限公司 一种靶材与背板焊接方法
US9188375B2 (en) 2013-12-04 2015-11-17 Zhejiang Dunan Hetian Metal Co., Ltd. Control element and check valve assembly
CN104690417B (zh) * 2013-12-05 2017-09-29 有研亿金新材料股份有限公司 一种镍或镍合金靶材与背板的焊接方法
KR102111833B1 (ko) * 2014-06-27 2020-05-18 플란제 콤포지트 마테리얼스 게엠베하 스퍼터링 타겟
CN112458419B (zh) * 2020-11-25 2023-04-11 南京工程学院 一种多元难熔金属元素共掺杂纳米NiAl基合金薄膜及其制备方法和应用

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB624369A (en) * 1942-11-18 1949-06-07 Philips Nv Improvements in and relating to soldering metals and alloys, more particularly thosethat are difficult to solder
GB698173A (en) * 1949-08-12 1953-10-07 Martin Littmann Improvements relating to the joining of metal or non-metal parts by brazing, soldering, or casting-on
US3020182A (en) * 1958-09-26 1962-02-06 Gen Electric Ceramic-to-metal seal and method of making the same
CH436852A (de) * 1964-04-30 1967-05-31 Tepar Ag Verfahren zur Erzielung einer guten mechanischen Haftverbindung zwischen Metallstreifen und einem Metallrahmen
GB1051393A (ja) * 1964-08-28 1900-01-01
US3293065A (en) * 1965-03-29 1966-12-20 Libbey Owens Ford Glass Co Method of coating glass for subsequent soldering
GB1368960A (en) * 1970-10-13 1974-10-02 Lucas Industries Ltd Soldering electrical components to thick film circuits
US3703306A (en) * 1970-11-09 1972-11-21 Xerox Corp Method of hermetically sealing silicon to a low expansion alloy
CH527487A (de) * 1971-07-29 1972-08-31 Alusuisse Verfahren zur Herstellung einer Stromschiene
US3933644A (en) * 1972-03-23 1976-01-20 Varian Associates Sputter coating apparatus having improved target electrode structure
US3940051A (en) * 1973-03-01 1976-02-24 Varian Associates Bonding of ferrite to metal for high-power microwave applications
DE2361564A1 (de) * 1973-12-11 1975-06-12 Bbc Brown Boveri & Cie Flaechenhafte loetverbindung
JPS5125532U (ja) * 1974-08-15 1976-02-25
JPS51107251A (en) * 1975-03-19 1976-09-22 Oki Electric Ind Co Ltd Handazuke moshikuha rozukejinoshitajishorihoho
US4011981A (en) * 1975-03-27 1977-03-15 Olin Corporation Process for bonding titanium, tantalum, and alloys thereof
US4009090A (en) * 1975-12-03 1977-02-22 Shatterproof Glass Corporation Sputter-coating of glass sheets or other substrates
US4209375A (en) * 1979-08-02 1980-06-24 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Sputter target

Also Published As

Publication number Publication date
DE2933835C2 (de) 1987-02-19
US4341816A (en) 1982-07-27
JPS5633476A (en) 1981-04-03
DE2933835A1 (de) 1981-03-26
EP0024355B1 (de) 1985-03-20
EP0024355A1 (de) 1981-03-04

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