JPS61227166A - スパツタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ−ゲツト - Google Patents
スパツタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ−ゲツトInfo
- Publication number
- JPS61227166A JPS61227166A JP6616685A JP6616685A JPS61227166A JP S61227166 A JPS61227166 A JP S61227166A JP 6616685 A JP6616685 A JP 6616685A JP 6616685 A JP6616685 A JP 6616685A JP S61227166 A JPS61227166 A JP S61227166A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bismuth
- target
- target body
- metal
- backing plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、スパッタリング用のビスマスまたはビスマ
ス含有ターゲットに関する。 −「従来の技術」 一般にターゲットを用いてスパッタリングを行なう場合
には、ターゲットに発生する多量の熱を逃がすために、
ターゲットをバッキングプレート(銅製冷却板)にろう
付け接合するようにしている。
ス含有ターゲットに関する。 −「従来の技術」 一般にターゲットを用いてスパッタリングを行なう場合
には、ターゲットに発生する多量の熱を逃がすために、
ターゲットをバッキングプレート(銅製冷却板)にろう
付け接合するようにしている。
ターゲットがビスマス(旧)またはビスマス合金(例え
ば、Boats%Bi ・40atm%Se)の場合、
これらは熱衝撃に弱いので、インジウム(In)および
In系金属もしくはji(Sn)およびSn系金属など
の低融点ろう材を使わなければならない。
ば、Boats%Bi ・40atm%Se)の場合、
これらは熱衝撃に弱いので、インジウム(In)および
In系金属もしくはji(Sn)およびSn系金属など
の低融点ろう材を使わなければならない。
「9発明が解決しようとする問題点」
上記のように、ビスマスまたはビスマス含有ターゲツト
材の場合、InおよびIn系金属もしくはSnおよびS
n系金属のろう材によりバッキングプレートに接合すれ
ば、ターゲットを損ねることなく接合を行なうことがで
きるが、上記ろう材は、ろう付け時およびスパッタリン
グ時にターゲット中に浸透、拡散(この性質を、本明細
書においては、固相溶解性と称す)しやすく浸透、拡散
の結果、ターゲットの品質が損なわれてしまうという問
題が発生していた。
材の場合、InおよびIn系金属もしくはSnおよびS
n系金属のろう材によりバッキングプレートに接合すれ
ば、ターゲットを損ねることなく接合を行なうことがで
きるが、上記ろう材は、ろう付け時およびスパッタリン
グ時にターゲット中に浸透、拡散(この性質を、本明細
書においては、固相溶解性と称す)しやすく浸透、拡散
の結果、ターゲットの品質が損なわれてしまうという問
題が発生していた。
この発明は、上記問題を解決するためになされたもので
、ろう材のターゲット内への浸透、拡散を防止すること
ができ、放熱率の向上を図ることができるスパッタリン
グ用ビスマスまたはビスマス含有ターゲットを提供する
ことを目的とする。
、ろう材のターゲット内への浸透、拡散を防止すること
ができ、放熱率の向上を図ることができるスパッタリン
グ用ビスマスまたはビスマス含有ターゲットを提供する
ことを目的とする。
「問題点を解決するための手段」
この発明は、上記の目的を達成するために、ビスマスま
たはビスマス含有ターゲットのバッキングプレートに対
する接合面に、ビスマスまたはビスマス合金に対する固
相溶解性が低く、かつ熱伝導性の高い金属からなる被覆
層を5μmないし300μ■厚に形成したものである。
たはビスマス含有ターゲットのバッキングプレートに対
する接合面に、ビスマスまたはビスマス合金に対する固
相溶解性が低く、かつ熱伝導性の高い金属からなる被覆
層を5μmないし300μ■厚に形成したものである。
「作用」
上記構成によれば、ターゲット本体に対するろう材の浸
透、拡散を防止することができ、しかもターゲット本体
からバッキングプレートへの伝達熱量の増大を図って、
ターゲット本体の剥離を防止することができる等の効果
が得られる。
透、拡散を防止することができ、しかもターゲット本体
からバッキングプレートへの伝達熱量の増大を図って、
ターゲット本体の剥離を防止することができる等の効果
が得られる。
「実施例」
以下、この発明の一実施例について第1図および第2図
を参照して説明する。なお、第1図はこの発明に係るビ
スマスまたはビスマス含有ターゲットの拡大断面図、第
2図はその平面図である。
を参照して説明する。なお、第1図はこの発明に係るビ
スマスまたはビスマス含有ターゲットの拡大断面図、第
2図はその平面図である。
第1図に示すように、このビスマスまたはビスマス含有
ターゲットlは、ビスマス(Bi)またはビスマス合金
(例えば、60atm%Bi ・40atm%Se)か
らなるターゲット本体2と、このターゲット本体2のバ
ッキングプレートA側の面に形成された被覆層3とから
構成されている。なお、図中符号Bはターゲットlをバ
ッキングプレートAに接合するためのろう層であって、
その材質としては、inおよびIn系金属もしくはSn
およびSn系金属が用いられている。
ターゲットlは、ビスマス(Bi)またはビスマス合金
(例えば、60atm%Bi ・40atm%Se)か
らなるターゲット本体2と、このターゲット本体2のバ
ッキングプレートA側の面に形成された被覆層3とから
構成されている。なお、図中符号Bはターゲットlをバ
ッキングプレートAに接合するためのろう層であって、
その材質としては、inおよびIn系金属もしくはSn
およびSn系金属が用いられている。
前記被覆層3は、ろう層Bを構成する金属がターゲット
本体2に浸透、拡散するのを防止すると同時に、ターゲ
ット1からバッキングプレートAへの伝達熱量の増大も
図るためのものであって、ビスマスまたはビスマス合金
に対する同相溶解性が低く、かつ熱伝導性の良い銅(C
u)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、アルミニウム(
Al1)、金(Au)等の金属およびそれらの合金から
構成されている。この被覆層3の厚さは、従来のターゲ
ットと同様にスパッタ出力に応じて決定されるが、その
層厚は5〜300μmに設定されている。これは層厚を
5μmより薄くした場合には、ろう材のターゲット本体
2への浸透、拡散を防止し得なくなるおそれがあり、他
方厚みを300μmより厚くした場合には、例えば、ス
パッタ出力を5W/cm”以上にしたときにターゲラ2
の温度が゛上昇し、実用に供し得なくなることがあるか
らである。なお、被覆層3の形成法としては、イオンブ
レーティング法、蒸着法、スパッタリング法あるいはメ
ッキ法等がある。
本体2に浸透、拡散するのを防止すると同時に、ターゲ
ット1からバッキングプレートAへの伝達熱量の増大も
図るためのものであって、ビスマスまたはビスマス合金
に対する同相溶解性が低く、かつ熱伝導性の良い銅(C
u)、銀(Ag)、ニッケル(Ni)、アルミニウム(
Al1)、金(Au)等の金属およびそれらの合金から
構成されている。この被覆層3の厚さは、従来のターゲ
ットと同様にスパッタ出力に応じて決定されるが、その
層厚は5〜300μmに設定されている。これは層厚を
5μmより薄くした場合には、ろう材のターゲット本体
2への浸透、拡散を防止し得なくなるおそれがあり、他
方厚みを300μmより厚くした場合には、例えば、ス
パッタ出力を5W/cm”以上にしたときにターゲラ2
の温度が゛上昇し、実用に供し得なくなることがあるか
らである。なお、被覆層3の形成法としては、イオンブ
レーティング法、蒸着法、スパッタリング法あるいはメ
ッキ法等がある。
しかして、上記のビスマスまたはビスマス含有ターゲッ
トlにおいては、ろう層Bを構成する金属のターゲット
本体2への浸透、拡散を被覆層3によって防止すること
ができ、しかもこの被覆層3は熱伝達性の高い金属であ
るので、ターゲット本体2からバッキングプレートAへ
の伝達熱量の増大を図ることができる。
トlにおいては、ろう層Bを構成する金属のターゲット
本体2への浸透、拡散を被覆層3によって防止すること
ができ、しかもこの被覆層3は熱伝達性の高い金属であ
るので、ターゲット本体2からバッキングプレートAへ
の伝達熱量の増大を図ることができる。
「実験例」
次に、この発明に係るビスマスまたはビスマス含有ター
ゲットの効果を確認するために行なった実験例を示す。
ゲットの効果を確認するために行なった実験例を示す。
この実験では、スパッタ中におけるビスマスまたはビス
マス含有ターゲットのバッキングプレートからの剥離お
よびろう材のターゲット本体への浸透、拡散の有無につ
いて調べた。なお、被覆層を構成する金属としては、銅
を使い、この発明のビスマスターゲットを次のようにし
て製造した。
マス含有ターゲットのバッキングプレートからの剥離お
よびろう材のターゲット本体への浸透、拡散の有無につ
いて調べた。なお、被覆層を構成する金属としては、銅
を使い、この発明のビスマスターゲットを次のようにし
て製造した。
まず、ビスマスターゲット本体(203φx 5t)お
よび無酸素鋼ターゲット(φ203X 5t)をスパッ
タリング装置内に50mm隔てて対向させ、真空排気(
5X 1G−’Torr)で、ビスマスターゲット本体
に除電圧(−600V)をかけ、5分間エツチング処理
を施した引き続き、アルゴンガス雰囲気下(5X 1G
−3Torr)で無酸素銅ターゲットに一255V、ビ
スマスターゲット本体に一100Vをかけ、ビスマスタ
ーゲット表面をクリーニングしつつ、その表面に無酸素
鋼の被覆を施した。このようにして製造されたビスマス
ターゲットを銅製のバッキングプレート(250φx
10 t)にろう材としてIn−8n合金を用いてろう
付けした。
よび無酸素鋼ターゲット(φ203X 5t)をスパッ
タリング装置内に50mm隔てて対向させ、真空排気(
5X 1G−’Torr)で、ビスマスターゲット本体
に除電圧(−600V)をかけ、5分間エツチング処理
を施した引き続き、アルゴンガス雰囲気下(5X 1G
−3Torr)で無酸素銅ターゲットに一255V、ビ
スマスターゲット本体に一100Vをかけ、ビスマスタ
ーゲット表面をクリーニングしつつ、その表面に無酸素
鋼の被覆を施した。このようにして製造されたビスマス
ターゲットを銅製のバッキングプレート(250φx
10 t)にろう材としてIn−8n合金を用いてろう
付けした。
そして、同様の方法にて表に示されるビスマス含有ター
ゲット(203φx 5t)に被覆層を形成させ、続い
て銅製のバッキングプレート(250φX l0t)に
ろう付けした。
ゲット(203φx 5t)に被覆層を形成させ、続い
て銅製のバッキングプレート(250φX l0t)に
ろう付けした。
実験の結果は、次の通りである。
「発明の効果」
以上説明したように、この発明のスパッタリング用ビス
マスまたはビスマス含有ターゲットによれば、ターゲッ
ト本体のバッキングプレートに対する接合面に、ビスマ
スまたはビスマス合金との固相溶解性が低く、かつ熱伝
達性の高い金属からなる被覆層を形成したものであるの
で、ターゲット本体に対するろう材の浸透、拡散を防止
することができ、しかもターゲット本体からバッキング
プレートへの伝達熱量の増大を図って、ターゲット本体
の剥離を防止することができる等の効果が得られる。
マスまたはビスマス含有ターゲットによれば、ターゲッ
ト本体のバッキングプレートに対する接合面に、ビスマ
スまたはビスマス合金との固相溶解性が低く、かつ熱伝
達性の高い金属からなる被覆層を形成したものであるの
で、ターゲット本体に対するろう材の浸透、拡散を防止
することができ、しかもターゲット本体からバッキング
プレートへの伝達熱量の増大を図って、ターゲット本体
の剥離を防止することができる等の効果が得られる。
第1図および第2図はこの発明の一実施例を示し、第1
図はその拡大断面図、第2図はその平面図である。 l・・・・・・ビスマスまたはビスマス含有ターゲット
、2・・・・・・ターゲット本体、 3・・・・・・被覆層、 A・・・・・・バッキングプレート、 B・・・・・・ろう層。
図はその拡大断面図、第2図はその平面図である。 l・・・・・・ビスマスまたはビスマス含有ターゲット
、2・・・・・・ターゲット本体、 3・・・・・・被覆層、 A・・・・・・バッキングプレート、 B・・・・・・ろう層。
Claims (1)
- バッキングプレートにろう付け接合されて用いられるス
パッタリング用ビスマスまたはビスマス含有ターゲット
であって、前記バッキングプレートに対する接合面に、
ビスマスに対し固相溶解性の低い金属からなる被覆層が
5μmないし300μm厚に形成されていることを特徴
とするスパッタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ
ーゲット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6616685A JPS61227166A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | スパツタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ−ゲツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6616685A JPS61227166A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | スパツタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ−ゲツト |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61227166A true JPS61227166A (ja) | 1986-10-09 |
| JPH0368947B2 JPH0368947B2 (ja) | 1991-10-30 |
Family
ID=13307990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6616685A Granted JPS61227166A (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | スパツタリング用ビスマスまたはビスマス含有タ−ゲツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61227166A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02267261A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-11-01 | Kojundo Chem Lab Co Ltd | スパッタリングターゲットの製造方法 |
| JP5026611B1 (ja) * | 2011-09-21 | 2012-09-12 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 積層構造体及びその製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5633476A (en) * | 1979-08-21 | 1981-04-03 | Siemens Ag | Fixing of target material |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6616685A patent/JPS61227166A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5633476A (en) * | 1979-08-21 | 1981-04-03 | Siemens Ag | Fixing of target material |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02267261A (ja) * | 1989-04-06 | 1990-11-01 | Kojundo Chem Lab Co Ltd | スパッタリングターゲットの製造方法 |
| JP5026611B1 (ja) * | 2011-09-21 | 2012-09-12 | Jx日鉱日石金属株式会社 | 積層構造体及びその製造方法 |
| KR101271846B1 (ko) * | 2011-09-21 | 2013-06-07 | 제이엑스 닛코 닛세키 킨조쿠 가부시키가이샤 | 적층 구조체 및 그 제조 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0368947B2 (ja) | 1991-10-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH07504945A (ja) | スパッタ・ターゲット受け板組立体を結合する方法とそれにより製造される組立体 | |
| KR960010166B1 (ko) | 확산접합된 스패터링타게트조립체 및 그 제조방법 | |
| EP0070435B1 (en) | Semiconductor device comprising a semiconductor substrate bonded to a mounting means | |
| JP5160201B2 (ja) | はんだ材料及びその製造方法、接合体及びその製造方法、並びにパワー半導体モジュール及びその製造方法 | |
| TW221037B (en) | Permanent metallic bonding method | |
| JPH0217509B2 (ja) | ||
| JPH0122353B2 (ja) | ||
| JPH03216909A (ja) | 補強された直接結合銅構造体 | |
| JPH0136254B2 (ja) | ||
| JPS6140624B2 (ja) | ||
| JP3136390B2 (ja) | 半田接合方法及びパワー半導体装置 | |
| JPH0748667A (ja) | 高い接合強度を有するスパッタリングターゲット | |
| JPH0697671B2 (ja) | パワー半導体モジユール基板の製造方法 | |
| JP2023500204A (ja) | 金属セラミック基板を製造する方法、はんだシステム、およびその方法で製造された金属セラミック基板 | |
| JPH0867978A (ja) | スパッタリング用ターゲットのはんだ付け方法 | |
| JPH10107047A (ja) | ろう材層を有する半導体基体 | |
| JPS62222060A (ja) | スパツタリング用タ−ゲツト | |
| JP2004001069A (ja) | アルミニウム部材と銅部材の接合方法及びその接合構造物 | |
| JPH0368947B2 (ja) | ||
| JP3629578B2 (ja) | Ti系材料とCu系の接合方法 | |
| JP2503775B2 (ja) | 半導体装置用基板 | |
| US4921158A (en) | Brazing material | |
| JPS63227774A (ja) | スパツタリング用タ−ゲツト | |
| JP2001225176A (ja) | ベリリウムと銅合金のhip接合体の製造方法およびhip接合体 | |
| JP2519402B2 (ja) | パワ―半導体モジュ―ル基板の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |