JPH01227525A - D/a変換装置 - Google Patents
D/a変換装置Info
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- JPH01227525A JPH01227525A JP5396988A JP5396988A JPH01227525A JP H01227525 A JPH01227525 A JP H01227525A JP 5396988 A JP5396988 A JP 5396988A JP 5396988 A JP5396988 A JP 5396988A JP H01227525 A JPH01227525 A JP H01227525A
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- Japan
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- converter
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- Pending
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- 238000005513 bias potential Methods 0.000 abstract description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、D/A変換装置に関し、特に抵抗分圧方式の
D/A変換装置に関する。
D/A変換装置に関する。
従来、この種の抵抗分圧方式のD/A変換装置は、入力
されたデジタルデータを上位桁と下位桁に分割し、夫々
異なるD/A変換器に入力して、夫々のD/A変換器の
抵抗分圧器によりデジタルデータに応じたアナログデー
タな得て、上位桁と下位桁のアナログデータの相対比を
とった上で加算し、1つのアナログデータを出力させて
いた。
されたデジタルデータを上位桁と下位桁に分割し、夫々
異なるD/A変換器に入力して、夫々のD/A変換器の
抵抗分圧器によりデジタルデータに応じたアナログデー
タな得て、上位桁と下位桁のアナログデータの相対比を
とった上で加算し、1つのアナログデータを出力させて
いた。
第2図に従来の抵抗分圧方式の16bit D/A変
換装置を示す、AO〜A15は、デジタルデータの入力
端子であり、入力端子AO〜A7に入力されたデジタル
データは下位桁デコーダに入力され、入力端千人8〜A
15に入力されたデジタルデータは上位桁デコーダに入
力される。下位桁デコーダ2と上位桁デコーダ1はそれ
ぞれ8bitのデジタル入力をデコードする為、それぞ
れ21=256本の出力信号線を持ち、下位桁デコーダ
2の出力信号線256本は、下位桁D/A変換器4に接
続され、上位桁デコーダ1の出力信号線256本は、上
位桁D/A変換器3に接続される。
換装置を示す、AO〜A15は、デジタルデータの入力
端子であり、入力端子AO〜A7に入力されたデジタル
データは下位桁デコーダに入力され、入力端千人8〜A
15に入力されたデジタルデータは上位桁デコーダに入
力される。下位桁デコーダ2と上位桁デコーダ1はそれ
ぞれ8bitのデジタル入力をデコードする為、それぞ
れ21=256本の出力信号線を持ち、下位桁デコーダ
2の出力信号線256本は、下位桁D/A変換器4に接
続され、上位桁デコーダ1の出力信号線256本は、上
位桁D/A変換器3に接続される。
上位桁D/A変換器3のアナログ出力と下位桁D/A変
換器4のアナログ出力は加算器6に接続され、その加算
された出力は、出力端子B1に接続される構成となって
いた。
換器4のアナログ出力は加算器6に接続され、その加算
された出力は、出力端子B1に接続される構成となって
いた。
上述した従来のD/A変換装置の下位桁D/A変換器4
のフルスケールの値は、上位桁D/A変換装置3の約1
[:LSBE分である。
のフルスケールの値は、上位桁D/A変換装置3の約1
[:LSBE分である。
例えば、バイアス電源5が、5〔v〕の場合には、上位
桁D/A変換器3の1 (:LSB)は、下位桁D/A
変換器4のフルスケールに等しく、この値は、5〔V〕
÷2”;19CmV]である。
桁D/A変換器3の1 (:LSB)は、下位桁D/A
変換器4のフルスケールに等しく、この値は、5〔V〕
÷2”;19CmV]である。
一方、下位桁D/A変換器4の1 (LSB〕は19[
:mV]÷2”#76(μV〕となる。従って、下位桁
のD/A変換器4の直列抵抗の精度を、測定する場合に
、1 [:LSB:]が76〔μV〕と極めて小さい為
、ノイズ等の影響を受は易く、正確な値を測定し難いと
共に、測定に時間がかかるという欠点を有する。
:mV]÷2”#76(μV〕となる。従って、下位桁
のD/A変換器4の直列抵抗の精度を、測定する場合に
、1 [:LSB:]が76〔μV〕と極めて小さい為
、ノイズ等の影響を受は易く、正確な値を測定し難いと
共に、測定に時間がかかるという欠点を有する。
本発明は、下位桁D/A変換器の直列接続された抵抗を
、ノイズ等の影響を受けずに正確に測定することが出来
るD/A変換装置を提供することを目的とする。
、ノイズ等の影響を受けずに正確に測定することが出来
るD/A変換装置を提供することを目的とする。
本発明のD/A変換装置は、入力されたデジタルデータ
なデコードする上位桁デコーダ及び、下位桁デコーダと
、複数の単位抵抗の直列回路からなる抵抗分圧器によっ
てこれらデコーダによってデコードされたデータに応じ
たアナログデータ値を生成する上位桁D/A変換器及び
、下位桁D/A変換器と、これら、上位桁D/A変換器
と、下位桁D/A変換器のアナログ出力を加算する加算
器と、上位桁および下位桁D/A変換器の抵抗分圧器か
らなる直列回路と下位桁D/A変換器の抵抗分圧器とに
バイアス電位の印加を切り換えるスイッチング素子と、
スイッチング素子の0N10FFを制御する制御回路と
を有している。
なデコードする上位桁デコーダ及び、下位桁デコーダと
、複数の単位抵抗の直列回路からなる抵抗分圧器によっ
てこれらデコーダによってデコードされたデータに応じ
たアナログデータ値を生成する上位桁D/A変換器及び
、下位桁D/A変換器と、これら、上位桁D/A変換器
と、下位桁D/A変換器のアナログ出力を加算する加算
器と、上位桁および下位桁D/A変換器の抵抗分圧器か
らなる直列回路と下位桁D/A変換器の抵抗分圧器とに
バイアス電位の印加を切り換えるスイッチング素子と、
スイッチング素子の0N10FFを制御する制御回路と
を有している。
本発明によれば、デコーダによりデコードされたデジタ
ルデータに応じたアナログデータな生成する抵抗分圧器
と、その抵抗分圧器の所定の抵抗接続点と所定の電圧端
子との間に接続されたスイッチとを具備するD/A変換
装置も得られる。
ルデータに応じたアナログデータな生成する抵抗分圧器
と、その抵抗分圧器の所定の抵抗接続点と所定の電圧端
子との間に接続されたスイッチとを具備するD/A変換
装置も得られる。
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図に、本発明の一実施例を示す。AO〜A15は、
デジタルデータの入力端子であり、入力されたデジタル
データなデコードする上位桁デコーダ1及び、下位桁デ
コーダ2とこれらデコーダによって、デコードされたデ
ータに応じたアナログデータ値を生成する複数の単位抵
抗の直列接続によって構成される抵抗分圧器を有する、
上位桁D/A変換器3及び、下位桁D/A変換器4とこ
れら上位桁D/A変換器3と、下位桁変換器4のアナロ
グ出力を加算する加算器6と、前記下位D/A変換器4
の抵抗分圧器にバイアス電位を印加する為のスイッチ8
とスイッチ8を制御する為のテスト制御回路Q1から構
成されている。
デジタルデータの入力端子であり、入力されたデジタル
データなデコードする上位桁デコーダ1及び、下位桁デ
コーダ2とこれらデコーダによって、デコードされたデ
ータに応じたアナログデータ値を生成する複数の単位抵
抗の直列接続によって構成される抵抗分圧器を有する、
上位桁D/A変換器3及び、下位桁D/A変換器4とこ
れら上位桁D/A変換器3と、下位桁変換器4のアナロ
グ出力を加算する加算器6と、前記下位D/A変換器4
の抵抗分圧器にバイアス電位を印加する為のスイッチ8
とスイッチ8を制御する為のテスト制御回路Q1から構
成されている。
前記、本発明の回路は、従来例、第2図の回路と全く同
じ、動作をし、かつ、テスト制御回路Q1よりスイッチ
8がONするように信号を加えれば、下位側D/A変換
器4の抵抗分圧器の抵抗(rl−r2−・・・−]25
5−]256)にバイアス電源端子5より電圧が印加さ
れ、ノイズ等の影響を受けずに容易に抵抗の精度を正確
に測定することが出来る。
じ、動作をし、かつ、テスト制御回路Q1よりスイッチ
8がONするように信号を加えれば、下位側D/A変換
器4の抵抗分圧器の抵抗(rl−r2−・・・−]25
5−]256)にバイアス電源端子5より電圧が印加さ
れ、ノイズ等の影響を受けずに容易に抵抗の精度を正確
に測定することが出来る。
また、上位側D/A変換器3の抵抗分圧器の抵抗の測定
を行なう場合にはテスト制御回路Qlによりスイッチ8
をOFFとして、従来通り上位桁および下位桁D/A変
換器の抵抗分圧器からなる直列回路(r 1−r 2−
”−r 256−R1=−R255−R256)にバイ
アス電位が印加される。
を行なう場合にはテスト制御回路Qlによりスイッチ8
をOFFとして、従来通り上位桁および下位桁D/A変
換器の抵抗分圧器からなる直列回路(r 1−r 2−
”−r 256−R1=−R255−R256)にバイ
アス電位が印加される。
又、実使用時においては、スイッチ8は、不用意に、下
位桁D/A変換器4に電圧が印加されることを防止する
入力保護機能を兼ねている。
位桁D/A変換器4に電圧が印加されることを防止する
入力保護機能を兼ねている。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、下位桁D/A変
換器の両端にバイアス電圧を印加することにより、下位
桁D/A変換器のフルスケールをバイアス電圧まで拡大
することが出来る。この為下位桁D/A変換器の抵抗精
度を高精度で測定することか出来る。
換器の両端にバイアス電圧を印加することにより、下位
桁D/A変換器のフルスケールをバイアス電圧まで拡大
することが出来る。この為下位桁D/A変換器の抵抗精
度を高精度で測定することか出来る。
又、D/A変換器の特性を調べる場合、本発明を用いて
まず下位桁D/A変換器の直線性を測定し、それから下
位桁D/A変換器と上位桁D/A変換器の相対精度を測
定し、上位桁D/A変換器の直線性を測定することによ
って、より高精度な特性の測定が可能になる。
まず下位桁D/A変換器の直線性を測定し、それから下
位桁D/A変換器と上位桁D/A変換器の相対精度を測
定し、上位桁D/A変換器の直線性を測定することによ
って、より高精度な特性の測定が可能になる。
第1図は本発明のD/A変換装置の一実施例、第2図は
従来のD/A変換装置である。 AO〜A15・・・・・・デジタルデータ入力端子、B
1・・・・・・アナログデータ出力端子、R1へR25
6゜r1〜r256・・・・・・抵抗、Ql・・・・・
・テスト制御回路、1・・・上位桁デコーダ、2・・・
・・・下位桁デコーダ、3・・・・・・上位桁D/A変
換器、4・・・・・・下位桁D/A変換器、5・・・・
・・バイアス電源端子、6・・・・・・加算器、7・・
・・・・MOS)ランジスタ、8・・川・スイッチ。 代理人 弁理士 内 原 音 81図
従来のD/A変換装置である。 AO〜A15・・・・・・デジタルデータ入力端子、B
1・・・・・・アナログデータ出力端子、R1へR25
6゜r1〜r256・・・・・・抵抗、Ql・・・・・
・テスト制御回路、1・・・上位桁デコーダ、2・・・
・・・下位桁デコーダ、3・・・・・・上位桁D/A変
換器、4・・・・・・下位桁D/A変換器、5・・・・
・・バイアス電源端子、6・・・・・・加算器、7・・
・・・・MOS)ランジスタ、8・・川・スイッチ。 代理人 弁理士 内 原 音 81図
Claims (1)
- デジタルデータをデコードするデコーダと、該デコーダ
によりデコードされたデジタルデータに応じたアナログ
データを生成する電源間に直列に接続された複数の抵抗
を有する抵抗分圧器と、該抵抗分圧器の所定の中間接続
点と、所定電圧端子との間に接続されたスイッチ手段と
を具備することを特徴とするD/A変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5396988A JPH01227525A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | D/a変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5396988A JPH01227525A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | D/a変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01227525A true JPH01227525A (ja) | 1989-09-11 |
Family
ID=12957487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5396988A Pending JPH01227525A (ja) | 1988-03-07 | 1988-03-07 | D/a変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01227525A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0786949A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-03-31 | Nec Corp | デジタル・アナログ変換器 |
| US6879174B2 (en) | 2000-09-29 | 2005-04-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Testing method and testing device for semiconductor integrated circuits |
| JP2008236301A (ja) * | 2007-03-20 | 2008-10-02 | Nec Electronics Corp | D/a変換器 |
-
1988
- 1988-03-07 JP JP5396988A patent/JPH01227525A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0786949A (ja) * | 1993-09-09 | 1995-03-31 | Nec Corp | デジタル・アナログ変換器 |
| US6879174B2 (en) | 2000-09-29 | 2005-04-12 | Sharp Kabushiki Kaisha | Testing method and testing device for semiconductor integrated circuits |
| JP2008236301A (ja) * | 2007-03-20 | 2008-10-02 | Nec Electronics Corp | D/a変換器 |
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