JPH0122954B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、パターン認識装置において対象物の
位置決めを行なう画像位置計測装置の改良に関す
るものである。

対象物が血球である白血球像自動分類装置の場
合、顕微鏡の制約から、第１図に示すように、
TVカメラの撮像エリア１は一般に目的としてい
る白血球以外の他の血球を含む広い部分となる。
このため特徴抽出にあたつては白血球を含む必要
な小部分（サンプル・エリア２）を撮像エリア１
から切り出す必要がある。このサンプル・エリア
２の位置は白血球がちようど中心にくるように設
定されるが、そのためには撮像された白血球の
（画面上での）中心位置を求めなければならない。
このためには、従来は第２図に示すように射影ヒ
ストグラムを用いる法が一般的であつたが、この
場合第２図に示すように対象物が複数の場合に
は、それぞれ位置が確定できないという欠点があ
る。即ち実在の粒子画像Ａ，Ｂの射影ヒストグラ
ム３，４からはＣ，Ｄという虚像も考えられるの
で、粒子の位置を確定できない。また射影ヒスト
グラムを高速に得るためには装置が複雑になると
いう問題もある。白血球像自動分類装置に限らず
他の分野でも、撮像された粒子個々の位置を高速
で求めたいという要求は多いがこれまでこれを満
足させる適当な装置はなかつた。

本発明は画像位置計測装置の上記の欠点を解消
するためになされたもので、対象物が複数の場合
でもその画像上の中心位置を正確に計測すること
ができる高速の画像位置計測装置を実現すること
を目的としている。

本発明によれば、２値画像に固有領域を生成さ
せたものを走査して得られるマスク・パターンが
特定の形状を検出したとき、前記マスク・パター
ンが属する粒子の領域番号とこの特定のマスク・
パターンのｘまたはｙ座標とを組としてデータ・
メモリに記憶し、このデータ・メモリの内容から
画像上の対象物個々の中心位置を求めることによ
り、上記の目的を達成できる。

以下図面にもとずいて本発明を説明する。

第３図は本発明に係る画像位置計測装置の一実
施例を示す要部構成ブロツク図である。５は走査
された２値画像信号が入力される入力端子、８は
前記２値画像信号が加えられ、この２値画像信号
の固有領域（第１０図および第１１図の斜線部分
が示す様に粒子画像の穴や右方および下方のくぼ
みを埋めた部分の領域）を生成させる固有領域生
成回路で、第４図にその一実施例を示すように、
画素情報ｇ，ｆをAND回路８２に加え、その出
力および入力端子５からの２値画像信号をOR回
路８１に加その出力端から目的の出力Spを得て
いる。９は前記固有領域生成回路８からの出力２
値信号Spの１ラインの画像情報を記憶する１ラ
イン・メモリでシフトレジスタ等で構成される。
１０は前記１ライン・メモリからの出力ｇおよ
び、前記固有領域生成回路８からの出力２値信号
Spを入力としてタテ２×ヨコ３画素の画素情報
を保持するシフトレジスタ、１２はこのシフトレ
ジスタ１０からの出力を入力とし、ナンバリング
回路１５およびデータ・メモリ回路１６を制御す
る各制御信号Sn，Sdを発生するコントロール・
ロジツク回路で例えばROMなどで構成される。
１３は前記コントロール・ロジツク回路出力の１
つによつてセツトまたはリセツトされるととも
に、前記コントロール・ロジツク回路へ出力する
フリツプ・フロツプである。

前記ナンバリング回路１５において、３１は粒
子領域のラベリングのための番号を発生する粒子
番号カウンタで、バス・セレクト・バツフア３２
に出力する。３４，３５はそれぞれ領域カウンタ
３３，３６によつてアドレスを指定され、ラベリ
ングのための番号を一時記憶しておくための番号
メモリで、前記バス・セレクト・バツフア３２を
介して書き込み読み出しが行われる。

１８は前記バス・セレクト・バツフア３２を介
して前記番号メモリ３４または３５からの番号付
出力をパターン・バスへ送り出す番号付出力端子
で外部で粒子領域の面積算出等を行なう際利用す
る。

データ・メモリ回路１６において、４１は凹部
パターン（これを以下Ｕシエイプと呼ぶ）の２つ
の領域番号の組アドレスを発生させるＵシエイ
プ・カウンタ、４２は内部ナンバリング・バス１
７を介して前記バス・セレクト・バツフア３２か
らの出力が加えられるアドレス・バス・セレク
ト・バツフアで、データ・メモリ４３のアドレス
を指定する。７はマイクロコンピユータなど
CPUからの信号でデータを外部へ読み出す際に
アドレス・バス・セレクト・バツフア４２を介し
て記データ・メモリ４３のアドレスを指定するア
ドレス・バス入力端子である。４５，４６は前記
マスク・パターンの走査と同期してカウンタ・ア
ツプされ、それぞれそのｘ座標、ｙ座標を出力す
るｘカウンタ、ｙカウンタである。４４はこのｘ
カウンタ、ｙカウンタからの出力または前記内部
ナンバリング・バス１７を介して前記バス・セレ
クト・バツフア３２からの出力が加えられるデー
タ・セレクト・バツフで、前記データ・メモリ４
３に前記いずれかのデータを選んで出力する。４
７は前記アドレス・バス入力端子に加えられるア
ドレス信号に応じて前記データ・メモリ４３の内
容をデータ・バス端子１９を介してマイクロコン
ピユータなどの外部バスへ送出するデータ出力バ
ツフアである。

６は外部からクロツクが加えられるクロツク入
力端子で、１４は前記クロツクを入力し、画像位
置計測装置内の各回路に信号の遅れに合わせたク
ロツクを供給するタイミング発生回路である。

１１は前記入力端子５から入力される２値画像
信号についてｘ方向のＵシエイプ検出のための特
徴的な点（以下特徴点と呼ぶ）を検出する特徴点
検出回路で、第５図にその１実施例を示す。第５
図において、前記入力端子５から入力される２値
画像信号Si、前記画素信号ｆ、および前記画素信
号ｇがその反転入力端子に加わるOR回路１１２
の出力がAND回路１１１に加えられ、このAND
回路１１１からの出力が２ビツトのシフトレジス
タ１１４を介してコントロール・ロジツク回路１
２へ特徴点出力Scとして出力される。前記AND
回路１１１の出力はまた１ラインメモリ１１３を
介して前記OR回路の正入力端子に帰還されてい
る。

以下に上記のブロツク図の動作を説明する。入
力端子５に２値画像信号Si（粒子領域が１、背景
領域が０）が加えられると、固有領域生成回路８
の入力となる。第４図の固有領域生成回路８にお
いて、前記２値画像信号SiかまたはAND回路８
２の出力のどちらか一方が１のときOR回路８１
の出力は１となる。AND回路８２の出力が１と
なるのは帰還された画素信号ｇ，ｆが共に１の場
合のみである。シフトレジスタ１０に保持された
画素信号はａ，ｂ，ｃおよびｄ，ｅ，ｆの順に先
に加えられたものである。ここでシフトレジスタ
１０からの画素信号ｆはある時点で固有領域生成
回路８からの画素信号Spの１つ前（画像上で左）
の画素信号であり、画素信号ｇは前記画素信号
Spの１ライン前（画像上で上）の画素信号であ
る。第６図１，２は固有領域生成回路の出力Sp
が１となるときの入力２値画像の２×２パターン
を示す。即ち、ある時点の入力画素信号Siは第６
図１，２において、それぞれ画素６０，６３で表
示される。第６図１では入力画素６０の上隣の画
素６１と左隣の画素６２が１（図の斜線部分）な
ので第４図の帰還画素入力ｆ，ｇが共に１となる
場合に相当し、この結果固有領域生成回路の画素
６０に対応する出力が１となる。第６図２は入力
画素６３が１なので第４図の２値信号入力Siが１
の場合に相当し、固有領域生成回路出力は入力信
号Siそのままで１となる。第６図でＡとなつてい
る画素は１と０のどちらの値でも構わない。上記
の操作をラスターキヤンの際画素毎に順次行なう
ことにより第１０図、第１１図のように粒子の穴
や右側および下側のへこみを埋めた固有領域（斜
線の部分）を有する２値画像出力Spが得られる。
以後この固有領域は粒子領域として扱われる。

前記２値信号入力Siは同時に特徴点検出回路１
１にも加えられる。第５図の特徴点検出回路１１
において、AND回路１１１の出力が１となるの
は、２値信号入力Siが１でかつ画素信号ｆが０、
かつOR回路１１２からの出力が１の場合のみで
ある。OR回路１１２の出力が１となるのは画素
信号ｇまたは１ラインメモリ１１３から出力され
る、１ライン前のAND回路１１１の出力が１と
なる場合である。AND回路１１１の出力は、シ
フトレジスタ１０のマスクパターンとタイミング
を合わせるために２ビツトのシフトレジス１１４
によつて２画素分の遅れを生じたのち、特徴点検
出信号Scとしてコントロール・ロジツク回路１
２に送られる。この結果シフトレジスタ１０の２
×２マスクパターンａ，ｂ，ｄ，ｅの部分が第６
図３または４のパターンのとき特徴点検出回路１
１の出力Scが１となり、それぞれ画素６４，６
７で特徴点が検出されたことになる。第６図４の
画素６８の丸印は既に特徴点の検出された画素を
示している。特徴点は１ラインメモリ９内の各画
素に対応して１ラインメモリ１１３内に記憶され
る。

固有領域生成回路８および１ライン・メモリ９
からの出力がシフトレジスタ１０に加えられる
と、タテヨコ２画素のマスクパターン（図のａ，
ｂ，ｅ，ｄ）を発生させる。

第７図１〜１６はタテヨク２画素のマスクパタ
ーンがとりうる全てのパターンを示したものであ
る。２組の領域カウンタと番号メモリ（３３，３
４および３５，３６）は画像走査の１ライン毎に
交互に切換わり、一方が上ライン用、他方が下ラ
イン用として動作する。各クロツク毎にマスク作
成シフトレジスタ１０において発生するマスクパ
ターンの形に対応して、コントロール・ロジツク
回路１２から制御信号Sn，Sdがナンバリング回
路１５およびデータ・メモリ回路１６に出力され
る。この結果、番号付情報は粒子番号カウンタ３
１、および上ライン番号メモリ（番号メモリ３
４，３５の一方）のいずれかからバス・セレク
ト・バツフア３２を介して下ライン番号メモリ
（番号メモリ３４，３５の他方）およびデータ・
メモリ１６へ出力される。バス・セレクト・バツ
フア３２はコントロール・ロジツク回路１２から
制御信号を受けて、信号経路の切り換えを行な
う。いつたん下ライン番号メモリに記憶された内
容は、次のラインの走査で上ライン番号メモリの
内容として次のラインの垂直伝搬に使用されると
ともに、確定した番号付力としてバス・セレク
ト・バツフア３２を介して番号付出力端子１８か
らパターン・バスへ出力される。

次に第８図の被試験パターンを用いてラベリン
グの動作原理を具体例で説明する。第８図におい
て、８０は背景領域、８１，８２は粒子領域を示
し、Ｍ１〜Ｍ５，Ｍ２′，Ｍ４′は２値画像の各位
置におけるマスクパターンを示す。８３は２値画
像のｎライン目を示したラインパターンで、a₁〜
a₃はライン上の領域を示し、a₁，a₃は背景領域、
a₂は粒子領域である。８４はマスク・パターンで
８５は上ライン、８６は下ラインの画素を示す。

番号付はライン上の領域単位で行なう。即ち、
ラインｎをマスクが走査すると、ラインパターン
８３において各領域a₁〜a₃の先頭の画素（左端の
画素で領域の変り目となる部分）で下ライン領域
カウンタが＋１カウント・アツプし、下ライン番
号メモリに番号付情報が入力される。次のライン
（ｎ＋１ライン）の走査ではこの下ライン用の番
号メモリと領域カウンタは上ライン用として働き
（領域カウンタはラインが変わる毎にリセツトさ
れる）、マスク・パターンの上ラインに領域の変
り目が現わると上ライン領域カウンタを＋１カウ
ント・アツプして、次の領域に対応した上ライン
番号メモリの内容を出力する。この結果、上ライ
ン番号メモリからはクロツクに同期して２値画像
の粒子領域の画素に１対１に対応する番号付出力
が得られる。

ラベリングはマスクパターンを使用し、上ライ
ンから下ラインへの領域伝搬を調べながら行なつ
ている。以下領域カウンタ３３と番号メモリ３４
が上ライン用、領域カウンタ３６と番号メモリ３
５が下ライン用として動作していると仮定して説
明する。例えばパターンＭ１の場合、上ラインか
らの領域伝搬があるので、上ライン番号メモリ３
４から読み出した番号を、バス・セレクト・バツ
フア３２を介して下ライン番号メモリ３５に直ち
に移す。垂直伝搬のないパターンＭ２，Ｍ２′の
場合には、粒子番号カウンタ３１からの新番号を
バス・セレクト・バツフア３２を介して下ライン
番号メモリ３５に送り込む。この新番号はこの段
階ではまだ確定したものではないので、仮番号の
フラグとして仮番フリツプフロツプ１３を同時に
セツトする。パターンＭ２の場合にはその後にパ
ターンＭ３が現われ、その時点で既に仮番フリツ
プフロツプがセツトされているのでこの粒子領域
を新領域と判断し、新番号は確定したものとな
る。この結果仮番号は使用済みとなるので、仮番
フリツプフロツプ１３をリセツトし、粒子番号カ
ウンタ３１を＋１カウント・アツプして次の粒子
領域にそなえる。パターンＭ２′の場合にはその
後に垂直伝搬のあるパターンＭ４′が現われ、そ
の時点でこの粒子領域は新領域ではないと判断し
上ライン番号メモリ３４の内容をバス・セレク
ト・バツフア３２を介して下ライン番号メモリ３
５に送り、下ライン番号メモリ３５の内容を書き
直す。同時に仮番フリツプフロツプ１３をリセツ
トする。

パターンＭ４の場合はパターンＭ４′と形は同
じであるが、仮番フリツプフロツプ１３がリセツ
トされている点が異なる。この場合には画面の上
向きに凹部のパターンがあると判断し、上ライン
番号メモリ３４からの番号付出力（粒子領域８２
に対応する粒子番号）をバス・セレクト・バツフ
ア３２、内部ナンバリング・バス１７およびデー
タ・セレクト・バツフア４４を介してデータ・メ
モリ４３に送り、Ｕシエイプ上番号として記憶す
る。Ｕシエイプの場合には、パターンＭ４の前に
必ずパターンＭ５が出現する。このパターンＭ５
に先行するパターンＭ１では前記のように上ライ
ン番号メモリ３４の内容（粒子領域８１に対応す
る粒子番号）をバス・セレクト・バツフア３２を
介して下ライン番号メモリ３５に移すと同時に内
部ナンバリング・バス１７を介してデータ・セレ
クト・バツフア４４に送り、この中のラツチ回路
に既に記憶させてある。パターンＭ５の時点でこ
のラツチ回路の内容はＵシエイプ用下番号として
データ・メモリ４３に書き込まれる。データ・メ
モリ４３内のＵシエイプ用メモリ領域は、上番号
ブロツクと下番号ブロツクに分かれ、前記の上番
号および下番号はそれぞれのブロツクの、Ｕシエ
イプ・カウンタ４１でアドレスされる同一番地に
書き込まれる。Ｕシエイプに関する上記の２つの
番号（上番号と下番号）の組はこの２つの番号の
領域が単一領域であることを示しており、あとで
この２つの領域をソフトウエアで合成する際に有
効に利用することができる。

第９図に示す２×２マスクパターンは粒子領域
のＸ，ｙ座標の最大最小値を与える特定の形状を
示すマスク・パターンである。即ち、粒子領域を
第３図シフトレジスタ１０のａ，ｂ，ｄ，ｅで示
されるマスクパターンが走査した際、第９図１の
マスク・パターンXminで領域の最後に現われる
もの（右下の画素ｅ：以下同様）のｘ座標はその
粒子領域のｘ座標の最小値を示し、第９図２のマ
スク・パターンYminで領域の最初に現われるも
ののｙ座標はその粒子領域のｙ座標の最小値を示
し、第９図３のマスク・パターンXmaxで領域の
最後に現われるもののｘ座標はその粒子領域のｘ
座標の最大値を示し、第９図４のマスク・パター
ンYmaxで領域の最後に現われるもののｙ座標は
その粒子領域のｙ座標の最大値を示している。シ
フトレジスタ１０から上記のマスク・パターン
Xmin，Ymin，Xmax，Ymaxのひとつが出力さ
れると、コントロール・ロジツク回路１２はこの
マスク・パターンに対応するブロツク・アドレス
を選択するブロツク・アドレス信号をデータ・メ
モリ４３に出力する。次に領域番号をアドレスと
してデータ・メモリ４３の前記ブロツク内で指定
する。即ち、マスク・パターンXmin，Xmaxの
場合は右上の画素ｂに対応する領域番号を上部番
号メモリ（番号メモリ３４または３５のどちら
か）から読み出して内部ナンバリング・バス１７
を介してデータ・メモリ４３に伝える。マスク・
パターンYmin，Ymaxの場合は左側の画素ｄに
対応する領域番号をアドレス・バス・セレクト・
バツフア４４内のラツチ回路からデータ・メモリ
４３に出力する。アドレス・バス・セレクト・バ
ツフア４４内の上記ラツチ回路には、前記したよ
うにバス・セレクト・バツフア３２を介して下ラ
イン番号メモリ３４または３５に書き込まれた内
容が同時に書込まれている。上記のようにしてア
ドレス指定されたデータメモリ４３内のデータ領
域にｘカウンタ４５またはｙカウンタ４６の内容
がコントロール・ロール・ロジツク回路１２から
のメモリ・ライト信号によつて書き込まれる。即
ちマスク・パターンXmin，Xmaxのときはｘカ
ウンタ４５の内容が、マスク・パターンYmin，
Ymaxのときはｙカウンタ４６の内容が書き込ま
れる。

第１０図のような単純な図形（１００は穴のあ
る粒子領域、１０１，１０２は固有領域を生成さ
せた部分）の場合には上記のようにしてデータ・
メモリ４３内に、各粒子の領域番号に対応したア
ドレスにその粒子領域のｘ，ｙ座標の最大、最小
値を記憶させることができる。第１０図において
マスク・パターンＭ６，Ｍ７，Ｍ８，Ｍ９は第９
図のマスク・パターンYmin，Xmin，Xmax，
Ymaxにそれぞれ対応している。従つて外部のプ
ロセツサからアドレス・バス入力端子７を介して
データ・メモリ４３のアドレスを指定してデー
タ・バス端子１９からｘ，ｙ座標の最大最小値を
読み出し、プロセツサで演算することにより粒子
領域の中心位置を求めることができる。

第１１図に示すように（ｘ，ｙ両方向に）Ｕシ
エイプのある粒子領域の場合はＵシエイプごとに
隣り合う領域番号をメモリに記憶するとともに、
それぞれの領域ごとにｘまたは／およびｙ座標の
最小値をメモリに記憶し、隣り合う領域同志で最
小のｘまたはｙ座標をその粒子領域全体の最小値
とする。以下第１１図の具体例にもとずいて説明
する。第１１図において○印のある画素は前記し
たように、特徴点の検出された画素を示す。画面
の上方向（ｙ軸方向）のＵシエイプは前述したよ
うにマスク・パターンＭ１２で下番号（領域１１
４（固有領域１１１を含む）に対応する番号）
が、マスク・パターンＭ１３で上番号（領域１１
３に対応する番号）がデータ・メモリ４３に記憶
される。マスク・パターンＭ１０，Ｍ１１はそれ
ぞれ領域１１４および領域１１３のマスク・パタ
ーンYminとして、データ・メモリ４３のYmin
ブロツク内の、領域１１４および１１３に対応す
る部分にそれぞれそのｙ座標が記憶される。画面
の左方向（ｘ軸方向）のＵシエイプの場合も同様
であるが、この場合には特徴点を利用して検出し
ている。即ち、Ｍ１６のマスク・パターンでｘ軸
Ｕシエイプを検出して２つの番号領域１１４，１
１５（固有領域１１２を含む）に分けている。マ
スク・パターンＭ１６でｘ軸方向のＵシエイプが
検出されると右上の画素ｂの領域番号が上番号と
して、上ライン番号メモリ３４または３５からデ
ータ・メモリ４３に送り込まれる。次にマスク・
パターンＭ１７で左側の画素ｄの領域番号が下番
号として、前記同様データ・セレクト・バツフア
４４内のラツテ回路からデータ・メモリ４３に書
き込まれる。この結果領域１１４と領域１１５は
互いに隣接してＵシエイプを形成していること
を、データ・メモリ４３の内容を読み出すことに
より知ることができる。マスク・パターンＭ１
４，Ｍ１５はそれぞれ領域１１４および領域１１
５のマスク・パターンXminとして、ｙ軸Ｕシエ
イプの場合と同様にしてデータ・メモリ４３にそ
のｘ座標が記憶される。以上のようにしてデー
タ・メモリ４３に書き込まれた各領域ごとのｘ，
ｙ座標の最小値を、Ｕシエイプを構成する領域の
組合わせ情報と共にプロセツサに読み出し、プロ
セツサ内で同一粒子領域内で最小のｘ，ｙ座標を
決定し、ｘ，ｙ座標の最大値（マスク・パターン
Ｍ１８，Ｍ１９で検出）と共に演算を行なうこと
により、Ｕシエイプを有する場合の粒子領域の中
心位置を求めることができる。

以上述べた装置を用いれば、射影ヒストグラム
を用いる従来の方法と異なり領域毎にその中心位
置を求めるので、複数の粒子画像が存在する場合
でもそれぞれの粒子画像の位置を正確に計測でき
る。

なお上記の説明では粒子画像を中心に説明した
が、粒子にかぎらず粒子状の任意の対象画像に対
しても同様に適用できる。

以上述べたように本発明によれば、対象物が複
数の場合でもその画像上の中心位置を正確に計測
することができかつ高速の画像位置計測装置を実
現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はTVカメラの撮像エリアおよびサンプ
ルエリアを説明する図、第２図は従来の画像位置
計測装置の原理を示す図、第３図は本発明の一実
施例を示す要部構成ブロツク図、第４図は第３図
の固有領域生成回路の部分を示す回路構成図、第
５図は第３図の特徴点検出回路の部分を示す回路
構成図、第６図は固有領域生成回路および特徴点
検出回路の動作を説明するためのマスクパターン
を示す図、第７図はタテヨコ２画素が示す全ての
マスクパターンを示す図、第８図は番号付を説明
するための被試験パターンを示す図、第９図は粒
子画像のｘ，ｙ座標の最大、最小値を検出するた
めのマスクパターンを示す図、第１０，１１図は
粒子画像の中心位置の求め方を説明するための被
試験パターンを示す図である。 ８……固有領域生成回路、１１……特徴点検出
回路、１２……コントロール・ロジツク回路、１
５……ナンバリング回路、４３……データメモ
リ、４５……ｘカウンタ、４６……ｙカウンタ、
８１，８２，１００，１１３，１１４，１１５，
a₂……粒子領域、１０１，１０２，１１１，１１
２……固有領域、Ｍ１〜Ｍ１９，Ｍ２′，Ｍ４′…
…マスク・パターン、Sp……（固有領域生成回
路からの）２値画像出力、Sn，Sd……制御信号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 粒子領域と背景領域からなる２値画像の各粒
   子領域毎にその中心位置を計測する画像位置計測
   装置において、少くとも前記２値画像に固有領域
   を生成させる手段と、この固有領域を生成させる
   手段から得られるマスク・パターンが特定の形状
   を示したとき、前記マスク・パターンに属する粒
   子領域の画素の領域番号と前記マスク・パターン
   の前記固有領域を生成させる手段から得られる２
   値画像上のｘまたはｙ座標とを組として記憶する
   データ・メモリを備えたことを特徴とする画像位
   置計測装置。 ２ 粒子領域と背景領域からなる２値画像の各粒
   子領域ごとにその中心位置を計測する画像位置計
   測装置において、前記２値画像の固有領域を生成
   する固有領域生成回路と、前記２値画像の特徴点
   を検出する特徴点検出回路と、前記固有領域生成
   回路からの２値画像出力から得られるマスク・パ
   ターンの形状および前記特徴点検出回路からの出
   力にしたがつて制御信号を発生するコントロー
   ル・ロジツク回路と、このコントロール・ロジツ
   ク回路からの制御信号で制御され、前記固有領域
   生成回路からの２値画像出力の粒子領域に領域ご
   との番号付けを行なうナンバリング回路と、前記
   マスク・パターンの前記固有領域生成回路から得
   られる２値画像上のｘ，ｙ座標を与えるｘ，ｙカ
   ウンタと、前記ナンバリング回路から出力される
   領域番号によりアドレス指定され、前記ｘまたは
   ｙカウンタからの出力が書き込まれるデータ・メ
   モリとを備え、前記マスク・パターンが特定の形
   状を示したとき、前記マスク・パターン内の粒子
   領域の画素の領域番号によつてアドレスして前記
   マスク・パターンの前記ｘまたはｙ座標をデー
   タ・メモリ内に記憶するように構成したことを特
   徴とする画像位置計測装置。 ３ データ・メモリ内に２値画像内の上向きおよ
   び左向きの凹部パターンの任意の隣り合う２つの
   突出部分にそれぞれ対応する２つの領域番号の組
   合わせを記憶する特許請求範囲第２項記載の画像
   位置計測装置。