JPH0124632Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 イ 産業上の利用分野 この考案はダイオード等のアキシヤルリード形
電子部品の特性測定装置に関する。

ロ 従来技術 ダイオードや抵抗等の電子部品は、部品本体の
両端からリード線を本体軸方向に沿つて導出した
アキシヤルリード形が一般的である。前記リード
線はFe−Ni合金などの磁性金属のリード線が使
用されることが多く、アキシヤルリード形電子部
品は、磁性リード線の表面を酸化防止、外部機器
との半田付け性を良好にする等の目的でもつて半
田メツキ処理してから特性測定、捺印工程等を経
て製品化が完了する。

このようなアキシヤルリード形電子部品の特性
測定は従来：例えば第４図乃至第６図に示す装置
でもつて１個ずつ順次に行われている。即ち、第
４図乃至第６図において、１，１…はアキシヤル
リード形電子部品、２は定位置に枢設された回転
ドラム、３は回転ドラム２に電子部品１を１個ず
つ供給する電子部品供給部、４は回転ドラム２か
ら測定済み電子部品１を１個ずつ取出す電子部品
取出部、５，５は回転ドラム２の外周近傍の２箇
所の測定用定ポジシヨンに固定配置された測定端
子、６は測定端子５，５に電気的配線された特性
測定器である。

回転ドラム２の外周中央には、第６図により明
らかなように電子部品１の部品本体１ａが入る程
度の溝７が形成され、またこの溝７の両側の外周
面には等間隔で複数個の粒状磁石８，８…が埋設
される。１つの磁石８は電子部品１の１本のリー
ド線１ｂを磁気吸着する大きさで、１個の電子部
品１は、回転ドラム２の軸方向と平行な軸方向で
もつて、部品本体１ａが溝７に嵌まり２本のリー
ド線１ｂ，１ｂの根元近くが溝７の両側の２個一
組の磁石８，８に吸引されて回転ドラム２と共に
回転移動する。この回転ドラム２に電子部品１を
供給する電子部品供給部３は例えばマグネツトフ
イーダで、このマグネツトフイーダでもつて多数
の電子部品１，１…は水平に方向規制されて回転
ドラム２へと送られ、回転ドラム２に達したもの
が上記磁石８，８…の吸着にて順次１つずつ切出
される。

上記２つの測定端子５，５は、回転ドラム２と
共に回転して測定ポジシヨンに送られてきた電子
部品１，１…のリード線１ｂ，１ｂに電気的接続
して通電し特性測定を行うためのもので、図面で
は２つを配備したが電子部品１の種類、特性測定
内容に応じ１つ又は２つ以上配備されている。こ
の２つの測定端子５，５は同一構造なので、以下
１つについて説明する。測定端子５は、回転ドラ
ム２の溝７の両側の外周とリード線１ｂ，１ｂの
線径より少し小さい間隔でもつて固定配置された
２つの固定端子５ａ，５ｂでもつて構成される。
回転ドラム２の外周に吸着されて測定ポジシヨン
に電子部品１が送られてくると、この電子部品１
の２つのリード線１ｂ，１ｂが固定端子５ａ，５
ｂに接触し、この時両固定端子５ａ，５ｂ間に電
圧が印加されて特性測定器６にて電子部品１の特
性測定が行われる。

尚、電子部品取出部４は、回転ドラム２と共に
回転する測定済み電子部品１を、例えば、回転ド
ラム２の下部両側方に配置した切出爪９，９にて
回転ドラム２から引き外して外部電子部品選択機
構等へと取出すためのものである。

ハ 考案が解決しようとする問題点 上記従来装置においてアキシヤルリード形電子
部品１の特性測定は、回転ドラム２と共に回転す
る電子部品１のリード線１ｂ，１ｂと固定端子５
ａ，５ｂに軽く接触させて摺動させる状態で行わ
れるため、次の問題を含んでいた。

電子部品１のリード線１ｂ，１ｂは、半田メツ
キ処理にて表面に半田被膜を有する。そのためリ
ード線１ｂ，１ｂを固定端子５ａ，５ｂに、接触
良好とするために、強く押し当てて摺動させる
と、リード線１ｂ，１ｂの半田被膜が固定端子５
ａ，５ｂに擦られて剥がれ、固定端子５ａ，５ｂ
に付着することがあつた。このように固定端子５
ａ，５ｂに半田が付着すると以後の電子部品１の
リード線１ｂ，１ｂとの接触抵抗が変わり、均一
な条件下での特性測定ができず、信頼性に欠ける
問題があつた。

上記問題の解決手段として固定端子５ａ，５ｂ
に付着した半田を定期的に除去することが行われ
ている。しかし、この手段は半田除去の度に全装
置を停止させねばならないので装置の稼動率を悪
くし、また固定端子５ａ，５ｂの寿命を短くする
問題があつた。

また電子部品１においては、リード線１ｂ，１
ｂの半田被膜が部分的に剥がれるので結果的に半
田仕上不良品となる確率が高く、製品の商品的価
値を下げる要因となつていた。

ニ 考案の目的 本考案は上記従来問題点に鑑みてなされたもの
で、本考案の目的はアキシヤルリード形電子部品
の半田メツキ処理されたリード線の半田被膜を剥
がすこと無く測定端子を接触させて特性測定を行
わしめることにある。

ホ 考案の構成 この目的を完遂する本考案の技術的手段は、測
定端子を可動式にすることである。具体的にはこ
の技術的手段は、電子部品のリード線を磁気吸着
する磁石を外周に有する回転ドラムの外周近傍の
定位置に配置し、その中心点より若干離れた偏心
点を中心として前記回転ドラムと同一方向に、か
つ、その回転中心から最も遠い周面が前記回転ド
ラム側に来たとき回転ドラムと同一周速で回転し
て、回転ドラム外周上の電子部品のリード線を回
転ドラムとでもつて適宜挟持する可動式測定端子
を使用することである。

ヘ 考案の作用 上記可動式測定端子使用により、電子部品のリ
ード線は、測定端子で押圧されるのみで擦られる
ことが無くなり、従つてリード線の表面に半田被
膜が在つてもこれが測定端子で剥がされる心配が
無くなり、従来の上記各問題点が解決される。ま
た、測定端子は偏心点を中心として回転するの
で、電子部品が測定位置に来たときのみリード線
に接触し、他の時間帯はリード線や回転ドラムに
接触しないので、これらの摩耗が少なくなる。

ト 考案の実施例 本考案の一実施例を第１図乃至第２図を参照し
て説明する。

第１図において、従来の装置を示した第４図と
同一内容のものには同一参照符合を付して説明は
省略する。この実施例の特性測定装置における従
来の装置との相違点は、回転ドラム２の外周近傍
の例えば２つの測定ポジシヨンに配置した次の可
動式測定端子１０，１０及びその支持手段にあ
る。２つの測定端子１０，１０及びその支持手段
は同一構造なので、以下一方について説明を行
う。

まず、測定端子１０は、１つの定測定ポジシヨ
ンに回転可能に配備された２つの絶縁性回転ロー
ラ１１，１１の周辺部両側に固定され、第３図に
明らかな計４つの可動端子１０ａ〜１０ｄで構成
される。２つの回転ローラ１１，１１は、円形
で、各々はその中心点ｐより若干離れた偏心点を
中心とする回転軸１２に連結されて偏心回転す
る。この各回転ローラ１１，１１は、回転ドラム
２の溝７の両側外周に対向して回転ドラム２と同
一方向に同一周速で同期回転する。４つの可動端
子１０ａ〜１０ｄは、各回転ローラ１１，１１の
夫々両側に固定され、各可動端子１０ａ〜１０ｄ
の外周は回転ローラ１１，１１の外周の一部を形
成する。そして各回転ローラ１１，１１の両側面
周辺部には一方向から各々バネ材１３，１３…に
て支持された計４つの電極端子１４，１４…が常
時摺動可能に弾性的に接触し、回転ローラ１１，
１１の回転で可動端子１０ａ〜１０ｄが回転ドラ
ム２側にくると各電極端子１４，１４…が対応す
る可動端子１０ａ〜１０ｄに電気的に接触する。
各電極端子１４，１４…は、特性測定器６′に配
線され、電極端子１４，１４…と可動端子１０ａ
〜１０ｄを介して測定ポジシヨンにおける１つの
電子部品１の特性測定が次の要領で行われる。

回転ローラ１１，１１は、回転ドラム２との最
小間隔が電子部品１のリード線１ｂ，１ｂの線径
より若干小さく、最大間隔がリード線１ｂ，１ｂ
の線径より若干大きくなる関係で偏心回転し、回
転ドラム２の外周に磁気吸着された１つの電子部
品１が測定ポジシヨンまでくると、このタイミン
グに合わせて可動端子１０ａ〜１０ｄが回転ドラ
ム２と対向する最小間隔の位置まで回動して２つ
の可動端子１０ａ，１０ｂが１本のリード線１ｂ
の根元近くの２点に、他の可動端子１０ｃ，１０
ｄが他のリード線１ｂの根元近くの２点に夫々に
同時に接触する。この接触は各可動端子１０ａ〜
１０ｄとリード線１ｂ，１ｂの移動速度が同一な
ので、各可動端子１０ａ〜１０ｄはリード線１
ｂ，１ｂを回転ドラム２の外周とでもつて徐々に
強く挟持する如くして行われ、十分に電気的に接
触した時点で特性測定器６′により電極端子１４，
１４…、可動端子１０ａ〜１０ｄを介して両リー
ド線１ｂ，１ｂ間に電圧が印加され、電子部品１
の特性測定が行われる。測定完了後は、回転ドラ
ム２、回転ローラ１１，１１の回転でもつて可動
端子１０ａ〜１０ｄは、リード線１ｂ，１ｂから
摺動すること無く徐々に離れる。

尚、本考案は上記実施例に限らず、特に可動式
測定端子における可動端子の数やその支持手段、
特性測定器との電気的接続手段は各種変更が可能
である。

チ 考案の効果 以上のように、本考案によれば電子部品のリー
ド線が半田被膜が在つても、この半田被膜が測定
端子により剥がされて測定端子に付着する心配が
無くなり、従つて測定端子とリード線との接触抵
抗の均一化による電子部品特性測定条件の均一化
が可能で、高信頼度の特性測定装置が提供でき、
また測定端子に半田が付着しないので、半田除去
作業が省略できて装置の稼動率向上、測定端子の
長寿命化が図れる。またリード線の測定端子との
接触による損傷が軽減されるので、電子部品のリ
ード線半田仕上不良の発生率が少なくなり、電子
部品の商品的価値の改善が図れる。さらに、測定
端子は偏心点を軸として回転することにより、電
子部品のリード線以外の回転ドラム等には接触し
ないので、これらの摩耗も著しく軽減され、稼動
率が向上、長寿命化が図れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例を示す電子部品特
性測定装置の要部側面図、第２図は、第１図の一
部拡大図、第３図は、第２図のＢ−Ｂ線に沿う断
面図、第４図及び第５図は、従来のアキシヤルリ
ード形電子部品特性測定装置の要部側面図及び平
面図、第６図は、第４図のＡ−Ａ線に沿う拡大断
面図である。 １……電子部品、１ａ……部品本体、１ｂ……
リード線、２……回転ドラム、８……磁石、１０
……測定端子、１０ａ〜１０ｄ……可動端子、１
１……回転ローラ、１４……電極端子。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 部品本体の両端から本体軸方向に沿つてリード
   線を導出した電子部品の特性測定装置であつて、 前記電子部品のリード線を磁気吸着する磁石を
   外周に等間隔で複数個有し定位置で回転する回転
   ドラムと、 この回転ドラムの外周近傍の定位置に配置さ
   れ、その中心点より若干離れた偏心点を中心とし
   て前記回転ドラムと同一方向に、かつ、その偏心
   点から最も遠い周面が前記回転ドラム側に来たと
   き前記回転ドラムと同一周速で回転して回転ドラ
   ム外周上に吸着された電子部品のリード線を、回
   転ドラムとでもつて適宜挟持してリード線に通電
   する測定端子とを具備したことを特徴とする電子
   部品特性測定装置。