JPH01246357A - 立方晶窒化ホウ素膜の製造方法 - Google Patents

立方晶窒化ホウ素膜の製造方法

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JPH01246357A
JPH01246357A JP7382488A JP7382488A JPH01246357A JP H01246357 A JPH01246357 A JP H01246357A JP 7382488 A JP7382488 A JP 7382488A JP 7382488 A JP7382488 A JP 7382488A JP H01246357 A JPH01246357 A JP H01246357A
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JP
Japan
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target
substrate
boron nitride
reaction chamber
chamber
Prior art date
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Pending
Application number
JP7382488A
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English (en)
Inventor
Nobuki Yamashita
信樹 山下
Tetsuyoshi Wada
哲義 和田
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、硬質、高熱伝導性、高電気絶縁性に優れた立
方晶窒化ホウ素膜の製造方法に関する。
[従来の技術] 蓋化ホウ素は、大別すると常圧で容易に合成される軟質
で潤滑性の優れた六方晶窒化ホウ素(以下hBNと記す
)と、高温高圧で合成される硬質の立方晶窒化ホウ素(
以下CBNと記す)がある。この内CBNは、ダイヤモ
ンドに次いで高い硬度を有し、また高熱伝導性、高電気
絶縁性を有するため、CBNを被覆膜として基材の表面
に形成することが試みられている。
従来、基材表面゛に窒化ホウ素被覆pAを形成する方法
としては、大別すると化学的蒸着法(CVD ;Che
mical Vapor Depositlon )に
よるものと、物理釣魚1i法(PVD ; Physi
cal Vapor Deposition)によるも
のがある。ここで、前者の方法としては、ハロダン化ホ
ウ素又は、シゲラン等のホウ化物と量系またはアンモニ
アとの反応ガス中で行うものがある。一方、後者の方法
としては、イオンビーム蒸着法がある。この方法は、例
えば、ジャーナル・オノ・バキューム・サイエンス伊ア
ンド・テクノロジー誌第A−1巻第323頁〜第325
頁(Journal of Vaacum 5cien
ce and TechnologyA−1(1983
,1)K記載の如く、カウフマン車イオン源を用い次の
ように行う。1ず、Jl容器内を予備排気して所定の減
圧状態にした後、ボラジン(85N、H6)の蒸気を導
入する。次いで、タングステンフィラメントよシ放出さ
れた電子をアノードに到達する前にがラジンの中性粒子
に衝突させイオン化させる。このようにして得たプラシ
ンイオンを加速器で加速しイオンビームを作シ、このイ
オンビームによって窒化ホウ素膜を作る。
[発明が解決しようとする課題」 従来、基材表面に窒化ホウ素からなる被俊層を形成する
方法の内、CVD法による方法は、単なる熱的な気相反
応であるため、軟質な六方晶窒化ホウ素からなる被覆層
しか形成されないという問題がめる。
また、イオンビーム蒸着法による方法は、 CBNの含
有量が少ないため、CBN本来の硬さに比べ蓬かに比い
硬さのものになるという問題ヲ有する。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、硬質、高熱
伝導性、高電気絶縁性に優れた立方晶窒化ホウ系膜を極
めて容易に得ることができる立方晶窒化ホウ素膜の製造
方法を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 本発明は、基材、及びホウ素又は窒化ホウ素成形体ター
ゲットを収容した反応室内に、窒素又は窒素を含む化合
物と希ガスの混合ガスを導入する行程と、前記反応室内
に電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生させ、前記タ
ーゲットをスパッタリングをしながら前記基材にバイア
ス電圧を印加する行程とを具備することを要旨とする。
本発明において、上記窒素を含む化合物としてはアンモ
ニアが挙げられる。また、上記希ガスとしてはアルゴン
、ネオン、キセノン、ヘリウム等の一般的なものが挙げ
られる。
また、本発明において基材にバイアス電圧全印加するの
は、ECRプラズマスパッタリングは減圧下での処理で
あシ、バイアスを掛け、分子を高速で衝突させることに
よって、高圧条件と同等な条件を作るためである。
[作用コ 不発8Aにおいては、反応室内にス・ヤツタ粒子と原料
ガスから成る高純度で分解率の高い電子サイクロトロン
共鳴プラズマを作り、高速度で基材上に堆積させる。そ
の結果、硬質、高熱伝導性、高電気絶縁性に優れた立方
晶窒化ホウ素を極めて容易でかつ安全に得ることができ
る。
「実施例」 以下、本発明の一実施例について説明する。まず、本発
明に用いる反応装置について第1図を参照して説明する
。
図中1は、ガス導入管2を有する反応室でl)、真空容
器となっている。この反応室1の一端部にはターゲット
3を取りつけた水冷されたターゲット電極4が取シつけ
てあシ、またその中心部には導波管5が接続されている
。また、前記反応室1の他端部には基材ホルダー6が取
シクけである。この基材ホルダー6の先端部には、被処
理体としての基材7が取9つけられるようになっている
。前記基材ホルダー6には、ヒータ電源8に接続したヒ
ータ9が内蔵されている。また、前記導波管5、基材ホ
ルダー6を囲む用にして磁界印加用コイル10が設けら
れている。更に、前記ターゲット電極4及び基板ホルダ
ー6はそれぞれマツチングボックス11を介して高周波
電源12に接続されている。なお、図中13は反応室1
内に取シ付けられた真空ゲージ14はシールドである。
本実施例では、上記構成の反応装*t−用いて基材7上
にCBN Mを形成する。まず、Siウェハからなる基
材7を基材ホルダー6に取シ付ける。またターゲット電
極にはhBN成形成形体タードツト3シ付ける。次に、
反応室1内を10”Torr以下の減圧状態になるよう
に予備排気した後、ガス導入管2から内部に輩累とアル
ゴンの混合ガス(蟹索50%〕を10 SCCMの流量
で導入し、内部圧力を7 X 10  Torrに維持
する。次いで、基材7の温度が400℃になるようにヒ
ータ9で加熱する。
次に、磁界印加用コイル10によシ反応室1内に磁界を
印加し、マイクロK (2,450)lz )を専波官
5を介して反応狛に導入し、基板ホルダー6、ターグツ
ト3間に電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生させる
。また、ターゲットホルダー4には高周波電力(13,
566)’を印加レセルフパイアス(−3kv )を発
生させ、電子サイクロトロン共鳴プラズマによってもた
らされるスパッタリング効果によりターゲット3よシ構
成物質のスパッタ粒子を放出させる。更に、基板ホルダ
ー6には同様に高周波電力(13,56MHz )を印
加し、セルフバイアス(−0,5kV )を発生させる
。このようにして基材7上に厚さ1μmの被膜を形成す
る。
このように、本発明によれば、81ウエハからなる基材
7及びhBN成形成形体タードツト3容した反応室1内
に窒素とアルゴンの混合ガスを導入した後、前記反応室
1内に電子サイクロトロン共鳴プラズマを発生させ、前
記ターゲット3をスフ9ツタリングしながら前記基材7
にバイアス電圧を印加することによう、硬質、高熱伝導
性、高電気絶縁性に優れた立方晶窒化ホウ素膜を極めて
容易でかつ安全に得ることができる。事実、上述の如く
得られた被覆を赤外線吸収スペクトル分析によシ真べた
結果、立方晶固有の105h〜1付近の波数の吸収が認
められるが、六方晶による1 350cm−’及び78
0 an−’付近の吸収は認められない。また、高速電
子線回折装置による電子線回折環図形からも、形感され
た膜は立方晶窒化ホウ素の多結晶体膜であることが確認
された。
ナオ、上記実施例ではhBN成形成形体ターフドを用い
た場合について述べたが、これに限らずホウ素成形体タ
ーケ9ットを用いてもよい。
また、上記実施例では窒素とアルコゝンの混合ガスを用
いた場合について述べたが、窒素を含む化合物(例えば
アンモニア)と布ガスの混合ガス等を用いてもよい。
[発明の効果] 以上詳述した如く本発明にかかる里方晶鼠化ホウ素膜の
製造方法によれば、硬質、高熱伝導性、高電気絶縁性に
優れた立方晶窒化ホウ素族を極めて容易に安全に得るこ
とのできるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る反応装置の説明図であ
る。 1・・・反応嵐、2・・・ガ′ス導入管、3・・・ター
ゲット、4・・・ターグツ)it(極、5・・・導波管
、6・・・基材ホルダー、?・・・基材、8・・・ヒー
タ電源、9・・・ヒータ、10・・・磁界印加用コイル
、11・・・マツチングボックス、12・・・高周波電
源、13−゛・真空ダーツ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基材、及びホウ素又は窒化ホウ素成形体ターゲットを収
    容した反応室内に、窒素又は窒素を含む化合物と希ガス
    の混合ガスを導入する行程と、前記反応室内に電子サイ
    クロトロン共鳴プラズマを発生させ、前記ターゲットを
    スパッタリングをしながら前記基材にバイアス電圧を印
    加する行程とを具備することを特徴とする立方晶窒化ホ
    ウ素膜の製造方法。
JP7382488A 1988-03-28 1988-03-28 立方晶窒化ホウ素膜の製造方法 Pending JPH01246357A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4834021A (en) * 1987-12-14 1989-05-30 Rca Licensing Corporation Apparatus for controlling the distribution of evaporated material onto a surface
JPH03211268A (ja) * 1990-01-12 1991-09-17 Toyo Kohan Co Ltd 立方晶窒化硼素の低圧合成法
US6153061A (en) * 1998-03-02 2000-11-28 Auburn University Method of synthesizing cubic boron nitride films
CN104152850A (zh) * 2014-07-03 2014-11-19 苏州大学 一种掺杂多孔SiCOH低介电常数薄膜的制备方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6050167A (ja) * 1983-08-26 1985-03-19 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> プラズマ付着装置
JPS6277454A (ja) * 1985-09-30 1987-04-09 Ulvac Corp 立方晶窒化ホウ素膜の形成方法

Patent Citations (2)

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