JPH0125005B2 - - Google Patents
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- JPH0125005B2 JPH0125005B2 JP57144456A JP14445682A JPH0125005B2 JP H0125005 B2 JPH0125005 B2 JP H0125005B2 JP 57144456 A JP57144456 A JP 57144456A JP 14445682 A JP14445682 A JP 14445682A JP H0125005 B2 JPH0125005 B2 JP H0125005B2
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- thickness
- notch
- signal
- radiation
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、鋼板の板端部の板厚を的確に測定し
て最適な圧延制御を行う放射線厚み測定装置に関
する。
て最適な圧延制御を行う放射線厚み測定装置に関
する。
一般に、圧延鋼板は第１図に示すようなクラウ
ン形状のものが多い。従来、かかるクラウン形状
の圧延鋼板１を作る場合、鋼板中央部の板厚を測
定して作る手段と、板端部の板厚を測定して作る
手段とがある。前者の手段は、第１図に示すよう
に紙面と直交する方向に搬送されている鋼板中央
部を挾むようにＣフレーム２の上下両端部に放射
線源３と、放射線検出器４とを対向配置し、これ
らの放射線源３および放射線検出器４からなる厚
み検出部によつて鋼板中央部の板厚CHを測定
し、この板厚信号を圧延機にフイードバツクして
所要板厚の圧延鋼板１を作つている。しかし、圧
延鋼板１の公称板厚は、板端部の厚さで規定され
ているので、板端部の厚さが薄く作られることを
避けるために、予め圧延すべき鋼板と等しい鋼板
を模擬的に設置してその鋼板中央部の板厚を測定
するとともにこの板厚にクラウン形状から得られ
る板厚を上乗せして中央部板厚の設定値とし、こ
の設定値と実際に圧延ラインによつて搬送されて
くる鋼板の中央部測定板厚とから圧延すべき鋼板
の中央部板厚を定め、さらにクラウン形状から板
端部の板厚を予測して圧延機により圧延すること
により、最終的に公称板厚の満足する圧延鋼板１
を作り出している。しかし、この手段では中央部
板厚に更にある板厚を上乗せしているので、常に
上乗せした厚さ分だけ材料が無駄となる欠点があ
る。
ン形状のものが多い。従来、かかるクラウン形状
の圧延鋼板１を作る場合、鋼板中央部の板厚を測
定して作る手段と、板端部の板厚を測定して作る
手段とがある。前者の手段は、第１図に示すよう
に紙面と直交する方向に搬送されている鋼板中央
部を挾むようにＣフレーム２の上下両端部に放射
線源３と、放射線検出器４とを対向配置し、これ
らの放射線源３および放射線検出器４からなる厚
み検出部によつて鋼板中央部の板厚CHを測定
し、この板厚信号を圧延機にフイードバツクして
所要板厚の圧延鋼板１を作つている。しかし、圧
延鋼板１の公称板厚は、板端部の厚さで規定され
ているので、板端部の厚さが薄く作られることを
避けるために、予め圧延すべき鋼板と等しい鋼板
を模擬的に設置してその鋼板中央部の板厚を測定
するとともにこの板厚にクラウン形状から得られ
る板厚を上乗せして中央部板厚の設定値とし、こ
の設定値と実際に圧延ラインによつて搬送されて
くる鋼板の中央部測定板厚とから圧延すべき鋼板
の中央部板厚を定め、さらにクラウン形状から板
端部の板厚を予測して圧延機により圧延すること
により、最終的に公称板厚の満足する圧延鋼板１
を作り出している。しかし、この手段では中央部
板厚に更にある板厚を上乗せしているので、常に
上乗せした厚さ分だけ材料が無駄となる欠点があ
る。
その点、前述した後者の手段は、第２図のよう
に放射線源３および放射線検出器４からなる厚み
検出部により板端部の板厚を測定して圧延制御系
にフイードバツクするので、材料の無駄の少ない
圧延鋼板１を作ることができる。しかし、このよ
うな厚み測定手段をとつた場合には次のような問
題が生ずる。つまり、第３図のように鋼板１の板
端部に切欠き部５が存在している場合、放射線検
出器４は板厚測定ラインＬ１上において放射線源
３からの放射線量を直接受けるためその出力が測
定範囲を越えてしまうため放射線検出器４の出力
をそのまま圧延制御用信号として使用できない欠
点がある。
に放射線源３および放射線検出器４からなる厚み
検出部により板端部の板厚を測定して圧延制御系
にフイードバツクするので、材料の無駄の少ない
圧延鋼板１を作ることができる。しかし、このよ
うな厚み測定手段をとつた場合には次のような問
題が生ずる。つまり、第３図のように鋼板１の板
端部に切欠き部５が存在している場合、放射線検
出器４は板厚測定ラインＬ１上において放射線源
３からの放射線量を直接受けるためその出力が測
定範囲を越えてしまうため放射線検出器４の出力
をそのまま圧延制御用信号として使用できない欠
点がある。
本発明は上記実情にかんがみてなされたもの
で、被測定物の幅方向端部に切欠き部が存在して
いる場合でもそれに影響されずに厚み検出部で検
出した板端部の板厚信号を圧延制御用信号として
使用できる放射線厚み測定装置を提供することに
ある。
で、被測定物の幅方向端部に切欠き部が存在して
いる場合でもそれに影響されずに厚み検出部で検
出した板端部の板厚信号を圧延制御用信号として
使用できる放射線厚み測定装置を提供することに
ある。
すなわち、本発明は、厚み検出部の外に、被測
定物の幅方向端部における切欠き部を検知する切
欠き検知部を設け、この切欠き検知部によつて切
欠き部を速やかに検知して厚み検出部からの板厚
信号を保持して出力させ、被測定物の切欠き部が
通過した後に前記板厚信号の保持を解除するよう
に構成した圧延制御等に使用する放射線厚み測定
装置である。
定物の幅方向端部における切欠き部を検知する切
欠き検知部を設け、この切欠き検知部によつて切
欠き部を速やかに検知して厚み検出部からの板厚
信号を保持して出力させ、被測定物の切欠き部が
通過した後に前記板厚信号の保持を解除するよう
に構成した圧延制御等に使用する放射線厚み測定
装置である。
次に、本発明の一実施例について第４図ないし
第６図を参照して説明する。なお、第４図は厚み
検出部および切欠き検知部として作用する板端検
知部の配置関係を示し、第５図は厚み検出部およ
び板端検知部における被測定物の測定ラインを示
し、第６図は装置全体の構成を示す図である。即
ち、この装置は、被測定物１０の幅方向端部をそ
の目的に応じて検出する検出系２０と、この検出
系２０から出力された信号を処理する信号処理系
３０とからなる。この検出系２０は、第４図に示
すように例えばＣフレーム２１の下枠部２１ａの
端部側から胴部側方向に距離L2を隔てて放射線
源２２と光源２３と配置し、一方、Ｃフレーム２
１の上枠部２１ｂには放射線源２２および光源２
３に対応させて放射線量を検出する例えば電離箱
等の放射線検出器２４および光の有無から被測定
物１０の端部有無を検知する板端検知部２５がそ
れぞれ配置されている。この板端検知部２５は被
測定物１０の端部幅方向に例えば複数のフオト・
ダイオードを配列したリニアアレイセンサ等を使
用する。なお、前記厚み検出部は放射線源２２と
放射線検出器２４とをもつて構成され、また板端
検知部は光源２３と板端検知部２５とをもつて構
成される。
第６図を参照して説明する。なお、第４図は厚み
検出部および切欠き検知部として作用する板端検
知部の配置関係を示し、第５図は厚み検出部およ
び板端検知部における被測定物の測定ラインを示
し、第６図は装置全体の構成を示す図である。即
ち、この装置は、被測定物１０の幅方向端部をそ
の目的に応じて検出する検出系２０と、この検出
系２０から出力された信号を処理する信号処理系
３０とからなる。この検出系２０は、第４図に示
すように例えばＣフレーム２１の下枠部２１ａの
端部側から胴部側方向に距離L2を隔てて放射線
源２２と光源２３と配置し、一方、Ｃフレーム２
１の上枠部２１ｂには放射線源２２および光源２
３に対応させて放射線量を検出する例えば電離箱
等の放射線検出器２４および光の有無から被測定
物１０の端部有無を検知する板端検知部２５がそ
れぞれ配置されている。この板端検知部２５は被
測定物１０の端部幅方向に例えば複数のフオト・
ダイオードを配列したリニアアレイセンサ等を使
用する。なお、前記厚み検出部は放射線源２２と
放射線検出器２４とをもつて構成され、また板端
検知部は光源２３と板端検知部２５とをもつて構
成される。
従つて、厚み検出部および板端検知部を以上の
ような配置構成とし、かつ板端検知部２５を構成
するリニアアレイセンサのある位置の素子を特定
すれば（後述する判定レベル）、第５図に示すよ
うに厚み検出部は板厚測定ラインＬ１上の板厚を
測定でき、板端検知部は板端有無測定ラインＬ３
上での板端有無を検知することが可能となる。よ
つて、被測定物１０の板端部に切欠き部１１が存
在している場合、時間的には板端検知部でａ点を
検知した後、厚み検出部がｂ点に達することにな
る。ｃ点、ｄ点の到達時間は上記とは全く逆とな
る。
ような配置構成とし、かつ板端検知部２５を構成
するリニアアレイセンサのある位置の素子を特定
すれば（後述する判定レベル）、第５図に示すよ
うに厚み検出部は板厚測定ラインＬ１上の板厚を
測定でき、板端検知部は板端有無測定ラインＬ３
上での板端有無を検知することが可能となる。よ
つて、被測定物１０の板端部に切欠き部１１が存
在している場合、時間的には板端検知部でａ点を
検知した後、厚み検出部がｂ点に達することにな
る。ｃ点、ｄ点の到達時間は上記とは全く逆とな
る。
次に、信号処理系３０は、放射線検出器２４で
検出した板厚検出信号と予め定めた板端の板厚測
定ラインＬ１上に相応する板厚設定信号との偏差
をもつて板厚信号として出力する信号処理部３１
と、この信号処理部３１の板厚信号を記憶して出
力する記憶出力部３２と、切欠き部１１の大きさ
（深さ）に対応した判定レベルを設定する設定回
路３３と、板端検知部２５からの出力レベルが判
定レベルを越えたとき記憶出力部３２に記憶保持
信号を与え、前記出力レベルが判定レベル以下に
なつたとき記憶出力部３２に記憶保持を解除する
信号を与える比較回路３４とを備えている。３５
は警報部であつて、これは比較回路３４から記憶
保持信号を受けた後、所定時間内にその記憶保持
の解除がないときに警報信号ALを出力する機能
をもつている。
検出した板厚検出信号と予め定めた板端の板厚測
定ラインＬ１上に相応する板厚設定信号との偏差
をもつて板厚信号として出力する信号処理部３１
と、この信号処理部３１の板厚信号を記憶して出
力する記憶出力部３２と、切欠き部１１の大きさ
（深さ）に対応した判定レベルを設定する設定回
路３３と、板端検知部２５からの出力レベルが判
定レベルを越えたとき記憶出力部３２に記憶保持
信号を与え、前記出力レベルが判定レベル以下に
なつたとき記憶出力部３２に記憶保持を解除する
信号を与える比較回路３４とを備えている。３５
は警報部であつて、これは比較回路３４から記憶
保持信号を受けた後、所定時間内にその記憶保持
の解除がないときに警報信号ALを出力する機能
をもつている。
次に、以上のように構成された放射線厚み測定
装置の作用を説明する。先ず、最初に信号処理部
３１に板端部の板厚測定ラインＬ１に対応した板
厚設定レベルを設定し、また設定回路３３に切欠
き部１１の大きさに対応した判定レベルを設定す
る。この状態において被測定物１０が、第４図お
よび第５図のような位置関係で搬送され、かつ被
測定物１０の幅方向端部に切欠き部１１が無い場
合には、放射線源２２から放射された放射線は被
測定物１０を透過して放射線検出器２４に入射さ
れる。放射線検出器２４は、その入射放射線量を
電気信号に変換して信号処理部３１に送出する。
この信号処理部３１では、放射線検出器２４から
の信号と予め定めた板厚設定信号とを比較し、第
７図に示すようその偏差に応じた信号S1を出力す
る。この信号S1は記憶出力部３２を介して板厚信
号S3として外部へ出力する。このとき、板端検知
器２５のリニアアレイセンサは信号処理部３１又
は別の走査回路（図示せず）によつて順次走査さ
れているが、被測定物１０に切欠き部１１が存在
しない場合には、板端検知器２５のリニアアレイ
センサからは第７図S2に示すローレベル信号S2a
が出力される。
装置の作用を説明する。先ず、最初に信号処理部
３１に板端部の板厚測定ラインＬ１に対応した板
厚設定レベルを設定し、また設定回路３３に切欠
き部１１の大きさに対応した判定レベルを設定す
る。この状態において被測定物１０が、第４図お
よび第５図のような位置関係で搬送され、かつ被
測定物１０の幅方向端部に切欠き部１１が無い場
合には、放射線源２２から放射された放射線は被
測定物１０を透過して放射線検出器２４に入射さ
れる。放射線検出器２４は、その入射放射線量を
電気信号に変換して信号処理部３１に送出する。
この信号処理部３１では、放射線検出器２４から
の信号と予め定めた板厚設定信号とを比較し、第
７図に示すようその偏差に応じた信号S1を出力す
る。この信号S1は記憶出力部３２を介して板厚信
号S3として外部へ出力する。このとき、板端検知
器２５のリニアアレイセンサは信号処理部３１又
は別の走査回路（図示せず）によつて順次走査さ
れているが、被測定物１０に切欠き部１１が存在
しない場合には、板端検知器２５のリニアアレイ
センサからは第７図S2に示すローレベル信号S2a
が出力される。
引き続き被測定物１０が搬送され、検出系２０
に被測定物１０の切欠き部１１が到達すると、板
端検知器２５の出力は、第７図S2に示すように切
欠き部１１形状に合致した出力信号S2bを出力す
る。この信号S2bを受けた比較回路３４は、設定
回路３３の判定レベルVLと比較し、そのレベル
VLを越えた点、すなわちａ点時点の放射線検出
器２４の出力S1aを保持させるための信号を記憶
出力部３２に送る。この結果、記憶出力部３２は
ａ点時点の信号である第７図S3に示す信号S3bを
保持するとともに、その保持信号S3bを出力す
る。さらに、被測定物１０が搬送されると、放射
線検出器２４にはｂ点を経過した時点で放射線源
２２からの放射線が減衰されることなくそのまま
入射される。このため放射線検出器２４からは極
端にレベルの高い第７図S1に示す信号S1bが出力
され、信号処理部３１からの偏差信号も大きくな
るが、既に記憶出力部３２はａ点時点の偏差信号
を保持して出力しているので、切欠き部１１の影
響を受けた例えば第７図S3に示すS3b′のような信
号を出力するようなことはない。
に被測定物１０の切欠き部１１が到達すると、板
端検知器２５の出力は、第７図S2に示すように切
欠き部１１形状に合致した出力信号S2bを出力す
る。この信号S2bを受けた比較回路３４は、設定
回路３３の判定レベルVLと比較し、そのレベル
VLを越えた点、すなわちａ点時点の放射線検出
器２４の出力S1aを保持させるための信号を記憶
出力部３２に送る。この結果、記憶出力部３２は
ａ点時点の信号である第７図S3に示す信号S3bを
保持するとともに、その保持信号S3bを出力す
る。さらに、被測定物１０が搬送されると、放射
線検出器２４にはｂ点を経過した時点で放射線源
２２からの放射線が減衰されることなくそのまま
入射される。このため放射線検出器２４からは極
端にレベルの高い第７図S1に示す信号S1bが出力
され、信号処理部３１からの偏差信号も大きくな
るが、既に記憶出力部３２はａ点時点の偏差信号
を保持して出力しているので、切欠き部１１の影
響を受けた例えば第７図S3に示すS3b′のような信
号を出力するようなことはない。
さらに、被測定物１０が搬送されると、放射線
検出器２４がｃ点経過を検出して切欠き無しの状
態の板厚検出を行ない、その後、板端検知器２５
の信号は下降し、判定レベルVLを越えた点ｄは、
比較回路３４で検出され、その信号は記憶保持を
解除する信号として記憶出力部３２へ送られる。
この結果、記憶出力部３２からは、被測定物１０
に切欠き部１１が存在している場合でも極端にレ
ベル変化をもつた信号S3b′を出力することなくそ
の被測定物１０の板厚に近似した信号S3bを連続
的に出力することができる。
検出器２４がｃ点経過を検出して切欠き無しの状
態の板厚検出を行ない、その後、板端検知器２５
の信号は下降し、判定レベルVLを越えた点ｄは、
比較回路３４で検出され、その信号は記憶保持を
解除する信号として記憶出力部３２へ送られる。
この結果、記憶出力部３２からは、被測定物１０
に切欠き部１１が存在している場合でも極端にレ
ベル変化をもつた信号S3b′を出力することなくそ
の被測定物１０の板厚に近似した信号S3bを連続
的に出力することができる。
また、被測定物１０の切欠き部１１の深さの相
違により、切欠き部１１が板端有無測定ラインＬ
３を通過するが、板厚測定ラインＬ１を通過しな
い場合がある。この場合、放射線検出器２４から
第８図S1のような板厚検出信号が出力され、一
方、板端検知器２５のリニアアレイセンサをダイ
ナミツクにスキヤンすることにより、同センサか
ら第８図S2のような信号が出力される。このた
め、比較回路３４はセンサ出力S2と設定回路３３
の判定レベルVLとを比較し記憶保持のための信
号を記憶出力部３２に与える。従つて、記憶出力
部３２からは第８図S3に示す信号S3bが出力され
るが、この記憶保持のないときの信号S3b′とそれ
ほど差がなく、圧延制御上問題がない。
違により、切欠き部１１が板端有無測定ラインＬ
３を通過するが、板厚測定ラインＬ１を通過しな
い場合がある。この場合、放射線検出器２４から
第８図S1のような板厚検出信号が出力され、一
方、板端検知器２５のリニアアレイセンサをダイ
ナミツクにスキヤンすることにより、同センサか
ら第８図S2のような信号が出力される。このた
め、比較回路３４はセンサ出力S2と設定回路３３
の判定レベルVLとを比較し記憶保持のための信
号を記憶出力部３２に与える。従つて、記憶出力
部３２からは第８図S3に示す信号S3bが出力され
るが、この記憶保持のないときの信号S3b′とそれ
ほど差がなく、圧延制御上問題がない。
なお、上記実施例では、板端検知部は板厚検出
部と一体にＣフレーム２１に設けたが、例えば設
置場所や検出系本体の小形化を図る観点からＣフ
レーム２１以外の適宜な部材或いは場所に設けて
もよい。また、放射線源２２、光源２３は上枠部
２１ｂに、放射線検出器２４、板端検知器２５は
下枠部２１ａに取付けてもよい。さらに、板端検
知部は板厚検出部の上流側と下流側とに離して２
つ設ければ、信号処理系３０の動作特性が極端に
遅くても本装置の目的を確実に達成できる。ま
た、記憶出力部３２に遅延回路を設け、比較回路
３４の出力の立下り時点より所定時間遅らせて記
憶保持を解除するようにしてもよい。また、板端
部の板厚測定ラインＬ１を固定することなく、Ｃ
フレーム２１等に駆動装置を装備して板端検知器
２５の出力に応じてＣフレーム２１等を被測定物
１０の幅方向に移動させる構成とすることもでき
る。このようにすれば、例えば緩かな切欠き変化
に対しては常に板端から一定の距離に追随して板
厚を測定でき、急峻な切欠き変化に対してのみ本
装置の信号処理によつて解決することができる。
その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種
種変形して実施例できる。
部と一体にＣフレーム２１に設けたが、例えば設
置場所や検出系本体の小形化を図る観点からＣフ
レーム２１以外の適宜な部材或いは場所に設けて
もよい。また、放射線源２２、光源２３は上枠部
２１ｂに、放射線検出器２４、板端検知器２５は
下枠部２１ａに取付けてもよい。さらに、板端検
知部は板厚検出部の上流側と下流側とに離して２
つ設ければ、信号処理系３０の動作特性が極端に
遅くても本装置の目的を確実に達成できる。ま
た、記憶出力部３２に遅延回路を設け、比較回路
３４の出力の立下り時点より所定時間遅らせて記
憶保持を解除するようにしてもよい。また、板端
部の板厚測定ラインＬ１を固定することなく、Ｃ
フレーム２１等に駆動装置を装備して板端検知器
２５の出力に応じてＣフレーム２１等を被測定物
１０の幅方向に移動させる構成とすることもでき
る。このようにすれば、例えば緩かな切欠き変化
に対しては常に板端から一定の距離に追随して板
厚を測定でき、急峻な切欠き変化に対してのみ本
装置の信号処理によつて解決することができる。
その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種
種変形して実施例できる。
以上詳記したように本発明によれば、被測定物
の端部板厚を検出する厚み検出部よりも更に被測
定部幅方向端部側に板端検知部を設け、この板端
検知部で板端無しを検出後直ちに厚み検出部の出
力を保持して出力し、板端有りの検出で保持状態
を解除するようにしたので、被測定物の幅方向端
部に切欠き部が存在してもそれに影響されずに圧
延制御に使用できる信号を確実に得ることができ
る放射線厚み測定装置を提供できる。
の端部板厚を検出する厚み検出部よりも更に被測
定部幅方向端部側に板端検知部を設け、この板端
検知部で板端無しを検出後直ちに厚み検出部の出
力を保持して出力し、板端有りの検出で保持状態
を解除するようにしたので、被測定物の幅方向端
部に切欠き部が存在してもそれに影響されずに圧
延制御に使用できる信号を確実に得ることができ
る放射線厚み測定装置を提供できる。
第１図は従来装置の一例を示す図、第２図およ
び第３図は従来装置の他の例を示す図、第４図な
いし第６図は本発明に係る放射線厚み測定装置の
一実施例を説明するために示したもので、第４図
の板厚および板端の検出系を示す正面図、第５図
は検出系による測定ラインを説明する上面図、第
６図は装置全体の構成を示すブロツク図、第７図
および第８図はそれぞれ本発明装置の動作を説明
するタイムチヤートである。 １０……被測定物、１１……切欠き部、２０…
…検出系、２２……放射線源、２３……光源、２
４……放射線検出器、２５……板端検知器、３０
……信号処理系、３１……信号処理部、３２……
記憶出力部、３３……設定回路、３４……比較回
路。
び第３図は従来装置の他の例を示す図、第４図な
いし第６図は本発明に係る放射線厚み測定装置の
一実施例を説明するために示したもので、第４図
の板厚および板端の検出系を示す正面図、第５図
は検出系による測定ラインを説明する上面図、第
６図は装置全体の構成を示すブロツク図、第７図
および第８図はそれぞれ本発明装置の動作を説明
するタイムチヤートである。 １０……被測定物、１１……切欠き部、２０…
…検出系、２２……放射線源、２３……光源、２
４……放射線検出器、２５……板端検知器、３０
……信号処理系、３１……信号処理部、３２……
記憶出力部、３３……設定回路、３４……比較回
路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射線発生器と放射線検出器とを対向配置し
これら放射線発生器と放射線検出器との間で長手
方向に搬送される被測定物の幅方向端部における
板厚を検出する厚み検出部と、この厚み検出部の
前記被測定物における板厚検出の位置よりも前記
被測定物の幅方向端側の位置における前記被測定
物の切欠き部の有無を検知する切欠き検知部と、
この切欠き検知部からの切欠き有り信号を受けた
ときに前記放射線検出器からのこのときの信号を
保持しこの信号を出力しかつ前記切欠き検知部か
らの切欠き無しの信号を受けたときに前記放射線
検出器からの信号の保持を解除する記憶出力部と
を具備したことを特徴とする放射線厚み測定装
置。 ２ 切欠き検知部は、判別レベルを基準として被
測定物における幅方向端部の切欠き部の有無の信
号を記憶出力部に供給するように構成した特許請
求の範囲第１項記載の放射線厚み測定装置。 ３ 切欠き部検知部は、厚み検出部と一体に構成
した特許請求の範囲第１項記載の放射線厚み測定
装置。 ４ 切欠き部検知部は、厚み検出部と別体に構成
した特許請求の範囲第１項記載の放射線厚み測定
装置。 ５ 切欠き検出部は、厚み検出部の被測定物搬送
方向上流側及び下流側にそれぞれ配置した特許請
求の範囲第１項記載の放射線厚み測定装置。 ６ 記憶出力部は、切欠き検知部の被測定物幅方
向端部における切欠き部の無の信号を受け放射線
検出器の保持信号を解除する際、その解除時間を
一定時間遅延させるための遅延回路を有する特許
請求の範囲第１項記載の放射線厚み測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14445682A JPS5934106A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14445682A JPS5934106A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線厚み測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5934106A JPS5934106A (ja) | 1984-02-24 |
| JPH0125005B2 true JPH0125005B2 (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=15362668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14445682A Granted JPS5934106A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線厚み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5934106A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4934350A (ja) * | 1972-07-28 | 1974-03-29 |
-
1982
- 1982-08-20 JP JP14445682A patent/JPS5934106A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5934106A (ja) | 1984-02-24 |
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