JPS5934106A - 放射線厚み測定装置 - Google Patents
放射線厚み測定装置Info
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- JPS5934106A JPS5934106A JP14445682A JP14445682A JPS5934106A JP S5934106 A JPS5934106 A JP S5934106A JP 14445682 A JP14445682 A JP 14445682A JP 14445682 A JP14445682 A JP 14445682A JP S5934106 A JPS5934106 A JP S5934106A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B15/00—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
- G01B15/02—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
- G01B15/025—Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、銅板の板端部の板厚を的確に測定して最適な
圧延制御を行う放射線厚み測定装置ｅ（旧する。
圧延制御を行う放射線厚み測定装置ｅ（旧する。
一般に、圧夕現銅板は第１図に示すようなりラウン形状
のものが多い。従来、かかるクラウン形状の圧延鋼板１
を作る場合、銅板中央部の板厚を測定しで作る手段と、
板端部の＆ ）Ｖ−を測定して作る手段とがある。前者
の手段は、第】図にボすように紙面と直父する方向に搬
送されている鋼板中央部を挾むよ５にＣフレーム２の上
下両端部に放射線源３と、放射線検出器４とを対向配置
し、これらの放射線源３および放射線検出器４からなる
厚み検出部によって鋼板中央部の板厚ＣＨを測定し、こ
の板厚信号を圧処磯にフィードバックして所安板埋の圧
延鋼板１を作っている。しかし、圧ＩＪＬ ｆｃｈｉ板
１の公称板厚は、板端部の厚さで規定されているので、
板端部の厚さが薄く作られることを避けるために、予め
圧延すべき銅板と等しい鋼板を模擬的に設入してその鋼
板中央部の板厚を測定するとともにこの板厚にクラウン
形状から得られる板厚を上乗せして中央部板）ツの設定
１１６とし、この設定１＋ｈと実際に圧延ラインによっ
て址之送されてくる鋼板の中央部測定板厚とから圧延す
べき銅板の中央部板厚を定め、さらにクラウン形状から
板端部の板厚を予測して圧延機により圧延することによ
り、最終的に公称板厚の満足する圧延鋼板１を作９出し
ている。しかし、この手段では中央部板厚に更にある板
厚を上乗せしているので、常に上乗せした厚さ分だけ拐
料が無駄となる欠点がある。
のものが多い。従来、かかるクラウン形状の圧延鋼板１
を作る場合、銅板中央部の板厚を測定しで作る手段と、
板端部の＆ ）Ｖ−を測定して作る手段とがある。前者
の手段は、第】図にボすように紙面と直父する方向に搬
送されている鋼板中央部を挾むよ５にＣフレーム２の上
下両端部に放射線源３と、放射線検出器４とを対向配置
し、これらの放射線源３および放射線検出器４からなる
厚み検出部によって鋼板中央部の板厚ＣＨを測定し、こ
の板厚信号を圧処磯にフィードバックして所安板埋の圧
延鋼板１を作っている。しかし、圧ＩＪＬ ｆｃｈｉ板
１の公称板厚は、板端部の厚さで規定されているので、
板端部の厚さが薄く作られることを避けるために、予め
圧延すべき銅板と等しい鋼板を模擬的に設入してその鋼
板中央部の板厚を測定するとともにこの板厚にクラウン
形状から得られる板厚を上乗せして中央部板）ツの設定
１１６とし、この設定１＋ｈと実際に圧延ラインによっ
て址之送されてくる鋼板の中央部測定板厚とから圧延す
べき銅板の中央部板厚を定め、さらにクラウン形状から
板端部の板厚を予測して圧延機により圧延することによ
り、最終的に公称板厚の満足する圧延鋼板１を作９出し
ている。しかし、この手段では中央部板厚に更にある板
厚を上乗せしているので、常に上乗せした厚さ分だけ拐
料が無駄となる欠点がある。
その点、前述した後者の手段は、第２図のように放射線
源３および放射線検出器４からなる厚み検出部によシ板
端部の板厚を測定して圧延制御系にフィードバックする
ので、相料の無駄の少ない圧延鋼板１を作ることができ
る。しかし、このような厚み測定手段をとった場合には
次のような問題が生ずる。つまシ、第３図のように鋼板
１の板端部に切欠き部５が存在している場合、放射線検
出器４は板厚測定ラインＬＪ上において放射線源３から
の放射線部を１０．接受けるためその出力が測冗卸囲を
越えてしまうため放射線検出器４の出力をそのまま圧延
制御用イ８＋−ｙとして使用できない欠点がある。
源３および放射線検出器４からなる厚み検出部によシ板
端部の板厚を測定して圧延制御系にフィードバックする
ので、相料の無駄の少ない圧延鋼板１を作ることができ
る。しかし、このような厚み測定手段をとった場合には
次のような問題が生ずる。つまシ、第３図のように鋼板
１の板端部に切欠き部５が存在している場合、放射線検
出器４は板厚測定ラインＬＪ上において放射線源３から
の放射線部を１０．接受けるためその出力が測冗卸囲を
越えてしまうため放射線検出器４の出力をそのまま圧延
制御用イ８＋−ｙとして使用できない欠点がある。
本発明は、−ヒＮＬＪ実悄（／／−かんがみてなされた
もので、神測定物の幅方向９１Ｍ部に切欠き部が存在し
ている場合でもそれに影袢宴れずに厚み検出部で検出し
た板端部の板Ｊψ４イ菖号を圧延制佑１用仏号として１
史用できる放射線厚み？１１ＩＩ定装訃、を提（ＩＩ、
することにある９ 〔発明の研１−９：〕 すなわち、本発明Ｑ」１、Ｆ７み検１Ｆ口部の外に、被
ｎ（１１定物の端ｈ１〜の有無を検知する板端検知部を
設り、この４１・Ｊ、端検知部によって切欠き部を速や
かに検知して厚み検出部で検出した板厚１６号を保３’
＝ｒ して出力させ、被測定物の切欠きｉ４．ｔ（が通
溝した後に前記板厚信号の保持をＩＷ除するよつに構成
した圧延制御等に使用する放射線厚み測定装置である。
もので、神測定物の幅方向９１Ｍ部に切欠き部が存在し
ている場合でもそれに影袢宴れずに厚み検出部で検出し
た板端部の板Ｊψ４イ菖号を圧延制佑１用仏号として１
史用できる放射線厚み？１１ＩＩ定装訃、を提（ＩＩ、
することにある９ 〔発明の研１−９：〕 すなわち、本発明Ｑ」１、Ｆ７み検１Ｆ口部の外に、被
ｎ（１１定物の端ｈ１〜の有無を検知する板端検知部を
設り、この４１・Ｊ、端検知部によって切欠き部を速や
かに検知して厚み検出部で検出した板厚１６号を保３’
＝ｒ して出力させ、被測定物の切欠きｉ４．ｔ（が通
溝した後に前記板厚信号の保持をＩＷ除するよつに構成
した圧延制御等に使用する放射線厚み測定装置である。
次に、本発明の一実流Ｉ！／１１について第４図ないし
第６図を°参照して説ψＪする。なお、２１も４図は厚
み検出部および板端検知部の配置１表ｊ係を示し、第５
図はＪＶみ検出部および板端検知部における被測定物の
測定ラインを示し、孔６図Ｑよ装い′全体の描ｌルを示
す図である。即ち、この装置Ｌ（ｆ；１被測定物１０の
幅方向端部をその目的に応じて検出する検出系２０と、
この検出系２０から出力された信号を処理するイ、４号
処理系３０とからなる。この検出系２０は、第４図に示
すように例えばＣフレーム２１の下部枠２１ｈの端部側
から胴部側方向に距離Ｌ２を隔−仁で放射線源２２と光
源２３とを配置し、一方、Ｃフレーム２）の上部枠２１
ｂには放射線源２２および光源２３に対応させて放射ｉ
！−＋＞４を検出する例えば電離箱等の放射線検出器２
４およＯ−光の崩無から被６１１１定物１０の端部有無
を検知する板端検知器２５がそれぞれ配置されている。
第６図を°参照して説ψＪする。なお、２１も４図は厚
み検出部および板端検知部の配置１表ｊ係を示し、第５
図はＪＶみ検出部および板端検知部における被測定物の
測定ラインを示し、孔６図Ｑよ装い′全体の描ｌルを示
す図である。即ち、この装置Ｌ（ｆ；１被測定物１０の
幅方向端部をその目的に応じて検出する検出系２０と、
この検出系２０から出力された信号を処理するイ、４号
処理系３０とからなる。この検出系２０は、第４図に示
すように例えばＣフレーム２１の下部枠２１ｈの端部側
から胴部側方向に距離Ｌ２を隔−仁で放射線源２２と光
源２３とを配置し、一方、Ｃフレーム２）の上部枠２１
ｂには放射線源２２および光源２３に対応させて放射ｉ
！−＋＞４を検出する例えば電離箱等の放射線検出器２
４およＯ−光の崩無から被６１１１定物１０の端部有無
を検知する板端検知器２５がそれぞれ配置されている。
この板端検知器２５は被測＞１物１０の端部幅方向に例
えば複数のフォト・ダイオードを配列したりニアアレイ
センサ等を使用する。なお、前記厚み検出部は放射ａ諒
２２と放射線検出器２４とをもって構成され、また板端
検知部は光源２３と板端検知器２５とをもって構成され
る。
えば複数のフォト・ダイオードを配列したりニアアレイ
センサ等を使用する。なお、前記厚み検出部は放射ａ諒
２２と放射線検出器２４とをもって構成され、また板端
検知部は光源２３と板端検知器２５とをもって構成され
る。
従って、厚み検出部および板端検知部を以上のような配
置角構成とし、かつ板端検知器２５を構成するリニアア
レイセンサのある位置の素子を特定すれは（後述する判
定レベル）、第５図に示すように厚み検出部は板厚測定
ラインＬＪ上の板厚を測定でき、板端検知部は板端有無
測定ラインＬ３上での板端有無を検知することが用油と
なる。よって、被測定物１０の板端部に切欠き部１１が
存在している場合、時間的には板端検知部でａ点を検知
した後、犀み検出部がｂ点に遅することになる。０点、
ｄ点の到達時間は上記とは全く逆となる。
置角構成とし、かつ板端検知器２５を構成するリニアア
レイセンサのある位置の素子を特定すれは（後述する判
定レベル）、第５図に示すように厚み検出部は板厚測定
ラインＬＪ上の板厚を測定でき、板端検知部は板端有無
測定ラインＬ３上での板端有無を検知することが用油と
なる。よって、被測定物１０の板端部に切欠き部１１が
存在している場合、時間的には板端検知部でａ点を検知
した後、犀み検出部がｂ点に遅することになる。０点、
ｄ点の到達時間は上記とは全く逆となる。
次に、信号処理系３０は、放射線検出器２４で検出した
板厚検出信号と予め定めた板端の板厚測定ラインＬｌ上
に相応する板厚設定信号との偏圧をもって板厚信号とし
て出力する信号処理部３ノと、この信号処理部３ノの板
厚信号を記憶して出力する記憶出力部３２と、切欠き部
１１の大きさく深さ）に対応した判定レベルを設定する
設定回路３３と、板端検知部２５からの出力レベルが判
定レベルを越えたとき記憶出力部３２に記憶保持信号を
与え、前記出力レベルが判定レベル以下になったとき記
憶出力部３２に記憶保持を解除する４３号を与える比較
回路３４とを備えている。３５はｈ？報部であって、こ
れは比較回路３４から記憶保持信号を受けた後、所定時
間内にその記憶保持の解除がないときに警報信号ＡＬを
出力するイ幾能をもっている。
板厚検出信号と予め定めた板端の板厚測定ラインＬｌ上
に相応する板厚設定信号との偏圧をもって板厚信号とし
て出力する信号処理部３ノと、この信号処理部３ノの板
厚信号を記憶して出力する記憶出力部３２と、切欠き部
１１の大きさく深さ）に対応した判定レベルを設定する
設定回路３３と、板端検知部２５からの出力レベルが判
定レベルを越えたとき記憶出力部３２に記憶保持信号を
与え、前記出力レベルが判定レベル以下になったとき記
憶出力部３２に記憶保持を解除する４３号を与える比較
回路３４とを備えている。３５はｈ？報部であって、こ
れは比較回路３４から記憶保持信号を受けた後、所定時
間内にその記憶保持の解除がないときに警報信号ＡＬを
出力するイ幾能をもっている。
次に、以上のように構成された放射線厚み測定装置の作
用を説明する。先ず、最初に信号処理部３１に板端部の
板厚測定ラインＬ１にヌ１」応した板厚設定レベルを設
足し、また設定回路３３に切欠き部１ノの大きさに対応
した判定レベルを設定する。この状態において被測定物
１０が、第４図および第５図のような位置関係で］）積
込され、かつ、被測ボ物１０の幅方向端部に切欠き部１
ノが無い場合には、放射線諒２２から放射された放射線
１−１．被測定物１０を透過して放射線検出器２４に入
射される。放射線検出器２４１よ、その人射放射線幇を
１↓Ｌ気信号に変換して信号処理部３１に送出する。こ
の信号処理部３１では、放射線検出器２４からの信号と
予め足めた板１ｖ設′ＡｒＸ信号と盆比戦し、第７図に
示すようにその偏差に応じた信号Ｓｌを出力する。
用を説明する。先ず、最初に信号処理部３１に板端部の
板厚測定ラインＬ１にヌ１」応した板厚設定レベルを設
足し、また設定回路３３に切欠き部１ノの大きさに対応
した判定レベルを設定する。この状態において被測定物
１０が、第４図および第５図のような位置関係で］）積
込され、かつ、被測ボ物１０の幅方向端部に切欠き部１
ノが無い場合には、放射線諒２２から放射された放射線
１−１．被測定物１０を透過して放射線検出器２４に入
射される。放射線検出器２４１よ、その人射放射線幇を
１↓Ｌ気信号に変換して信号処理部３１に送出する。こ
の信号処理部３１では、放射線検出器２４からの信号と
予め足めた板１ｖ設′ＡｒＸ信号と盆比戦し、第７図に
示すようにその偏差に応じた信号Ｓｌを出力する。
この信号Ｓ、は記１．は出プ月ｉｌ（３２を介して板厚
４６号Ｓ３として外部へ出力する。このとき、板端検知
器２５のリニアアレイセンサは信号処理部、？ ｌ ５
１は別の走査回路（図示せず）によって順次走査されて
いるが、被測定物１０に切欠き部１ノが存在しない場合
には、板端検知器２５のリニアアレイセンサからは第７
図Ｓ２に示すローレペルイ呂号Ｓ２ａが出力される。
４６号Ｓ３として外部へ出力する。このとき、板端検知
器２５のリニアアレイセンサは信号処理部、？ ｌ ５
１は別の走査回路（図示せず）によって順次走査されて
いるが、被測定物１０に切欠き部１ノが存在しない場合
には、板端検知器２５のリニアアレイセンサからは第７
図Ｓ２に示すローレペルイ呂号Ｓ２ａが出力される。
引き続き被測定物１０が搬送され、検出系２０に被測定
物１０の切欠き部１ノが到達すると、板端検知器２５の
出力は、第７図Ｓ２に示すように切欠き部１ノ形状に合
牧した出力（ｇ号ｓ２ｂを出力する。この信号ｓｚｂを
受けだ比較回路３４は、設定回路３３の判定レベルｖＬ
と比較し、そのレベルＶＬ ’ｒ、越えた点、すなわち
ａ点時点の放射線検出器２４の出力Ｓｅａを保持させる
ための信号を記憶用７１郁３２に送る。この結果、記憶
出力部３２ （ｄ ａ点時点の信号であるｉ７図８３に
示す信号Ｓ３ｂを保持するとともに、その保持信号Ｓ３
ｂを出力する。さらに、被７１１１１定物１０が搬送さ
れると、放射線検出器２４にはｂ点を経過した時点で放
射線源２２からの放射線が減衰されることなくそのま捷
入射される。このため放射線検出器２４からは極端にレ
ベルの高い第７図８１に示す信号ｓｌｂが出力され、信
号処理部３１からの偏差信号も大きくなるが、既に記憶
出力部３２はａ点時点の偏差信号を保持して出力してい
るので、切欠部１１の影響を受けた例えば第７図８３に
示すＳ３ｂ′のような信号を出力するようなことはない
。
物１０の切欠き部１ノが到達すると、板端検知器２５の
出力は、第７図Ｓ２に示すように切欠き部１ノ形状に合
牧した出力（ｇ号ｓ２ｂを出力する。この信号ｓｚｂを
受けだ比較回路３４は、設定回路３３の判定レベルｖＬ
と比較し、そのレベルＶＬ ’ｒ、越えた点、すなわち
ａ点時点の放射線検出器２４の出力Ｓｅａを保持させる
ための信号を記憶用７１郁３２に送る。この結果、記憶
出力部３２ （ｄ ａ点時点の信号であるｉ７図８３に
示す信号Ｓ３ｂを保持するとともに、その保持信号Ｓ３
ｂを出力する。さらに、被７１１１１定物１０が搬送さ
れると、放射線検出器２４にはｂ点を経過した時点で放
射線源２２からの放射線が減衰されることなくそのま捷
入射される。このため放射線検出器２４からは極端にレ
ベルの高い第７図８１に示す信号ｓｌｂが出力され、信
号処理部３１からの偏差信号も大きくなるが、既に記憶
出力部３２はａ点時点の偏差信号を保持して出力してい
るので、切欠部１１の影響を受けた例えば第７図８３に
示すＳ３ｂ′のような信号を出力するようなことはない
。
さらに、被測定物１０が搬送されると、放射紳検出器２
４が０点経過を検出して切欠き無しｄは、比較回路３４
で検出きれ、その信号は記１、Ｇ４保持を解除する信号
として記憶出方部３２へ送られる。この精巣、ｄＬｉ債
出カ部３２からは、被測定物１０に切欠き部１ノが存在
している場合でも極端Ｏζレベル変化をもった信号ｓ
３ ｂ’ を出力することなくその被測定物ノ。の板厚
に近似したイｄ号Ｓｓｂを連続的に出方することができ
る。
４が０点経過を検出して切欠き無しｄは、比較回路３４
で検出きれ、その信号は記１、Ｇ４保持を解除する信号
として記憶出方部３２へ送られる。この精巣、ｄＬｉ債
出カ部３２からは、被測定物１０に切欠き部１ノが存在
している場合でも極端Ｏζレベル変化をもった信号ｓ
３ ｂ’ を出力することなくその被測定物ノ。の板厚
に近似したイｄ号Ｓｓｂを連続的に出方することができ
る。
また、被測定物１ｏの切欠き部１ノの深さの相違によシ
、切欠き部１ノが板端有無測定ラインＬ３を通ノ局する
が、板厚測定ラインＬ７ｆ６：通過しない場合がある。
、切欠き部１ノが板端有無測定ラインＬ３を通ノ局する
が、板厚測定ラインＬ７ｆ６：通過しない場合がある。
この場合、放射線検出器２４から第８図Ｓｌのような板
厚検出信号が出力され、一方、板端検知器２５のリニア
アレイセンサをダイナミックにスキャンすることにより
、同センサから第８図８２のような信号が出力される。
厚検出信号が出力され、一方、板端検知器２５のリニア
アレイセンサをダイナミックにスキャンすることにより
、同センサから第８図８２のような信号が出力される。
このため、比較回路３４はセンサ出力Ｓ２と設定回路３
３の判定レベル■Ｌとを比軟し２記憶保持のための信号
を記１．け出力部３２に与える。従って、Ａｊ： １．
＃出力部３２からは第８しＩＳ３に示す信号ｓ３ｂが出
力されるが、この記ｆ、Ｑ保持のないときの４３号Ｓ３
ｂ′とそれほど差がなく、圧線制御上問題がない。
３の判定レベル■Ｌとを比軟し２記憶保持のための信号
を記１．け出力部３２に与える。従って、Ａｊ： １．
＃出力部３２からは第８しＩＳ３に示す信号ｓ３ｂが出
力されるが、この記ｆ、Ｑ保持のないときの４３号Ｓ３
ｂ′とそれほど差がなく、圧線制御上問題がない。
なお、上記実施例では、板端検知部は板厚検出部と一体
にＣフレーム２ノに設けたが、例えは設ＦＳ場所や検出
系本体の小形化を図る観点からＣフレーム２ノ以外の適
宜な部拐或いに１、場所に設けてもよい。また、放射線
源２２、光源２ 、？ Ｉｉ上部枠２１ｂに、放射線検
出器２４、板端検知器２５は下部枠、？ ７ ａ Ｋ
ＪＩＭ Ｎけてもよい。
にＣフレーム２ノに設けたが、例えは設ＦＳ場所や検出
系本体の小形化を図る観点からＣフレーム２ノ以外の適
宜な部拐或いに１、場所に設けてもよい。また、放射線
源２２、光源２ 、？ Ｉｉ上部枠２１ｂに、放射線検
出器２４、板端検知器２５は下部枠、？ ７ ａ Ｋ
ＪＩＭ Ｎけてもよい。
さらに、板端検知部は板厚検出部の」二流側と下流側と
に離して２つ設ければ、信号処理系３０の動作特性が極
端に遅くても本装置の目的を確実に達ｌＪ′ｙ、できる
。まだ、−１憶出力都３２に遅延回路を設け、比較回路
３４の出力の立下り時点より所定時間遅らせて記憶保持
を解除するようにしてもよい。また、板端部の板厚δｌ
ｌｌ 定ラインＬ１を固定することなく、Ｃフレーム２
１等に、駆動装置を装備して板端検知器２５の出力に応
じてＣフレーム２１等を被？１１１１定物１ｏの幅方向
に移動させる構成とすることもできる。このようにすれ
ば、例えば緩かな切欠き変化に対しては常に板端から一
定の距離に追随して板厚を測定でき、急峻な切欠き変化
に対してのみ本装置の信号処理によって解決することが
できる。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で
毬イ１１１変形して実施できる。
に離して２つ設ければ、信号処理系３０の動作特性が極
端に遅くても本装置の目的を確実に達ｌＪ′ｙ、できる
。まだ、−１憶出力都３２に遅延回路を設け、比較回路
３４の出力の立下り時点より所定時間遅らせて記憶保持
を解除するようにしてもよい。また、板端部の板厚δｌ
ｌｌ 定ラインＬ１を固定することなく、Ｃフレーム２
１等に、駆動装置を装備して板端検知器２５の出力に応
じてＣフレーム２１等を被？１１１１定物１ｏの幅方向
に移動させる構成とすることもできる。このようにすれ
ば、例えば緩かな切欠き変化に対しては常に板端から一
定の距離に追随して板厚を測定でき、急峻な切欠き変化
に対してのみ本装置の信号処理によって解決することが
できる。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で
毬イ１１１変形して実施できる。
以上詳記したように本発明によれば、被測定物の端部板
厚を検出する厚み検出部よりも更に被測定部幅方向端部
側に板端検知部を設け、この板端検知部で板端無しを検
出後直ちに厚み検出＝ｌＳの出力を保持して出力し、板
端有シの検出で保持状態を解除するようにしたので、被
測定物の幅方向端部に切欠き部が存在してもそれに影響
されずに圧延制御に使用できる信号を確実に得ることが
できる放射線厚み測定装置を提供できる。
厚を検出する厚み検出部よりも更に被測定部幅方向端部
側に板端検知部を設け、この板端検知部で板端無しを検
出後直ちに厚み検出＝ｌＳの出力を保持して出力し、板
端有シの検出で保持状態を解除するようにしたので、被
測定物の幅方向端部に切欠き部が存在してもそれに影響
されずに圧延制御に使用できる信号を確実に得ることが
できる放射線厚み測定装置を提供できる。
第１図は従来装置の一例を示す図、第２図および第３図
は従来装置の他の例を示す図、第４図ないし第６図は本
発明に係る放射線厚み測定装置の一実施例を説明するた
めに示しだもので、第４図は板厚および板端の検出系を
示す正面図、第５図は検出系による測定ラインを説明す
る上面図、第６図は装置全体の構成を示すブロック図、
第７図および第８図はそれぞれ本発明製筒の動作を説明
するタイムチャートである。 １０・・・被測定物、１ノ・・・切欠き部、２０・・・
検出系、２２・・・放射脚源、２３・・・光源、２４・
・・放射線検出器、２５・・・板端検出器、３０・・・
信号処理系、３１・・・信号処理部、３２・・・記憶出
力部、３３・・・設定回路、３４・・・比較回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 ム 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図
は従来装置の他の例を示す図、第４図ないし第６図は本
発明に係る放射線厚み測定装置の一実施例を説明するた
めに示しだもので、第４図は板厚および板端の検出系を
示す正面図、第５図は検出系による測定ラインを説明す
る上面図、第６図は装置全体の構成を示すブロック図、
第７図および第８図はそれぞれ本発明製筒の動作を説明
するタイムチャートである。 １０・・・被測定物、１ノ・・・切欠き部、２０・・・
検出系、２２・・・放射脚源、２３・・・光源、２４・
・・放射線検出器、２５・・・板端検出器、３０・・・
信号処理系、３１・・・信号処理部、３２・・・記憶出
力部、３３・・・設定回路、３４・・・比較回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 ム 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）長手方向に搬送される被測定物と、仁の被測定物
上に放射線を照射する放射線発生器及びこの放射ｍ、発
生器に前記被測定物の所定部分が通過する位置を挾んで
対向配置される放射線検出器からなる厚み検出部と、こ
の厚み検出部の位置より前記被測定物のその位置に近い
幅方向端部側の被測定物の有無を検知する検知部と、こ
の検知部の被測定物無の信号を受は前記放射線検出器か
らのそのときの信号を保持しその信号を出力するととも
に前記検知部の級測定物有の信号を受けて信号の保持を
解除する記憶出力部とを具備したことを特徴とする放射
線厚み測定装置。 （２） 検知部を、判別レベルを基準として破６１１１
足物有無の信号を記憶出力部に供給するように構成した
ことを特徴とする特許請求の範囲第】項記載の放射線厚
み測定装置。 （３ン 検分１１ｔｌｉを、厚み検出部と一体に構成
したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の放射
線厚み測定装置。 （４）検知部を、厚み検出部と別体に構成したことをｑ
！ｊ＊とする特許請求の範囲第１項６己載の放射線厚み
測定装置。 （５）検知部を、厚み検出部の被測定物搬送方向上流側
及び下＃１偶にそれぞれ配置したこ七を特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の放射線厚み測定装Ｔｉ′。 （６）記憶出力部を、検知部の被測定物有の信号を受は
放射線検出器の保持信号を解除する際、その解除時間を
一定時間遅延させるための遅延回路を有することを特徴
とする特許請求の範囲第１項６己載の放射線厚み測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14445682A JPS5934106A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線厚み測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14445682A JPS5934106A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線厚み測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5934106A true JPS5934106A (ja) | 1984-02-24 |
| JPH0125005B2 JPH0125005B2 (ja) | 1989-05-16 |
Family
ID=15362668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14445682A Granted JPS5934106A (ja) | 1982-08-20 | 1982-08-20 | 放射線厚み測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5934106A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4934350A (ja) * | 1972-07-28 | 1974-03-29 |
-
1982
- 1982-08-20 JP JP14445682A patent/JPS5934106A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4934350A (ja) * | 1972-07-28 | 1974-03-29 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0125005B2 (ja) | 1989-05-16 |
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