JPH01251171A - テストデータ編集装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 論理シミュレーション用のテストデータを編集する装置
であって、少なくとも集積回路の外部端子用ピンのデー
タと該ピンに対応のテストデータを入力し得る手段と、
該データ入力手段からの各データを表示するための手段
とを具備し、該表示手段に対しピンのデータを表示させ
る際に該ピンに対応のテストデータを波形表示の形態で
グラフィック表示させることにより、テストデータ編集
の効率化を図り、テストデータの容易な入力チエツク、
および入力ミスの極少化を可能とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、テストデータ編集装置に関し、より詳細には
ＣＡＤ　（コンピュータ支援設計）システムを用いてゲ
ートアレイ、スタンダードセル等の論理ＩＣ（集積回路
）または論理ＬＳＩ（大規模集積回路）を設計する際に
、該論理ＩＣまたは論理ＬＳＩの外部端子用ピンを指定
して該ピンに対応するテストパターンのデータを入力し
、論理シミュレーション用のテストデータを編集する機
能を備えた装置に関する。

〔従来の技術、および発明が解決しようとする課題〕

ＣＡＤシステムを用いて論理シミュレーション用のテス
トデータの編集を行う場合、通常用いられている手順と
しては、まずオペレータがキーボードよりＩＣまたはＬ
ＳＩの外部端子用ビンを指示するデータを入力し、それ
に続いて該ピンに対応するテストパターンのデータを入
力する。ピンのデータは、外部端子名、例えばＶＣＣ（
電源）、ＣＬＫ　（クロック）、Ｄ（データ）、Ｂ（バ
ス）等、とその属性、すなわち■　（信号入力用）か０
（信号出力用）かの指定、との組合せにより規定される
。一方、テストパターンデータは、信号入力用の属性を
有するピンについては実際に入力される信号のデータが
入力され、信号出力用の属性を有するピンについては出
力されるべき期待値のデータが入力され、タイミングデ
ータとパターンデータの組合せにより規定される。この
ように所定の規定に基づき記述されたテストデータは「
テキスト」と呼ばれ、テキスト方式を採用している。

このテキスト方式に基づいてキーボードより入力された
各データは、ＣＲＴ　（陰極線管）表示器にそのままの
状態で、すなわちキー入力時の言語形態の状態で表示さ
れる。

第５図には従来形の一例としてのテストデータの表示例
が示され、第６図には第５図の表示内容を表わす波形が
示される。第５図においてＤＳＰは表示画面を表わし、
ＶＣＣ，ＢＯ，Ｂ１．・・・。

ＤＯ，Ｄｌ、・・・、は外部端子名を、■および０は属
性を、Ｌ５．Ｈ２，Ｌｌ、・・・、はテストパターンデ
ータを、それぞれ示す。例えば、双方向信号用の端子Ｂ
ｌ　　（信号出力モード時）に対応するデータは、５０
　（ｎＳ）の時点まではロー（Ｌ）レベルで、その時点
で立上り、７０　（Ｏ８）の時点までノ＼イ（Ｈ）レベ
ルを保ち、その時点で立下り、以降同様に変化し、最後
は１４０　（ｎｓ）の時点で立下るといった変化をする
信号を表わしている。

第５図に示される一表示例からも明らかなように従来の
テストデータ編集の形態によれば、外部ピンに対応のテ
ストデータが言語の形態で表示されるようになっている
ため、第５図に示される表示内容が第６図に示される波
形を表わすものであることを即座にかつ正確に認識する
ことは難しく、従って、いったん表示させたテストデー
タを後でオペレータが入力チエツクする際にはその作業
が極めて煩雑なものとなり、場合によってはオペレータ
の入力ミスをひき起こす場合もあり、強いてはテストデ
ータ編集の効率が全体的に低下するという問題があった
。

本発明は、上述した従来技術における課題に鑑み創作さ
れたもので、テストデータ編集の効率化を図ると共に、
オペレータの入力ミスを極少にし、テストデータの容易
な入力チエツクを可能にするテストデータ編集装置を提
供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

第１図には本発明によるテストデータ編集装置の原理ブ
ロック図が示されている。

第１図において１はデータ入力手段であって、集積回路
の外部端子用ビンを指示するデータＰＮｉ、該ピンの属
性を指示するデータＰＡｉ　および該ピンに対応する論
理シミュレーション用のテストデータＴＤｉを入力する
ためのものである。２はデータ入力手段から入力された
各データを表示するための表示手段を示す。

３は表示制御手段であって、表示手段２に対し、データ
入力手ｌｉｔから入力されたピンのデータＰＮｉおよび
属性のデータＰＡｉを表示させると共に、該ピンに対応
のテストデータＴＤｉを波形表示の形態でグラフィック
表示させる機能を有している。

従って、本発明の装置は全体として、入力されたテスト
データについてはグラフィック表示され：るように構成
されている。

〔作　用〕

データ入力手段１からピンのデータＰＮｉ　、属性のデ
ータＰＡｉおよびテストデータＴＤｉが入力されると、
表示制御手段３により表示手段２に、データＰＮｉおよ
びＰＡｉが通常表示され、テストデータＴＤｉ　は波形
の形態でグラフィック表示される。

これによって本発明の装置は、オペレータによるデータ
の認識度を向上させ、入力ミスの極少化、およびテスト
データの容易な入力チエツクを可能とし、強いてはテス
トデータ編集の効率化を可能とするものである。

〔実施例〕

第２図には本発明の一実施例としてのテストデータ編集
装置が適用される概略的なＣＡＤシステムの構成が示さ
れる。同図において２０はデータバス、制御バス等から
なるシステムバスであり、このバス２０を介してキーボ
ード２１、表示器２２、メモリ２３、ＭＰＵ（マイクロ
プロセッサユニット）２４およびマウス２５が互いに接
続されている。

キーボード２１は、テンキー、アルファベット等の通常
のキーの他に、表示器２２の画面に表示されているデー
タの変更（ｃｈａｎｇｅ）、削除（ｄｅｌｔｅ）、挿入
（ｉｎｓｅｒｔ）、移動（ｍｏｖｅ）等を行うためのフ
ァンクションキーを備えている。このキーボード２１は
、ＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ビンを指示するデータ
とこのピンに対応するテストパターンのデータとを入力
するためのものであり、第１図に示されるデータ入力手
段１に相当する。ピンを指示するデータは、ピン名、例
えばＶＣＣ（電源）、ＣＬＫ　（クロック）、Ｄ（デー
タ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すなわち■　（信号
入力用）か０（信号出力用）かの指定、との組合せによ
り規定され、゛実際の入力操作に際してはテンキーおよ
びアルファベットキーの操作によりデータが入力される
。一方、テストパターンデータについては、方向キーを
用いてタイミングを設定し、テンキーおよびアルファベ
ットキーを用いてテストパターンデータの入力が行われ
るようになっている。例えば、信号入力用のデータとし
て、２０　（ｎＳ）の時点で正のパルスデータを入力す
る場合には、まず右向きの方向キーを２回操作し、それ
から「ｌ」のキーを操作すればよい。

表示器２２は、キーボード２１より入力された各データ
を表示するためのもので、ピンを指示するデータ、すな
わちピン名とその属性については通常の表示を行い、テ
ストパターンデータについては波形表示の形態でグラフ
ィック表示を行う。

この場合、信号出力用の属性をもつピンのテストデータ
については、波形表示と共に、キー入力時の言語形態の
状態、すなわちｒ）（Ｊまたは「Ｌ」、が表示される。

表示器２２は、第１図に示される表示手段２に相当する
。メモリ２３は、ＭＰＵ　２４が行う処理を表わすプロ
グラムの他に、キーボード２１より入力された各データ
を記憶するためのものである。

ＭＰＩＩ　２４は、メモリ２３に記憶されているプログ
ラムに基づき所定の処理を実行し、その主な機能として
は、キーボード２１より入力された各データをメモリ２
３に一時格納すると共に、表示器２２に対し、ピン名と
その属性については通常の表示を行わせ、テストパター
ンデータについては波形表示の形態でグラフィック表示
させる。この場合、ＭＰＵ　２４は、信号出力用の属性
をもつピンのテストデータについては、波形表示と共に
、キー入力時の言語形態の状態（ｒＨ」または「Ｌ」〉
も表示させる。従って、オペレータは表示器２２の画面
上でｒ）（Ｊまたは５「Ｌ」の文字が表示されているか
否かに応じて、それぞれ信号出力用のピンであるか、あ
るいは信号入力用のピンであるかを容易に、即座に、か
つ正確に認識することができる。

また、ＭＰＵ　２４は、誤まった入力操作がなされた場
合、例えばピンの属性がＩ　（信号入力用）のテストデ
ータとしてｒ　ＨＪまたは「Ｌ」のキー入力が行われた
場合、あるいは逆にピンの属性が０（信号出力用）のテ
ストデータとして「ｌ」または「０」のキー入力が行わ
れた場合には、表示器２２に対し、該入力データのグラ
フィック表示を行わないように制御する機能を有してい
る。従って、オペレータは表示器２２の画面上でデータ
のグラフィック表示が行われないことを認知した時点で
、入力操作の過ちに気付くことができる。このＭＰＵ　
２４は、第１図に示される表示制御手段３に相当する。

マウス２５は、手動操作に基づいて表示器２２の画面上
で図形等を作成する場合に用いられる。

第３図には第２図装置によるテストデータ編集を説明す
るためのフローチャートが示される。

まず、ステップ３０１では編集するテストデータ名が定
義され、ステップ３０２ではＩＣまたはＬＳＩがピン数
Ｎの設定と変数１の初期設定が行われる。次のステップ
３０３においては、ＶＣＣ，ＣＬに、Ｄ、Ｂ等のピン２
１名と、信号入力用（Ｉ）または信号出力用（０）を指
示する属性とが定義される。ステップ３０１〜３０３は
、キーボード２１からの入力操作により実行される。な
お、ビンＰｉ名に付与される変数１は、ピンの配列順序
に従うめではなく、オペレータが定義するピンのデータ
入力順に従う。次のステップ３０４では、キーボード２
１より入力されたテストデータ名、ビン塩およびその属
性が表示器２２に表示される。

ステップ３０５ではテストデータＴＤｉ（この場合には
ＴＤ、）の入力操作がキーボード２１を介して行われる
。実際の入力操作においては、まず方向キー、通常は右
向きの方向キー、を用いてカーソルを画面上で移動させ
ることによりタイミングデータを設定し、つづいてアル
ファベットキーまたはテンキーを用いてパターンデータ
を入力する。このパターンデータは、Ｉ　（信号入力用
）の属性を有するピンについては「ｌ」または「０」で
あり、０（信号出力用）の属性を有するピンについては
ｒＨ４またはｒｌＪである。次のステップ３０６では、
入力されたデータＴＤｉがピンＰｉの属性に対応した正
しいデータ（ＹＢＳ）か否（ＮＯ）かの判定がＭＰＵ　
２４により行われ、判定がＹＥＳの場合にはステップ３
０７に進み、ＮＯの場合にはステップ３０８に進む。例
えば、ステップ３０３においてピンＰ１の属性として「
■」を入力したにもかかわらず、ステップ３０５におい
て誤まって「Ｈ」または「Ｌ」のテストデータを入力し
た場合には、ステップ３０８に進み、そこでテストデー
タＴＤｉの再入力を行い、その後ステップ３０６に戻る
。

ステップ３０７では入力された正しいデータＴＤｉに対
応のピンＰｉの属性が■　（信号入力用）か０（信号出
力用）かの判定がＭＰＵ　２４により行われ、判定がｒ
ｌＪの場合にはステップ３０９に進み、そこでテストデ
ータＴＤｉ　のグラフィック表示、すなわち波形表示が
行われる。一方、ステップ３０７において判定が「０」
の場合にはステップ３１０に進み、そこでテストデータ
ＴＤｉのグラフィック表示と共に、該テストデータの文
字表示が行われる。

従って、オペレータは表示器２２の画面上で自ら入力し
たテストデータを波形の形態で確認することができるの
で、データを直観的に把握することができ、これによっ
て入力ミスが減少すると共に、テストデータの入力チエ
ツクを容易に、かつ正確に行うことができる。

次にステップ３１１では表示器２２の画面に表示されて
いるデータ、すなわちテストデータ名、ピン塩、属性お
よびテストデータ、がメモリ２３に記憶され、ステップ
３１２では論理シミュレーション用のテストデータ作成
が行われる。ステップ３１１および３１２は、ＭＰＵ　
２４により実行される。次のステップ３１３では変数１
の値がピン数Ｎの値と等しい（ＹＥＳ）か否（ＮＯ）か
の判定が行われ、判定がＹＥＳの場合にはフローは終わ
りとなり、判定がＮＯの場合にはステップ３１４に進む
。ステップ３１４ではｉの値の歩進が行われ（この場合
には１＝２）、そしてステップ３０３　に戻る。

第４図には第２図装置の表示器によるテストデータ表示
の一例が示される。図中、８３〜ＢＯは信号入力（Ｉ）
モード時のＢ（バス）端子を表わすピン塩、Ｄ１５〜Ｄ
Ｉ２は信号出力（０）用のＤ（データ）端子を表わすビ
ン塩を、それぞれ示す。

前述したように、各ピンに対応のテストデータが波形の
形態でグラフィック表示されているので、信号の変化が
どのタイミングで生起しているか、あるいは任意の時点
において各信号がどのようなレベル関係にあるかを一目
で把握することができ、また、データの入力タイミング
の誤り等も即座に発見することができる。従って、テス
トデータ編集を効率良く行うことができる。さらに、信
号出力用の属性をもつピン、すなわちＤ１５．Ｄ１４．
・・・、のテストデータについては、波形表示と共に、
キー入力時の言語形態の状態“Ｈ″または“Ｌ”も併せ
て表示されるので、信号入力用のピンのテストデータと
の区別を直観的に、かつ容易に行うことができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、入力されたテスト
データを画面上にグラフィック表示しているので、他の
ピンのテストデータとの間の時間的関係を即座にかつ正
確に認識することができる。

従って、オペレータの入力ミスを極少にし、テストデー
タの容易な入力チエツクを可能にすると共に、テストデ
ータ編集の効率化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるテストデータ編集装置の原理ブロ
ック図、 第２図は本発明の一実施例が適用されるＣＡＤシステム
構成図、 第３図は第２図装置によるテストデータ編集を説明する
ためのフローチャート、 第４図は第２図装置の表示器によるテストデータ表示の
一例を示す図、 第５図は従来形のテストデータ表示の一例を示す図、 第６図は第５図の表示内容を表わす波形図、である。 （符号の説明） １・・・データ入力手段、　　２・・・表示手段、３・
・・表示制御手段、ＰＮｉ・・・ピンのデータ、ＰＡｉ
・・・属性のデータ、　　ＴＤｉ・・・テストデータ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、集積回路の外部端子用ピンを指示するデータ（ＰＮ
   ｉ）、該ピンの属性を指示するデータ（ＰＡｉ）および
   該ピンに対応する論理シミユレーション用のテストデー
   タ（ＴＤｉ）を入力するための手段（１）と、 該データ入力手段から入力された各データを表示するた
   めの手段（２）と、 該表示手段に対し、該データ入力手段から入力されたピ
   ンのデータ（ＰＮｉ）および属性のデータ（ＰＡｉ）を
   表示させると共に、該ピンに対応のテストデータ（ＴＤ
   ｉ）を波形表示の形態でグラフィック表示させる表示制
   御手段（３）と、を備えてなるテストデータ編集装置。 ２、前記表示制御手段（３）は、前記ピンの属性のデー
   タ（ＰＡｉ）が信号出力用のピンであることを指示して
   いる場合に、前記表示手段に対し該ピンに対応のテスト
   データ（ＴＤｉ）を波形表示と共に文字表示するよう制
   御する、請求項１記載の装置。