JPH01251173A

JPH01251173A - テストデータ編集装置

Info

Publication number: JPH01251173A
Application number: JP63076407A
Authority: JP
Inventors: Yumiko Sato; 由美子佐藤; Hideki Iwamura; 岩村　英樹
Original assignee: Fujitsu VLSI Ltd; Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu VLSI Ltd; Fujitsu Ltd
Priority date: 1988-03-31
Filing date: 1988-03-31
Publication date: 1989-10-06
Anticipated expiration: 2011-03-21
Also published as: JPH0827808B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概　要〕論理シミュレーション用のテストデータを編集する装置
であって、集積回路の外部端子用ピンに対応のテストデ
ータをグラフィック表示させる手段を具備し、任意のピ
ンに対応のテストデータの定義が終了した時に該テスト
データの未定義領域をライン表示させることにより、各
ピン毎に定義したパターン数の把握を容易にし、効率の
良いテストデータ編集を可能とする。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、テストデータ編集装置に関し、より詳細には
ＣＡＤ　（コンピュータ支援設計）システムを用いてゲ
ートアレイ、スタンダードセル等の論理ＩＣ（集積回路
）または論理ＬＳＩ（大規模集積回路）を設計する際に
、該論理ＩＣまたは論理ＬＳＩの外部端子用ピンを指定
して該ピンに対応するテストパターンのデータを入力し
、論理シミュレーション用のテストデータを編集する機
能を備えた装置に関する。

〔従来の技術、および発明が解決しようとする課題〕

ＣＡＤシステムを用いて論理シミュレーション用のテス
トデータの編集を行う場合、通常用いられている手順と
しては、まずオペレータがキーボードよりＩＣまたはＬ
ＳＩの外部端子用ピンを指示するデータを入力し、それ
に続いて該ピンに対応するテストパターンのデータを入
力する。ピンのデータは、外部端子名、例えばＶＣＣ＜
電源）、ＣＬＫ　（クロック）、Ｄ（データ）、Ｂ（バ
ス）等、とその属性、すなわちＩ　（信号入力用）か０
（信号出力用）かの指定、との組合せにより規定される
。一方、テストパターンデータは、信号入力用の属性を
有するピンについては実際に入力される信号のデータが
入力され、信号出力用の属性を有するピンについては出
力されるべき期待値のデータが入力され、タイミングデ
ータとパターンデータの組合せにより規定される。この
ように所定の規定に基づき記述されたテストデータは「
テキスト」と呼ばれているが、このテキスト方式に基づ
いてキーボードより入力された各データは、ＣＲＴ　（
陰極線管）表示器にそのままの状態で、すなわちキー入
力時の言語形態の状態で表示される。

第５図には従来形の一例としてのテストデータの表示例
が示され、第６図には第５図の表示内容を表わす波形が
示される。第５図においてＤＳＰは表示画面を表わし、
ＶＣＣ，ＢＯ，Ｂ１．・・・１ＤＯ，ＤＩ、・・・、は
外部端子名を、■およびＯは属性を、Ｌ５．Ｈ２，Ｌｌ
、・・・、はテストパターンデータを、それぞれ示す。

例えば、双方向信号用の端子Ｂｌ（信号出力モード時）
に対応するデータは、５０（ｎｓ）の時点まではロー（
Ｌ）レベルで、その時点で立上り、７０　（ｎＳ）の時
点までハイ（Ｈ）レベルを保ち、その時点で立下り、以
降同様に変化し、最後は１４０（ｎＳ）の時点で立下る
といった変化をする信号を表わしている。

第５図に示される一表示例からも明らかなように従来の
テストデータ編集の形態によれば、外部ピンに対応のテ
ストデータが言語の形態で表示されるようになっている
ため、第５図に示される表示内容が第６図に示される波
形を表わすものであることを即座にかつ正確に認識する
ことは難しく、従って、いったん表示させたテストデー
タを後でオペレータが入力チエツクする際にはその作業
が極めて煩雑なものとなり、場合によってはオペレータ
の入力ミスをひき起こす場合もあり、強いてはテストデ
ータ編集の効率が全体的に低下するという問題があった
。

また、第５図に示される各ピンのテストデータはすべて
同じ数、すなわち１５個のパターンにより構成されてい
るが、従来の形態によれば各ピンのパターン数を合わせ
たつもりでも、オペレータの計算ミス等により一致しな
い場合があり、各ピン毎の最終パターンを即座にかつ正
確に認識することは極めて困難であった。言い換えると
、各ピン毎に定義したパターン数を容易に把握すること
ができないという問題があった。

本発明は、上述した従来技術における課題に鑑み創作さ
れたもので、オペレータの入力ミスを極少にし、テスト
データの容易な入力チエツク、特に各ピン毎に定義した
パターン数の容易な把握、を可能にすると共に、テスト
データ編集の効率化を図ることができるテストデータ編
集装置を提供することを目的としている。

〔課題を解決するための手段〕

第１図には本発明によるテストデータ編集装置の原理ブ
ロック図が示される。

第１図においてｌはデータ入力手段であって、集積回路
の外部端子用ピンを指示するデータＰＤｉと該ピンに対
応する論理シミュレーション用のテストデータＴＤｉを
入力するためのものである。２はデータ入力手段ｌから
入力された各データを表示するための表示手段を示す。

３は表示制御手段であって、表示手段２に対し、データ
入力手段１から入力されたピンを指示するデータＰＤｉ
を表示させると共に、該ピンに対応のテストデータＴＤ
ｉをグラフィック表示させる機能を有している。

４は未定義領域指示手段であり、指定された任意のピン
に対応するテストデータの定義が終了した時に表示制御
手段３からの指令により表示手段２に対し、該任意のピ
ンに対応するテストデータの未定義領域をライン表示す
るよう指示するためのものである。

〔作　用〕

データ入力手段１からピンのデータＰＤｉおよびテスト
データＴＤｉが入力されると、表示制御手段３により表
示手段２に、データＰＤｉが通常表示され、テストデー
タＴＤｉ　はグラフィック表示される。

この場合、指定された任意のピンに対応のテストデータ
の定義、すなわちテストデータの入力が終了すると、表
示制御手段３からの指令を受けて未定義領域指示手段４
は、該任意のピンに対応するテストデータの未定義領域
を表示手段２に対してラインの形態で表示させる。

従って、オペレータはライン表示された未定義領域を視
認することにより、任意のピンに対応のテストデータが
どの時点まで定義されているかを即座にかつ容易に把握
することができる。これはテストデータ編集の効率化に
寄与するものであり、さらにはオペレータの入力ミスを
少くするのに役立つ。

〔実施例〕

第２図には本発明の一実施例としてのテストデータ編集
装置が適用される概略的なＣＡＤシステムの構成が示さ
れる。同図において２０はデータバス、制御バス等から
なるシステムバスであり、このバス２０を介してキーボ
ード２１、表示器２２、メモリ２３、ＭＰＵ（マイクロ
プロセッサユニット）　２４およびマウス２５が互いに
接続されている。

キーボード２１は、テンキー、アルファベット等の通常
のキーの他に、表示器２２の画面に表示されているデー
タの変更（ｃｈａｎｇｅ）、削除（ｄｅｌｅｔｅ）、挿
入（ｉｎｓｅｒｔ）、移動（ｍｏｖｅ）等を行うための
ファンクションキーを備えている。このキーボード２１
は、ＩＣまたはＬＳＩの外部端子用ピンを指示するデー
タとこのピンに対応するテストパターンのデータとを入
力するためのものであり、第１図に示されるデータ入力
手段１に相当する。ピンを指示するデータは、ビン塩、
例えばＶＣＣ（電源〉、ＣＬＫ　（クロック）、Ｄ（デ
ータ）、Ｂ（バス）等、とその属性、すなわち■　（信
号入力用）か０（信号出力用）かの指定、との組合せに
より規定され、実際の入力操作に際してはテンキーおよ
びアルファベットキーの操作によりデータが入力される
。一方、テストパターンデータについては、方向キーを
用いてタイミングを設定し、テンキーおよびアルファベ
ットキーを用いてテストパターンデータの入力が行われ
るようになっている。例えば、信号入力用のデータとし
て、２０　（ｎｓ）の時点で正のパルスデータを入力す
る場合には、まず右向きの方向キーを２回操作し、それ
から「１」のキーを操作すればよい。

表示器２２は、キーボード２１より入力された各データ
を表示するためのもので、ピンを指示するデータ、すな
わちピン塩とその属性については通常の表示を行い、テ
ストパターンデータについては波形表示の形態でグラフ
ィック表示を行う。

この場合、信号出力用の属性をもつピンのテストデータ
については、波形表示と共に、キー入力時の言語形態の
状態、すなわちｒＨＪまたは「Ｌ」、が表示される。表
示器２２は、第１図に示される表示手段２に相当する。

メモリ２３は、ＭＰＵ　２４が行う処理を表わすプログ
ラムの他に、キーボード２１より入力された各データを
記憶するためのものである。

ＭＰＵ　２４は、メモリ２３に記憶されているプログラ
ムに基づき所定の処理を実行し、その基本的な機能とし
ては、キーボード２１より入力された各データをメモリ
２３に一時格納すると共に、表示器２２に対し、ピン塩
とその属性については通常の表示を行わせ、テストパタ
ーンデータについては波形表示の形態でグラフィック表
示させる。この場合、ＭＰＩＪ　２４は、信号出力用の
属性をもつピンのテストデータについては、波形表示と
共に、キー入力時の言語形態の状態（「Ｈ」または「Ｌ
」）も表示させる。従って、オペレータは表示器２２の
画面上で「Ｈ」または「Ｌ」の文字が表示されているか
否かに応じて、それぞれ信号出力用のピンであるか、あ
るいは信号入力用のピンであるかを容易に、即座に、か
つ正確に認識することができる。

また、ＭＰ［Ｉ　２４は他の機能として、指定された任
意のピンに対応するテストデータの定義が終了し時に表
示器２２に対し、該任意のピンに対応のテストデータの
未定義領域をライン表示するよう制御する機能を有して
いる。これによって、オペレータは任意のピンに対応の
テストデータがどの時点まで定義されているか、言い換
えると、該ピンに対して定義されたパターン数を容易に
、かつ即座に把握することができる。このＭＰＵ　２４
は、第１図に示される表示制御手段３および未定義領域
指示手段４に相当する。

マウス２５は、手動操作に基づいて表示器２２の画面上
で図形等を作成する場合に用いられる。

第３図には第２図装置によるテストデータ編集を説明す
るためのフローチャートが示される。

まず、ステップ３０１では編集するテストデータ名が定
義され、ステップ３０２ではＩＣまたはＬＳＩのピン数
Ｎの設定と変数１の初期設定が行われる。次のステップ
３０３　においては、ＶＣＣ，ＣＬＫ。

Ｄ、Ｂ等のピンＰｉ名と、信号入力用（１）または信号
出力用（０）を指示する属性とが定義される。ステップ
３０１〜３０３は、キーボード２１からの入力操作によ
り実行される。なお、ピン２１名に付与される変数１は
、ピンの配列順序に従うのではなく、オペレータが定義
するピンのデータ入力順に従う。次のステップ３０４で
は、キーボード２１より入力されたテストデータ名、ピ
ン塩およびその属性が表示器２２に表示される。

ステップ３０５ではテストデータＴＤｉ（この場−合に
はＴＯ，）の入力操作がキーボード２１を介して行われ
る。実際の入力操作においては、まず方向キー、通常は
右向きの方向キー、を用いてカーソルを画面上で移動さ
せることによりタイミングデータを設定し、つづいてア
ルファベットキーまたはテンキーを用いてパターンデー
タを入力する。このパターンデータは、■　（信号入力
用）の属性を有するピンについては「１」または「０」
であり、０（信号出力用）の属性を有するピンについて
は「Ｈ」またはｒｌＪである。次のステップ３０６では
、入力されたテストデータＴＤｉがグラフインク表示さ
れる。この場合、ピンの属性が「０」の時は、前述した
ようにグラフィック表示と共に、該テストデータの文字
表示も行われる。これによって、信号入力用のピンと信
号出力用のピンとの区別を直観的に行うことができる。

ステップ３０７では、指定されたピンＰｉ　　（この場
合にはＰ、）に対して更にテストデータの定義が行われ
た（ＹＥＳ）か否（ＮＯ）かの判定がＭ−ＰＩ２４によ
り行われ、判定がＹＥＳの場合にはステップ３０８に進
み、ＮＯの場合にはステップ３０９に進む。ステップ３
０８では継続表示、すなわちステップ３０６のグラフィ
ック表示が続行され、そしてステップ３０７に戻る。ス
テップ３０９では、ＭＰ［Ｉ　２４からの指令を受けて
表示器２２は、指定されたピンＰ１に対応のテストデー
タＴＯ，の未定義領域、すなわち画面上で既にグラフィ
ック表示された領域のうち最終パターンから後の部分、
をライン表示する。

次のステップ３１０では表示器２２の画面に表示されて
いるデータ、すなわちテストデータ名、ピン塩、属性お
よびテストデータ、がメモリ２３に記憶され、ステップ
３１１では論理シミュレーンヨン用のテストデータ作成
が行われる。ステップ３１０右よび３１１　は、ＭＰｔ
ｌ　２４により実行される。次のステップ３１２では変
数！の値がピン数Ｎの値と等しい（ＹＥＳ）か否（ＮＯ
）かの判定が行われ、判定がＹＥＳの場合にはフローは
終わりとなり、判定がＮＯの場合にはステップ３１３に
進む。ステップ３１３ではｉの値の歩進が行われ（この
場合には１＝２）、そしてステップ３０３に戻る。

第４図には第２図装置の表示器によるテストデータ表示
の一例が示される。同図において、Ｂ３〜ＢＯは信号入
力（１）モード時のＢ（バス）端子を表わすピン名を、
Ｄ１５〜ＤＩ２は信号出力（０）用のＤ（データ）端子
を表わすビン名を、それぞれ示す。また、ＤＳＰは表示
画面を示し、ハツチングで示される部分Ａはテストデー
タの未定義領域を表わし、本実施例装置によればＡの部
分は「紫色」のラインにより表示される。これによって
、オペレータは各ピン毎のテストデータの最終パターン
およびその時点を即座に、容易に、かつ正確に認識する
ことができる。例えば、第４図の例示においてピンＢ２
およびＢ１のパターン数が共に８個で、最終パターンの
時点が一致していることが一目で確言忍できる。

また、テストデータがグラフィック表示されているので
、信号の変化を直観的に把握することができ、これによ
って入力ミスの極少化、およびテストデータの容易な入
力チエツクが可能となる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、オペレータの入力
ミスを極少にし、テストデータの容易な入力チエツク、
特に各ピン毎に定義したパターン数の容易な把握、を可
能にすると共に、テストデータ編集の効率化を図ること
ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるテストデータ編集装置の原理ブロ
ック図、第２図は本発明の一実施例が適用されるＣＡＤシステム
構成図、第３図は第２図装置によるテストデータ編集を説明する
ためのフローチャート、第４図は第２図装置の表示器によるテストデータ表示の
一例を示す図、第５図は従来形のテストデータ表示の一例を示す図、第６図は第５図の表示内容を表わす波形図、である。（符号の説明） ■・・・データ入力手段、　　　２・・・表示手段、３
・・・表示制御手段、４・・・未定義領域指示手段、ＰＯｉ・・・ピンのデータ、　　　ＴＤｉ・・・テスト
データ。

Claims

【特許請求の範囲】集積回路の外部端子用ピンを指示するデータ（ＰＤｉ）
と該ピンに対応する論理シミュレーション用のテストデ
ータ（ＴＤｉ）を入力するための手段（１）と、該データ入力手段から入力された各データを表示するた
めの手段（２）と、該表示手段に対し、該データ入力手段から入力されたピ
ンを指示するデータ（ＰＤｉ）を表示させると共に、該
ピンに対応のテストデータ（ＴＤｉ）をグラフィック表
示させる表示制御手段（３）と、指定された任意のピン
に対応するテストデータの定義が終了した時に該表示制
御手段からの指令により該表示手段に対し、該任意のピ
ンに対応するテストデータの未定義領域をライン表示す
るよう指示する手段（４）と、を備えてなるテストデータ編集装置。