JPH0125334Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0125334Y2 JPH0125334Y2 JP2262481U JP2262481U JPH0125334Y2 JP H0125334 Y2 JPH0125334 Y2 JP H0125334Y2 JP 2262481 U JP2262481 U JP 2262481U JP 2262481 U JP2262481 U JP 2262481U JP H0125334 Y2 JPH0125334 Y2 JP H0125334Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- terminal
- circuit
- variable resistor
- output terminal
- input terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Adjustable Resistors (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は可変抵抗器の検査回路に関する。
従来、第１図に示すような可変抵抗器の電気特
性検査は第２図で示すような回路で検査されてい
た。かかる従来検査回路では、一定電流ｉが遮断
された場合は比較回路C1の一方の入力端子はグ
ランド電圧になるため可変抵抗器が不良であつて
も比較回路C1が不良と判定せず誤判定をする欠
点があつた。
性検査は第２図で示すような回路で検査されてい
た。かかる従来検査回路では、一定電流ｉが遮断
された場合は比較回路C1の一方の入力端子はグ
ランド電圧になるため可変抵抗器が不良であつて
も比較回路C1が不良と判定せず誤判定をする欠
点があつた。
本考案の目的は、このような従来欠点を改良し
た可変抵抗器の検査回路を提供することにある。
た可変抵抗器の検査回路を提供することにある。
本考案によれば可変抵抗器の２番端子と、定電
流源の一方の出力端子と、定電圧源の一方の出力
端子と、基準電圧源の一方の出力端子とをグラン
ドに接地し、可変抵抗器の３番端子を第１の比較
回路の一方の入力端子に接続し、基準電圧源の他
の出力端子を第１の比較回路の他の入力端子に接
続し、可変抵抗器の１番端子と、定電流源の他の
出力端子と、ダイオードの一方の端子とを第２の
比較回路の一方の入力端子に接続し、定電圧源の
他の出力端子と、ダイオードの他の端子とを第２
の比較回路の他の入力端子に接続し、第１の比較
回路の出力端子を論理和回路の一方の入力端子に
接続し、第２の比較回路の出力端子を論理和回路
の他の入力端子に接続し、論理和回路の出力端子
を表示回路の入力端子に接続した回路からなるこ
とを特徴とする可変抵抗器の検査回路が得られ
る。
流源の一方の出力端子と、定電圧源の一方の出力
端子と、基準電圧源の一方の出力端子とをグラン
ドに接地し、可変抵抗器の３番端子を第１の比較
回路の一方の入力端子に接続し、基準電圧源の他
の出力端子を第１の比較回路の他の入力端子に接
続し、可変抵抗器の１番端子と、定電流源の他の
出力端子と、ダイオードの一方の端子とを第２の
比較回路の一方の入力端子に接続し、定電圧源の
他の出力端子と、ダイオードの他の端子とを第２
の比較回路の他の入力端子に接続し、第１の比較
回路の出力端子を論理和回路の一方の入力端子に
接続し、第２の比較回路の出力端子を論理和回路
の他の入力端子に接続し、論理和回路の出力端子
を表示回路の入力端子に接続した回路からなるこ
とを特徴とする可変抵抗器の検査回路が得られ
る。
次に本考案の一実施例を第３図および第４図で
説明する。
説明する。
第３図は、可変抵抗器の電気特性、主として摺
動雑音を検査する回路を示し、同図において可変
抵抗器RVの２番端子と定電流源Ｐの（−）側の
出力端子と定電圧源Ｅの（−）側の出力端子と、
基準電圧源の（−）側の出力端子とをグランドに
接地し、可変抵抗器RVの１番端子と定電流源Ｐ
の（＋）側の出力端子とダイオードＤのアノード
端子（＋）とを第２の比較回路の（＋）側の入力
端子に接続し、定電流源Ｐから可変抵抗器RVに
一定電流ｉを供給する。可変抵抗器RVの３番端
子を第１の比較回路C1の（＋）側の入力端子に
接続し、基準電圧源Ｖの（＋）側の出力端子を第
１の比較回路C1の（−）側の入力端子に接続し、
可変抵抗器RVの２番端子を摺動させた時の摺動
雑音電圧を基準電圧源Ｖの出力電圧とを比較し
て、第１の比較回路C1で判定する。定電圧源Ｐ
の（＋）側の出力端子とダイオードＤのカソード
端子（−）とを第２の比較回路C2の（−）側の
入力端子に接続している。
動雑音を検査する回路を示し、同図において可変
抵抗器RVの２番端子と定電流源Ｐの（−）側の
出力端子と定電圧源Ｅの（−）側の出力端子と、
基準電圧源の（−）側の出力端子とをグランドに
接地し、可変抵抗器RVの１番端子と定電流源Ｐ
の（＋）側の出力端子とダイオードＤのアノード
端子（＋）とを第２の比較回路の（＋）側の入力
端子に接続し、定電流源Ｐから可変抵抗器RVに
一定電流ｉを供給する。可変抵抗器RVの３番端
子を第１の比較回路C1の（＋）側の入力端子に
接続し、基準電圧源Ｖの（＋）側の出力端子を第
１の比較回路C1の（−）側の入力端子に接続し、
可変抵抗器RVの２番端子を摺動させた時の摺動
雑音電圧を基準電圧源Ｖの出力電圧とを比較し
て、第１の比較回路C1で判定する。定電圧源Ｐ
の（＋）側の出力端子とダイオードＤのカソード
端子（−）とを第２の比較回路C2の（−）側の
入力端子に接続している。
本回路で可変抵抗器RVに供給されている一定
電流ｉが可変抵抗器RVの２番端子を摺動させて
いる途中で遮断された状態になつた場合の本回路
の動作波形図を第４図で示す。定電流源Ｐの
（＋）側の出力端子電圧Vpは可変抵抗器Rvの２
番端子の摺動位置に伴つて第４図で示す出力端子
電圧Vpのような変化をする。この出力端子電圧
Vpの最大値（Vpmax）は可変抵抗器Rvの全抵
抗値ROと一定電流ｉの積に等しい。
電流ｉが可変抵抗器RVの２番端子を摺動させて
いる途中で遮断された状態になつた場合の本回路
の動作波形図を第４図で示す。定電流源Ｐの
（＋）側の出力端子電圧Vpは可変抵抗器Rvの２
番端子の摺動位置に伴つて第４図で示す出力端子
電圧Vpのような変化をする。この出力端子電圧
Vpの最大値（Vpmax）は可変抵抗器Rvの全抵
抗値ROと一定電流ｉの積に等しい。
定電圧源Ｅの出力端子電圧VEは、定電流源Ｐ
の出力端子電圧Vpの最大値（Vpmax）より大き
な値に設定しておく。可変抵抗器RVに一定電流
ｉが供給されている時は、VE＞Vpmaxの関係に
あるのでダイオードＤは逆バイアス電位になつて
いる。しかし、可変抵抗器RVに供給されていた
一定電流ｉが遮断されると定電流源Ｐの出力端子
電圧Vpは最大値（Vpmax）よりも上昇しダイオ
ードＤは順方向バイアス電位になり定電圧源Ｅの
出力端子電圧VEよりダイオードの順方向電圧VD
分だけ高い電圧になる。
の出力端子電圧Vpの最大値（Vpmax）より大き
な値に設定しておく。可変抵抗器RVに一定電流
ｉが供給されている時は、VE＞Vpmaxの関係に
あるのでダイオードＤは逆バイアス電位になつて
いる。しかし、可変抵抗器RVに供給されていた
一定電流ｉが遮断されると定電流源Ｐの出力端子
電圧Vpは最大値（Vpmax）よりも上昇しダイオ
ードＤは順方向バイアス電位になり定電圧源Ｅの
出力端子電圧VEよりダイオードの順方向電圧VD
分だけ高い電圧になる。
すなわち、第２の比較回路C2の（＋）側入力
端子の電位を基準にした時、第２の比較回路C2
の入力端子間電圧Viは、可変抵抗器RVに供給さ
れている一定電流ｉが遮断された時と遮断されな
い時とでは電圧レベルが反転するため、一定電流
ｉが遮断された場合は、第２の比較回路C2の出
力電圧レベルVOが反転し、表示回路Ｉが点灯す
るので一定電流ｉの遮断状態を検査することがで
きる。
端子の電位を基準にした時、第２の比較回路C2
の入力端子間電圧Viは、可変抵抗器RVに供給さ
れている一定電流ｉが遮断された時と遮断されな
い時とでは電圧レベルが反転するため、一定電流
ｉが遮断された場合は、第２の比較回路C2の出
力電圧レベルVOが反転し、表示回路Ｉが点灯す
るので一定電流ｉの遮断状態を検査することがで
きる。
本実施例は、単品の検査を行なう場合を示した
が複数個の回路を設けコントロール信号を与えな
がら回転機構を付加することによりオンラインに
おいて、複数個の同時検査もできることは勿論で
ある。
が複数個の回路を設けコントロール信号を与えな
がら回転機構を付加することによりオンラインに
おいて、複数個の同時検査もできることは勿論で
ある。
なお、可変抵抗に限らず、接触部品の瞬断検査
にも応用することができる。
にも応用することができる。
以上、本考案による可変抵抗器の検査回路は、
摺動雑音を検査する回路で一定電流の遮断状態の
検査を容易に行なうことができ、かつ保守が容易
な量産に適した構成にできる利点がある。
摺動雑音を検査する回路で一定電流の遮断状態の
検査を容易に行なうことができ、かつ保守が容易
な量産に適した構成にできる利点がある。
第１図は可変抵抗器の回路図。第２図は従来の
検査回路図。第３図は本考案の検査回路図。第４
図は本考案検査回路の動作波形図。 １……１番端子、２……２番端子、３……３番
端子、Ｐ……定電流源、Ｅ……定電圧源、Ｖ……
基準電圧源、RV……可変抵抗器、Ｄ……ダイオ
ード、C1，C2比較回路、Ｌ……論理和回路、Ｉ
……表示回路。
検査回路図。第３図は本考案の検査回路図。第４
図は本考案検査回路の動作波形図。 １……１番端子、２……２番端子、３……３番
端子、Ｐ……定電流源、Ｅ……定電圧源、Ｖ……
基準電圧源、RV……可変抵抗器、Ｄ……ダイオ
ード、C1，C2比較回路、Ｌ……論理和回路、Ｉ
……表示回路。
Claims (1)
- 可変抵抗器の２番端子と、定電流源の一方の出
力端子と、定電圧源の一方の出力端子と、基準電
圧源の一方の出力端子とをグランドに接地し、前
記可変抵抗器の３番端子を第１の比較回路の一方
の入力端子に接続し、前記基準電圧源の他の出力
端子を前記第１の比較回路の他の入力端子に接続
し、前記可変抵抗器の１番端子と、前記定電流源
の他の出力端子と、ダイオードの一方の端子とを
第２の比較回路の一方の入力端子に接続し、前記
定電圧源の他の出力端子と、前記ダイオードの他
の端子とを前記第２の比較回路の他の入力端子に
接続し、前記第１の比較回路の出力端子を論理和
回路の一方の入力端子に接続し、前記第２の比較
回路の出力端子を前記論理和回路の他の入力端子
に接続し、前記論理和回路の出力端子を表示回路
の入力端子に接続したことを特徴とする可変抵抗
器の検査回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2262481U JPH0125334Y2 (ja) | 1981-02-19 | 1981-02-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2262481U JPH0125334Y2 (ja) | 1981-02-19 | 1981-02-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57135980U JPS57135980U (ja) | 1982-08-25 |
| JPH0125334Y2 true JPH0125334Y2 (ja) | 1989-07-28 |
Family
ID=29820418
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2262481U Expired JPH0125334Y2 (ja) | 1981-02-19 | 1981-02-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0125334Y2 (ja) |
-
1981
- 1981-02-19 JP JP2262481U patent/JPH0125334Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57135980U (ja) | 1982-08-25 |
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