JPH01256029A - 自動焦点調整装置 - Google Patents
自動焦点調整装置Info
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- JPH01256029A JPH01256029A JP63084729A JP8472988A JPH01256029A JP H01256029 A JPH01256029 A JP H01256029A JP 63084729 A JP63084729 A JP 63084729A JP 8472988 A JP8472988 A JP 8472988A JP H01256029 A JPH01256029 A JP H01256029A
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- photodetector
- reflected
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオディスク等のようにディスク上に記録
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする光学
的記録再生装置であって、特にディスクよりの反射光を
利用し、各種サーボをかけるだめのサーボ信号および再
生信号を得るだめの光学系における自動焦点調整装置に
関するものである。
された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あるい
はディスクに情報を光学的に記録再生しようとする光学
的記録再生装置であって、特にディスクよりの反射光を
利用し、各種サーボをかけるだめのサーボ信号および再
生信号を得るだめの光学系における自動焦点調整装置に
関するものである。
従来の技術
一般に、ビデオディスクや光学的記録再生装置において
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ１そのピッチ
が１．６μｍと微細なスパイラルあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞り込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ１そのピッチ
が１．６μｍと微細なスパイラルあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞り込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
かかる装置においては、少なくとも２つのサーボ技術が
必要である。１つはディスクの回転に伴い回転方向と垂
直な方向にディスクが面プレをおこすが、前記面プレに
対し前記φ１μｍ以下に絞られた微小スポット光が常に
ディスク上に照射できるように光学系を追従させるサー
ボで、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれている。
必要である。１つはディスクの回転に伴い回転方向と垂
直な方向にディスクが面プレをおこすが、前記面プレに
対し前記φ１μｍ以下に絞られた微小スポット光が常に
ディスク上に照射できるように光学系を追従させるサー
ボで、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれている。
他方はディスクの回転に伴い前記トラックが偏心等によ
シディスクの半径方向に移動するが、これに対し常に前
記微小スポット光が前記トラック上を照射するように光
学系を追従させるサーボで、このサーボはトラッキング
サーボと呼ばれている。
シディスクの半径方向に移動するが、これに対し常に前
記微小スポット光が前記トラック上を照射するように光
学系を追従させるサーボで、このサーボはトラッキング
サーボと呼ばれている。
前記フォーカスおよびトラッキングサーボを行うための
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光よシ得てお
り、具体的な光学系としては例えば第５図、第６図に示
すような光学系が提案されている。
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光よシ得てお
り、具体的な光学系としては例えば第５図、第６図に示
すような光学系が提案されている。
第６図（、）はその光学系の正面図、第６図０））は同
側面図を示す。第６図において、ディスク７よりの反射
光は凸レンズ８により結像される。前記結像する光路中
に分割プリズム１２を傾けて置くと、前記分割プリズム
の上面１２ａよシ得られる第１の反射光と、下面１２ｂ
より得られる第２の反射光は分離して各々光検出器１３
に導かれる。ここで前記分割プリズムは例えば１枚のガ
ラス板からなり、上面１２ａの光反射率をＲａ、光透過
率をＴａまた下面１２ｂの光反射率をＲｂとした時、以
下の第（１）式に示す様な関係になるように各反射率。
側面図を示す。第６図において、ディスク７よりの反射
光は凸レンズ８により結像される。前記結像する光路中
に分割プリズム１２を傾けて置くと、前記分割プリズム
の上面１２ａよシ得られる第１の反射光と、下面１２ｂ
より得られる第２の反射光は分離して各々光検出器１３
に導かれる。ここで前記分割プリズムは例えば１枚のガ
ラス板からなり、上面１２ａの光反射率をＲａ、光透過
率をＴａまた下面１２ｂの光反射率をＲｂとした時、以
下の第（１）式に示す様な関係になるように各反射率。
光透過率は選べば前記第１の反射光の強さと、前記第２
の反射光の強さは等しくなる。
の反射光の強さは等しくなる。
Ｒａ＝Ｔａ ｘＲｂ ・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・（１）前記第１．第２の反射
光の結像位置は、第６図に示すように、前記分割プリズ
ムで生ずる光路差の分だけＰｌ、Ｐ２とＸ方向にズレタ
位置となる。
・・・・・・・・・・・・（１）前記第１．第２の反射
光の結像位置は、第６図に示すように、前記分割プリズ
ムで生ずる光路差の分だけＰｌ、Ｐ２とＸ方向にズレタ
位置となる。
前記固結像位置Ｐ１とＰ２ のほぼ中央の位置に光入射
方向から見れば６分割された検出面１３ａ〜１３ｆを有
する光検出器１３が置かれており、分割された光検出器
１３の検出面１３０．１３ｂより幅が広く、かつお互い
の直径がほぼ等しい光スポツ）１４．１５が光検出器１
３に照射されている。６分Δりされた光検出器１３の検
出面１３ａ〜１３ｆの出力電流をＩａ〜Ｉｆとすると、
フォーカス誤差信号ＦＥは第２式より、 ＦＥ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ
）−・−・（２）あるいは ＦＥ＝Ｉｂ−Ｉｅ となる。
方向から見れば６分割された検出面１３ａ〜１３ｆを有
する光検出器１３が置かれており、分割された光検出器
１３の検出面１３０．１３ｂより幅が広く、かつお互い
の直径がほぼ等しい光スポツ）１４．１５が光検出器１
３に照射されている。６分Δりされた光検出器１３の検
出面１３ａ〜１３ｆの出力電流をＩａ〜Ｉｆとすると、
フォーカス誤差信号ＦＥは第２式より、 ＦＥ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ
）−・−・（２）あるいは ＦＥ＝Ｉｂ−Ｉｅ となる。
前記誤差信号が得られる原理について以下に述べる。
第６図はフォーカス誤差信号を得る方法についてのみ説
明するために第５図を簡略化した図であり、第５図と同
様の構成要素については同一の信号を付している。第６
図において、第６図（ａ）は絞リレンズ６とディスメ面
が所望の距離より近づきすぎた場合、第６図（ｂ）は丁
度所望の距離、すなわちディスク面上に丁度入射光がフ
ォーカスされだ場合（以下これをフォーカス位置にある
と呼ぶ）、第６図Ｃは前記所望の距離より長くなった場
合をそれぞれ示している。
明するために第５図を簡略化した図であり、第５図と同
様の構成要素については同一の信号を付している。第６
図において、第６図（ａ）は絞リレンズ６とディスメ面
が所望の距離より近づきすぎた場合、第６図（ｂ）は丁
度所望の距離、すなわちディスク面上に丁度入射光がフ
ォーカスされだ場合（以下これをフォーカス位置にある
と呼ぶ）、第６図Ｃは前記所望の距離より長くなった場
合をそれぞれ示している。
まず、第６図（ａ）に示したように、絞りレンズ６とデ
ィスク７とが前記所望の距離より近づきすぎると、凸レ
ンズ８によシ絞られる反射光の結像位置Ｐ１．Ｐ２は光
検出器１３より遠くなる。従ってこの場合、光検出器上
の前記第１の反射光の光スポット１４の直径より前記第
２の反射光の光スポット１６の直径が小さくなシ、光検
出器１３の検出面１３ａ、１３ｃ、１３ｅに受光される
光量より光検出器１３の検出面１３ｂ、１ｓｄ、１３ｆ
に受光される光量の方が多くなる。逆に第６図（Ｃ）に
示すように絞シレンズ６とディスク７とが前記所望の距
離より遠ざかると、前記光スポット１４の直径より前記
光スポット１５の直径の方が大きくなシ、検出面１３ｂ
、１３ｄ、１３ｆに受光される光量より検出面１３ａ、
１３ｃ、１３ｅに受光される光量の方が多くなる。
ィスク７とが前記所望の距離より近づきすぎると、凸レ
ンズ８によシ絞られる反射光の結像位置Ｐ１．Ｐ２は光
検出器１３より遠くなる。従ってこの場合、光検出器上
の前記第１の反射光の光スポット１４の直径より前記第
２の反射光の光スポット１６の直径が小さくなシ、光検
出器１３の検出面１３ａ、１３ｃ、１３ｅに受光される
光量より光検出器１３の検出面１３ｂ、１ｓｄ、１３ｆ
に受光される光量の方が多くなる。逆に第６図（Ｃ）に
示すように絞シレンズ６とディスク７とが前記所望の距
離より遠ざかると、前記光スポット１４の直径より前記
光スポット１５の直径の方が大きくなシ、検出面１３ｂ
、１３ｄ、１３ｆに受光される光量より検出面１３ａ、
１３ｃ、１３ｅに受光される光量の方が多くなる。
また第６図Φ）に示すようにフォーカス位置にある場合
、前記両光スポット１４と１６の径がほぼ等しくなり、
検出面１３ｂ、１３ｄ、１ｓｆに受光される光量と、検
出面１３ａ 、 １３ｃ 、 １３ｅに受光される光量
とは等しくなる。従って第（２）式に示す各光検出ｇｇ
の出力電流の差をとればフォーカス誤差信号ＦＥが得ら
れ、 Ｉ ａ＋Ｉ ｃ＋Ｉ ｅ＝Ｉ ｂ＋Ｉ ｄ＋Ｉ ｆ と
なるようにサーボをかければフォー力ヌサーボが実現で
きる。
、前記両光スポット１４と１６の径がほぼ等しくなり、
検出面１３ｂ、１３ｄ、１ｓｆに受光される光量と、検
出面１３ａ 、 １３ｃ 、 １３ｅに受光される光量
とは等しくなる。従って第（２）式に示す各光検出ｇｇ
の出力電流の差をとればフォーカス誤差信号ＦＥが得ら
れ、 Ｉ ａ＋Ｉ ｃ＋Ｉ ｅ＝Ｉ ｂ＋Ｉ ｄ＋Ｉ ｆ と
なるようにサーボをかければフォー力ヌサーボが実現で
きる。
第６図の構成において、例えば温度変動、ショック等の
環境条件の変化により、 （１）光検出器１３がＹ、Ｚ方向に変位する。
環境条件の変化により、 （１）光検出器１３がＹ、Ｚ方向に変位する。
（２）凸レンズ８へ入射する平行光が一点鎖線にて示す
様に角度θだけずれる。
様に角度θだけずれる。
（３）光源１（第５図）がＹ、Ｚ方向に変位する。
等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、前記両光ス
ポラ）１４．１５はＹ、Ｚ方向に移動するが、両光スポ
ット間の距４４１’が前記変位より十分大きけルば、第
（２式に示す。
ポラ）１４．１５はＹ、Ｚ方向に移動するが、両光スポ
ット間の距４４１’が前記変位より十分大きけルば、第
（２式に示す。
ＦＥ＝（Ｉ ｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉ ａ＋Ｉ ｃ
−）−Ｉ ｅ ）にはお互いキャンセルされて何等の影
響ではない。前記キャンセルの１例を両光スポット１４
．１５がＺ方向にずれた場合で説明する。例えば両光ス
ポットが＋Ｚ力方向ズレると各検出面１３ａ、 １３ｄ
に受光される光量は増え、検出面１３ｂ、１ｓｅおよび
１３ｃ、１３ｆに受光される光量は減る。
−）−Ｉ ｅ ）にはお互いキャンセルされて何等の影
響ではない。前記キャンセルの１例を両光スポット１４
．１５がＺ方向にずれた場合で説明する。例えば両光ス
ポットが＋Ｚ力方向ズレると各検出面１３ａ、 １３ｄ
に受光される光量は増え、検出面１３ｂ、１ｓｅおよび
１３ｃ、１３ｆに受光される光量は減る。
両光スポットの形状は全く同じなので
ＦＥ＝（（Ｉｂ−α）−１−（Ｉｄ＋β）（Ｉｆ−γ）
）−（（Ｉ ｅ−ｃｔ ）−４−（Ｉ ａ＋β）＋（Ｉ
ｃ−ｒ））＝（Ｉ ｂ＋Ｉ ｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉ ｅ
＋Ｉ ａ＋Ｉ ｃ ）となりＦＥ変動（フォーカス位置
の変化）は生じない。
）−（（Ｉ ｅ−ｃｔ ）−４−（Ｉ ａ＋β）＋（Ｉ
ｃ−ｒ））＝（Ｉ ｂ＋Ｉ ｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉ ｅ
＋Ｉ ａ＋Ｉ ｃ ）となりＦＥ変動（フォーカス位置
の変化）は生じない。
ＦＥ＝Ｉｂ−Ｉｅ の時も同じ原理となる。
また各光検出器の出力信号Ｉａ〜Ｉｆに含まれるノイズ
信号Ｎ ａ −Ｎ ｆにおいて、光軸中心に近い光を受
は出力するＮｂ、Ｎｅと、光軸中心より離れた光を受は
出力するＮａ、ＮｄおよびＮｃ、Ｎｆとは前述の様に周
波数特性は異なる。しかし両光スポット１４．１６は強
度的に２分しただけで形状は全く等しいため、Ｎａ＝Ｎ
ｄ、Ｎｂ＝Ｎｅ、Ｎｃ＝Ｎｆとなシ、フォーカス誤差信
号ＦＥにはノイズがお互いにキャンセルされ前記ＦＥ倍
信号Ｓハは非常て良くなる。
信号Ｎ ａ −Ｎ ｆにおいて、光軸中心に近い光を受
は出力するＮｂ、Ｎｅと、光軸中心より離れた光を受は
出力するＮａ、ＮｄおよびＮｃ、Ｎｆとは前述の様に周
波数特性は異なる。しかし両光スポット１４．１６は強
度的に２分しただけで形状は全く等しいため、Ｎａ＝Ｎ
ｄ、Ｎｂ＝Ｎｅ、Ｎｃ＝Ｎｆとなシ、フォーカス誤差信
号ＦＥにはノイズがお互いにキャンセルされ前記ＦＥ倍
信号Ｓハは非常て良くなる。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記した構成では以下に示す問題点を有し
ていた。即ち、第６図、第６図に示したようにフォーカ
ス誤差信号は ＦＥ＝（Ｉ ｂ＋Ｉ ｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉ ａ＋Ｉ
ｃ＋Ｉ ｅ ）あるいは ＦＥ ＝（Ｉ ｂ−Ｉ ｅ ） となる。そして、上面１２ａ、下面１２ｂの光反射率Ｉ
Ｒａ、Ｒｈのバラツキにより、光検出器上で２つのビー
ムスポットを同径に、また同じ光量になるような調整が
必要とされた。現行の分割プリズム１２の反射膜Ｒａ、
：ｆ（ｂば２面とも別々コーティングされているため、
次のような問題点を有していた。
ていた。即ち、第６図、第６図に示したようにフォーカ
ス誤差信号は ＦＥ＝（Ｉ ｂ＋Ｉ ｄ＋Ｉ ｆ ）−（Ｉ ａ＋Ｉ
ｃ＋Ｉ ｅ ）あるいは ＦＥ ＝（Ｉ ｂ−Ｉ ｅ ） となる。そして、上面１２ａ、下面１２ｂの光反射率Ｉ
Ｒａ、Ｒｈのバラツキにより、光検出器上で２つのビー
ムスポットを同径に、また同じ光量になるような調整が
必要とされた。現行の分割プリズム１２の反射膜Ｒａ、
：ｆ（ｂば２面とも別々コーティングされているため、
次のような問題点を有していた。
■ ２つのビームが検出器上で同じ光量なるように第１
面の反射率をＲａとすると、第２面の反射率Ｒｂは、 Ｒａ＝（１−Ｒａ）ｅＲｂ となるような反射率Ｒｂの膜をつけねばならず、蒸着工
程が大変である。
面の反射率をＲａとすると、第２面の反射率Ｒｂは、 Ｒａ＝（１−Ｒａ）ｅＲｂ となるような反射率Ｒｂの膜をつけねばならず、蒸着工
程が大変である。
■ 別々のコーティングであるため、ロット毎のバラツ
キが大きい。Ａ面の反射光量Ｐ１．Ｂ面の反射光量Ｐ２
とすると Ｐ１＝＝Ｒａ＊Ｐｏ、Ｐ２＝（１−Ｐａ）＊Ｒｂ４Ｐ。
キが大きい。Ａ面の反射光量Ｐ１．Ｂ面の反射光量Ｐ２
とすると Ｐ１＝＝Ｒａ＊Ｐｏ、Ｐ２＝（１−Ｐａ）＊Ｒｂ４Ｐ。
ここで、ＰｌとＰ２の比には
に＝Ｐ １ ／Ｐ２＝Ｒａ ／（１−Ｒａ ） ｅＲｂ
となる。ここでＲａ＝２０％とするとＲｂ＝２ｓ％とな
り、その各々の反射率のバラツキを±４係とする。
となる。ここでＲａ＝２０％とするとＲｂ＝２ｓ％とな
り、その各々の反射率のバラツキを±４係とする。
Ｋ＝ （０，２ｔｈ０．０４）／（１−（０，２：ｔｏ
、０４）＊（０，２６ｆｏ、０４）＝０．７０〜１．３
６ となす、このバラツキの範囲でフォーカスエラー信号と
なってあられれる。
、０４）＊（０，２６ｆｏ、０４）＝０．７０〜１．３
６ となす、このバラツキの範囲でフォーカスエラー信号と
なってあられれる。
■ 半導体レーザの波長が温度によりシフトした時、膜
の波長に対する依存性が違うため、渦層変化が生じた時
、膜の反射率が変化してし゛まう。この変化はフォーカ
スエラー信号の誤差になってあられれる。
の波長に対する依存性が違うため、渦層変化が生じた時
、膜の反射率が変化してし゛まう。この変化はフォーカ
スエラー信号の誤差になってあられれる。
これらのことが原因で上記のような構成では光検出２ｇ
上に２つのビームを理想位置にもっＣくる調整が複雑で
大変な労力を要していた。
上に２つのビームを理想位置にもっＣくる調整が複雑で
大変な労力を要していた。
本発明は上記問題点に鑑み、調整を簡易化できる自動焦
点調整装置を提供するものである。
点調整装置を提供するものである。
課題を解決するだめの手段
この目的を達成するために本発明の自動焦点調整装置は
、光学系から出た光を記録媒体上に微小に絞り込み、記
録再生または再生のみにするように削成されるとともに
、前記記録媒体よりの反射光を結（巣するまでの光路中
におかれた光強度を略２分し、かつ同一光路、同一平面
上にない位１置に分離して結像させる第１の反射面と第
２の反射面をもつ分割プリズムと、前記分離された両反
射光の光路に沿って前記固結像位置のほぼ中間に置かれ
た光検出器とを備え、前記検出器が前記両反射光を別々
に受光するように少なくとも２つ以上に分割されており
、かつその幅が受光する光ヌポノトの径より小さくした
自動焦点調整装置において、分割プリズムの第１面と第
２面の反射膜のコーティングを同一反射率にし、かつ同
時コーティングしたことを特長とするものである。そし
て、第１面と第２面の反射率をそれぞれＲａ とすると
、発生スるフォー力ヌエラー信号Ｆ Ｅ ｕＦＥ＝Ｐ１
−Ｐ２ ＝Ｇ１＊Ｒａ＊に−Ｇ２＊（１−Ｒａ）＊ＲａＲａＲａ
Ｒａ上第１２の反射面の反射率Ｇ１：第１ビームの増幅
器の増幅度 Ｇ２：第２ビームの増幅器の増幅度 となる。ここでＦＥ＝ｏとなるようなＧ１およびＧ２を
設定すると Ｇ２＝Ｇ１／（１−Ｒａ） ・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・（３）となる。よって第１
ビームと第２ビームの増幅器の増幅度Ｇ２をほぼ上記式
（３）の関係に設定する構成をもつものである。
、光学系から出た光を記録媒体上に微小に絞り込み、記
録再生または再生のみにするように削成されるとともに
、前記記録媒体よりの反射光を結（巣するまでの光路中
におかれた光強度を略２分し、かつ同一光路、同一平面
上にない位１置に分離して結像させる第１の反射面と第
２の反射面をもつ分割プリズムと、前記分離された両反
射光の光路に沿って前記固結像位置のほぼ中間に置かれ
た光検出器とを備え、前記検出器が前記両反射光を別々
に受光するように少なくとも２つ以上に分割されており
、かつその幅が受光する光ヌポノトの径より小さくした
自動焦点調整装置において、分割プリズムの第１面と第
２面の反射膜のコーティングを同一反射率にし、かつ同
時コーティングしたことを特長とするものである。そし
て、第１面と第２面の反射率をそれぞれＲａ とすると
、発生スるフォー力ヌエラー信号Ｆ Ｅ ｕＦＥ＝Ｐ１
−Ｐ２ ＝Ｇ１＊Ｒａ＊に−Ｇ２＊（１−Ｒａ）＊ＲａＲａＲａ
Ｒａ上第１２の反射面の反射率Ｇ１：第１ビームの増幅
器の増幅度 Ｇ２：第２ビームの増幅器の増幅度 となる。ここでＦＥ＝ｏとなるようなＧ１およびＧ２を
設定すると Ｇ２＝Ｇ１／（１−Ｒａ） ・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・（３）となる。よって第１
ビームと第２ビームの増幅器の増幅度Ｇ２をほぼ上記式
（３）の関係に設定する構成をもつものである。
作 用
゛ 本発明は上記した構成により、記録媒体からの反射
光を検出器上で結像するときに生じる分割プリズムの反
射膜のバラツキを光学的に小さくすることができ、ビー
ムをディスクに対してジャストフォー力ヌさせることが
容易になシ、また温度変動に対して強くなる。
光を検出器上で結像するときに生じる分割プリズムの反
射膜のバラツキを光学的に小さくすることができ、ビー
ムをディスクに対してジャストフォー力ヌさせることが
容易になシ、また温度変動に対して強くなる。
実施例
以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。
する。
第１図は本発明の一実施例における光学的記録再生装置
の光学系の要部正面及び要部側面図を、第２図は同要部
概略側面図、第３図は光検出器の検出面の上面図を示す
ものである。尚、各図において、第４図、第６図と同一
部には同番号を付し説明を省略する。第６図は同光学系
で検出されたフォー力ヌサーボ信号の初段要部回路図を
示すものである。
の光学系の要部正面及び要部側面図を、第２図は同要部
概略側面図、第３図は光検出器の検出面の上面図を示す
ものである。尚、各図において、第４図、第６図と同一
部には同番号を付し説明を省略する。第６図は同光学系
で検出されたフォー力ヌサーボ信号の初段要部回路図を
示すものである。
第１図において、分割プリズム１８の反射面１８ａ、１
８ｂは同一コートを施しである。この分割プリズムを用
いた本実施例の光学系について説明する。
８ｂは同一コートを施しである。この分割プリズムを用
いた本実施例の光学系について説明する。
第２図（ａ）は本実施例の光学系の概略正面図、第２図
（ｂ）は同側面図を示すものである。尚、第２図（ａ）
、 （ｂ）は互いに重複する部分は一部省いている。
（ｂ）は同側面図を示すものである。尚、第２図（ａ）
、 （ｂ）は互いに重複する部分は一部省いている。
第２図において、半導体レーザ１を出た光はコリメート
レンズ２）ビーム整形用プリズム１６を介して偏光ビー
ムスプリッタ１７に入射される。
レンズ２）ビーム整形用プリズム１６を介して偏光ビー
ムスプリッタ１７に入射される。
偏光ビームスプリッタ１７に入射されたレーザ光は反射
され、λ／４板、対物レンズ６ａを介しディスク７に照
射される。ディスク７からの反射光は同経路を通り全反
射プリズム４で全反射され、単レンズ８を介して、反射
面１８ａ 、 １ｓｂを同時コートし、同一反射率にし
た分割プリズム１８に入射される。分割プリズムに入射
された光のうち一部は、また反射面１８ａで反射すると
ともに残りの光を透過し、透過した光は次の反射面１８
ｂで反射し、共に光検出器１３でビームスポットを形成
する。尚、分割プリズム１８ｃは光路長を調整するため
に光の進行方向に対して突出している。
され、λ／４板、対物レンズ６ａを介しディスク７に照
射される。ディスク７からの反射光は同経路を通り全反
射プリズム４で全反射され、単レンズ８を介して、反射
面１８ａ 、 １ｓｂを同時コートし、同一反射率にし
た分割プリズム１８に入射される。分割プリズムに入射
された光のうち一部は、また反射面１８ａで反射すると
ともに残りの光を透過し、透過した光は次の反射面１８
ｂで反射し、共に光検出器１３でビームスポットを形成
する。尚、分割プリズム１８ｃは光路長を調整するため
に光の進行方向に対して突出している。
以上のように構成された本実施例の動作を以下に説明す
る。
る。
第１反射面１８ａ、第２反射面１８ｂを同時コーティン
グされた分割プリズムは、下記の点で改善されることて
なる。
グされた分割プリズムは、下記の点で改善されることて
なる。
２つのビームの反射率はＲａで同一コーティングされる
ので、コーティングのバラツキは相対的にキャンセルさ
れてしまう。つまシ第１面の反射光量をＰｌ、第２面の
反射光量をＰ２とするとＰ１＝Ｒａ＊Ｐ。
ので、コーティングのバラツキは相対的にキャンセルさ
れてしまう。つまシ第１面の反射光量をＰｌ、第２面の
反射光量をＰ２とするとＰ１＝Ｒａ＊Ｐ。
Ｐ２＝（１−Ｒａ）＊Ｒａ＊Ｐ。
したがって、ＰｌとＰ２の比には
に−Ｐ１／Ｐ２
＝１７ （１−Ｒａ ）
となる。
ここで、Ｒａ＝２０％ とすると、その各々の反射率
のバラツキを±４％とする。
のバラツキを±４％とする。
Ｋ ＝１／（１−（０，２−［：０．０４））＝１．１
９〜１．３２ となり、バラツキは約％にすることができる。また半導
体レーザの波長が温度変動によりシフトしても、波長変
動に対する反射率の変化は同比率で変化する。したがっ
て、波長変動の影響を受けない光学系をつくることがで
きる。またＰｌとＰ２の光量が違うので、 Ｇ２＝Ｇ１／（１７Ｒａ） になる回路ゲインをもたせれば、容易にＰｌ、Ｐ２の光
量バランスをとることができる。
９〜１．３２ となり、バラツキは約％にすることができる。また半導
体レーザの波長が温度変動によりシフトしても、波長変
動に対する反射率の変化は同比率で変化する。したがっ
て、波長変動の影響を受けない光学系をつくることがで
きる。またＰｌとＰ２の光量が違うので、 Ｇ２＝Ｇ１／（１７Ｒａ） になる回路ゲインをもたせれば、容易にＰｌ、Ｐ２の光
量バランスをとることができる。
以上のように本実施例によれば、
■ 同時コーティングするのでコストダウンになる。
■ 波長依存性が少なくなる。
■ 反射膜のバラツキが小さいので、調整が容易になる
。
。
となる光学的記録再生装置を造ることができる。
発明の効果
以上のように本発明は、分割プリズムの反射膜を同時コ
ーティングすることにより、コストダウン、性能安定し
、かつ調整を容易にすることができ、その実用的効果は
大なるものがある。
ーティングすることにより、コストダウン、性能安定し
、かつ調整を容易にすることができ、その実用的効果は
大なるものがある。
第１図（ａ）は本発明の一実施例における光学的記録再
生装置における自動焦点調整装置の要部正面図、第１図
中）は同側面図、第２図は同概略側面図、第３図（ａ）
、 （ｂ）は同検出面の正面図、第４図（−）は従来
の自動焦点調整装置の正面図、第４図（ｂ）は同側面図
、第６図（ａ） 、 （ｂ） 、 （ｃ）は概略側面図
である。 ＡＩ、Ａ２・・・・・・増幅回路、Ａ３・・・・・・差
動回路、１・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・
コリメートレンズ、４・・・・・・全反射プリズム、６
・・・・・・λ／４板、６・・・・・・対物レンズ、７
・・・・・・ディスク、８・・・・・・半凸レンズ、１
２．１８・・・・・・分割プリズム、１３・・・・・・
光検出器、１６・川・・ビーム整形用プリズム、１７・
・・・・・偏光ビームスプリッタ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１−
９−子稗イ２与こし−′！フ′ ２−−−コワメートしンで ４−一一全及ケ丁ブソプ４ ５−−−八４ 第 １ 図 −
一書＃ルソス゛７−−−ガイスク ８−−一竿凸しソス” １３−−一先躊′出界 ＩＣ−−−ビーム蔓肋用デリブヘ １７−−−レ龍薗ビーム又フ・す、７夕第３図 第４図
生装置における自動焦点調整装置の要部正面図、第１図
中）は同側面図、第２図は同概略側面図、第３図（ａ）
、 （ｂ）は同検出面の正面図、第４図（−）は従来
の自動焦点調整装置の正面図、第４図（ｂ）は同側面図
、第６図（ａ） 、 （ｂ） 、 （ｃ）は概略側面図
である。 ＡＩ、Ａ２・・・・・・増幅回路、Ａ３・・・・・・差
動回路、１・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・
コリメートレンズ、４・・・・・・全反射プリズム、６
・・・・・・λ／４板、６・・・・・・対物レンズ、７
・・・・・・ディスク、８・・・・・・半凸レンズ、１
２．１８・・・・・・分割プリズム、１３・・・・・・
光検出器、１６・川・・ビーム整形用プリズム、１７・
・・・・・偏光ビームスプリッタ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名１−
９−子稗イ２与こし−′！フ′ ２−−−コワメートしンで ４−一一全及ケ丁ブソプ４ ５−−−八４ 第 １ 図 −
一書＃ルソス゛７−−−ガイスク ８−−一竿凸しソス” １３−−一先躊′出界 ＩＣ−−−ビーム蔓肋用デリブヘ １７−−−レ龍薗ビーム又フ・す、７夕第３図 第４図
Claims (2)
- （１）光源と、この光源から発光された光ビームを情報
記録媒体上に集束する対物レンズと、前記情報記録媒体
からの反射ビームを第１の反射面で反射する第１ビーム
、第２の反射面で反射する第２ビームおよび第２の反射
面で透過する第３ビームに３分割し、かつ第１の反射面
と第２の反射面には同一の反射膜を施した分割プリズム
と、前記第１ビームと第２ビームの光路に沿って両ビー
ムの結像位置の中間に配置した光検出器と、前記光検出
器の出力を増幅する増幅器と、前記第１ビームと第２ビ
ームの増幅器出力の差動により得られた焦点誤差信号に
より前記対物レンズを可動させる駆動装置とを具備する
自動焦点調整装置。 - （２）特許請求の範囲第１項記載の自動焦点調整装置に
おいて、第２ビームの増幅器の増幅度Ｇ２をほぼ下式の
関係に設定することを特徴とする自動焦点調整装置。 Ｇ２＝Ｇ１／１−Ｒａ 第１および第２の反射面の反射率：Ｒａ 第１ビームの増幅器の増幅度：Ｇ１
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63084729A JPH077517B2 (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | 自動焦点調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63084729A JPH077517B2 (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | 自動焦点調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01256029A true JPH01256029A (ja) | 1989-10-12 |
| JPH077517B2 JPH077517B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=13838778
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63084729A Expired - Lifetime JPH077517B2 (ja) | 1988-04-06 | 1988-04-06 | 自動焦点調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077517B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08336410A (ja) * | 1995-06-13 | 1996-12-24 | Kenji Mitsumoto | ゴルフ用の傘および傘用のゴルフクラブ保持具 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6271034A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-04-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
-
1988
- 1988-04-06 JP JP63084729A patent/JPH077517B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6271034A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-04-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077517B2 (ja) | 1995-01-30 |
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