JPH01258219A - 磁気デイスク - Google Patents
磁気デイスクInfo
- Publication number
- JPH01258219A JPH01258219A JP8632288A JP8632288A JPH01258219A JP H01258219 A JPH01258219 A JP H01258219A JP 8632288 A JP8632288 A JP 8632288A JP 8632288 A JP8632288 A JP 8632288A JP H01258219 A JPH01258219 A JP H01258219A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hardness
- head slider
- magnetic head
- magnetic
- magnetic disk
- Prior art date
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、磁気ディスク装置に搭載される磁気ディス
クに関するものである。
クに関するものである。
[従来の技術〕
コンピュータの外部記憶装置の−っである固定磁気ディ
スク装置は主に磁気ディスクと磁気ヘッドスライダで構
成されているが、第5図にその概念図を示す、これは、
例えば文献(柳沢雅広「めっき形磁気ディスク媒体のト
ライボロジ」日本応用磁気?会誌、VOL、11 、
NOl 、 1987) G:m詳シく示されている0
図において、(5)は基板に形成された磁気記録媒体層
に情報が記録される磁気ディスク、(6)は磁気ディス
ク(6)に情報を書き込んだり読み出したりする磁気ヘ
ッドスライダ、 (7)は磁気ヘッドスライダ(6)
を磁気ディスク(5)に押し付けるサスペンション、(
8)は磁気ディスク (5)を図中矢印方向に回転させ
るスピンドルであるこのように構成された磁気ディスク
装置において、磁気ディスク (5)に情報を書き込ん
だり読み出したりする場合は、磁気ディスク (5)を
矢印方向に高速回転(例えば3600rpm )させる
、この回転により生じる空気流で、磁気ヘッドスライダ
(6)二ま空気軸受の原理で、磁気ディスク (5)表
面よりサブミクロンの隙間を保って浮上する。すなわち
、サスベンジ1ン (7)の押付力と空気流の押り力が
釣り合って、磁気ヘッドスライダ(6)は安定浮上する
。
スク装置は主に磁気ディスクと磁気ヘッドスライダで構
成されているが、第5図にその概念図を示す、これは、
例えば文献(柳沢雅広「めっき形磁気ディスク媒体のト
ライボロジ」日本応用磁気?会誌、VOL、11 、
NOl 、 1987) G:m詳シく示されている0
図において、(5)は基板に形成された磁気記録媒体層
に情報が記録される磁気ディスク、(6)は磁気ディス
ク(6)に情報を書き込んだり読み出したりする磁気ヘ
ッドスライダ、 (7)は磁気ヘッドスライダ(6)
を磁気ディスク(5)に押し付けるサスペンション、(
8)は磁気ディスク (5)を図中矢印方向に回転させ
るスピンドルであるこのように構成された磁気ディスク
装置において、磁気ディスク (5)に情報を書き込ん
だり読み出したりする場合は、磁気ディスク (5)を
矢印方向に高速回転(例えば3600rpm )させる
、この回転により生じる空気流で、磁気ヘッドスライダ
(6)二ま空気軸受の原理で、磁気ディスク (5)表
面よりサブミクロンの隙間を保って浮上する。すなわち
、サスベンジ1ン (7)の押付力と空気流の押り力が
釣り合って、磁気ヘッドスライダ(6)は安定浮上する
。
一方、磁気ディスク装♂tを使用しないときは、スピン
ドル(8)の回転は浄上し、磁気ヘッドスライダ(6)
はサスペンション (7)により押し付けられて磁気デ
ィスク (5)上に接触した状態となる。
ドル(8)の回転は浄上し、磁気ヘッドスライダ(6)
はサスペンション (7)により押し付けられて磁気デ
ィスク (5)上に接触した状態となる。
第6図、第7図は第5図における磁気ヘッドスライダ付
近の拡大図であり、第6図は磁気ディスク装置の稼動時
(磁気ディスクは回転している)、第7図は磁気ディス
ク装置の停止E時(磁気ディスクは静止している)をそ
れぞれ示す。
近の拡大図であり、第6図は磁気ディスク装置の稼動時
(磁気ディスクは回転している)、第7図は磁気ディス
ク装置の停止E時(磁気ディスクは静止している)をそ
れぞれ示す。
磁気ディスク装置は以−ヒのような機構を何するため、
磁気ディスクの始動時には磁気ヘッドスライダは磁気デ
ィスク表面をこすりながら浮上する。同様に停止時には
こすりながら着陸する。この動作をコンタクト・スター
ト・ストップ(CSS)という。
磁気ディスクの始動時には磁気ヘッドスライダは磁気デ
ィスク表面をこすりながら浮上する。同様に停止時には
こすりながら着陸する。この動作をコンタクト・スター
ト・ストップ(CSS)という。
[発明が解決しようとする課題]
磁気ディスク装置にはこのような磁気ディスクと磁気へ
・戸トスライダのこずれがあるため、磁気ディスク、磁
気ヘッドスライダともにしだいに摩耗してくる。この摩
耗が磁気ディスク装置における最大の問題であった0例
えば、磁気ディスクが摩耗すると記録情報が消失する。
・戸トスライダのこずれがあるため、磁気ディスク、磁
気ヘッドスライダともにしだいに摩耗してくる。この摩
耗が磁気ディスク装置における最大の問題であった0例
えば、磁気ディスクが摩耗すると記録情報が消失する。
また、磁気ディスクの表面がf滑になり磁気ヘッドスラ
イダの吸容の原因となる。一方、磁気ヘッドスライダが
摩耗すると2記録用コアの損傷を誘引し記録・再生がで
きなくなる。また磁気ディスク、磁気へ9トスライダの
何れが摩耗しても、その摩耗粉はヘッドクラッシュの原
因となる。
イダの吸容の原因となる。一方、磁気ヘッドスライダが
摩耗すると2記録用コアの損傷を誘引し記録・再生がで
きなくなる。また磁気ディスク、磁気へ9トスライダの
何れが摩耗しても、その摩耗粉はヘッドクラッシュの原
因となる。
この磁気記録媒体層の傷つきや摩耗を防止するために、
従来よりS i Oを保護膜(特開昭62− In92
22号広報)やカーボン保護膜などが使用されてきた。
従来よりS i Oを保護膜(特開昭62− In92
22号広報)やカーボン保護膜などが使用されてきた。
しかし、これらの保護膜の材質が硬すぎると、かえって
磁気ヘッドスライダを傷付け、その摩耗粉が磁気ヘッド
スライダおよび磁気ディスクをさらに傷付けて摩耗を促
進させるという問題点があった。
磁気ヘッドスライダを傷付け、その摩耗粉が磁気ヘッド
スライダおよび磁気ディスクをさらに傷付けて摩耗を促
進させるという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、磁気ディスクの磁気記録媒体層の傷つきを防
lLするとともに磁気ヘッドスライダの摩耗をも防止す
ることができる磁気ディスクを得ることを目的とする。
たもので、磁気ディスクの磁気記録媒体層の傷つきを防
lLするとともに磁気ヘッドスライダの摩耗をも防止す
ることができる磁気ディスクを得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る磁気ディスクは、基板に形成された磁気
記録媒体層を保護する保護膜の硬度を磁気ヘッドスライ
ダの硬度±10%の硬度範囲とするものである。
記録媒体層を保護する保護膜の硬度を磁気ヘッドスライ
ダの硬度±10%の硬度範囲とするものである。
[作用]
この発明における保護膜は、その硬度が磁気ヘッドスラ
イダの硬度±10%の硬度範囲というように保護膜およ
び磁気ヘッドスライダの硬度が非常に似通っているので
、磁気ディスク、磁気ヘッドスライダ両方の傷つきや摩
耗を押えることができる。
イダの硬度±10%の硬度範囲というように保護膜およ
び磁気ヘッドスライダの硬度が非常に似通っているので
、磁気ディスク、磁気ヘッドスライダ両方の傷つきや摩
耗を押えることができる。
特にダイヤモンド状炭素膜は、その水素濃度をコントロ
ールすることにより硬度のコントロールが容易に行なえ
る。
ールすることにより硬度のコントロールが容易に行なえ
る。
また、酸化ジルコニウムを主成分とする膜も、Als
Os 、SiC,CeO,MgOなどを添加することに
より硬度のコントロールが容易に行なえる。
Os 、SiC,CeO,MgOなどを添加することに
より硬度のコントロールが容易に行なえる。
[実施例]
以ド、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、(11は基板であり、基材(Ia)上に下
地硬化III (lblを設けて構成される。(2)は
磁気記録媒体層、(3)は保護膜である。
図において、(11は基板であり、基材(Ia)上に下
地硬化III (lblを設けて構成される。(2)は
磁気記録媒体層、(3)は保護膜である。
一方、現在、磁気ヘッドスライダとして用いられる材料
は、表に示すように、硬度により大きく一つのグループ
に分けられる。1−、)はAltos、SiC,i’i
Cなとの緻密・高硬度のセラミックスを主成分とする高
硬度スライダ材料であり、もう1つは酸化鉄(フェライ
ト)、ジルコニア。
は、表に示すように、硬度により大きく一つのグループ
に分けられる。1−、)はAltos、SiC,i’i
Cなとの緻密・高硬度のセラミックスを主成分とする高
硬度スライダ材料であり、もう1つは酸化鉄(フェライ
ト)、ジルコニア。
T i O*などの遷移元素の酸化物を主成分とする高
硬度スライダ材料である。高硬度スライダ材料のビッカ
ース硬度+(vは1450〜2200.特に1800付
近に集まり、低硬度スライダ材料のビッカース硬度Hv
は650〜+350、特に1000付近に集まっている
。
硬度スライダ材料である。高硬度スライダ材料のビッカ
ース硬度+(vは1450〜2200.特に1800付
近に集まり、低硬度スライダ材料のビッカース硬度Hv
は650〜+350、特に1000付近に集まっている
。
例えば、現在広く用いられているA!20.−1” i
Clのf4nA磁気ヘッドスライダのビッカース硬度
Hvは2000である。この磁気ヘッドスライダに適す
る磁気ディスクの構成の一例を示すと、店&(11はA
l−Mg合金塙材(la)−t−にめっきによりN1−
P合金(Ib)を厚さ15μm程度設けて表面を硬化処
理したものであり、磁気記録媒体層(2)はγ−Few
Osから成るスパッタ膜である。
Clのf4nA磁気ヘッドスライダのビッカース硬度
Hvは2000である。この磁気ヘッドスライダに適す
る磁気ディスクの構成の一例を示すと、店&(11はA
l−Mg合金塙材(la)−t−にめっきによりN1−
P合金(Ib)を厚さ15μm程度設けて表面を硬化処
理したものであり、磁気記録媒体層(2)はγ−Few
Osから成るスパッタ膜である。
保護膜(3)は例えば字行平・仮型のプラズマCV D
により成膜されたダイヤモンド状炭素膜である。
により成膜されたダイヤモンド状炭素膜である。
ダイヤモンド状炭素膜の硬度は第2図に示すように、水
素含有頃と相関があり、このダイヤモンド状炭素膜中の
水素含有jdを左右する要因は、CVD中の基板温度、
CVD圧力、水素ガスとCH3、C1H,などの炭化水
素ガスの混合比および流量、バイアス電圧などである。
素含有頃と相関があり、このダイヤモンド状炭素膜中の
水素含有jdを左右する要因は、CVD中の基板温度、
CVD圧力、水素ガスとCH3、C1H,などの炭化水
素ガスの混合比および流量、バイアス電圧などである。
一般に、基板温度を上げ、CVD圧力を下げ、I’l
mガスの割合を上げ、バイアス電圧を下げるほどビッカ
ース硬度は高(なる。なお、ガスの滝川は装置の容看に
より異なる。今回の成膜条件は、基板温度200℃、C
〜’ l)圧力10’rorr、 Ht : CHs
=99 : 1、バイアス電圧1.2KVである。膜厚
は5()〇八であり、ラマン分光分析によりダイヤモン
ド状炭素膜であることが確認された。水素3自には4X
IO”原子個数/ c c 、ビッカース硬度Hvは2
200であった。[重用する磁気ヘッドスライダのビッ
カース硬度Hvが200口であるので、保J膜の硬度は
磁気ヘッドスライダの硬度+10%となっている。
mガスの割合を上げ、バイアス電圧を下げるほどビッカ
ース硬度は高(なる。なお、ガスの滝川は装置の容看に
より異なる。今回の成膜条件は、基板温度200℃、C
〜’ l)圧力10’rorr、 Ht : CHs
=99 : 1、バイアス電圧1.2KVである。膜厚
は5()〇八であり、ラマン分光分析によりダイヤモン
ド状炭素膜であることが確認された。水素3自には4X
IO”原子個数/ c c 、ビッカース硬度Hvは2
200であった。[重用する磁気ヘッドスライダのビッ
カース硬度Hvが200口であるので、保J膜の硬度は
磁気ヘッドスライダの硬度+10%となっている。
このM1気ディスクと磁気ヘッドスライダを用いてコン
タクト・スタート・ストップ試験を2万回?−jなった
ところ、ディスク表面にも磁気ヘッドスライダにも傷つ
きが生じず、摩耗もほとんど確認されなかった。−力、
上記磁気ディスクにたいしてMn−Zn−Forr i
lee (Hv=65[1)より成る磁気ヘッドスラ
イダを用いて同様にコンタクト・スタート・ストップ試
験を2H回行なったところ、第3図に示す磁気ヘッドス
ライダの各部A〜■)の様子を参考写真A−Dで示すよ
うに、各rP動而面ひどく摩耗し、粒界が見えている。
タクト・スタート・ストップ試験を2万回?−jなった
ところ、ディスク表面にも磁気ヘッドスライダにも傷つ
きが生じず、摩耗もほとんど確認されなかった。−力、
上記磁気ディスクにたいしてMn−Zn−Forr i
lee (Hv=65[1)より成る磁気ヘッドスラ
イダを用いて同様にコンタクト・スタート・ストップ試
験を2H回行なったところ、第3図に示す磁気ヘッドス
ライダの各部A〜■)の様子を参考写真A−Dで示すよ
うに、各rP動而面ひどく摩耗し、粒界が見えている。
なお、参考写f4 a Ndはそれぞれコンタクト・ス
タート・ストップ前の上記磁気ヘッドスライダA〜■)
部の様子を示す、第3図において、(6a)はレール、
(6blはテーパ部である。 なお、上記実施例では
保護膜(3)としてダイヤモンド状炭素膜をプラズマC
VDで形成した場合について説明したが、形成方法はこ
れに限るものではなく、例えばスパッタや蒸着を水素を
導入して行なってもよい。
タート・ストップ前の上記磁気ヘッドスライダA〜■)
部の様子を示す、第3図において、(6a)はレール、
(6blはテーパ部である。 なお、上記実施例では
保護膜(3)としてダイヤモンド状炭素膜をプラズマC
VDで形成した場合について説明したが、形成方法はこ
れに限るものではなく、例えばスパッタや蒸着を水素を
導入して行なってもよい。
次に、保護膜(3) として酸化ジルコニウムを1成分
とする膜を用いる場合について説明する。酸化ジルコニ
ウムを主成分とする膜は添加物によって硬度を調節でき
ることが知られており、代表的な添加物は、Ym Os
、 A It Oa 、 S iC,CeO,MgO
なとである。第4図に文献(ジャーナル・オブ・マテリ
アルサイエンス、22、+987.P2S5)に示され
た添加物含有量と硬度の関係を示す、基板(1)および
磁気記録媒体層(2)はL記実施例と同じものを用いた
。酸化ジルコニウムを主1+−Q 分とする膜は、純酸
化ジルコニアにアルミナを20%混合し、スパッタによ
り形成した。基板温度は200℃、スパッタパワーは1
0mW、lli厚は500八である。硬度はHv =
201]0である。この磁気ディスクと上記実施例で用
いたH v = 2000の磁気ヘッドスライダを用い
てコンタクト・スタート・ストップ試験を2万回行なっ
たところ、ディスク表面にも磁気ヘッドスライダにも傷
つきが生じず、摩耗もほとんど確認されなかった。一方
、量、記磁気ディスクにたいしてMn−Zn−Fer
r i Le (Hv=650 )より成る磁気ヘッド
スライダを用いて同様にコンタクト・スタート・ストッ
プ試験を2万回行なったところ、磁気ヘッドスライダの
浮動面はひどく摩耗した。 なお、上記’X 絶倒では
いずれも磁気ヘッドスライダとして硬度が2000のA
I t Os −T i C製の高硬度スライダを用
いた場合について説明したがこれに限るものではなく、
他の高硬度スライダや低硬度スライダを用いた場合にも
、保護膜(3)としてその硬度が磁気ヘッドスライダの
硬度±lO%と近いのものを用いれば、E記実施例と同
様に磁気ディスク、磁気ヘッドスライダともに摩耗しに
くい。
とする膜を用いる場合について説明する。酸化ジルコニ
ウムを主成分とする膜は添加物によって硬度を調節でき
ることが知られており、代表的な添加物は、Ym Os
、 A It Oa 、 S iC,CeO,MgO
なとである。第4図に文献(ジャーナル・オブ・マテリ
アルサイエンス、22、+987.P2S5)に示され
た添加物含有量と硬度の関係を示す、基板(1)および
磁気記録媒体層(2)はL記実施例と同じものを用いた
。酸化ジルコニウムを主1+−Q 分とする膜は、純酸
化ジルコニアにアルミナを20%混合し、スパッタによ
り形成した。基板温度は200℃、スパッタパワーは1
0mW、lli厚は500八である。硬度はHv =
201]0である。この磁気ディスクと上記実施例で用
いたH v = 2000の磁気ヘッドスライダを用い
てコンタクト・スタート・ストップ試験を2万回行なっ
たところ、ディスク表面にも磁気ヘッドスライダにも傷
つきが生じず、摩耗もほとんど確認されなかった。一方
、量、記磁気ディスクにたいしてMn−Zn−Fer
r i Le (Hv=650 )より成る磁気ヘッド
スライダを用いて同様にコンタクト・スタート・ストッ
プ試験を2万回行なったところ、磁気ヘッドスライダの
浮動面はひどく摩耗した。 なお、上記’X 絶倒では
いずれも磁気ヘッドスライダとして硬度が2000のA
I t Os −T i C製の高硬度スライダを用
いた場合について説明したがこれに限るものではなく、
他の高硬度スライダや低硬度スライダを用いた場合にも
、保護膜(3)としてその硬度が磁気ヘッドスライダの
硬度±lO%と近いのものを用いれば、E記実施例と同
様に磁気ディスク、磁気ヘッドスライダともに摩耗しに
くい。
また、磁気ディスクの構成および材料は上記実施例に限
定されるものではなく、例えば保a膜(3)のうえに潤
滑剤が存在していてもよい。
定されるものではなく、例えば保a膜(3)のうえに潤
滑剤が存在していてもよい。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、基板に形成された磁
気記録媒体層を保護する保護膜の硬度を磁気ヘッドスラ
イダの硬度±10%の硬度範囲としたので、コンタクト
・スタート・ストップ動作中に磁気記録媒体層や磁気ヘ
ッドスライダが傷ついたり摩耗したりするのを防+tで
きる効果がある
気記録媒体層を保護する保護膜の硬度を磁気ヘッドスラ
イダの硬度±10%の硬度範囲としたので、コンタクト
・スタート・ストップ動作中に磁気記録媒体層や磁気ヘ
ッドスライダが傷ついたり摩耗したりするのを防+tで
きる効果がある
第1図はこの発明の一実施例による磁気ディスクを示す
断面図、第2図はこの発明の一実施例に係るダイヤモン
ド状炭素膜の水素含有頓と硬度の関係を示す特性図、第
3図は磁気ヘッドスライダを示す平面図、第4図はこの
発明の他の実施例に係る酸化ジルコニウムを主成分とす
る膜の添加物含有看と硬度の関係を示す特性図、′lS
5図は一般的な磁気ディスク装置を示す概念図、第6図
、第7図はそれぞれ第5図の装置の稼動状態および静止
状態における磁気ヘッドスライダの位置を拡大してを示
す概念図である。 図において、(1)は基板、(2)は磁気記録媒体層、
(3)は保護膜、(5)は磁気ディスク、(6)は磁気
ヘッドスライダである。 なお、3図中同一符号は同一または相当部分を示す。
断面図、第2図はこの発明の一実施例に係るダイヤモン
ド状炭素膜の水素含有頓と硬度の関係を示す特性図、第
3図は磁気ヘッドスライダを示す平面図、第4図はこの
発明の他の実施例に係る酸化ジルコニウムを主成分とす
る膜の添加物含有看と硬度の関係を示す特性図、′lS
5図は一般的な磁気ディスク装置を示す概念図、第6図
、第7図はそれぞれ第5図の装置の稼動状態および静止
状態における磁気ヘッドスライダの位置を拡大してを示
す概念図である。 図において、(1)は基板、(2)は磁気記録媒体層、
(3)は保護膜、(5)は磁気ディスク、(6)は磁気
ヘッドスライダである。 なお、3図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (2)
- (1)始動時と静止時に接触する磁気ヘッドスライダに
より情報の記録・再生を行なうコンタクト・スタート・
ストップ方式の磁気ディスクにおいて、基板に形成され
た磁気記録媒体層を保護する保護膜の硬度を上記磁気ヘ
ッドスライダの硬度±10%の硬度範囲とすることを特
徴とする磁気ディスク。 - (2)保護膜はダイヤモンド状炭素膜である特許請求の
範囲第1項記載の磁気ディスク。(3)保護膜は酸化ジ
ルコニウムを主成分とする膜である特許請求の範囲第1
項記載の磁気ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8632288A JPH01258219A (ja) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | 磁気デイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8632288A JPH01258219A (ja) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | 磁気デイスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01258219A true JPH01258219A (ja) | 1989-10-16 |
Family
ID=13883600
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8632288A Pending JPH01258219A (ja) | 1988-04-08 | 1988-04-08 | 磁気デイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01258219A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0595564A3 (en) * | 1992-10-29 | 1994-06-15 | Tdk Corp | Magnetic recording medium |
| JPH07320435A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-12-08 | Nec Corp | 磁気ヘッド組立体及びこれを用いた磁気ディスク装置 |
| US6132875A (en) * | 1993-09-12 | 2000-10-17 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium and magnetic head having carbon protective layers |
| US6671129B2 (en) * | 1998-06-09 | 2003-12-30 | Nec Corporation | Contact type magnetic disc apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61120342A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Toshiba Corp | 磁気記録媒体 |
-
1988
- 1988-04-08 JP JP8632288A patent/JPH01258219A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS61120342A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-07 | Toshiba Corp | 磁気記録媒体 |
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| US6132875A (en) * | 1993-09-12 | 2000-10-17 | Fujitsu Limited | Magnetic recording medium and magnetic head having carbon protective layers |
| JPH07320435A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-12-08 | Nec Corp | 磁気ヘッド組立体及びこれを用いた磁気ディスク装置 |
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