JPH01264911A - 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 - Google Patents
複合酸化物超電導薄膜の作製方法Info
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- JPH01264911A JPH01264911A JP63328301A JP32830188A JPH01264911A JP H01264911 A JPH01264911 A JP H01264911A JP 63328301 A JP63328301 A JP 63328301A JP 32830188 A JP32830188 A JP 32830188A JP H01264911 A JPH01264911 A JP H01264911A
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- 239000002131 composite material Substances 0.000 title claims description 36
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 42
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 41
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 27
- 239000010408 film Substances 0.000 description 18
- 239000000463 material Substances 0.000 description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 description 9
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 5
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 5
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 4
- 230000005668 Josephson effect Effects 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 description 2
- 229910021521 yttrium barium copper oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052772 Samarium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005292 diamagnetic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000002784 hot electron Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011224 oxide ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052574 oxide ceramic Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000002574 poison Substances 0.000 description 1
- 231100000614 poison Toxicity 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は超電導薄膜の作製方法に関する。より詳細には
、高い超電導臨界温度を有し、組成の均一な超電導薄膜
を基板を加熱することなく低温で作製する新規な方法に
関する。
、高い超電導臨界温度を有し、組成の均一な超電導薄膜
を基板を加熱することなく低温で作製する新規な方法に
関する。
従来の技術
電子の相転移であるといわれる超電導現象は、特定の条
件下で導体の電気抵抗が零の状態となり完全な反磁性を
示す現象である。
件下で導体の電気抵抗が零の状態となり完全な反磁性を
示す現象である。
超電導現象をエレクトロニクスの分野で応用したものと
して各種の超電導素子が知られている。
して各種の超電導素子が知られている。
代表的なものとして、超電導体の弱結合において量子効
果が巨視的に発現するジョセフソン効果を利用した所謂
ジョセフソン効果素子が挙げられる。
果が巨視的に発現するジョセフソン効果を利用した所謂
ジョセフソン効果素子が挙げられる。
最も一般的なトンネル接合型ジョセフソン素子は、超電
導体のエネルギーギャップが小さいことから極めて高速
な低電力消費のスイッチング素子として期待されている
。また、ジョセフソン効果が電磁波や磁場に対する正確
な量子現象として現れることから、ジョセフソン素子を
磁場、マイクロ波、放射線等の超高感度センサとして利
用することも提案されている。
導体のエネルギーギャップが小さいことから極めて高速
な低電力消費のスイッチング素子として期待されている
。また、ジョセフソン効果が電磁波や磁場に対する正確
な量子現象として現れることから、ジョセフソン素子を
磁場、マイクロ波、放射線等の超高感度センサとして利
用することも提案されている。
更に、電子回路の集積度が高くなるにつれて単位面積当
たりの発熱量が冷却能力の限界に迫っていることから、
半導体回路の高速化は限界に近いといわれており、この
ような制限のない超電導素子を使用した回路の開発が要
望されている。
たりの発熱量が冷却能力の限界に迫っていることから、
半導体回路の高速化は限界に近いといわれており、この
ような制限のない超電導素子を使用した回路の開発が要
望されている。
一方、様々な努力にもかかわらず、超電導材料の超電導
臨界温度Tcは長期間に亘ってNb、Geの23Kを越
えることができなかった。しかしながら、1986年に
[:La、 Ba) zcu04または[:La、 S
r:] 2CU04等の複合酸化物焼結体が高いTcを
有する超電導材料であることが見出され、非低温超電導
を実現する可能性が大きく高まっている。これらの物質
では、30乃至50にという従来に比べて飛擢的に高い
T。が観測されている。更に、YBCOと称されるY+
Ba2Cu307−Xで表される複合酸化物は、90に
以上の温度範囲で超電導特性を示すことが発表されてい
る。
臨界温度Tcは長期間に亘ってNb、Geの23Kを越
えることができなかった。しかしながら、1986年に
[:La、 Ba) zcu04または[:La、 S
r:] 2CU04等の複合酸化物焼結体が高いTcを
有する超電導材料であることが見出され、非低温超電導
を実現する可能性が大きく高まっている。これらの物質
では、30乃至50にという従来に比べて飛擢的に高い
T。が観測されている。更に、YBCOと称されるY+
Ba2Cu307−Xで表される複合酸化物は、90に
以上の温度範囲で超電導特性を示すことが発表されてい
る。
このような複合酸化物系超電導材料は、当初焼結体の形
態で見出されたが、前述のような電子素子材料としての
利用を考えると薄膜化することが必要であり、焼結体材
料をターゲットとしたスパッタリング法等の物理蒸着に
よって複合酸化物超電導薄膜化することが一般的である
。
態で見出されたが、前述のような電子素子材料としての
利用を考えると薄膜化することが必要であり、焼結体材
料をターゲットとしたスパッタリング法等の物理蒸着に
よって複合酸化物超電導薄膜化することが一般的である
。
発明が解決しようとする課題
複合酸化物系超電導体の薄膜を作製する方法としては、
現在スパッタリング法が最も一般的である。しかしなが
ら、スパッタリング法では、成膜時に基板温度を600
℃以上に加熱する必要がある。
現在スパッタリング法が最も一般的である。しかしなが
ら、スパッタリング法では、成膜時に基板温度を600
℃以上に加熱する必要がある。
このため、基板材料は上記の複合酸化物超電導薄膜と熱
膨張率の近いものでなければならず、また、基板元素の
薄膜への拡散による超電導特性の劣化により半導体単結
晶基板は使用できなかった。
膨張率の近いものでなければならず、また、基板元素の
薄膜への拡散による超電導特性の劣化により半導体単結
晶基板は使用できなかった。
そこで、本発明の目的は、上記従来技術の問題点を解決
し、高い臨界温度Tcを始めとする優れた超電導緒特性
を有し、均一な組成および組織の超電導材料の薄膜を半
導体単結晶基板の使用も可能な、新規な低温プロセスを
提供することにある。
し、高い臨界温度Tcを始めとする優れた超電導緒特性
を有し、均一な組成および組織の超電導材料の薄膜を半
導体単結晶基板の使用も可能な、新規な低温プロセスを
提供することにある。
課題を解決するための手段
本発明に従うと、スパッタリング法による複合酸化物超
電導薄膜の作製方法において、基板を加熱することなく
、周波数10kHz乃至8MHzの高周波電力を用いて
スパッタリングを行うことを特徴とする複合酸化物超電
導薄膜の作製方法が提供される。
電導薄膜の作製方法において、基板を加熱することなく
、周波数10kHz乃至8MHzの高周波電力を用いて
スパッタリングを行うことを特徴とする複合酸化物超電
導薄膜の作製方法が提供される。
ここで、本発明の好ましい態様によれば、スパッタリン
グ雲囲気の0□分圧が1.0X10−’〜5.0XIO
−2Torrの範囲内であることが好ましく、スパッタ
リング時の基板温度は、300℃以下であることが好ま
しい。
グ雲囲気の0□分圧が1.0X10−’〜5.0XIO
−2Torrの範囲内であることが好ましく、スパッタ
リング時の基板温度は、300℃以下であることが好ま
しい。
また、上記の複合酸化物超電導薄膜を形成する基板とし
ては、MgO単結晶、5rTiOh単結晶またはZrO
7単結晶が好ましく、特に、MgO単結晶または5rT
103単結晶基板の成膜面を、(0013面または(1
10)面とすることが好ましい。
ては、MgO単結晶、5rTiOh単結晶またはZrO
7単結晶が好ましく、特に、MgO単結晶または5rT
103単結晶基板の成膜面を、(0013面または(1
10)面とすることが好ましい。
更に、基板をガラス、石英、Si、ステンレス鋼、サフ
ァイアおよびセラミックスからなる群より選択された1
種とすること、あるいは半導体単結晶基板とすることも
好ましい。
ァイアおよびセラミックスからなる群より選択された1
種とすること、あるいは半導体単結晶基板とすることも
好ましい。
作用
従来、例えばYBCO系の複合酸化物超電導体の薄膜を
作製する場合には、Y 1Ba2Cu+ 07等の焼結
体をターゲットとしてスパッタリングを行っていた。し
かしながら、−船釣なスパッタリング法では、基板温度
を600℃以上に加熱してスパッタリングを行わなけれ
ば、薄膜の結晶性が悪く好特性の超電導薄膜が得られな
かった。
作製する場合には、Y 1Ba2Cu+ 07等の焼結
体をターゲットとしてスパッタリングを行っていた。し
かしながら、−船釣なスパッタリング法では、基板温度
を600℃以上に加熱してスパッタリングを行わなけれ
ば、薄膜の結晶性が悪く好特性の超電導薄膜が得られな
かった。
そのため、熱膨張率が複合酸化物超電導体と大幅に異な
るものや半導体を基板材料として用いることができなか
った。従って、特に、半導体と複合酸化物超電導体を組
み合わせた素子、集積回路基板を作製することは困難で
あった。
るものや半導体を基板材料として用いることができなか
った。従って、特に、半導体と複合酸化物超電導体を組
み合わせた素子、集積回路基板を作製することは困難で
あった。
本発明の方法では、周波数10 k Hz〜8M)Iz
の高周波電源を用いて基板を加熱せずに高性能の複合酸
化物超電導薄膜を形成する。すなわち、一般にマグネト
ロンスパッタリング等の高周波スパッタリングでは、周
波数13.56MHzの高周波電力を用いるが、本発明
の方法では、上記の範囲の周波数の高周波電力を印加し
てマグネトロンスパッタリングを行う。高周波電力の周
波数を小さくすることにより、基板表面近傍にも正イオ
ンが大量に存在する。スパッタリングされ、ターゲット
から飛び出した分子は、これらの正イオンと衝突するこ
とにより、より活性化する。そのため、基板温度が低く
ても結晶性のよい薄膜を形成することが可能である。
の高周波電源を用いて基板を加熱せずに高性能の複合酸
化物超電導薄膜を形成する。すなわち、一般にマグネト
ロンスパッタリング等の高周波スパッタリングでは、周
波数13.56MHzの高周波電力を用いるが、本発明
の方法では、上記の範囲の周波数の高周波電力を印加し
てマグネトロンスパッタリングを行う。高周波電力の周
波数を小さくすることにより、基板表面近傍にも正イオ
ンが大量に存在する。スパッタリングされ、ターゲット
から飛び出した分子は、これらの正イオンと衝突するこ
とにより、より活性化する。そのため、基板温度が低く
ても結晶性のよい薄膜を形成することが可能である。
高周波電力の周波数が、10kHz未満では高周波放電
が起こり難く、また、イオン電流が小さ過ぎて成膜速度
が遅くなる。一方、高周波電力の周波数を8MHzより
大きくすると、正イオンが基板近傍に十分な数だけ存在
しなくなり、正イオンと被スパツタ分子との衝突が起こ
らず、効果が小さくなる。従って、高周波電力の周波数
は10 k +(Z〜8MHzが好ましい。
が起こり難く、また、イオン電流が小さ過ぎて成膜速度
が遅くなる。一方、高周波電力の周波数を8MHzより
大きくすると、正イオンが基板近傍に十分な数だけ存在
しなくなり、正イオンと被スパツタ分子との衝突が起こ
らず、効果が小さくなる。従って、高周波電力の周波数
は10 k +(Z〜8MHzが好ましい。
上記のように、本発明の方法では基板を加熱せずにスパ
ッタリングを行うが、加熱しない場合、基板温度は20
0〜300℃程度にしか上がらず、半導体単結晶基板で
も十分用いることができる。また、高温まで加熱しない
ので加熱−冷却過程で熱膨張率の差により、複合酸化物
超電導薄膜が、基板から受ける応力も小さい。従って、
従来使用できなかった材料も基板として使用することが
可能である。
ッタリングを行うが、加熱しない場合、基板温度は20
0〜300℃程度にしか上がらず、半導体単結晶基板で
も十分用いることができる。また、高温まで加熱しない
ので加熱−冷却過程で熱膨張率の差により、複合酸化物
超電導薄膜が、基板から受ける応力も小さい。従って、
従来使用できなかった材料も基板として使用することが
可能である。
本発明の態様に従うと、例えばY 1Ba2Cu307
−X薄膜を作製する場合、ターゲットとしては、Y2O
3、CuOおよびBaCu O□を焼結した焼結体また
はY、BaおよびCuを組み合わせて用いることが好ま
しい。この理由は、上記のターゲットを使用することに
より、超電導薄膜の組成を大幅に変更することが可能に
なること、また、炭素等特に超電導特性を大きく左右す
る酸素欠陥に悪影響を及ぼす不純物を含まないこと、な
どが挙げられる。
−X薄膜を作製する場合、ターゲットとしては、Y2O
3、CuOおよびBaCu O□を焼結した焼結体また
はY、BaおよびCuを組み合わせて用いることが好ま
しい。この理由は、上記のターゲットを使用することに
より、超電導薄膜の組成を大幅に変更することが可能に
なること、また、炭素等特に超電導特性を大きく左右す
る酸素欠陥に悪影響を及ぼす不純物を含まないこと、な
どが挙げられる。
さらに、本発明の別の態様に従うと、スパッタリングの
際の雰囲気は、酸素分圧が1.’OX 10−8〜5.
0X10 ’Torrの酸素含有雰囲気であることが好
ましい。酸素分圧が1.0X10 ’Torr未満では
、超電導薄膜の結晶中の酸素が不足し、また5、 OX
1O−2Torrを超えると逆に結晶中の酸素欠陥が
不足し、いずれの場合も超電導薄膜の緒特性は悪くなる
。
際の雰囲気は、酸素分圧が1.’OX 10−8〜5.
0X10 ’Torrの酸素含有雰囲気であることが好
ましい。酸素分圧が1.0X10 ’Torr未満では
、超電導薄膜の結晶中の酸素が不足し、また5、 OX
1O−2Torrを超えると逆に結晶中の酸素欠陥が
不足し、いずれの場合も超電導薄膜の緒特性は悪くなる
。
本発明の態様に従うと、上記の複合酸化物超電導薄膜を
形成する基板としては、MgO単結晶、5rTi03単
結晶またはZr○2単結晶基板が好ましい。特に、Mg
O単結晶基板または5rTiO+単結晶基板の(001
)面または(110)面を成膜面として用いることが好
ましい。
形成する基板としては、MgO単結晶、5rTi03単
結晶またはZr○2単結晶基板が好ましい。特に、Mg
O単結晶基板または5rTiO+単結晶基板の(001
)面または(110)面を成膜面として用いることが好
ましい。
本発明の複合酸化物超電導体は、その電気抵抗に結晶異
方性を有する。すなわち、結晶のa軸およびb軸で決定
される面に平行な方向に電流が流れ易い。上記の基板の
上記成膜面上に形成された複合酸化物超電導薄膜は、そ
の結晶のC軸が基板成膜面に対し垂直または垂直に近い
角度となるため、特に臨界電流密度Jcが大きくなる。
方性を有する。すなわち、結晶のa軸およびb軸で決定
される面に平行な方向に電流が流れ易い。上記の基板の
上記成膜面上に形成された複合酸化物超電導薄膜は、そ
の結晶のC軸が基板成膜面に対し垂直または垂直に近い
角度となるため、特に臨界電流密度Jcが大きくなる。
従って、MgO単結晶基板または5rTi03単結晶基
板の(001)面または(110)面を成膜面として用
いることが好ましい。また、MgO1SrTi03は、
熱膨張率が上記の複合酸化物超電導体と近いため、加熱
、冷却の過程で薄膜に不必要な応力を加えることがなく
、薄膜を破損する恐れもない。
板の(001)面または(110)面を成膜面として用
いることが好ましい。また、MgO1SrTi03は、
熱膨張率が上記の複合酸化物超電導体と近いため、加熱
、冷却の過程で薄膜に不必要な応力を加えることがなく
、薄膜を破損する恐れもない。
以上のような本発明に係る方法を有利に適用できる複合
酸化物系超電導材料としては、以下のような複合酸化物
が挙げられる。即ち、まずY−Ba−Cu−0系、La
−Ba−Cu −0系およびしa−3r−Cu−0系等
の酸化物セラミックスが挙げられる。より一般的には、
周期律表11a族元毒から選択された1種の元素αと、
周期律表■a族元素から選択された1種の元素βと、銅
(Cu )とを含有する複合酸化物である。尚、これら
の構成元素の一部がAI、 FeXCo、NiXZn、
Ag、 Tiによって構成される群から選択される少
なくとも1種の他の元素で置換されたものであってもよ
い。
酸化物系超電導材料としては、以下のような複合酸化物
が挙げられる。即ち、まずY−Ba−Cu−0系、La
−Ba−Cu −0系およびしa−3r−Cu−0系等
の酸化物セラミックスが挙げられる。より一般的には、
周期律表11a族元毒から選択された1種の元素αと、
周期律表■a族元素から選択された1種の元素βと、銅
(Cu )とを含有する複合酸化物である。尚、これら
の構成元素の一部がAI、 FeXCo、NiXZn、
Ag、 Tiによって構成される群から選択される少
なくとも1種の他の元素で置換されたものであってもよ
い。
上記周期律表[a族元素αとして好ましいものとしては
、Ba、 Srが挙げられる。また上記周期律表IJa
族元素βとしては、YSLaSGd、ΩySHo、εr
、、Tm5Yb、 Lu、 Nd55m、εU等のラン
タノイド元素を例示することができ、更にこれらのうち
から複数元素を組み合わせて用いることもできる。
、Ba、 Srが挙げられる。また上記周期律表IJa
族元素βとしては、YSLaSGd、ΩySHo、εr
、、Tm5Yb、 Lu、 Nd55m、εU等のラン
タノイド元素を例示することができ、更にこれらのうち
から複数元素を組み合わせて用いることもできる。
これらの複合酸化物系超電導材料は、
一般式= (αl−Xβx)CuyOz〔但し、αおよ
びβは、前記定義の元素であり、Xは、α+βに対する
βの原子比で 0.1≦X≦0.9を満たす数であり、yおよび2は、
(α、−ウβX)を1とした場合にそれぞれ原子比で 0.4≦y≦3.0. 1.0≦2≦5.0を満たす数である。〕で表される組
成を有する化物である。
びβは、前記定義の元素であり、Xは、α+βに対する
βの原子比で 0.1≦X≦0.9を満たす数であり、yおよび2は、
(α、−ウβX)を1とした場合にそれぞれ原子比で 0.4≦y≦3.0. 1.0≦2≦5.0を満たす数である。〕で表される組
成を有する化物である。
尚、上記のαとβの原子比は、上記αおよびβの種類に
応じて適宜選択できる。すなわち、Ba −Y、 Ba
−La、 5r−La系の場合にはそれぞれ以下の比を
満足したときに優れた特性を発揮することが確S忍され
ている。
応じて適宜選択できる。すなわち、Ba −Y、 Ba
−La、 5r−La系の場合にはそれぞれ以下の比を
満足したときに優れた特性を発揮することが確S忍され
ている。
Y/ (Y+Ba) : 0.06〜0.9
4、好ましくは0,1〜0.4 Ba/ (La+Ba) : 0.04〜
0.96、好ましくは0.08〜0.45 Sr/ (La+Sr) : 0.03〜
0.95、好ましくは0.05〜0.1 より具体的には、 YIBa2CuaOt−x、、 )IO+Ba2Cu
30t−xsLuJa2CU307−X、 Sm、Ba
2CU307−X%Nd+B82Cu3C)y−X、
Gd+BazCu30t−X%巳ulBa2cu30
7−xSErIBa2Cu307−xzDy、Ba2[
:u、07−x、 Tm、Ba2Cu+0l−XYb
+ Ba2Cu+ 07−X La l Ba2
CU307−X %(La、 Sr) 2Cu O4X
s(ただし、XはQ<x<lを満たす数)で表わさる
複合酸化物である。
4、好ましくは0,1〜0.4 Ba/ (La+Ba) : 0.04〜
0.96、好ましくは0.08〜0.45 Sr/ (La+Sr) : 0.03〜
0.95、好ましくは0.05〜0.1 より具体的には、 YIBa2CuaOt−x、、 )IO+Ba2Cu
30t−xsLuJa2CU307−X、 Sm、Ba
2CU307−X%Nd+B82Cu3C)y−X、
Gd+BazCu30t−X%巳ulBa2cu30
7−xSErIBa2Cu307−xzDy、Ba2[
:u、07−x、 Tm、Ba2Cu+0l−XYb
+ Ba2Cu+ 07−X La l Ba2
CU307−X %(La、 Sr) 2Cu O4X
s(ただし、XはQ<x<lを満たす数)で表わさる
複合酸化物である。
これら複合酸化物はペロブスカイト型酸化物または擬似
ペロブスカイト型酸化物であることが好ましい。擬似ペ
ロブスカイトとはペロブスカイトに類似した構造をいい
、例えば酸素欠損ペロブスカイト型、オルソロンピック
型等を含むものである。
ペロブスカイト型酸化物であることが好ましい。擬似ペ
ロブスカイトとはペロブスカイトに類似した構造をいい
、例えば酸素欠損ペロブスカイト型、オルソロンピック
型等を含むものである。
また、本発明を有利に適用できる他の複合酸化物系超電
導薄膜として、 一般式:D4 (E+−q、 Caq)m (:uho
、+r〔但し、元素りは、B1またはTIであり、元素
Eは元素りがB1のときはSrであり、元素りがTIの
ときはBaであり、 m、n、p、q、rはそれぞれ 6≦m≦10. 4≦n≦8、 p= (31+2m+2n) /2.0<q<1、 一2≦r≦2を満たす数を表す〕 で表される組成の複合酸化物、即ち、 B14Sr4C’a4Cu60zo+r (rは一2≦
r≦+2)B12Sr2Ca2CLI+0+o+r (
rは一2≦r≦+2)T1.Ba、Ca4Cu60zo
+r (rは一2≦r≦+2)’l’ 12Ba2Ca
2CII30 + Q+r (rは一2≦r≦+2)等
で示される複合酸化物を主とした混合相または上記いず
れかの式で表される単相と考えられる材料が挙げられる
。
導薄膜として、 一般式:D4 (E+−q、 Caq)m (:uho
、+r〔但し、元素りは、B1またはTIであり、元素
Eは元素りがB1のときはSrであり、元素りがTIの
ときはBaであり、 m、n、p、q、rはそれぞれ 6≦m≦10. 4≦n≦8、 p= (31+2m+2n) /2.0<q<1、 一2≦r≦2を満たす数を表す〕 で表される組成の複合酸化物、即ち、 B14Sr4C’a4Cu60zo+r (rは一2≦
r≦+2)B12Sr2Ca2CLI+0+o+r (
rは一2≦r≦+2)T1.Ba、Ca4Cu60zo
+r (rは一2≦r≦+2)’l’ 12Ba2Ca
2CII30 + Q+r (rは一2≦r≦+2)等
で示される複合酸化物を主とした混合相または上記いず
れかの式で表される単相と考えられる材料が挙げられる
。
実施例
以下に本発明を実施例により説明するが、以下の開示は
本発明の一実施例に過ぎず本発明の技術的範囲を何等制
限するものではないことは勿論である。
本発明の一実施例に過ぎず本発明の技術的範囲を何等制
限するものではないことは勿論である。
実施例1
本発明の方法で、HO1Ba2Cuz 07−X超電導
薄膜を作製した。本実施例では、ターゲットにHo :
Ba :Cuの比が1:2:4となるように混合、焼
結したセラミックを用いた。
薄膜を作製した。本実施例では、ターゲットにHo :
Ba :Cuの比が1:2:4となるように混合、焼
結したセラミックを用いた。
マグネトロンスパッタリングにより、複合酸化物超電導
薄膜を形成した。真空に排気したチャンバ内に5. O
X 1(1”TorrのArガスと1.0X10 ’T
orrの02ガスを導入し、マグネトロン電極には、周
波数500 k Hz、3w/cfflの高周波電力を
かけ、スパッタリングを行った。
薄膜を形成した。真空に排気したチャンバ内に5. O
X 1(1”TorrのArガスと1.0X10 ’T
orrの02ガスを導入し、マグネトロン電極には、周
波数500 k Hz、3w/cfflの高周波電力を
かけ、スパッタリングを行った。
基板にはMgO単結晶を用い、(001)面を成膜面と
した。成膜速度は、約0.50八/秒で膜厚が1μm、
になるまで成膜した。得られた複合酸化物超電導薄膜の
主な特性を第1表に示す。
した。成膜速度は、約0.50八/秒で膜厚が1μm、
になるまで成膜した。得られた複合酸化物超電導薄膜の
主な特性を第1表に示す。
実施例2
実施例1で使用したものと同じターゲットを用い、Si
単結晶基板上に複合酸化物超電導薄膜を形成した。スパ
ッタリング雰囲気は、6.0X10 ’TorrのAr
ガスと5. OX 1O−3Torrの0□ガス雰囲気
とし、Si単結晶基板が酸化されないように注意した。
単結晶基板上に複合酸化物超電導薄膜を形成した。スパ
ッタリング雰囲気は、6.0X10 ’TorrのAr
ガスと5. OX 1O−3Torrの0□ガス雰囲気
とし、Si単結晶基板が酸化されないように注意した。
マグネトロン電極に、周波数800 k )(z、2w
/a+!の高周波電力をかけてスパッタリングを行った
。
/a+!の高周波電力をかけてスパッタリングを行った
。
成膜速度は、約0.20八/秒でやはり膜厚を1μmに
した。得られた複合酸化物超電導薄膜の主な特性を第1
表に示す。
した。得られた複合酸化物超電導薄膜の主な特性を第1
表に示す。
比較例1
実施例1で使用したものと同じターゲットを用いて、周
波数13.56M)(zの高周波電力を使用すること以
外は全く同じ条件でスパッタリングを行った。
波数13.56M)(zの高周波電力を使用すること以
外は全く同じ条件でスパッタリングを行った。
基板を加熱しなかったため、本比較例では基板上に堆積
した酸化物の結晶性が悪く、薄膜が形成されなかった。
した酸化物の結晶性が悪く、薄膜が形成されなかった。
比較例2
実施例1と同じターゲットを用い、スパッタリングを行
った。基板材料、スパッタリング雰囲気は、実施例1と
同じにしたが、高周波電力の周波数は13.561.1
1(zで、基板温度は730℃とし、成膜後7℃/分の
冷却速度で冷却した。
った。基板材料、スパッタリング雰囲気は、実施例1と
同じにしたが、高周波電力の周波数は13.561.1
1(zで、基板温度は730℃とし、成膜後7℃/分の
冷却速度で冷却した。
成膜速度は、約0.60人/秒で1μmの膜厚になるま
で成膜した。得られた複合酸化物超電導薄膜の主な特性
を第1表に示す。
で成膜した。得られた複合酸化物超電導薄膜の主な特性
を第1表に示す。
第1表
本実施例により、本発明の方法により緒特性の優れた複
合酸化物超電導薄膜を低温で形成することが可能で、従
来使用できなかった半導体単結晶基板等も使用可能であ
ることが立証された。
合酸化物超電導薄膜を低温で形成することが可能で、従
来使用できなかった半導体単結晶基板等も使用可能であ
ることが立証された。
実施例3
実施例1と同じ操作で、以下に示すターゲットを使用し
て成膜を行った。
て成膜を行った。
ターゲット組成: Bi :Sr :Ca :Cu=
1.4 : 1 : 1 :1.5 こうして得られた薄膜の超電導特性を評価したところ、 Tco = 116K Tci= 102K Jc = 5 XIO3 と涜れた渣を示した。
1.4 : 1 : 1 :1.5 こうして得られた薄膜の超電導特性を評価したところ、 Tco = 116K Tci= 102K Jc = 5 XIO3 と涜れた渣を示した。
発明の効果
以上詳述したように、本発明の方法によれば、結晶中の
酸素欠陥が適正で、各種超電導特性が優れた複合酸化物
超電導薄膜を基板を加熱することなく得ることが可能と
なる。これは、従来より小さい10 k Hz〜8MH
zの高周波電力で低圧スパッタリングを行うという本発
明独特の手法により可能となったものである。こうして
、低い基板温度で成膜が可能となり、半導体単結晶基板
上に複合酸化物超電導薄膜を形成することができる。
酸素欠陥が適正で、各種超電導特性が優れた複合酸化物
超電導薄膜を基板を加熱することなく得ることが可能と
なる。これは、従来より小さい10 k Hz〜8MH
zの高周波電力で低圧スパッタリングを行うという本発
明独特の手法により可能となったものである。こうして
、低い基板温度で成膜が可能となり、半導体単結晶基板
上に複合酸化物超電導薄膜を形成することができる。
本発明を超電導体を薄膜素子として応用する分野、例え
ばジョセフソン素子と呼ばれるマチイソ−(Matis
oo)のスイッチング素子やアナツカ−(Anacke
r)のメモリー素子、さらには超電導量子干渉計(SQ
IIID) 、超電導トランジスタ、ホットエレクトロ
ントランジスタなどに利用すると効果的である。
ばジョセフソン素子と呼ばれるマチイソ−(Matis
oo)のスイッチング素子やアナツカ−(Anacke
r)のメモリー素子、さらには超電導量子干渉計(SQ
IIID) 、超電導トランジスタ、ホットエレクトロ
ントランジスタなどに利用すると効果的である。
特許出願人 住友電気工業株式会社
Claims (1)
- スパッタリング法による複合酸化物超電導薄膜の作製
方法において、基板を加熱することなく、周波数10k
Hz乃至8MHzの高周波電力を用いてスパッタリング
を行うことを特徴とする複合酸化物超電導薄膜の作製方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63328301A JPH01264911A (ja) | 1987-12-26 | 1988-12-26 | 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33120187 | 1987-12-26 | ||
| JP62-331201 | 1987-12-26 | ||
| JP63328301A JPH01264911A (ja) | 1987-12-26 | 1988-12-26 | 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01264911A true JPH01264911A (ja) | 1989-10-23 |
Family
ID=26572820
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63328301A Pending JPH01264911A (ja) | 1987-12-26 | 1988-12-26 | 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01264911A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03241781A (ja) * | 1990-02-19 | 1991-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 粒界ジョセフソン接合 |
-
1988
- 1988-12-26 JP JP63328301A patent/JPH01264911A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03241781A (ja) * | 1990-02-19 | 1991-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 粒界ジョセフソン接合 |
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