JPH01268A - 気相成長用バルブ - Google Patents
気相成長用バルブInfo
- Publication number
- JPH01268A JPH01268A JP62-156133A JP15613387A JPH01268A JP H01268 A JPH01268 A JP H01268A JP 15613387 A JP15613387 A JP 15613387A JP H01268 A JPH01268 A JP H01268A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas flow
- flow path
- gas
- vapor phase
- valve
- Prior art date
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- Granted
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体層を再現性よくエピタキシャル成長させ
、かつ急峻な組成変化、不純物分布を形成させることの
できる気相成長用バルブに関するものである。
、かつ急峻な組成変化、不純物分布を形成させることの
できる気相成長用バルブに関するものである。
従来、化合物半導体の気相成長、特に有機金属化合物お
よび水素化物を原料として用いる熱分解気相成長(以下
、有機金属気相成長)における原料ガスの切換えは、例
えば第2図に示すような3方向バルブを用いて行われる
ものが一般的である。
よび水素化物を原料として用いる熱分解気相成長(以下
、有機金属気相成長)における原料ガスの切換えは、例
えば第2図に示すような3方向バルブを用いて行われる
ものが一般的である。
以下、第2図を参照して従来技術を説明する。
第2図は一般的に有機金属気相成長において用いられる
原料ガス切換えのための3方向バルブを示す図で、同図
(イ)は原料ガス供給状態を示す図、同図(ロ)は原料
ガス排出状態を示す図である0図中1は原料ガス導入口
、2は反応炉への供給ライン、3は排出ライン、4はガ
ス流路を切換えるためのシリンダ、5は原料ガス流路、
6はバルブ内の原料ガス滞留領域、7は駆動源を示して
いる。
原料ガス切換えのための3方向バルブを示す図で、同図
(イ)は原料ガス供給状態を示す図、同図(ロ)は原料
ガス排出状態を示す図である0図中1は原料ガス導入口
、2は反応炉への供給ライン、3は排出ライン、4はガ
ス流路を切換えるためのシリンダ、5は原料ガス流路、
6はバルブ内の原料ガス滞留領域、7は駆動源を示して
いる。
図において、原料ガスを切換える場合には、例えば空気
圧源、電磁石等の駆動源7により空気圧、あるいは電磁
的な操作によりシリンダ4を移動させ、原料ガス流路5
を供給ライン2から排出ライン3へあるいは排出ライン
3から供給ライン2へ 。
圧源、電磁石等の駆動源7により空気圧、あるいは電磁
的な操作によりシリンダ4を移動させ、原料ガス流路5
を供給ライン2から排出ライン3へあるいは排出ライン
3から供給ライン2へ 。
切換えることにより行われる。この場合の原料ガス流路
は第2図(イ)の斜線部分5から第2図(ロ)の斜線部
分5のように変化する。
は第2図(イ)の斜線部分5から第2図(ロ)の斜線部
分5のように変化する。
(発明が解決すべき問題点〕
しかしながら、このような3方向パルプを用いた原料ガ
スの切換えにおいては、第2図(ロ)の原料ガス滞留領
域6の部分が必然的に存在し、この滞留した原料ガスの
拡散が原因となり、エピタキシャル層の特性の再現性お
よびヘテロ界面の急峻性などを著しく低下させていた。
スの切換えにおいては、第2図(ロ)の原料ガス滞留領
域6の部分が必然的に存在し、この滞留した原料ガスの
拡散が原因となり、エピタキシャル層の特性の再現性お
よびヘテロ界面の急峻性などを著しく低下させていた。
さらに原料ガスの切換えにより供給ラインのガス流量が
変化するため成長条件が変化し、エピタキシャル層の特
性が変化するという問題も生じていた。
変化するため成長条件が変化し、エピタキシャル層の特
性が変化するという問題も生じていた。
また、このような3方向バルブを集合化し、第2図(ロ
)の滞留領域を極めて小さな容積とする気相成長用マニ
ホールドが知られているが、原理的に原料ガスの滞留領
域はある有限の値を有し、また、供給ラインのガス流量
変化も存在するために上記の問題を根本的に解決するに
至っていない。
)の滞留領域を極めて小さな容積とする気相成長用マニ
ホールドが知られているが、原理的に原料ガスの滞留領
域はある有限の値を有し、また、供給ラインのガス流量
変化も存在するために上記の問題を根本的に解決するに
至っていない。
本発明は、上記の問題点を解決するために、切換えバル
ブ内に原料ガスの滞留領域が存在せず、かつ供給ライン
のガス流量が変化しない構造とすることにより高品質な
半導体層を再現性よくエピタキシャル成長させ、かつ急
峻な組成変化、不純分布を形成させることを可能とする
気相成長用バルブを提供することを目的とする。
ブ内に原料ガスの滞留領域が存在せず、かつ供給ライン
のガス流量が変化しない構造とすることにより高品質な
半導体層を再現性よくエピタキシャル成長させ、かつ急
峻な組成変化、不純分布を形成させることを可能とする
気相成長用バルブを提供することを目的とする。
そのために本発明の気相成長用バルブは、気相成長装置
に用いる原料ガス切換えバルブにおいて、複数のガス導
入口、及び反応炉へのガス供給口と排出口を有する環状
に配置されたガス流路と、該ガス流路内に配置され、ガ
ス流路を変更させ、急峻な原料ガスの切換えを行うガス
流路切換え手段とを備えたことを特徴とする。
に用いる原料ガス切換えバルブにおいて、複数のガス導
入口、及び反応炉へのガス供給口と排出口を有する環状
に配置されたガス流路と、該ガス流路内に配置され、ガ
ス流路を変更させ、急峻な原料ガスの切換えを行うガス
流路切換え手段とを備えたことを特徴とする。
本発明の気相成長用バルブは、ガス流路を環状に配置し
て各ガス導入口より原料ガスとパージ用ガスとを流入さ
せてガス流路切り換え手段によりガス流路を切り損える
ことにより、ガス流路変更時にバルブ内の反応炉への供
給ラインに原料ガスの滞留領域が存在せず、かつ反応炉
への供給ラインの全ガス流量が変化しないようにして急
峻な原料ガスの切り換えを達成することができろ。
て各ガス導入口より原料ガスとパージ用ガスとを流入さ
せてガス流路切り換え手段によりガス流路を切り損える
ことにより、ガス流路変更時にバルブ内の反応炉への供
給ラインに原料ガスの滞留領域が存在せず、かつ反応炉
への供給ラインの全ガス流量が変化しないようにして急
峻な原料ガスの切り換えを達成することができろ。
以下、実施例を図面を参照して説明する。
第1図は本発明による気相成長用バルブの実施例を示す
図であり、同図(イ)は原料ガス供給状態を示す図、同
図(ロ)は原料ガス排出状態を示す図である1図中、第
1図で示したものと同一内容のものは同一番号で示して
いる。なお、4a、4bはシリンダ、?a、7bは駆動
源、8はパージ用キャリヤガスの導入口である。
図であり、同図(イ)は原料ガス供給状態を示す図、同
図(ロ)は原料ガス排出状態を示す図である1図中、第
1図で示したものと同一内容のものは同一番号で示して
いる。なお、4a、4bはシリンダ、?a、7bは駆動
源、8はパージ用キャリヤガスの導入口である。
図において、ガス流路は環状に配置され、各流路にシリ
ンダ4a、4’bが配置されてそれぞれ駆動源7a、7
bにより駆動されるように構成されている。
ンダ4a、4’bが配置されてそれぞれ駆動源7a、7
bにより駆動されるように構成されている。
まず、原料ガスを供給する場合には、駆動源7a、7b
を動作させてシリンダ4a、4bを第1図(イ)に示す
位置に駆動し、原料ガス供給口1より流入した原料ガス
は供給ライン2を通って反応炉へ流入し、この時、原料
ガスと同流量のパージ用キャリヤガスが導入口8より流
入し、排出ライン3を遭って排出されている。
を動作させてシリンダ4a、4bを第1図(イ)に示す
位置に駆動し、原料ガス供給口1より流入した原料ガス
は供給ライン2を通って反応炉へ流入し、この時、原料
ガスと同流量のパージ用キャリヤガスが導入口8より流
入し、排出ライン3を遭って排出されている。
次に、原料ガス排出の場合には、駆動fi7a、7bに
よりシリンダ4a、4bを第1図(ロ)の位置に駆動す
る。この場合は、導入口1より流入した原料ガスが排出
ライン3を通って排出されている、この時、原料ガスと
同流量のパージ用キャリヤガスは導入ロアより流入し供
給ライン2を通づて反応炉へ流入する。
よりシリンダ4a、4bを第1図(ロ)の位置に駆動す
る。この場合は、導入口1より流入した原料ガスが排出
ライン3を通って排出されている、この時、原料ガスと
同流量のパージ用キャリヤガスは導入ロアより流入し供
給ライン2を通づて反応炉へ流入する。
このようにガス流路を環状に配置し、2つのシリンダを
同時に駆動させ、パージ用キャリヤガスの流入によりバ
ルブ内に残存している原料ガスはすべてパージされるの
で、バルブ内の原料ガスの滞留領域は残存しない構造と
なる。また、原料ガスとパージ用キャリヤガスは同流量
に設定されているので、反応炉へ流入する全ガス流量は
原料ガスの切換えにより変化することはない、さらに、
各原料ガスについて切り換えバルブの供給ラインおよび
排出ラインをそれぞれ共通にすることができるので、集
合化し小型化することも可能である。
同時に駆動させ、パージ用キャリヤガスの流入によりバ
ルブ内に残存している原料ガスはすべてパージされるの
で、バルブ内の原料ガスの滞留領域は残存しない構造と
なる。また、原料ガスとパージ用キャリヤガスは同流量
に設定されているので、反応炉へ流入する全ガス流量は
原料ガスの切換えにより変化することはない、さらに、
各原料ガスについて切り換えバルブの供給ラインおよび
排出ラインをそれぞれ共通にすることができるので、集
合化し小型化することも可能である。
以上説明した本発明による気相成長用バルブを備えた有
機金属気相成長装置を用いてアンドープGaAsを成長
させたところ、n型で残存キャリヤ濃度1014〜10
”C11−’のエピタキシャル層が再現性良く得られ、
また、P型不純物ドーピングを行った直後のアンドープ
GaAsエピタキシャル層においても、残存キャリヤ濃
度1014〜10” 1m −’のn型を示し、高品質
なエピタキシャル層が再現性良く得られることが確認さ
れた。
機金属気相成長装置を用いてアンドープGaAsを成長
させたところ、n型で残存キャリヤ濃度1014〜10
”C11−’のエピタキシャル層が再現性良く得られ、
また、P型不純物ドーピングを行った直後のアンドープ
GaAsエピタキシャル層においても、残存キャリヤ濃
度1014〜10” 1m −’のn型を示し、高品質
なエピタキシャル層が再現性良く得られることが確認さ
れた。
また、CaAsとAlo、s Caa、s ASのへテ
ロ構造をエピタキシャル成長させ、組成変化の急峻性を
測定した結果、両者の遷移領域は1〜2原子層(く5人
)と見積られ、非常に急峻な界面を形成することが確認
された。
ロ構造をエピタキシャル成長させ、組成変化の急峻性を
測定した結果、両者の遷移領域は1〜2原子層(く5人
)と見積られ、非常に急峻な界面を形成することが確認
された。
なお、上記実施例ではGaAs、AjGaAsの有機金
属気相成長を例に説明したが、本発明はGaAa、Af
fiGaAsに限定されるものでなく、また、反応炉の
形状、圧力等にも一切限定されず、全ての単結晶、多結
晶、非晶質、金属の気相成長に適用できることは勿論で
ある。
属気相成長を例に説明したが、本発明はGaAa、Af
fiGaAsに限定されるものでなく、また、反応炉の
形状、圧力等にも一切限定されず、全ての単結晶、多結
晶、非晶質、金属の気相成長に適用できることは勿論で
ある。
第1図は本発明による気相成長用バルブの実施例を示す
図、第2図は従来の有機金属気相成長に用いられる原料
ガス切換えのための3方向バルブを示す図である。 1・・・原料ガス導入口、2・・・供給ライン、3・・
・排出ライン、4.4a、4b・・・シリンダ、5・・
・原料ガス流路、6・・・原料ガス滞留領域、7.7a
17b・・・駆動源、8・・・パージ用キャリヤガス導
入口。 出 願 人 浜松ホトニクス株式会社代 理
人 弁理士 蛭 川 昌 信(イ)
(0)第2図
図、第2図は従来の有機金属気相成長に用いられる原料
ガス切換えのための3方向バルブを示す図である。 1・・・原料ガス導入口、2・・・供給ライン、3・・
・排出ライン、4.4a、4b・・・シリンダ、5・・
・原料ガス流路、6・・・原料ガス滞留領域、7.7a
17b・・・駆動源、8・・・パージ用キャリヤガス導
入口。 出 願 人 浜松ホトニクス株式会社代 理
人 弁理士 蛭 川 昌 信(イ)
(0)第2図
Claims (4)
- (1)気相成長装置に用いる原料ガス切換えバルブにお
いて、複数のガス導入口、及び反応炉へのガス供給口と
排出口を有する環状に配置されたガス流路と、該ガス流
路内に配置され、ガス流路を変更させ、急峻な原料ガス
の切換えを行うガス流路切換え手段とを備えた気相成長
用バルブ。 - (2)ガス流路切換え手段は、駆動源により駆動される
複数のシリンダからなる特許請求の範囲第1項記載の気
相成長用バルブ。 - (3)複数の導入口の一つより原料ガスを流入させ、他
の一つより原料ガスと同流量のパージ用キャリヤガスを
流入させ、ガス流路変更時にバルブ内の反応炉への供給
ラインに原料ガスの滞留領域が存在せずかつ反応炉への
供給ラインの全ガス流量が変化しないようにした特許請
求の範囲第1項記載の気相成長用バルブ。 - (4)複数のガス流路切り換え手段、及び環状のガス流
路を単一のブロックに組込み、供給ラインおよび排出ラ
インをそれぞれ共通とし、集合化することにより小型化
した特許請求の範囲第1項記載の気相成長用バルブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15613387A JPS64268A (en) | 1987-06-23 | 1987-06-23 | Valve for vapor growth |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15613387A JPS64268A (en) | 1987-06-23 | 1987-06-23 | Valve for vapor growth |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01268A true JPH01268A (ja) | 1989-01-05 |
| JPS64268A JPS64268A (en) | 1989-01-05 |
| JPH0471993B2 JPH0471993B2 (ja) | 1992-11-17 |
Family
ID=15621044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15613387A Granted JPS64268A (en) | 1987-06-23 | 1987-06-23 | Valve for vapor growth |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS64268A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1486707B1 (en) * | 2003-06-11 | 2007-11-21 | Asm International N.V. | Gas supply system, valve assembly and method of forming reactant pulses by operating a valve assembly |
-
1987
- 1987-06-23 JP JP15613387A patent/JPS64268A/ja active Granted
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