JPH01284982A - 形状検査装置 - Google Patents

形状検査装置

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JPH01284982A
JPH01284982A JP11347288A JP11347288A JPH01284982A JP H01284982 A JPH01284982 A JP H01284982A JP 11347288 A JP11347288 A JP 11347288A JP 11347288 A JP11347288 A JP 11347288A JP H01284982 A JPH01284982 A JP H01284982A
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JP
Japan
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still
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Pending
Application number
JP11347288A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Sasakura
笹倉 正裕
Yutaka Ozaki
裕 尾崎
Kazuo Aida
會田 一男
Kazuhiko Washimi
和彦 鷲見
Manabu Hashimoto
学 橋本
Yoshikazu Sakagami
坂上 義和
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、カメラの撮像範囲よりも大きな被検査対象
の全体形状を、撮像することによって検査する形状検査
装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第5図は従来の形状検査装置を示すブロック接続図であ
り、図において、1は被検査対象である基板、2は基板
1を搭載する検査ステージとじてのXY子テーブル3は
XY子テーブルを駆動する制御部、4は基板1を照明す
る照明装置、5は基板1の検査部分を撮像するためのビ
デオカメラ等の撮像装置、6は撮像装置5よりの画像を
処理する画像処理装置である。
次に動作について説明する。まず、被検査対象である基
板1の検査時には、照明装置4が点燈され、制御部3は
第6図に示すような基板1の検査箇所8aがmli!I
装置5の視野に入るように、XY子テーブルを移動させ
て位置決め(停止)する。
次に、この位置決めの完了後、制御部3は画像処理装置
6に位置決め完了コマンドを送り、これにより画像処理
袋′116は撮像装置5からの検査箇所8aの画像を取
り込み、処理する。そして、この画像取り込みの完了後
、画像処理装置6は制御部3に次の検査位置移動コマン
ドを送る。この検査位置移動コマンドを受けて、制御部
3は次の検査箇所8bが撮像装置5の視野に入るような
位置に、XY子テーブルを移動させて、位置決めする。
そしてこれらの一連の動作の繰り返しにより、基板1の
検査箇所8a、8b、・・・8n全体の形状検査を行う
ことができる。ここでこのXY子テーブルの動作は、第
7図のタイムチャートに示すようであり、移動の速度か
安定的に停止した時点で、各検査箇所8a、8bの画像
をとり込む。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の形状検査装置は以上のように構成されているので
、画像数り込みのなめにXY子テーブルを一画面取り込
み期間ごとに停止させねばならず、次回の画像の取り込
みを行うには、XY子テーブルを移動させ、再び位置決
めすることが必要であり、この結果、一つの基板1を検
査するための時間が長くなるなどの問題点があった。
尚近似技術として、特開昭59−81767号がある。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、XY子テーブル連続移動させながら、高速に
基板などの被検査対象の検査を実施できる形状検査装置
を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
この発明に係る形状検査装置は、被検査対象を載せた検
査ステージを一定速度で連続的に移動させ、画1象処理
装置が一定時間ごとにパルス光源である照明装置を発光
させて、撮像装置により上記被検査対象の静止画像を撮
像するとともに、この静止画像と前回の静止画像とを画
像処理装置においてつなぎ合せて、被検査対象全体の画
像を連続的に得て、この被検査対象の検査を高速に実施
できるようにしたものである。
〔作用〕
この発明における画像処理装置は、照明装置をパルス発
光させることにより、移動中の被検査対象より静止画像
を撮像し、この静止画像と前回撮像した静止画像とを、
撮像時の検査ステージの位置や画像中の特徴的パターン
の位置によりつなぎ合わせて、一連の被検査対象全体の
静止画像を得て、形状検査を迅速に行えるようにする。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1は被検査対象である基板、2は基板1を
搭載する検査ステージとしてのXY子テーブル3はXY
子テーブルを駆動する制御部、4Aは基板1を照明する
パルス光源であるストロボスコープ等の照明装置、5は
基板1の検査部分を撮像するビデオカメラ等の撮像装置
、6Aは撮像装置5よりの画像を処理する画像処理装置
、7は撮像装置t5に対する基板1の位置を示すための
、XY子テーブルに収り付けられた位置検出装置である
次に動作について゛説明する。まず、被検査対象たる基
板1の検査開始時には、制御部3がXY子テーブルを検
査開始位置に移動させる0次に、制御部3は画像処理装
置6Aに検査開始コマンドを送り、XY子テーブルを検
査終了位置まで一定速度で移動させる。
検査開始コマンドを受は収った画像処理装置6Aは、一
定時間ごとに照明装置4Aにパルス発光信号を送り、こ
れをパルス発光させて撮像装置5より静止画像を取り込
む。また、上記パルス発光と同時に、位置検出装置7よ
り、上記静止画像の基板1上の位置データを取り込む。
この画像取込時の位置データおよび前回の画像取込時の
位置データにもとすき、画像処理袋W6Aは各位置にお
ける静止画像をつなぎ合わせていく。そして、かかる静
止画像の収り込みおよびつなぎ合わせの動作を繰り返す
ことにより、基板1の検査部分全体の一連の画像情報を
得ることができる。ここでXY子テーブルの動作は第2
図のタイムチャートに示すようであり、XY子テーブル
の連続移動中に画像を取り込んでいく。
第3図はこの発明の他の実施例を示す、上記実施例では
位置検出装置7により検査部分の位置なる静止画像の基
板上における位置を検知し、これらの各位置ごとの画像
をつなぎ合わせるものを示したが、画像上の特徴的パタ
ーンを検知して、以下のように画像をつなぎ合わせるこ
ともできる。
すなわち、第3図はこの実施例の形状検査装置を示すブ
ロック接続図であり、これについて説明すると、検査開
始時に、まず制御部3が検査ステージとしてのXY子テ
ーブルを検査開始位置に移動させ、画像処理袋′1t6
Aに検査開始コマンドを送る。こうして、XY子テーブ
ルを第2図に示すように検査終了位置まで一定速度で移
動させる。
検査開始コマンドを受けた画像処理装置6は、一定時間
ごとに照明袋W4をパルス発光させ、静止画像を取り込
む、この場合において、XY子テーブルの速度は、この
静止画像と前回の静止画(’Aとが一部分重複するよう
な速度とする。いま、第4図(a)に示すように、前回
とり込んだ静止画像中の特徴的パターン9の画面内の位
置を(xl。
y+)とし、一方、今回とり込んだ静止画像中の前回画
像と同一の特徴的パターン9の画面内の位置を、第4図
(b)に示すように<xi 、 3’z )とする。こ
のとき、今回の静止画像中のある点の位置(x、y)は
、前回の静止画像での座標を用いると、第4図(C)に
示す座標から(x、y)±(x+  X2 、 y+ 
 yx )と表わすことができ、XY子テーブルの移動
圧H” (X IX 2 * 5’ IV2)によって
、今回の画面と前回の画面とをつなぎ合わせることがで
きる。そして、このような座標演算を画像処理装置6B
において行うことにより、その特徴的パターン9を基準
として今回および前回の各静止画像をつなぎ合わせるこ
とができ、検査部分全体の一連の画像情報を順次高精度
に得ることができる。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば照明装置をパルス発光
させ、このパルス発光のタイミングで画像処理装置によ
り撮像した複数の静止画像をつなぎ合わせて、被検査対
象全体の画像情報を得るように構成したので、XY子テ
ーブルど検査ステージの移動停止や位置決めの動作がな
くなり、連続的にしかも迅速に一連の静止画像を得るこ
とができ、従って被検査対象の形状検査を効率的に行え
るものが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による形状検査装置を示す
ブロック接続図、第2図は第1図に示すXY子テーブル
速度と画像取込タイミングとの関係を示すタイムチャー
ト、第3図はこの発明の他の実施例を示すブロック接続
図、第4図は第3図に示す画像処理装置により処理する
画像の説明図、第5図は従来の形状検査装置を示すブロ
ック接続図、第6図は第1図における基板の検査箇所を
示す説明図、第7図は第5図に示すXY子テーブル速度
と画像取込タイミングとの関係を示すタイムチャートで
ある。 1は被検査対象(基板)、2は検査ステージ(XY子テ
ーブル、3は制御部、4Aは照明装置(ストロボスコー
プ)、5は撮像装置、6Aは画像処理装置。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 第1WJ 第5図 第7図 面イ煽2)QVΣ−iイ載二耳qy 取込 取込 取込 取込

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検査対象を搭載して一定速度で移動する検査ステージ
    と、上記被検査対象を照明する照明装置と、上記被検査
    対象を撮像する撮像装置と、上記照明装置をパルス発光
    させるとともに、このパルス発光のタイミングで撮像し
    た複数の静止画像をつなぎ合わせて、上記被検査対象全
    体の画像情報を得る画像処理装置とを備えた形状検査装
    置。
JP11347288A 1988-05-12 1988-05-12 形状検査装置 Pending JPH01284982A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991010111A1 (fr) * 1989-12-28 1991-07-11 Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho Appareil de mesure de coordonnees tridimensionnelles
JPH0467273A (ja) * 1990-07-06 1992-03-03 Kubota Corp 画像処理装置
JP2010256087A (ja) * 2009-04-22 2010-11-11 Ccs Inc 検査システム

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