JPH01302826A - 電気回路装置 - Google Patents
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- JPH01302826A JPH01302826A JP63133392A JP13339288A JPH01302826A JP H01302826 A JPH01302826 A JP H01302826A JP 63133392 A JP63133392 A JP 63133392A JP 13339288 A JP13339288 A JP 13339288A JP H01302826 A JPH01302826 A JP H01302826A
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Landscapes
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電気回路装置に関する。
[従来技術]
従来、電気回路部品同士を電気的に接続して構成される
電気回路部材を封止した電気回路装置に関する技術とし
ては以下に述べる技術が知られている。
電気回路部材を封止した電気回路装置に関する技術とし
ては以下に述べる技術が知られている。
■ワイヤボンディング方法
第11図及び第12図はワイヤボンディング方法によっ
て接続され、封止された半導体装置の代表例を示してお
り、以下、第11図及び第12図に基づきワイヤボンデ
ィング方法を説明する。
て接続され、封止された半導体装置の代表例を示してお
り、以下、第11図及び第12図に基づきワイヤボンデ
ィング方法を説明する。
この方法は、Agペースト3等を用いて半導体素子4を
素子搭載部2に固定支持し、次いで、半導体素子4の接
続部5と、リードフレーム1の所望の接続部6とを金等
の極細金属線7を用いて電気的に接続する方法である。
素子搭載部2に固定支持し、次いで、半導体素子4の接
続部5と、リードフレーム1の所望の接続部6とを金等
の極細金属線7を用いて電気的に接続する方法である。
接続後にトランスファーモールド法等の方法でエポキシ
樹脂等、熱硬化性樹脂である樹脂8を用いて半導体素子
4とリードフレーム1を封止し、その後、樹脂封止部品
から外に伸びたリードフレーム1の不要部分を切断し、
所望の形に曲げ半導体装置9を作る。
樹脂等、熱硬化性樹脂である樹脂8を用いて半導体素子
4とリードフレーム1を封止し、その後、樹脂封止部品
から外に伸びたリードフレーム1の不要部分を切断し、
所望の形に曲げ半導体装置9を作る。
■T A B (Tape Automated Bo
nding )法(例えば、特開昭59−139636
号公報)第13図はTAB法により接続され封止された
半導体装置の代表例を示す。
nding )法(例えば、特開昭59−139636
号公報)第13図はTAB法により接続され封止された
半導体装置の代表例を示す。
この方法は、テープキャリア方式による自動ボンディン
グ法である。この方法を第13図に基づいて説明する。
グ法である。この方法を第13図に基づいて説明する。
キャリアフィルム基板16と半導体素子4とを位置決め
した後、キャリアフィルム基板16のインナーリード部
17と半導体素子4の接続部5とを熱圧着することによ
り接続する方法である。接続後にエポキシ樹脂等、熱硬
化性樹脂である樹脂20あるいは樹脂21で封止し、半
導体装置9とする。
した後、キャリアフィルム基板16のインナーリード部
17と半導体素子4の接続部5とを熱圧着することによ
り接続する方法である。接続後にエポキシ樹脂等、熱硬
化性樹脂である樹脂20あるいは樹脂21で封止し、半
導体装置9とする。
■CCB (Controlled Co11apse
Bonding )法(例えば、特公昭42−209
6号公報、特開昭60−57944号公報) 第14図はCCB法によって接続され封止された半導体
装置の代表例を示す。この方法を第14図に基づき説明
する。なお、本方法はフリップチップボンディング法と
も言われている。
Bonding )法(例えば、特公昭42−209
6号公報、特開昭60−57944号公報) 第14図はCCB法によって接続され封止された半導体
装置の代表例を示す。この方法を第14図に基づき説明
する。なお、本方法はフリップチップボンディング法と
も言われている。
半導体素子4の接続部5に予め半田バンプ31を設け、
半田バンブ31が設けられた半導体素子4を回路基板3
2上に位置決めして搭載する。その後、半田を加熱溶解
することにより回路基板32と半導体素子4とを接続さ
せ、フラックス洗浄後封止して半導体装置9を作る。
半田バンブ31が設けられた半導体素子4を回路基板3
2上に位置決めして搭載する。その後、半田を加熱溶解
することにより回路基板32と半導体素子4とを接続さ
せ、フラックス洗浄後封止して半導体装置9を作る。
■第15図および第16図に示す方法
第1の半導体素子4の接続部5以外の部分にポリイミド
等よりなる絶縁膜71を形成せしめ、接続部5にはAu
等よりなる金属材70を設け、次いで、金属材70およ
び絶縁膜71の露出面73.72を平らにする。一方、
第2の半導体素子4′の接続部5゛以外の部分にポリイ
ミド等よりなる絶縁膜71°を形成し、接続部5゛には
Au等よりなる金属材70′を設け、次いで、金属材7
0’および絶縁膜71’の露出面73゛。
等よりなる絶縁膜71を形成せしめ、接続部5にはAu
等よりなる金属材70を設け、次いで、金属材70およ
び絶縁膜71の露出面73.72を平らにする。一方、
第2の半導体素子4′の接続部5゛以外の部分にポリイ
ミド等よりなる絶縁膜71°を形成し、接続部5゛には
Au等よりなる金属材70′を設け、次いで、金属材7
0’および絶縁膜71’の露出面73゛。
72°を平坦にする。
その後、第16図に示すように第1の半導体素子4と第
2の半導体素子4° とを位置決めし、位置決め後熱圧
着することにより、第1の半導体素子4の接続部5と第
2の半導体素子4′の接続部5°を、金属材70,70
°を介して接続する。
2の半導体素子4° とを位置決めし、位置決め後熱圧
着することにより、第1の半導体素子4の接続部5と第
2の半導体素子4′の接続部5°を、金属材70,70
°を介して接続する。
■第17図に示す方法
第1の回路基板75と第2の回路基板75′の間に、絶
縁物質77中に導電粒子79を分散させた異方性導電膜
78を介在させ、第1の回路基板75と第2の回路基板
75′を位置決めした後、加圧、もしくは加圧・加熱し
、第1の回路基板75の接続部76と第2の回路基板7
5°の接続部76゛を接続する方法である。
縁物質77中に導電粒子79を分散させた異方性導電膜
78を介在させ、第1の回路基板75と第2の回路基板
75′を位置決めした後、加圧、もしくは加圧・加熱し
、第1の回路基板75の接続部76と第2の回路基板7
5°の接続部76゛を接続する方法である。
■第18図に示す方法
第1の回路基板75と第2の回路基板75°の間に、F
e、Cu等よりなる金属線82が一定方向に向けて配さ
れている絶縁物[81からなるエラスチックコネクタ8
3を介在させ、第1の回路基板75と第2の回路基板7
5°を位置決めした後加圧し、第1の回路基板75の接
続部76と第2の回路基板75′の接続部76゛を接続
する方法である。
e、Cu等よりなる金属線82が一定方向に向けて配さ
れている絶縁物[81からなるエラスチックコネクタ8
3を介在させ、第1の回路基板75と第2の回路基板7
5°を位置決めした後加圧し、第1の回路基板75の接
続部76と第2の回路基板75′の接続部76゛を接続
する方法である。
[発明が解決しようとする問題点]
しかしながら、前記した従来のボンディング法には以下
のような問題点がある。
のような問題点がある。
■ワイヤボンディング法
■半導体素子4の接続部5を半導体素子4の内部にくる
ように設計すると、極細金属線7は、その線径が極めて
小さいために、半導体素子4の外周縁部10あるいはリ
ードフレーム1の素子搭載部2の外周縁部11に接触し
易くなる。極細金属線7がこれら外周縁部10あるいは
11に接触すると短絡する。さらに、極細金属線7の長
さを長くせざるを得ず、長さを長くすると、トランスフ
ァーモールド成形時に極細金属線7が変形しやすくなる
。
ように設計すると、極細金属線7は、その線径が極めて
小さいために、半導体素子4の外周縁部10あるいはリ
ードフレーム1の素子搭載部2の外周縁部11に接触し
易くなる。極細金属線7がこれら外周縁部10あるいは
11に接触すると短絡する。さらに、極細金属線7の長
さを長くせざるを得ず、長さを長くすると、トランスフ
ァーモールド成形時に極細金属線7が変形しやすくなる
。
従って、半導体素子4の接続部5は半導体素子4上の周
辺に配置する必要が生じ、回路設計上の制限を受けざる
を得なくなる。
辺に配置する必要が生じ、回路設計上の制限を受けざる
を得なくなる。
■半導体素子4とリードフレーム1とを極細金属線7で
接続するため、接続に必要な水平方向の広がりを必要と
し、これを小さくしようとすると上記■で述べた短絡が
生じる。よって、ワイヤボンディング法では、接続に必
要な水平方向の大きさを小さくすることはできず、高密
度実装には不適である。
接続するため、接続に必要な水平方向の広がりを必要と
し、これを小さくしようとすると上記■で述べた短絡が
生じる。よって、ワイヤボンディング法では、接続に必
要な水平方向の大きさを小さくすることはできず、高密
度実装には不適である。
■ワイヤボンディング法においては、隣接する極細金属
線7同士の接触等を避けるためには半導体素子4上の接
続部5のピッチ寸法(隣接する接続部の中心間の距1I
ilりとしである程度の間隔をとらざるを得ない。従)
て、半導体素子4の大きさが決まれば必然的に接続部5
の最大数が決まる。
線7同士の接触等を避けるためには半導体素子4上の接
続部5のピッチ寸法(隣接する接続部の中心間の距1I
ilりとしである程度の間隔をとらざるを得ない。従)
て、半導体素子4の大きさが決まれば必然的に接続部5
の最大数が決まる。
しかるに、ワイヤボンディング法では、このピッチ寸法
が通常0.2mm程度と大きいので、接続部5の数は少
なくせざるを得なくなる。
が通常0.2mm程度と大きいので、接続部5の数は少
なくせざるを得なくなる。
■ワイヤボンディング作業に時間がかかる。特に、接続
点数が多くなるとボンディング時間が長くなり生産効率
が悪くなる。
点数が多くなるとボンディング時間が長くなり生産効率
が悪くなる。
■何らかの要因でトランスファーモールド条件範囲を越
すと、極細金属線7が変形したり最悪の場合には切断し
たりする。
すと、極細金属線7が変形したり最悪の場合には切断し
たりする。
また、半導体素子4上の接続部5においては、極細金属
線7と合金化されないAJ2が露出しているためAn腐
食が生じ易くなり、信頼性の低下が生じる。
線7と合金化されないAJ2が露出しているためAn腐
食が生じ易くなり、信頼性の低下が生じる。
■TAB法
■半導体素子4の接続部5を半導体素子4の内側にくる
ように設計すると、キャリアフィルム基板16のインナ
ーリード部17の長さlが長くなるため、インナーリー
ド部17が変形し易くなり、インナーリード部を所望の
接続部5に接続できなかったり、インナーリード部17
が半導体素子4の接続部5以外の部分に接触したりする
。これを避けるためには半導体素子4の接続部5を半導
体素子4上の周辺に持ってくる必要が生じ、設計上の制
限を受ける。
ように設計すると、キャリアフィルム基板16のインナ
ーリード部17の長さlが長くなるため、インナーリー
ド部17が変形し易くなり、インナーリード部を所望の
接続部5に接続できなかったり、インナーリード部17
が半導体素子4の接続部5以外の部分に接触したりする
。これを避けるためには半導体素子4の接続部5を半導
体素子4上の周辺に持ってくる必要が生じ、設計上の制
限を受ける。
■TAB法においても、半導体素子4上の接続部のピッ
チ寸法は0.09〜0.15mm程度にとる必要があり
、従フて、ワイヤボンディング法の問題点■で述べたと
同様に、接続部数を増加させることは難しくなる。
チ寸法は0.09〜0.15mm程度にとる必要があり
、従フて、ワイヤボンディング法の問題点■で述べたと
同様に、接続部数を増加させることは難しくなる。
■TAB法も接続の方向としては、ワイヤボンディング
法と同様に、水平方向への接続であるため、水平方向の
大きさを小さくすることは困難であり、高密度実装には
不適である。
法と同様に、水平方向への接続であるため、水平方向の
大きさを小さくすることは困難であり、高密度実装には
不適である。
■キャリアフィルム基板16のインナーリード部17が
半導体素子4の接続部5以外の部分に接触しないように
するには、そのためのインナーリード部17の接続形状
が要求されるためコスト高となる。
半導体素子4の接続部5以外の部分に接触しないように
するには、そのためのインナーリード部17の接続形状
が要求されるためコスト高となる。
■半導体素子4の接続部5とインナーリード部17とを
接続するためには、半導体素子4の接続部5又はインナ
ーリード部17の接続部に金バンプを付けなければなら
ず、コスト高になる。
接続するためには、半導体素子4の接続部5又はインナ
ーリード部17の接続部に金バンプを付けなければなら
ず、コスト高になる。
■半導体素子4の熱膨張係数が、樹脂20乃至樹脂21
の熱膨張係数と異なるため、半導体装置9に熱が加わっ
た場合、熱応力が発生し、半導体素子4の特性劣化を生
じる。さらには、半導体素子4、又は樹脂20あるいは
樹脂21に割れが生じ、装置の信頼性が低下する。この
ような現象は半導体素子4の大きさが大きい場合顕著と
なる。
の熱膨張係数と異なるため、半導体装置9に熱が加わっ
た場合、熱応力が発生し、半導体素子4の特性劣化を生
じる。さらには、半導体素子4、又は樹脂20あるいは
樹脂21に割れが生じ、装置の信頼性が低下する。この
ような現象は半導体素子4の大きさが大きい場合顕著と
なる。
■CCB法
■半導体素子4の接続部5に半田バンブ31を形成させ
なければならないためコスト高になる。
なければならないためコスト高になる。
■バンブの半田量が多いと隣接する半田バンプ間にブリ
ッジ(隣接する半田バンプ同士が接触する現象)が生じ
、逆にバンブの半田量が少ないと半導体素子4の接続部
5と回路基板32の接続部33が接続しなくなり電気的
導通がとれなくなる。すなわち、接続の信頼性が低くな
る。
ッジ(隣接する半田バンプ同士が接触する現象)が生じ
、逆にバンブの半田量が少ないと半導体素子4の接続部
5と回路基板32の接続部33が接続しなくなり電気的
導通がとれなくなる。すなわち、接続の信頼性が低くな
る。
さらに、半田量、接続の半田形状が接続の信頼性に影響
する(”Geometric Op口m1zation
ofControlled Co11apse
InterconnecHons″。
する(”Geometric Op口m1zation
ofControlled Co11apse
InterconnecHons″。
し、 S、 Goldman、 IBM J、
RES、 DEVELOP、 1969、MA
Y、 pp、251−265.”Re1iabili
ty of ControlledCollaps
e Inter−connections’、 K、
C,Norris。
RES、 DEVELOP、 1969、MA
Y、 pp、251−265.”Re1iabili
ty of ControlledCollaps
e Inter−connections’、 K、
C,Norris。
A、 H,Landzberg、 IBM J、
RES、 DEVELOP。
RES、 DEVELOP。
1969、 MAY、 I)I1266−271.ろう
接技術研究会技術資料、No、017−’84、ろう接
技術研究会発行)という問題がある。
接技術研究会技術資料、No、017−’84、ろう接
技術研究会発行)という問題がある。
このように、半田バンブの量の多少が接続の信頼性に影
響するため半田バンブ31の量のコントロールが必要と
されている。
響するため半田バンブ31の量のコントロールが必要と
されている。
■半田バンプ31が半導体素子4の内側に存在すると接
続が良好に行われたか否かの目視検査が難しくなる。
続が良好に行われたか否かの目視検査が難しくなる。
■半導体素子の放熱性が悪い(参考資料;Electr
onic Packaging Technolo8y
1987.1゜(Vol、3. No、1) P、6
6〜71. NIKKEI MICRODEVICES
1986.5月、 P、97〜108)ため、放熱特性
を良好たらしめるために多大な工夫が必要とされる。
onic Packaging Technolo8y
1987.1゜(Vol、3. No、1) P、6
6〜71. NIKKEI MICRODEVICES
1986.5月、 P、97〜108)ため、放熱特性
を良好たらしめるために多大な工夫が必要とされる。
■半導体素子4の接続部と回路基板32の接続部を合わ
せて接続する5urface Douw Mount方
式であるため位置合わせが困難であり、製造装置は大が
かりとなる。また、マウント後リフローし接続するので
あるが、搬送中に位置ずれを生じたりする。
せて接続する5urface Douw Mount方
式であるため位置合わせが困難であり、製造装置は大が
かりとなる。また、マウント後リフローし接続するので
あるが、搬送中に位置ずれを生じたりする。
■第15図および第16図に示す技術
■絶縁膜71の露出面72、金属材70の露出面73あ
るいは絶縁膜71°の露出面72°と金属材70°の露
出面73°とを平らにしなければならず、そのための工
程が増し、コスト高になる。
るいは絶縁膜71°の露出面72°と金属材70°の露
出面73°とを平らにしなければならず、そのための工
程が増し、コスト高になる。
■絶縁膜71の露出面72と金属材70の露出面73あ
るいは絶縁膜71°の露出面72°と金属材70′の露
出面73゛に凹凸があると金属材70と金属材70゛と
が接続しなくなり、信頼性が低下する。
るいは絶縁膜71°の露出面72°と金属材70′の露
出面73゛に凹凸があると金属材70と金属材70゛と
が接続しなくなり、信頼性が低下する。
■この方式においても、 5urface Down
Mount方式であるので、CCB法の問題点■でのべ
たと同様に、位置合わせが困難であり、製造装置が犬が
かなりなものとなる。
Mount方式であるので、CCB法の問題点■でのべ
たと同様に、位置合わせが困難であり、製造装置が犬が
かなりなものとなる。
■第17図に示す技術
■位置決め後、接続部76と接続部76°とを加圧して
接続する際に、圧力が一定にはかかりにくいため接続状
態にバラツキか生じ、その結果、接続部における接触抵
抗値のバラツキが大ぎくなる。そのため、接続の信頼性
が乏しくなる。また、多量の電流を流すと、発熱等の現
象が生じるので、多量の電流を流したい場合には不向き
である。
接続する際に、圧力が一定にはかかりにくいため接続状
態にバラツキか生じ、その結果、接続部における接触抵
抗値のバラツキが大ぎくなる。そのため、接続の信頼性
が乏しくなる。また、多量の電流を流すと、発熱等の現
象が生じるので、多量の電流を流したい場合には不向き
である。
■圧力が一定にかけられたとしても、異方性導電膜78
の導電粒子79の配列により抵抗値のバラツキが大きく
なる。そのため、接続の信頼性に乏しくなる。また、多
量の電流を流したい場合には不向きである。
の導電粒子79の配列により抵抗値のバラツキが大きく
なる。そのため、接続の信頼性に乏しくなる。また、多
量の電流を流したい場合には不向きである。
■隣接する接続部のピッチ(接続部に隣接する接続部中
心間の距’m>を狭くすると、隣接する接続部の間の抵
抗値が小さくなることから高密度な接続には不向きであ
る。
心間の距’m>を狭くすると、隣接する接続部の間の抵
抗値が小さくなることから高密度な接続には不向きであ
る。
■回路基板75.75’の接続部76.76“の出っ張
り量h1のバラツキにより抵抗値が変化するため、h1
バラツ・キ量:を正確に押さえることが必要である。
り量h1のバラツキにより抵抗値が変化するため、h1
バラツ・キ量:を正確に押さえることが必要である。
■さらに、異方性導電膜を、半導体素子と回路基板の接
続、又は第1の半導体素子と第2の半導体素子との接続
に使用した場合、上記■〜■の欠点の他、半導体素子の
接続部にバンブを設けなければならなくなり、コスト高
になる。
続、又は第1の半導体素子と第2の半導体素子との接続
に使用した場合、上記■〜■の欠点の他、半導体素子の
接続部にバンブを設けなければならなくなり、コスト高
になる。
■第18図に示す技術
■加圧が必要であり、加圧治具が必要となる。
■エラスチックコネクタ83の金属線82と第1の回路
基板75の接続部76、又は第2の回路基板75゛の接
続部76° との接触抵抗は加圧力および表面状態によ
り変化するため、接続の信頼性に乏しい。
基板75の接続部76、又は第2の回路基板75゛の接
続部76° との接触抵抗は加圧力および表面状態によ
り変化するため、接続の信頼性に乏しい。
■エラスチックコネクタ83の金属線82は剛体である
ため、加圧力が犬であるとエラスチックコネクタ83、
第1の回路基板75、第2の回路基板75°の表面が破
損する可能性が大きい。また、加圧力が小であると、接
続の信頼性が乏しくなる。
ため、加圧力が犬であるとエラスチックコネクタ83、
第1の回路基板75、第2の回路基板75°の表面が破
損する可能性が大きい。また、加圧力が小であると、接
続の信頼性が乏しくなる。
■さらに、回路基板75,75°の接続部76.76°
の出っ弓長りt h 2又はエラスチックコネクタ83
の金属線82のの出っ張り量h3とそのバラツキが抵抗
値変化および破損に影響を及ぼすので、バラツキを少な
くする工夫が必要とされる。
の出っ弓長りt h 2又はエラスチックコネクタ83
の金属線82のの出っ張り量h3とそのバラツキが抵抗
値変化および破損に影響を及ぼすので、バラツキを少な
くする工夫が必要とされる。
■さらに、エラスチックコネクタを半導体素子と回路基
板の接続又は第1の半導体素子と第2の半導体素子との
接続に使用した場合、■〜■と同様な欠点を生ずる。
板の接続又は第1の半導体素子と第2の半導体素子との
接続に使用した場合、■〜■と同様な欠点を生ずる。
(以下余白)
[問題点を解決するための手段]
本発明の第1の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と:少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されてい
る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されている少な
くとも1以上の他の電気回路部品と: を少なくとも有する電気回路装置にいて、該電気回路部
材及び該他の電気回路部品のいずれか一方が該電気的接
続部材を保持しており、保持していない他方が着脱可能
であることを特徴とする電気回路装置に存在する。
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と:少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されてい
る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されている少な
くとも1以上の他の電気回路部品と: を少なくとも有する電気回路装置にいて、該電気回路部
材及び該他の電気回路部品のいずれか一方が該電気的接
続部材を保持しており、保持していない他方が着脱可能
であることを特徴とする電気回路装置に存在する。
本発明の第2の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されてお
り、該接続は、該接続部と該一端とを金属化及び/又は
合金化することにより形成された接続層を介してなされ
ている少なくとも1以上の電気回路部品と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、該
接、続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続層を介してなされてい
る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置にいて、該保持体の一
方の面において露出している該電気的接続部材の一端を
形成している材質の融点と他方の面において露出してい
る該電気的導電部材の他端を形成している材質の融点と
が異なるものからなっており、該電気回路装置を該一端
及び該他端の一方の融点以上、他方の融点未満に加熱す
ることにより、該電気回路部品あるいは該他の電気回路
部品のいずれか一方のみを着脱可能にしたことを特徴と
する電気回路装置に存在する。
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されてお
り、該接続は、該接続部と該一端とを金属化及び/又は
合金化することにより形成された接続層を介してなされ
ている少なくとも1以上の電気回路部品と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、該
接、続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続層を介してなされてい
る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置にいて、該保持体の一
方の面において露出している該電気的接続部材の一端を
形成している材質の融点と他方の面において露出してい
る該電気的導電部材の他端を形成している材質の融点と
が異なるものからなっており、該電気回路装置を該一端
及び該他端の一方の融点以上、他方の融点未満に加熱す
ることにより、該電気回路部品あるいは該他の電気回路
部品のいずれか一方のみを着脱可能にしたことを特徴と
する電気回路装置に存在する。
本発明の第3の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されてい
る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されている少な
くとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置にいて、該保持体の一
方の面において露出している該電気的導電部材のうちの
少なくとも1つの一端が該電気回路保持部材の少なくと
も1つの接続部と接続されており、該電気回路保持部材
及び該電気回路部品、又は、該他の電気回路部品のいず
れか一方が該電気的接続部材を保持しており、保持して
いない他方が着脱可能であることを特徴とする電気回路
装置に存在する。
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
有し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されてい
る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されている少な
くとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置にいて、該保持体の一
方の面において露出している該電気的導電部材のうちの
少なくとも1つの一端が該電気回路保持部材の少なくと
も1つの接続部と接続されており、該電気回路保持部材
及び該電気回路部品、又は、該他の電気回路部品のいず
れか一方が該電気的接続部材を保持しており、保持して
いない他方が着脱可能であることを特徴とする電気回路
装置に存在する。
本発明の第4の要旨は、電気的絶縁材料よりなる保持体
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
1し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少な(とも1つの一端が接続されてお
り、該接続は、該接続部と該一端とを金属化及び/又は
合金化することにより形成された接続層を介してなされ
ている少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の一方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、該
接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金化
することにより形成された接続層を介してなされている
少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置にいて、該保持体の一
方の面において露出している該電気的導電部材のうちの
少なくとも1つの一端が該電気回路保持部材の少なくと
も1つの接続部と金属化皮5び/又は合金化することに
より接続されており、該保持体の他方の面において露出
している該電気的導電部材のうちの少なくとも1つの他
端が該他の電気回路部品の少なくとも1つの該接続部と
金属化及び/又は合金化することにより接続されており
、該保持体の一方の面において露出している該電気的接
続部材の一端を形成している材質の融点と他方の面にお
いて露出している該電気的導電部材の他端を形成してい
る材質の融点とが異なるものからなっており、該電気回
路装置を該一端及び該他端の一方の融点以上、他方の融
点未満に加熱することにより、該電気回路保持部材及び
該電気回路部品、又は、該他の電気回路部品のいずれか
一方のみを着脱可能にしたことを特徴とする電気回路装
置に存在する。
と、該保持体中に埋設された複数の電気的導電部材とを
1し、該電気的導電部材の一端が該保持体の一方の面に
おいて露出しており、また、該電気的導電部材の他端が
該保持体の他方の面において露出している電気的接続部
材と;少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にい
て、該保持体の一方の面において露出している該電気的
導電部材のうちの少な(とも1つの一端が接続されてお
り、該接続は、該接続部と該一端とを金属化及び/又は
合金化することにより形成された接続層を介してなされ
ている少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分にいて、該電気回路部品の少なくとも
1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以上
の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の面
に回路が形成されている電気回路保持部材と: 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の一方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、該
接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金化
することにより形成された接続層を介してなされている
少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置にいて、該保持体の一
方の面において露出している該電気的導電部材のうちの
少なくとも1つの一端が該電気回路保持部材の少なくと
も1つの接続部と金属化皮5び/又は合金化することに
より接続されており、該保持体の他方の面において露出
している該電気的導電部材のうちの少なくとも1つの他
端が該他の電気回路部品の少なくとも1つの該接続部と
金属化及び/又は合金化することにより接続されており
、該保持体の一方の面において露出している該電気的接
続部材の一端を形成している材質の融点と他方の面にお
いて露出している該電気的導電部材の他端を形成してい
る材質の融点とが異なるものからなっており、該電気回
路装置を該一端及び該他端の一方の融点以上、他方の融
点未満に加熱することにより、該電気回路保持部材及び
該電気回路部品、又は、該他の電気回路部品のいずれか
一方のみを着脱可能にしたことを特徴とする電気回路装
置に存在する。
以下に本発明の構成要件を個別的に説明する。
(電気回路部品)
本発明における電気回路部品としては、例えば、トラン
ジスタ、■C等の半導体素子や、樹脂回路基板、セラミ
ック基板、金属基板、シリコン基板等の回路基板(以下
単に回路基板ということがある)や、リードフレーム等
が挙げられる。
ジスタ、■C等の半導体素子や、樹脂回路基板、セラミ
ック基板、金属基板、シリコン基板等の回路基板(以下
単に回路基板ということがある)や、リードフレーム等
が挙げられる。
なお、電気回路保持部材に保持又は接続される電気回路
部品は、電気回路保持部材の1つの面に1つだけ存在し
てもよいし、複数個存在してもよい。さらに、保持又は
接続される電気回路部品の大きさ、形状、種類は任意で
かまわないが、保持又は接続される電気回路部品の数が
多ければ多いほど、また種類が多種であれば多種である
ほど、本発明の効果は顕著となる。
部品は、電気回路保持部材の1つの面に1つだけ存在し
てもよいし、複数個存在してもよい。さらに、保持又は
接続される電気回路部品の大きさ、形状、種類は任意で
かまわないが、保持又は接続される電気回路部品の数が
多ければ多いほど、また種類が多種であれば多種である
ほど、本発明の効果は顕著となる。
なお、電気的接続部材に接続される電気回路部品は、保
持体の1つの面に1つだけ存在してもよいし、複数個存
在してもよい。
持体の1つの面に1つだけ存在してもよいし、複数個存
在してもよい。
電気回路部品として接続部を有する部品が木発明の対象
となる。接続部の数は問わないが、接続部の数が多けれ
ば多いほど本発明の効果が顕著となる。
となる。接続部の数は問わないが、接続部の数が多けれ
ば多いほど本発明の効果が顕著となる。
また、接続部の存在位蓋も問わないが、電気回路部品の
内部に存在するほど本発明の効果は顕著となる。
内部に存在するほど本発明の効果は顕著となる。
なお、接続部は電気的導電材料である。
(電気回路保持部材)
電気回路保持部材の材質としては金属、合金、有機、無
機材料のいずれであフてもよく、また、それらの複合材
料であってもよい。さらに、電気回路保持部材の形状、
大きさは、保持又は接続する電気回路部品と他の電気回
路部品との接続が均一に、かつ安定して行うことが可能
であれば任意の形状及び任意の大きさであってかまわな
い。
機材料のいずれであフてもよく、また、それらの複合材
料であってもよい。さらに、電気回路保持部材の形状、
大きさは、保持又は接続する電気回路部品と他の電気回
路部品との接続が均一に、かつ安定して行うことが可能
であれば任意の形状及び任意の大きさであってかまわな
い。
電気回路保持部材に保持又は接続する電気回路部品の大
きさ、数、種類は任意であってかまわないが、数が多け
れば多いほど、また種類は多種であれば多種であるほど
、本発明の効果は顕著である。
きさ、数、種類は任意であってかまわないが、数が多け
れば多いほど、また種類は多種であれば多種であるほど
、本発明の効果は顕著である。
上記金屑又は合金としては、例えば、Ag。
Cu、Au、Al1.Be、Ca、Mg、Mo。
Fe、Ni、Co、Mn、W、Ti、Pt。
Cr、Pd、Nb、Ta、V、Y等の金属又は合金が挙
げられる。
げられる。
また、無機材料としては、例えば、Si。
Ge、GaAs、InGaAsP、InP。
a−Si等の半導体や、B203 、Al2O2゜Na
2O,に20.Cab、ZnO,Bad。
2O,に20.Cab、ZnO,Bad。
PbO,Sb20.、As20.、Lax o、。
Z r02 、Bad、P’205 、T i 02
。
。
MgO,SiC,Bed、BP、BN。
h−BN、c−BN、Al1N、B4 C,TaC。
TiB2 、CrB2 、TiN、Si3N4 。
Ta2 o5.S i02等のセラミック、又はr a
、I b、IIa、Ilbのダイヤモンド、又はガラス
、合成石英、カーボン、ボロンその他の無機材料が挙げ
られる。
、I b、IIa、Ilbのダイヤモンド、又はガラス
、合成石英、カーボン、ボロンその他の無機材料が挙げ
られる。
また、有機材料としては、例えば、絶縁性の樹脂を用い
ればよく、樹脂としては、熱硬化性樹脂、紫外線硬化樹
脂、熱可塑性樹脂のいずれでもよい。例えば、ポリイミ
ド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテ
ルサルフォン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスチ
レン樹脂、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリジ
フェニールエーテル樹脂、ポリベンジルイミダゾール樹
脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ
塩化ビニル樹脂、ポリスチレン樹脂、メタクリル酸メチ
ル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、フェノール樹
脂、メラニン樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メタクリ
ル樹脂、塩化ビニリデン樹脂、アルキッド樹脂、シリコ
ーン樹脂、その他の樹脂を使用することができる。
ればよく、樹脂としては、熱硬化性樹脂、紫外線硬化樹
脂、熱可塑性樹脂のいずれでもよい。例えば、ポリイミ
ド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエーテ
ルサルフォン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスチ
レン樹脂、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリジ
フェニールエーテル樹脂、ポリベンジルイミダゾール樹
脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポリ
塩化ビニル樹脂、ポリスチレン樹脂、メタクリル酸メチ
ル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、フェノール樹
脂、メラニン樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メタクリ
ル樹脂、塩化ビニリデン樹脂、アルキッド樹脂、シリコ
ーン樹脂、その他の樹脂を使用することができる。
さらに、本発明の電気回路保持部材には回路が形成され
ている。電気回路保持部材の材質が絶縁体、もしくは表
面が絶縁処理されたものであれば、少なくとも1面に回
路パターン及び接続部を形成してもよいし、スルーホー
ル又はピアホールを形成して回路を保持体の両面で繋げ
てあってもよいし、回路パターンの描かれた保持体を多
層に積み重ねて多層基板を形成してもよい。
ている。電気回路保持部材の材質が絶縁体、もしくは表
面が絶縁処理されたものであれば、少なくとも1面に回
路パターン及び接続部を形成してもよいし、スルーホー
ル又はピアホールを形成して回路を保持体の両面で繋げ
てあってもよいし、回路パターンの描かれた保持体を多
層に積み重ねて多層基板を形成してもよい。
さらに、電気回路保持部材としては、それぞれ異なる機
能をもった部材を組み合わせ、積層構造とすることも可
能である。例えば、回路基板と補強板、又は回路基板と
放熱フィン等の組み合わせを行うことができる。また、
積み重ねる数、それぞれの機能については任意でかまわ
ない。
能をもった部材を組み合わせ、積層構造とすることも可
能である。例えば、回路基板と補強板、又は回路基板と
放熱フィン等の組み合わせを行うことができる。また、
積み重ねる数、それぞれの機能については任意でかまわ
ない。
(電気的接続部材)
本発明に係る電気的接続部材は、電気絶縁材料からなる
保持体に複数の電気的導電部材が埋設されている。埋設
されている導電部材同士は電気的に絶縁されている。
保持体に複数の電気的導電部材が埋設されている。埋設
されている導電部材同士は電気的に絶縁されている。
この電気的導電部材の一端は保持体の一方の面において
露出しており、他端は保持体の他方の面においてに露出
している。
露出しており、他端は保持体の他方の面においてに露出
している。
さらに電気的接続部材は、1層でもよいし、2層以上の
多層からなるものでもよい。
多層からなるものでもよい。
(電気的導電部材)
電気的導電部材は電気的に導電性を示すものならば何で
もよい。金属材料が一般的であるが、金属材料以外にも
超電導性を示す材料等でもよい。
もよい。金属材料が一般的であるが、金属材料以外にも
超電導性を示す材料等でもよい。
金属部材の材料としては、金が好ましいが、全以外の任
意の金属あるいは合金を使用することもできる。例えば
、Ag、Be、Ca、Mg。
意の金属あるいは合金を使用することもできる。例えば
、Ag、Be、Ca、Mg。
Mo、Ni、W、Fe、Ti、In、Ta。
Zn、Cu、An、Sn、Pb−5n等の金属あるいは
合金が挙げられる。
合金が挙げられる。
また、金属部材及び合金部材は、同一の電気的接続部材
において同種の金属が存在していてもよいし、異種の金
属が存在していてもよい。さらに、電気的接続部材の金
属部材及び合金部材の1個が同種の金属乃至合金ででき
ていてもよいし、異種の金属乃至合金でできていてもよ
い。さらに、金属、合金以外であっても導電性を示すな
らば、金属材料に有機材料または無機材料の一方または
両方を包含せしめた材料でもよい。また、導電性を示す
ならば無機材料と有機材料との組合せでもよい。
において同種の金属が存在していてもよいし、異種の金
属が存在していてもよい。さらに、電気的接続部材の金
属部材及び合金部材の1個が同種の金属乃至合金ででき
ていてもよいし、異種の金属乃至合金でできていてもよ
い。さらに、金属、合金以外であっても導電性を示すな
らば、金属材料に有機材料または無機材料の一方または
両方を包含せしめた材料でもよい。また、導電性を示す
ならば無機材料と有機材料との組合せでもよい。
さらに、電気的導電部材の断面は円形、四角形その他任
意の形状とするができる。
意の形状とするができる。
また、電気的導電部材の太さは特に限定されない。電気
回路部材の接続部のピッチを考慮して、例えば20μm
φ以上あるいは20μmφ以下にしてもよい。
回路部材の接続部のピッチを考慮して、例えば20μm
φ以上あるいは20μmφ以下にしてもよい。
なお、電気的導電部材の露出部は保持体と同一面として
もよいし、また、保持体の面から突出させてもよい。こ
の突出は片面のみでもよいし、両面でもよい。さらに突
出させた場合はバンブ状にしてもよい。
もよいし、また、保持体の面から突出させてもよい。こ
の突出は片面のみでもよいし、両面でもよい。さらに突
出させた場合はバンブ状にしてもよい。
また、電気的導電部材の間隔は、電気回路部品の接続部
同士の間隔と同一間隔としてもよいし、それより狭い間
隔としてもよい。狭い間隔とした場合には電気回路部品
と電気的接続部材との位置決めを要することなく、電気
回路部品と電気的接続部材とを接続することが可能とな
る。
同士の間隔と同一間隔としてもよいし、それより狭い間
隔としてもよい。狭い間隔とした場合には電気回路部品
と電気的接続部材との位置決めを要することなく、電気
回路部品と電気的接続部材とを接続することが可能とな
る。
また、電気的導電部材は保持体中に垂直に配する必要は
なく、保持体の一方の面側から保持体の他方の面側に向
って斜行していてもよい。
なく、保持体の一方の面側から保持体の他方の面側に向
って斜行していてもよい。
(保持体)
保持体は、電気的絶縁材料からなる。
電気的絶縁材料ならばいかなるものでもよい。
電気的絶縁材料としては有機材料、無機材料が挙げられ
る。また、電気的導電部材同士が電気的に絶縁されるよ
うに処理を施した金属又は合金材料でもよい。さらに、
有機材料中に、粉体や繊維等、所望の形状をした無機材
料、金属材料、合金材料の一種か、又は複数種を分散さ
せて保有せしめてもよい。さらに、無機材料中に、粉体
や繊維等、所望の形状をした有機材料、金属材料、合金
材料の一種か、又は複数種を分散させて保有せしめても
よい。また、金属あるいは合金材料中に、粉体や繊維等
、所望の形状をした無機材料、有機材料を一種か、又は
複数種を分散させて保有せしめてもよい。なお、保持体
が金属材料よりなる場合は、例えば、電気的導電部材と
保持体との間に樹脂等の電気的絶縁材料を配設すればよ
い。
る。また、電気的導電部材同士が電気的に絶縁されるよ
うに処理を施した金属又は合金材料でもよい。さらに、
有機材料中に、粉体や繊維等、所望の形状をした無機材
料、金属材料、合金材料の一種か、又は複数種を分散さ
せて保有せしめてもよい。さらに、無機材料中に、粉体
や繊維等、所望の形状をした有機材料、金属材料、合金
材料の一種か、又は複数種を分散させて保有せしめても
よい。また、金属あるいは合金材料中に、粉体や繊維等
、所望の形状をした無機材料、有機材料を一種か、又は
複数種を分散させて保有せしめてもよい。なお、保持体
が金属材料よりなる場合は、例えば、電気的導電部材と
保持体との間に樹脂等の電気的絶縁材料を配設すればよ
い。
ここで、有機材料としては、例えば、絶縁性の樹脂を用
いればよく、樹脂としては、熱硬化性樹脂、紫外線硬化
樹脂、熱可塑性樹脂のいずれでもよい。例えば、ポリイ
ミド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエー
テルサルフオン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリス
チレン樹脂、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリ
ジフェニールエーテル樹脂、ポリベンジルイミダゾール
樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポ
リ塩化ビニル樹脂、ポリスチレン樹脂、メタクリル酸メ
チル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、フェノール
樹脂、メラニン樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メタク
リル樹脂、塩化ビニリデン樹脂、アルキッド樹脂、シリ
コーン樹脂、その他の樹脂を使用することができる。
いればよく、樹脂としては、熱硬化性樹脂、紫外線硬化
樹脂、熱可塑性樹脂のいずれでもよい。例えば、ポリイ
ミド樹脂、ポリフェニレンサルファイド樹脂、ポリエー
テルサルフオン樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリス
チレン樹脂、フッ素樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリ
ジフェニールエーテル樹脂、ポリベンジルイミダゾール
樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリプロピレン樹脂、ポ
リ塩化ビニル樹脂、ポリスチレン樹脂、メタクリル酸メ
チル樹脂、ポリフェニレンオキサイド樹脂、フェノール
樹脂、メラニン樹脂、エポキシ樹脂、尿素樹脂、メタク
リル樹脂、塩化ビニリデン樹脂、アルキッド樹脂、シリ
コーン樹脂、その他の樹脂を使用することができる。
なお、これらの樹脂の中から、熱伝導性のよい樹脂を使
用すれば、半導体素子が熱を持ってもその熱を樹脂を介
して放熱することができるのでより好ましい。さらに、
樹脂として、回路基板と同じかあるいは同程度の熱膨張
率を有するものを選択し、また、有機材料中に少なくと
も1ケの穴あるいは複数の気泡を存在せしめれば、熱膨
張・熱収縮に基づく、装置の信頼性の低下を一層防止す
ることが可能となる。
用すれば、半導体素子が熱を持ってもその熱を樹脂を介
して放熱することができるのでより好ましい。さらに、
樹脂として、回路基板と同じかあるいは同程度の熱膨張
率を有するものを選択し、また、有機材料中に少なくと
も1ケの穴あるいは複数の気泡を存在せしめれば、熱膨
張・熱収縮に基づく、装置の信頼性の低下を一層防止す
ることが可能となる。
無機材料、金属材料としては、例えば、5i02 、B
203 、Aj220s 、Naz O。
203 、Aj220s 、Naz O。
K20.Cab、ZnO,Bad、PbO。
St+203 、Ag203 、La203 、ZrO
2゜Bad、P、05 、TiO2,MgO,SiC。
2゜Bad、P、05 、TiO2,MgO,SiC。
Bed、 BP、 BN、 AfLN、 B4 C,T
aC。
aC。
TiB2.CrB2.TiN、Si3N4゜Ta205
等のセラミック、ダイヤモンド、ガラス、カーボン、ボ
ロン等の無機材料や、Ag。
等のセラミック、ダイヤモンド、ガラス、カーボン、ボ
ロン等の無機材料や、Ag。
Cu、Au、An、Be、Ca、Mg、Mo。
Fe、Ni、Si、Co、Mn、W等の金属又は合金を
用いればよい。
用いればよい。
(接続;金属化及び/又は合金化による接続)電気的接
続部材の端と電気回路部品の接続との接続としては下記
の3つの構成が考えられる。
続部材の端と電気回路部品の接続との接続としては下記
の3つの構成が考えられる。
なお、1個の電気的接続部材に、1個または2個以上の
電気回路部品が接続されていてもよいが、その接続され
た電気回路部品のうちの少なくとも1個が下記の構成に
よる接続でなされていればよい。
電気回路部品が接続されていてもよいが、その接続され
た電気回路部品のうちの少なくとも1個が下記の構成に
よる接続でなされていればよい。
■保持体の一方の面において露出している複数の電気的
導電部材の一端と一方の電気回路部品の複数の接続部と
が、また、保持体の他方の面において露出している複数
の電気的導電部材の他端と他方の電気回路部品の複数の
接続部とが、それぞれ次の■及び■で述べる金属化及び
/又は合金化以外の方法で接続されている構成。
導電部材の一端と一方の電気回路部品の複数の接続部と
が、また、保持体の他方の面において露出している複数
の電気的導電部材の他端と他方の電気回路部品の複数の
接続部とが、それぞれ次の■及び■で述べる金属化及び
/又は合金化以外の方法で接続されている構成。
■保持体の一方の面において露出している複数の電気的
導電部材の一端と一方の電気回路部品の複数の接続部の
少なくとも1つとが金属化及び/又は合金化されること
により形成された接続層を介して接続され、一方、保持
体の他方の面において露出している複数の電気的導電部
材の他端と他方の電気回路部品の複数の接続部とが上記
金属化及び/又は合金化以外の方法で接続されている構
成。
導電部材の一端と一方の電気回路部品の複数の接続部の
少なくとも1つとが金属化及び/又は合金化されること
により形成された接続層を介して接続され、一方、保持
体の他方の面において露出している複数の電気的導電部
材の他端と他方の電気回路部品の複数の接続部とが上記
金属化及び/又は合金化以外の方法で接続されている構
成。
■保持体の一方の面において露出している複数の電気的
導電部材の一端と一方の電気回路部品の複数の接続部の
少なくとも1つとが金属化及び/又は合金化されること
により形成された接続層を介して接続され、一方、保持
体の他方の面において露出している複数の電気的導電部
材の他端と他方の電気回路部品の複数の接続部の少なく
とも1つとが金属化及び/又は合金化されることにより
形成された接続層を介して接続されている構成。
導電部材の一端と一方の電気回路部品の複数の接続部の
少なくとも1つとが金属化及び/又は合金化されること
により形成された接続層を介して接続され、一方、保持
体の他方の面において露出している複数の電気的導電部
材の他端と他方の電気回路部品の複数の接続部の少なく
とも1つとが金属化及び/又は合金化されることにより
形成された接続層を介して接続されている構成。
次に上記の接続層について述べる。
接続しようとする電気的導電部材と接続部とが同種の純
金属よりなる場合には、金属化により形成される接続層
は電気的導電部材あるいは接続部と同種の結晶構造とな
る。なお、金属化の方法としては、例えば、電気的導電
部材の端とその端に対応する接続部とを接触させた後、
適宜の温度に加熱すればよい。加熱により接触部近傍に
おいて原子の拡散等が生じ、拡散・部が金属化状態とな
り接続層が形成される。
金属よりなる場合には、金属化により形成される接続層
は電気的導電部材あるいは接続部と同種の結晶構造とな
る。なお、金属化の方法としては、例えば、電気的導電
部材の端とその端に対応する接続部とを接触させた後、
適宜の温度に加熱すればよい。加熱により接触部近傍に
おいて原子の拡散等が生じ、拡散・部が金属化状態とな
り接続層が形成される。
接続しようとする電気的導電部材と接続部が異種の純金
属よりなる場合には、形成される接続層は両金属の合金
よりなる。合金化の方法とじては、例えば、電気的導電
部材の端とその端に対応する接続部とを接触させた後、
適宜の温度に加熱すればよい。加熱により接触部近傍に
おいて原子の拡散等が生じ接触部近傍に固溶体あるいは
金属間化合物よりなる層が形成されこの層が接続層とな
る。
属よりなる場合には、形成される接続層は両金属の合金
よりなる。合金化の方法とじては、例えば、電気的導電
部材の端とその端に対応する接続部とを接触させた後、
適宜の温度に加熱すればよい。加熱により接触部近傍に
おいて原子の拡散等が生じ接触部近傍に固溶体あるいは
金属間化合物よりなる層が形成されこの層が接続層とな
る。
なお、電気的接続部材の金属部材にAuを使用し、電気
回路部品の接続部にA1を使用した場合には、200〜
350℃の加熱温度が好ましい。
回路部品の接続部にA1を使用した場合には、200〜
350℃の加熱温度が好ましい。
接続しようとする電気的導電部材と接続部の一方が純金
属よりなり他方が合金よりなる場合、あるいは両者が同
種あるいは異種の合金よりなる場合には、接続層は合金
よりなる。
属よりなり他方が合金よりなる場合、あるいは両者が同
種あるいは異種の合金よりなる場合には、接続層は合金
よりなる。
1個の電気的接続部材中における複数の電気的導電部材
同士についてみると、それぞれの電気的導電部材が同種
の金屑あるいは合金よりなる場合、それぞれが異種の金
属あるいは合金からなる場合、またさらに−ケの電気的
導電部材で同種の金属あるいは合金、異種の金属あるい
は合金よりなる場合、その他の場合があるが、そのいず
れの場合であっても上記の金属化あるいは合金化が行わ
れる。一方、接続部についても同様である。
同士についてみると、それぞれの電気的導電部材が同種
の金屑あるいは合金よりなる場合、それぞれが異種の金
属あるいは合金からなる場合、またさらに−ケの電気的
導電部材で同種の金属あるいは合金、異種の金属あるい
は合金よりなる場合、その他の場合があるが、そのいず
れの場合であっても上記の金属化あるいは合金化が行わ
れる。一方、接続部についても同様である。
なお、電気的導電部材あるいは接続部は、両者の接触部
にいて、金属あるいは合金であればよく、その他の部分
は、例えば、金属にガラス、あるいは、金属に樹脂が配
合された状態であってもよい。
にいて、金属あるいは合金であればよく、その他の部分
は、例えば、金属にガラス、あるいは、金属に樹脂が配
合された状態であってもよい。
なお、接続強度を高めるためには、接続される部分の表
面粗度を小さくすることが好ましい(特に0.3μm以
下が好ましい)。また、接続される部分の表面に合金化
しやすい金属あるいは合金よりなるめっき層を設けてお
いてもよい。
面粗度を小さくすることが好ましい(特に0.3μm以
下が好ましい)。また、接続される部分の表面に合金化
しやすい金属あるいは合金よりなるめっき層を設けてお
いてもよい。
上記の金属化あるいは合金化以外の接続を行うには、例
えば電気回路部品と電気的接続部材の電気的導電部材と
を押圧して接続すればよい。
えば電気回路部品と電気的接続部材の電気的導電部材と
を押圧して接続すればよい。
(保持)
電気回路保持部材と電気回路部品の少なくとも1以上の
電気的接続部の存在する面以外の少なくとも1以上の面
の保持、及び電気的接続部材と電気回路部品あるいは他
の電気回路部品の保持としては、下記の■〜■の方法が
考えられるが、少なくとも1部分がそれらのうちの少な
くとも1つの方法で保持されていればよい。
電気的接続部の存在する面以外の少なくとも1以上の面
の保持、及び電気的接続部材と電気回路部品あるいは他
の電気回路部品の保持としては、下記の■〜■の方法が
考えられるが、少なくとも1部分がそれらのうちの少な
くとも1つの方法で保持されていればよい。
■有機材料の硬化反応により保持する。有機材料として
樹脂を使用する場合には樹脂の種類は問わない。例えば
、熱硬化性樹脂、紫外線硬化性樹脂のいずれでもよい。
樹脂を使用する場合には樹脂の種類は問わない。例えば
、熱硬化性樹脂、紫外線硬化性樹脂のいずれでもよい。
■接着材により接着し保持する。接着材の種類は問わな
い。例えば、アクリル系接着材、エポキシ系接着材のい
ずれでもよい。
い。例えば、アクリル系接着材、エポキシ系接着材のい
ずれでもよい。
■前述の金属化及び/又は合金化することにより保持す
る。
る。
■電気回路保持部材と電気回路部品の保持される部分を
同一の材質の材料から形成し、その表面を清浄化し、真
空中で貼り合せ、接触部の構成原子の原子間力(ファン
デルワールス力)により保持する。
同一の材質の材料から形成し、その表面を清浄化し、真
空中で貼り合せ、接触部の構成原子の原子間力(ファン
デルワールス力)により保持する。
■上記■〜■の方法以外で、保持後に多少の外力が電気
回路保持部材又は電気回路部品に加わっても保持部が位
置ズレを生じない強度の任意の保持方法で保持する。例
えば、機械的なはめ込み等の方法で保持する方法。
回路保持部材又は電気回路部品に加わっても保持部が位
置ズレを生じない強度の任意の保持方法で保持する。例
えば、機械的なはめ込み等の方法で保持する方法。
(着脱)
電気回路部品あるいは他の電気回路部品のいずれか一方
を着脱可能とする方法としては、■電気的接続部材のい
ずれか一方の面の少なくとも1部分と、電気回路部品あ
るいは他の電気回路部品のいずれか一方の電気的接続部
材に接続された側の面の少なくとも1部分とを接着し、
かつ、電気的接続部材の両面において露出している電気
的導電部材と電気回路部品あるいは他の電気回路部品の
他方の接続部との接続は押圧により行う方法。抑圧を解
除することにより、電気的接続部材に接着されていない
方の電気回路部品が電気的接続部材から離れ、また、再
び位置決め後、押圧することにより接続される。
を着脱可能とする方法としては、■電気的接続部材のい
ずれか一方の面の少なくとも1部分と、電気回路部品あ
るいは他の電気回路部品のいずれか一方の電気的接続部
材に接続された側の面の少なくとも1部分とを接着し、
かつ、電気的接続部材の両面において露出している電気
的導電部材と電気回路部品あるいは他の電気回路部品の
他方の接続部との接続は押圧により行う方法。抑圧を解
除することにより、電気的接続部材に接着されていない
方の電気回路部品が電気的接続部材から離れ、また、再
び位置決め後、押圧することにより接続される。
■電気的接続部材のいずれか一面に露出している電気的
導電部材のうちの少なくとも1つと、電気回路部品ある
いは他の電気回路部品の一方の接続部の少なくとも1つ
とを金属化及び/又は合金化して接続し、かつ、他方は
上記■と同様に位置決め後押圧により接続する方法。押
圧を解除することにより金属化及び/又は合金化して接
続されていない電気回路部品が、電気的接続部材から離
れ、また、再び位置決め後押圧することにより接続され
る。
導電部材のうちの少なくとも1つと、電気回路部品ある
いは他の電気回路部品の一方の接続部の少なくとも1つ
とを金属化及び/又は合金化して接続し、かつ、他方は
上記■と同様に位置決め後押圧により接続する方法。押
圧を解除することにより金属化及び/又は合金化して接
続されていない電気回路部品が、電気的接続部材から離
れ、また、再び位置決め後押圧することにより接続され
る。
■上記以外の方法で、電気回路部材あるいは他の電気回
路部品のいずれか一方が電気的接続部材を保持し、かつ
、他方は上記の、■と同様に押圧により接続する方法。
路部品のいずれか一方が電気的接続部材を保持し、かつ
、他方は上記の、■と同様に押圧により接続する方法。
同様に押圧を解除すると電気的接続部材を保持していな
い方の電気回路部品と電気的接続部材は離れ、また、位
置決め後押圧することにより接続される。
い方の電気回路部品と電気的接続部材は離れ、また、位
置決め後押圧することにより接続される。
■電気的接続部材の一方の面において露出している電気
的導電部材の一端を形成している材質の融点と他方の面
において露出している電気的導電部材の多端を形成して
いる材質の融点とが異なる電気的接続部材を用いて、電
気回路部品及び他の電気回路部品を接続する方法。この
接続は、電気回路保持部材、電気的接続部材、他の電気
回路部品の三者を一度に位置決め後、電気的接続部材の
露出している一端を形成している電気的導電部材の高温
側の融点以上に加熱し、電気回路部品及び他の電気回路
部品の両者を同時に金属化及び/又は合金化して接続し
てもよいし、保持体と電気的接続部材、あるいは電気的
接続部材と他の電気回路部品のいずれか一方を先に位置
決めし、金属化及び/又は合金化して接続し、次に、他
方を位置決め後、電気的導電部材の一端及び他端の一方
の融点以上、他方の融点未満に加熱し、金属化及び/又
は合金化させて接続してもよい。なお、後者の場合、電
気的導電部材の一端及び他端のうち先に接続する方は、
高融点側の材質から成る。
的導電部材の一端を形成している材質の融点と他方の面
において露出している電気的導電部材の多端を形成して
いる材質の融点とが異なる電気的接続部材を用いて、電
気回路部品及び他の電気回路部品を接続する方法。この
接続は、電気回路保持部材、電気的接続部材、他の電気
回路部品の三者を一度に位置決め後、電気的接続部材の
露出している一端を形成している電気的導電部材の高温
側の融点以上に加熱し、電気回路部品及び他の電気回路
部品の両者を同時に金属化及び/又は合金化して接続し
てもよいし、保持体と電気的接続部材、あるいは電気的
接続部材と他の電気回路部品のいずれか一方を先に位置
決めし、金属化及び/又は合金化して接続し、次に、他
方を位置決め後、電気的導電部材の一端及び他端の一方
の融点以上、他方の融点未満に加熱し、金属化及び/又
は合金化させて接続してもよい。なお、後者の場合、電
気的導電部材の一端及び他端のうち先に接続する方は、
高融点側の材質から成る。
このように作成された電気回路装置を、再び一方の融点
以上、他方の融点未満に加熱することにより、低融点側
の電気的導電部材と接続している電気回路部品のみ、電
気的接続部材から離れ、また再び位置決め後、一方の融
点以上、他方の融点未満に加熱することにより、再び金
属化及び/又は合金化して接続する方法がある。また、
接続部の位置関係が同一であるならば、最初に接続され
ていた電気回路部品と同一の電気回路部品を接続しても
よいし、異なる電気回路部品と接続してもよい。
以上、他方の融点未満に加熱することにより、低融点側
の電気的導電部材と接続している電気回路部品のみ、電
気的接続部材から離れ、また再び位置決め後、一方の融
点以上、他方の融点未満に加熱することにより、再び金
属化及び/又は合金化して接続する方法がある。また、
接続部の位置関係が同一であるならば、最初に接続され
ていた電気回路部品と同一の電気回路部品を接続しても
よいし、異なる電気回路部品と接続してもよい。
[作用]
本発明では、電気回路部品あるいは他の電気回路部品の
いずれか一方のみが電気的接続部材から着脱可能となる
ことにより、電気回路部品あるいは他の電気回路部品が
故障した場合でも交換が可能となり、極めてメンテナン
スの良い電気回路装置を得ることが可能となる。
いずれか一方のみが電気的接続部材から着脱可能となる
ことにより、電気回路部品あるいは他の電気回路部品が
故障した場合でも交換が可能となり、極めてメンテナン
スの良い電気回路装置を得ることが可能となる。
また、接続部の位置関係が等しければ、電気回路保持部
材に保持又は接続する電気回路部品の機能を変えたもの
と、他の電気回路部品との接続が容易に行え、電気回路
部品を保持又は接続している電気回路保持部材を交換す
る毎に、1つの電気回路装置が多種多用の機能を持つこ
とが可能となる。
材に保持又は接続する電気回路部品の機能を変えたもの
と、他の電気回路部品との接続が容易に行え、電気回路
部品を保持又は接続している電気回路保持部材を交換す
る毎に、1つの電気回路装置が多種多用の機能を持つこ
とが可能となる。
さらに、着脱が可能なため、電気回路装置作製後の特性
検査時に不良となったものでも電気回路保持部材に保持
又は接続された電気回路装置あるいは他の電気回路装置
のいずれか一方の特性が良好なものは、再び電気回路装
置の作製工程内に投入することが可能であり、歩留りの
向上、ひいてはコストダウンが可能である。
検査時に不良となったものでも電気回路保持部材に保持
又は接続された電気回路装置あるいは他の電気回路装置
のいずれか一方の特性が良好なものは、再び電気回路装
置の作製工程内に投入することが可能であり、歩留りの
向上、ひいてはコストダウンが可能である。
本発明では、上記の電気回路保持部材と電気的接続部材
を使用して、電気回路部品と他の電気回路部品とを接続
しているので、電気回路部品の接続部を外周部はもとよ
り内部に配置することも可能となり、接続部の数を増加
させることができ、ひいては高密度化が可能となる。
を使用して、電気回路部品と他の電気回路部品とを接続
しているので、電気回路部品の接続部を外周部はもとよ
り内部に配置することも可能となり、接続部の数を増加
させることができ、ひいては高密度化が可能となる。
また、電気的接続部材に使用する金属部材の量は少ない
ため、たとえ、高価である金を金属部材として使用した
としてもコスト低減が可能となる。
ため、たとえ、高価である金を金属部材として使用した
としてもコスト低減が可能となる。
また、本発明では、電気回路保持部材に電気回路部品を
保持又は接続した後に、電気回路部品と他の電気回路部
品とを電気的接続部材を介して接続するため、電気回路
部品として複数の、また多種多用のものが使用でき、ま
た、それらは−括処理で接続されるため、多種多様の電
気回路装置が同一工程で生産可能となる。
保持又は接続した後に、電気回路部品と他の電気回路部
品とを電気的接続部材を介して接続するため、電気回路
部品として複数の、また多種多用のものが使用でき、ま
た、それらは−括処理で接続されるため、多種多様の電
気回路装置が同一工程で生産可能となる。
また、保持部材に保持される電気回路部品を機能別に分
けることにより、電気回路部品を保持又は接続している
保持部材毎に機能ブロック化することが可能であり、こ
れを用いることによりさらに多種多様の電気回路装置が
同一工程で生産可能となる。
けることにより、電気回路部品を保持又は接続している
保持部材毎に機能ブロック化することが可能であり、こ
れを用いることによりさらに多種多様の電気回路装置が
同一工程で生産可能となる。
さらに、電気回路部品は電気回路保持部材に保持されて
いるため、電気回路装置の作製工程中及び作製後にいて
、治工具を使用して電気回路部品を保持する必要がなく
、電気回路装置の作製及び作製後の管理が容易である。
いるため、電気回路装置の作製工程中及び作製後にいて
、治工具を使用して電気回路部品を保持する必要がなく
、電気回路装置の作製及び作製後の管理が容易である。
本発明にいて、電気回路保持部材に熱伝導性のよい林産
4を用いた場合、及び電気的導電部材の絶縁体に熱伝導
性のよい材料を用いた場合には、電気回路部品から発生
する熱がより早く外界へ逃げ、熱放散性の良い電気回路
装置が得られる。また、電気的導電部材の絶縁体が電気
回路部品の熱膨張係数に近い材料を用いた場合、または
、電気回路保持部材が電気回路部品の熱膨張係数近い材
料を用いた場合には、熱応力、熱歪の発生が抑制され、
熱が加わフた場合に生じることのある電気回路部品の割
れ、あるいは電気回路部品の特性変化という、電気回路
装置の信頼性を損なう現象を防止でき、信頼性の高い電
気回路装置が得られる。
4を用いた場合、及び電気的導電部材の絶縁体に熱伝導
性のよい材料を用いた場合には、電気回路部品から発生
する熱がより早く外界へ逃げ、熱放散性の良い電気回路
装置が得られる。また、電気的導電部材の絶縁体が電気
回路部品の熱膨張係数に近い材料を用いた場合、または
、電気回路保持部材が電気回路部品の熱膨張係数近い材
料を用いた場合には、熱応力、熱歪の発生が抑制され、
熱が加わフた場合に生じることのある電気回路部品の割
れ、あるいは電気回路部品の特性変化という、電気回路
装置の信頼性を損なう現象を防止でき、信頼性の高い電
気回路装置が得られる。
本発明にいて、電気回路部品の両方が、電気的接続部材
を介して、金属化及び/又は合金化により形成された接
続層により接続されていると、電気回路部品同士が強固
(強度的に強く)かつ確実に接続されるので、接続抵抗
値は小さく、さらにそのバラツキも小さく、さらに機械
的に強く、不良率の極めて低い電気回路装置を得ること
ができる。
を介して、金属化及び/又は合金化により形成された接
続層により接続されていると、電気回路部品同士が強固
(強度的に強く)かつ確実に接続されるので、接続抵抗
値は小さく、さらにそのバラツキも小さく、さらに機械
的に強く、不良率の極めて低い電気回路装置を得ること
ができる。
また、電気回路部品が、電気的接続部材を介して金属化
及び/又は合金化により形成された接続層により接続さ
hていると、1つの電気回路部品のみを接続した場合に
比べて電気回路部品相互の接触抵抗がより小さくなる。
及び/又は合金化により形成された接続層により接続さ
hていると、1つの電気回路部品のみを接続した場合に
比べて電気回路部品相互の接触抵抗がより小さくなる。
一方、電気回路部品乃至他の電気回路部品を金属化及び
/又は合金化による接続以外の接続により行うと、金属
化及び/又は合金化時に生じる電気回路部品の熱による
劣化を防止することができる。
/又は合金化による接続以外の接続により行うと、金属
化及び/又は合金化時に生じる電気回路部品の熱による
劣化を防止することができる。
(以下余白)
[実施例]
(第1実施例)
本発明の第1実施例を第1図(a)〜(d)及び第2図
(a)〜(C)に基づいて説明する。
(a)〜(C)に基づいて説明する。
第1図(a)の断面図では、電気回路部品である半導体
素子101を複数保持した電気回路保持部材201と、
電気的接続部材125とが接続されていない状態を示し
である。半導体素子101の数は、1以上であればいく
つでもよい。
素子101を複数保持した電気回路保持部材201と、
電気的接続部材125とが接続されていない状態を示し
である。半導体素子101の数は、1以上であればいく
つでもよい。
電気的接続部材125には、有機材料よりなる保持体1
11中に電気的導電部材である金属部材107が埋設さ
れており、金属部材107の一端108が保持体111
の一方の面において露出しており、また、金属部材10
7の他端109が保持体の他方の面において露出してい
る。
11中に電気的導電部材である金属部材107が埋設さ
れており、金属部材107の一端108が保持体111
の一方の面において露出しており、また、金属部材10
7の他端109が保持体の他方の面において露出してい
る。
101は半導体素子、102は半導体素子101の接続
部、201は少なくとも1以上の面に回路が形成されて
いる電気回路保持部材である回路基板である。回路基板
201は、半導体素子101の少なくとも1以上の接続
部102の存在する面以外の少なくとも1以上の面を接
続及び/又は保持している。
部、201は少なくとも1以上の面に回路が形成されて
いる電気回路保持部材である回路基板である。回路基板
201は、半導体素子101の少なくとも1以上の接続
部102の存在する面以外の少なくとも1以上の面を接
続及び/又は保持している。
第1図(b)では、半導体素子101を接続部102に
いて、保持体111の一方の面において露出している金
属部材107の一端108と金属化及び/又は合金化し
て接続した状態を示している。
いて、保持体111の一方の面において露出している金
属部材107の一端108と金属化及び/又は合金化し
て接続した状態を示している。
第1図(C)にいて、104は他の電気回路部品である
回路基板であり、接続部105を有している。回路基板
104は接続部105にいて、保持体111の他方の面
において露出している金属部材107の他端109と合
金化されて接続される。
回路基板であり、接続部105を有している。回路基板
104は接続部105にいて、保持体111の他方の面
において露出している金属部材107の他端109と合
金化されて接続される。
上記の接続によって全体を一体化した状態の断面図が第
1図(d)である。
1図(d)である。
以下に本実施例をより詳細に説明する。
まず、電気的接続部材!25の一製造例を説明しつつ電
気的接続部材125を説明する。
気的接続部材125を説明する。
第2図(a)〜(c)に−製造例を示す。
まず、第2図(a)に示すように、20μmφの金等の
金属あるいは合金よりなる金属線121を、ピッチ40
μmとして棒122に巻き付け、巻き付は後、ポリイミ
ド等の樹脂123中に上記金属線121を埋め込む。埋
め込み後止g己樹脂123を硬化させる。硬化した樹脂
123は絶縁体となる。その後、点線124の位置でス
ライス切断し、電気的接続部材125を作成する。この
ようにして作成された電気的接続部材125を第2図(
b)、(c)に示す。
金属あるいは合金よりなる金属線121を、ピッチ40
μmとして棒122に巻き付け、巻き付は後、ポリイミ
ド等の樹脂123中に上記金属線121を埋め込む。埋
め込み後止g己樹脂123を硬化させる。硬化した樹脂
123は絶縁体となる。その後、点線124の位置でス
ライス切断し、電気的接続部材125を作成する。この
ようにして作成された電気的接続部材125を第2図(
b)、(c)に示す。
このように作成された電気的接続部材125にいて、金
属線121が金属部材107を構成し、樹脂123が保
持体(絶縁体)111を構成する。
属線121が金属部材107を構成し、樹脂123が保
持体(絶縁体)111を構成する。
この電気的接続部材125においては金属部材となる金
属線121同士は樹脂123により電気的に絶縁されて
いる。また、金属線121の一端は半導体素子101側
に露出し、他端は回路基板104側に露出している。こ
の露出している部分はそれぞれ半導体素子101、回路
基板104との接続部108,109となる。
属線121同士は樹脂123により電気的に絶縁されて
いる。また、金属線121の一端は半導体素子101側
に露出し、他端は回路基板104側に露出している。こ
の露出している部分はそれぞれ半導体素子101、回路
基板104との接続部108,109となる。
次に、第1図(a)に示すように、回路基板201に、
半導体素子101の接続部102と回路基板104の接
続部105との位置関係が接続時と等しくなるように半
導体101を位置決めし、回路基板201に接続及び/
又は保持させる。その後、第1図(b)に示すように、
電気的接続部材125の接続部108と半導体素子10
1の接続部と位置決め後、金属化及び/又は合金化し接
続する。回路基板201を反転させ、半導体101の接
続部102と回路基板104の接続部105とが対向す
るようにする。
半導体素子101の接続部102と回路基板104の接
続部105との位置関係が接続時と等しくなるように半
導体101を位置決めし、回路基板201に接続及び/
又は保持させる。その後、第1図(b)に示すように、
電気的接続部材125の接続部108と半導体素子10
1の接続部と位置決め後、金属化及び/又は合金化し接
続する。回路基板201を反転させ、半導体101の接
続部102と回路基板104の接続部105とが対向す
るようにする。
そして、第1図に示すように、配置する。最後に、第1
図(d)に示すように、回路基板201と回路基板10
4との位置合せを行い、位置決め後、抑圧により電気的
接続部材125の接続部109と回路基板104の接続
部105とを接続する。
図(d)に示すように、回路基板201と回路基板10
4との位置合せを行い、位置決め後、抑圧により電気的
接続部材125の接続部109と回路基板104の接続
部105とを接続する。
また、押圧を解除すると、第1図(C)に示すように、
電気的接続部材125の接続部105と回路基板104
の接続部109とは接続する前の状態となり、さらに、
位置決め後、再度押圧すれば接続が行われる。よって、
半導体素子101あるいは回路基板104で不良が発生
した場合には、押圧を解除して不良部品の存在する方を
良品と交換し、位置決め後、押圧して接続することによ
り、再び良品の電気回路装置が得られる。
電気的接続部材125の接続部105と回路基板104
の接続部109とは接続する前の状態となり、さらに、
位置決め後、再度押圧すれば接続が行われる。よって、
半導体素子101あるいは回路基板104で不良が発生
した場合には、押圧を解除して不良部品の存在する方を
良品と交換し、位置決め後、押圧して接続することによ
り、再び良品の電気回路装置が得られる。
本実施例においては、半導体素子101の接続部102
と電気的接続部材125の接続部108とを金属化及び
/又は合金化して接続したが、回路基板104の接続部
105と電気的接続部材125の接続部109とを金属
化及び/又は合金化して接続し、半導体素子101の接
続部102と電気的接続部材125の接続部108との
接続は抑圧によって行っても、同様の効果が得られるこ
とは明らかである。
と電気的接続部材125の接続部108とを金属化及び
/又は合金化して接続したが、回路基板104の接続部
105と電気的接続部材125の接続部109とを金属
化及び/又は合金化して接続し、半導体素子101の接
続部102と電気的接続部材125の接続部108との
接続は抑圧によって行っても、同様の効果が得られるこ
とは明らかである。
(第2実施例)
第3図(a)、(b)に第2実31例を示す。
本実施例は、電気的接続部材125の金属部材107が
露出している一方の面において接続部以外の部分に接着
材を塗布したものを使用する。
露出している一方の面において接続部以外の部分に接着
材を塗布したものを使用する。
保持部材である回路基板201に半導体素子101を、
半導体素子101の接続部102と回路基板104接続
部105との位置関係が接続時と等しくなるように位置
決めした後、接続及び/又は保持す、る。次に、接着材
202の塗布された面と半導体素子101の接続部10
2の存在する面とが対向するようにしく第3図(a))
、電気的接続部材125の接続部108と半導体素子1
01の接続部102とを位置決めした後、電気的接続部
材125と半導体素子101とを接着する。
半導体素子101の接続部102と回路基板104接続
部105との位置関係が接続時と等しくなるように位置
決めした後、接続及び/又は保持す、る。次に、接着材
202の塗布された面と半導体素子101の接続部10
2の存在する面とが対向するようにしく第3図(a))
、電気的接続部材125の接続部108と半導体素子1
01の接続部102とを位置決めした後、電気的接続部
材125と半導体素子101とを接着する。
その他の点は第1実施例と同じである。
本例においても、第1実施例と同様に不良部品の交換を
容易に行うことができる。
容易に行うことができる。
(第3実施例)
第4図(a)〜(c)第5図(a)、(b)に第3実施
例を示す。本実施例では、電気的接続部材125の一方
の面において露出している金属部材と他方の面に露出し
ている金属部材の融点がそれぞれ異なる材質からなる電
気的接続部材を使用する。
例を示す。本実施例では、電気的接続部材125の一方
の面において露出している金属部材と他方の面に露出し
ている金属部材の融点がそれぞれ異なる材質からなる電
気的接続部材を使用する。
以下に、この電気的接続部材の製造方法の一例を示す。
まず、第1実施例で述べた方法により、第2図(b)、
(C)に示す電気的接続部材125を用意する。この電
気的接続部材!25の片面に、第4図(a)に示すよう
に、フォトリソ工程により金属部材107の露出してい
ない部分にレジスト203を形成する。次に、スパッタ
リングで、M、W、Pd等の拡散バリア層204を形成
後、その上にAu−5n (20wt%)層を形成しく
第4図(b))、 リフトオフ法で、レジストと除去
する(第4図(C))。さらに、電気的接続部材の反対
側の面にも同様の方法でバリア層204とPb−Ag−
3n (36,1−1,4−62,5wt%)層206
(第4図(a)〜(C)では図示せず)を形成する。こ
のように形成した電気的接続部材125は、金属部材1
07の両端にいて、Au−3n (20wt%)の融点
280℃、Pb−Ag−5n (36,を−i、4−6
2.5wt%)の融点180℃と約100℃の融点の差
をもつことになる。
(C)に示す電気的接続部材125を用意する。この電
気的接続部材!25の片面に、第4図(a)に示すよう
に、フォトリソ工程により金属部材107の露出してい
ない部分にレジスト203を形成する。次に、スパッタ
リングで、M、W、Pd等の拡散バリア層204を形成
後、その上にAu−5n (20wt%)層を形成しく
第4図(b))、 リフトオフ法で、レジストと除去
する(第4図(C))。さらに、電気的接続部材の反対
側の面にも同様の方法でバリア層204とPb−Ag−
3n (36,1−1,4−62,5wt%)層206
(第4図(a)〜(C)では図示せず)を形成する。こ
のように形成した電気的接続部材125は、金属部材1
07の両端にいて、Au−3n (20wt%)の融点
280℃、Pb−Ag−5n (36,を−i、4−6
2.5wt%)の融点180℃と約100℃の融点の差
をもつことになる。
以上の電気的接続部材125を第5図に示すように、半
導体101を接続及び/又は保持した回路基板201と
、電気的接続部材125と、回路基板104とを位置決
めした後に300℃以上に加熱押圧し、半導体素子10
1を接続部102と電気的接続部材125の接続部10
8とを、及び回路基板104の接続部105と電気的接
続部材125の接続部109とを同時に金属化及び/又
は合金化し、接続する。
導体101を接続及び/又は保持した回路基板201と
、電気的接続部材125と、回路基板104とを位置決
めした後に300℃以上に加熱押圧し、半導体素子10
1を接続部102と電気的接続部材125の接続部10
8とを、及び回路基板104の接続部105と電気的接
続部材125の接続部109とを同時に金属化及び/又
は合金化し、接続する。
以上のようにして作製した電気回路装置は、−方の融点
以上、他方の融点未満に加熱すると、−方の接続部のみ
融解し、よって一方だけをはずすことが可能であり、ま
た、同時に位置決め後、再び同様に一方の融点以上、他
方の融点未満に加熱することにより再度接続できる。
以上、他方の融点未満に加熱すると、−方の接続部のみ
融解し、よって一方だけをはずすことが可能であり、ま
た、同時に位置決め後、再び同様に一方の融点以上、他
方の融点未満に加熱することにより再度接続できる。
本実施例では、加熱する毎に金属原子の熱拡散により組
成比が変化してしまうため着脱の回数には限界があるが
、両方の接続部を金属化及び/又は合金化して接続でき
るため、接触抵抗は極めて小さく、常に安定した接続が
得られる。
成比が変化してしまうため着脱の回数には限界があるが
、両方の接続部を金属化及び/又は合金化して接続でき
るため、接触抵抗は極めて小さく、常に安定した接続が
得られる。
なお、本実施例では、金属部材107の一端108側に
A u −S n N 205を、他端109側にPb
−Ag−5n層206を設けるようになフているが、こ
れは逆であってもよい。また、適切な融点及び融点の差
が得られれば、205゜206は上記以外の合金層であ
ってもよい。
A u −S n N 205を、他端109側にPb
−Ag−5n層206を設けるようになフているが、こ
れは逆であってもよい。また、適切な融点及び融点の差
が得られれば、205゜206は上記以外の合金層であ
ってもよい。
(第4実施例)
第6図(a)、(b)に第4実施例を示す。
第4実施例は、電気回路部品、他の電気回路部品として
、接続部以外の部分が絶縁膜103゜106で覆われて
いる半導体素子101、回路基板104を使用している
例である。
、接続部以外の部分が絶縁膜103゜106で覆われて
いる半導体素子101、回路基板104を使用している
例である。
また、電気的接続部材としては第7図(a)。
(b)に示すものを使用した。第7図(a)は斜視図、
第7図(b)は断面図である。第7図(a)、(b)に
示す電気的接続部材125は、金属部材107の露出し
ている部分が保持体(樹脂絶縁体)111の面から突出
している。このような電気的接続部材125の作成は、
例えば、次の方法によればよい。
第7図(b)は断面図である。第7図(a)、(b)に
示す電気的接続部材125は、金属部材107の露出し
ている部分が保持体(樹脂絶縁体)111の面から突出
している。このような電気的接続部材125の作成は、
例えば、次の方法によればよい。
まず、第1実施例で述べた方法により、第2図(b)、
(C)に示す電気的接続部材を用意する。次に、この電
気的接続部材の両面を、金属線121が、ポリイミド樹
脂123から10μm程度突出するまでエツチングすれ
ばよい。本例でも、金属線121が金属部材107を構
成し、さらに、樹脂123が絶縁体111を構成する。
(C)に示す電気的接続部材を用意する。次に、この電
気的接続部材の両面を、金属線121が、ポリイミド樹
脂123から10μm程度突出するまでエツチングすれ
ばよい。本例でも、金属線121が金属部材107を構
成し、さらに、樹脂123が絶縁体111を構成する。
なお、本実施例では金属線121の突出量を10μmと
したが、いかなる量でもよい。
したが、いかなる量でもよい。
また、金属線121を突出させる方法としてはエツチン
グに限らず、他の化学的な方法又は機成的な方法を使用
してもよい。
グに限らず、他の化学的な方法又は機成的な方法を使用
してもよい。
他の点は第1実施例と同様である。
なお、突出部を、電気的接続部材125を金属線121
の位置に凹部を持った型に挟み込み、金属線121の突
起126をつぶすことにより第8図(a)、(b)に示
すようなバンプ150を形成してもよい。この場合、金
属線121は絶縁体111から脱落しにくくなる。バン
プを作成するのには突起を熱で溶融させ、バンプを作成
してもよいし、他のいかなる方法でもよい。
の位置に凹部を持った型に挟み込み、金属線121の突
起126をつぶすことにより第8図(a)、(b)に示
すようなバンプ150を形成してもよい。この場合、金
属線121は絶縁体111から脱落しにくくなる。バン
プを作成するのには突起を熱で溶融させ、バンプを作成
してもよいし、他のいかなる方法でもよい。
本例においても不良部品の交換が容易であり、接続部は
高い信頼性を持って接続されていた。さらに、各種特性
の信頼性も優れていた。
高い信頼性を持って接続されていた。さらに、各種特性
の信頼性も優れていた。
(第5実施例)
第9図(a)、(b)に第5実施例を示す。
本例においては、電気的接続部材125は、第4実施例
に示した電気的接続部材と異なる。本例の電気的接続部
材125においては、金属部材同士のピッチが第4実施
例で示したものよりも狭くなっている。すなわち、本例
では、半導体素子の接続部の間隔よりも狭い間隔に金属
部材107同士のピッチを設定しである。
に示した電気的接続部材と異なる。本例の電気的接続部
材125においては、金属部材同士のピッチが第4実施
例で示したものよりも狭くなっている。すなわち、本例
では、半導体素子の接続部の間隔よりも狭い間隔に金属
部材107同士のピッチを設定しである。
つまり、第4実施例では、半導体素子101と回路基板
104との接続位置に電気的接続部材125の接続位置
を配置したため、電気的接続部材125の位置決めが必
要であったが、本例では、半導体素子101と回路基板
104との位置決めは必要であるが、電気的接続部材1
25との位置決めは不要となる。そのため、半導体素子
toiと回路基板104の接続寸法(dll。
104との接続位置に電気的接続部材125の接続位置
を配置したため、電気的接続部材125の位置決めが必
要であったが、本例では、半導体素子101と回路基板
104との位置決めは必要であるが、電気的接続部材1
25との位置決めは不要となる。そのため、半導体素子
toiと回路基板104の接続寸法(dll。
Pll)と電気的接続部材の接続寸法(d12゜P12
)を適切な値に選ぶことにより位置決めなしで接続する
ことも可能である。
)を適切な値に選ぶことにより位置決めなしで接続する
ことも可能である。
他の点は第1実施例と同様である。
本例においても不良部品の交換が容易であり、接続部は
高い信頼性を持って接続されていた。
高い信頼性を持って接続されていた。
(第6実施例)
第10図に第6実施例を示す。
本実施例においては、電気的接続部材125は段差を有
しており、回路基板201と回路基板104の接続部と
が保持体111に埋設されている電気的導電部材107
により接続されており、なおかつ、回路基板201上に
さらに電気的接続部材と保持部材である回路基板207
に接続及び/又は保持された半導体素子101が接続さ
れ、多層構造化されている。
しており、回路基板201と回路基板104の接続部と
が保持体111に埋設されている電気的導電部材107
により接続されており、なおかつ、回路基板201上に
さらに電気的接続部材と保持部材である回路基板207
に接続及び/又は保持された半導体素子101が接続さ
れ、多層構造化されている。
他の点は第1実施例と同様である。
本例においても不良部品の交換が容易であり、接続部は
高い信頼性を持って接続されていた。
高い信頼性を持って接続されていた。
[発明の効果]
本発明は以上のように構成したので次の数々の効果が得
られる。
られる。
■半導体素子と回路基板、リードフレーム等の電気回路
部品の接続にいて、信頼性の高い接続が得られる。従っ
て、従来用いられてきたワイヤボンディング方式、TA
B方式、CCB方式を置き換えることが可能となる。
部品の接続にいて、信頼性の高い接続が得られる。従っ
て、従来用いられてきたワイヤボンディング方式、TA
B方式、CCB方式を置き換えることが可能となる。
■本発明によると電気回路部品の接続部をいかなる位置
(特に内部)にも配置することができることから、ワイ
ヤボンディング方式、TAB方式よりもさらに多点接続
が可能となり、多ピン数接続向きの方式となる。さらに
、電気的接続部材の隣接金属間に予め絶縁物質が存在す
ることにより、隣接ピッチを狭くしても隣接金属間の電
気的導通が起こらないことによりCCB方式よりもさら
に多点接続が可能となる。
(特に内部)にも配置することができることから、ワイ
ヤボンディング方式、TAB方式よりもさらに多点接続
が可能となり、多ピン数接続向きの方式となる。さらに
、電気的接続部材の隣接金属間に予め絶縁物質が存在す
ることにより、隣接ピッチを狭くしても隣接金属間の電
気的導通が起こらないことによりCCB方式よりもさら
に多点接続が可能となる。
■電気的接続部材において使用される金属部材の量は従
来に比べ@量であるため、仮に金属部材に金等の高価な
金属を使用しても従来より安価となる。
来に比べ@量であるため、仮に金属部材に金等の高価な
金属を使用しても従来より安価となる。
■高密度の半導体装置等の電気回路装置が得られる。
■電気回路部品又は他の電気回路部品のいずれか一方を
金属化及び/又は合金化による接続以外の接続により行
っている場合、金属化及び/又は合金化時に生じる電気
回路部品の熱による劣化を防止することができる。また
、用途によっては電気回路部品を着脱自在にしておきた
い場合があり、このような場合にその電気回路部品を金
属化及び/又は合金化による接続以外の接続行えば、そ
の要望に応じることが可能となる。
金属化及び/又は合金化による接続以外の接続により行
っている場合、金属化及び/又は合金化時に生じる電気
回路部品の熱による劣化を防止することができる。また
、用途によっては電気回路部品を着脱自在にしておきた
い場合があり、このような場合にその電気回路部品を金
属化及び/又は合金化による接続以外の接続行えば、そ
の要望に応じることが可能となる。
また、電気回路部品の両方が、電気的接続部材を介して
金属化及び/又は合金化により形成された接続層を介し
て接続されている場合、電気回路部品同士が強固(強度
的に強く)かつ確実に接続されるので、機械的に強く、
不良率の極めて低い電気回路装置を得ることができる。
金属化及び/又は合金化により形成された接続層を介し
て接続されている場合、電気回路部品同士が強固(強度
的に強く)かつ確実に接続されるので、機械的に強く、
不良率の極めて低い電気回路装置を得ることができる。
■電気的接続部材の保持体を、絶縁体に熱伝導性の良い
金属材料、無機材料の一種または複数種よりなる粉体あ
るいは繊維の一方または両方を分散させて構成するか、
電気的導電部材が絶縁されるように処理した金属材料あ
るいは無機材料により構成する場合には、電気回路部品
から発生した熱が電気的接続部材、さらには他の電気回
路部品を介して外部に放熱し得るため、熱放散性の良好
な電気回路装置が得られる。
金属材料、無機材料の一種または複数種よりなる粉体あ
るいは繊維の一方または両方を分散させて構成するか、
電気的導電部材が絶縁されるように処理した金属材料あ
るいは無機材料により構成する場合には、電気回路部品
から発生した熱が電気的接続部材、さらには他の電気回
路部品を介して外部に放熱し得るため、熱放散性の良好
な電気回路装置が得られる。
また、電気回路保持部材を熱伝導性の良い金属材料、無
機材料の一種により構成する場合には、電気回路部品か
ら発生した熱は電気回路保持部材を介して外部に放熱し
得るため、熱放散性の極めて良好な電気回路装置が得ら
れる。
機材料の一種により構成する場合には、電気回路部品か
ら発生した熱は電気回路保持部材を介して外部に放熱し
得るため、熱放散性の極めて良好な電気回路装置が得ら
れる。
■電気保持部材に電気回路部品を保持した後に他の電気
回路部品と接続するため、保持部材の形状を保持する電
気回路部品に合せることにより、電気回路部品の大きさ
、形状、種類によらない接続が可能となり、自由な高密
度実装が可能となり、よって設計の自由度は大幅に向上
する。
回路部品と接続するため、保持部材の形状を保持する電
気回路部品に合せることにより、電気回路部品の大きさ
、形状、種類によらない接続が可能となり、自由な高密
度実装が可能となり、よって設計の自由度は大幅に向上
する。
■保持される電気回路部品を機能別に分けることにより
保持部材毎に機能ブロック化し、これを用いることによ
り、同一工程で多品種の電気回路装置が得られ、実装及
び設計の汎用性は大幅に向上する。
保持部材毎に機能ブロック化し、これを用いることによ
り、同一工程で多品種の電気回路装置が得られ、実装及
び設計の汎用性は大幅に向上する。
■電気回路保持部材に保持された電気回路部品あるいは
他の電気回路部品のいずれか一方のみが電気的接続部材
から着脱可能であるため、電気回路部品あるいは他の電
気回路部品が故障した場合でも容易に交換することが可
能となり、しかも、電気回路部品は少なくとも1以上の
面に回路が形成されている電気回路保持部材に接続及び
/又は保持されているため、ハンドリングは容易であり
、また、電気的接続部材はいずれか一方の電気回路部品
に保持されているため、接続時の位置決めは容易であり
、かつその接続は高い侶頓性をもって接続される。
他の電気回路部品のいずれか一方のみが電気的接続部材
から着脱可能であるため、電気回路部品あるいは他の電
気回路部品が故障した場合でも容易に交換することが可
能となり、しかも、電気回路部品は少なくとも1以上の
面に回路が形成されている電気回路保持部材に接続及び
/又は保持されているため、ハンドリングは容易であり
、また、電気的接続部材はいずれか一方の電気回路部品
に保持されているため、接続時の位置決めは容易であり
、かつその接続は高い侶頓性をもって接続される。
[相]接続部の位置関係を統一した場合、電気回路保持
部材に保持する電気回路部品の機能を変えたものと、他
の電気回路部品との接続が容易に行え、電気回路部品を
保持している電気回路保持部材を交換する毎に1つの電
気回路装置が異なる機能を示すことが可能となり、シス
テム化した電気回路装置が得られる。
部材に保持する電気回路部品の機能を変えたものと、他
の電気回路部品との接続が容易に行え、電気回路部品を
保持している電気回路保持部材を交換する毎に1つの電
気回路装置が異なる機能を示すことが可能となり、シス
テム化した電気回路装置が得られる。
■電気回路装置作製後の特性検査時に不良となフたもの
でも、特性が良好な電気回路保持部材に保持又は接続さ
れた電気回路部品あるいは他の電気回路部品は、再び電
気回路装置作製工程内に投入することが可能であり、歩
留り向上、コスト低減が可能となる。
でも、特性が良好な電気回路保持部材に保持又は接続さ
れた電気回路部品あるいは他の電気回路部品は、再び電
気回路装置作製工程内に投入することが可能であり、歩
留り向上、コスト低減が可能となる。
■電気回路保持部材として両面基板、多層基板、又は両
面スルーホール基板等を用いた場合、同様の手法で積層
化することが可能であり、3次元実装が可能となり、信
号線の短縮により信号の遅延時間が低減され、高速動作
の電気回路装置が得られる。
面スルーホール基板等を用いた場合、同様の手法で積層
化することが可能であり、3次元実装が可能となり、信
号線の短縮により信号の遅延時間が低減され、高速動作
の電気回路装置が得られる。
また、電気回路装置間の接続部が大幅に縮小されるため
、より小型化が可能となり、製品設計の自由度が向上す
る。
、より小型化が可能となり、製品設計の自由度が向上す
る。
第1図(a)〜(d)は第1実施例のを示す断面図、第
2図(a)〜(C)は第1実旅例に使用する電気的接続
部材の一製造方法例を説明する断面図及び斜視図である
。 第3図(a)、(b)は第2実施例を示す断面図である
。 第4図(a)〜(C)は第3実施例に用いた電気的接続
部材の工程を示す断面図、第5図(a)。 (b)は第3実施例の接続する前と後を示す断面図であ
る。 第6図(a)、(b)は第4実施例の接続する前と後を
示す断面図、第7図(a)、(b)は第4実施例に用い
た電気的接続部材を示す斜視図及び断面図、第8図は第
4実施例のに用いた電気的接続部材にバンブを設けた例
を示す斜視図及び断面図である。 第9図(a)、(b)は第5実施例の接続する前と後を
示す断面図である。 第10図は第6実施例の接続後を示す断面図である。 第11図乃至第1B図は従来例を示し、第12図を除き
断面図であり、第12図は平面透視図である。 1.55・・・リードフレーム、2・・・リードフレー
ムの素子搭載部、3・・・銀ペースト、4,4°・・・
半導体素子、5,5°・・・半導体素子の接続部、6・
・・リードフレームの接続部、7・・・極細金属線、8
・・・樹脂、9・・・半導体装置、10・・・半導体素
子の外周縁部、11・・・リードフレームの素子搭載部
の該周縁部、16・・・キャリアフィルム基板、17・
・・キャリアフィルム基板のインナーリート部、20゜
21.123・・・樹脂、31・・・半田バンプ、32
゜51.75,75°・・・回路基板、33,52゜7
6.76°・・・回路基板の接続部、54・・・電気的
接続部材の接続部、63・・・封止材、70,70゜・
・・金属材、71.71’ 、103,106・・・絶
縁膜、72.72’・・・絶縁膜の露出面、73゜73
°・・・金属材の露出面、77・・・異方性導電膜の絶
縁物質、78・・・異方性導電膜、79・・・導電粒子
、81・・・エラスチックコネクタの絶縁物質、82・
・・エラスチックコネクタの金属線、83・・・エラス
チックコネクタ、101,101’・・・電気回路部品
(半導体素子、回路基板)、102゜105.108,
109・・・接続部、104・・・他の電気回路部品(
回路基板)、107・・・電気的導電部材(金属部材)
、111・・・保持体(絶縁体)、121・・・金属線
、122・・・棒、124・・・点線、125・・・電
気的接続部材、126・・・突起、150・・・バンプ
、201・・・電気回路保持部材(回路基板)、202
・・・接着剤、203・・・レジスト、204 ・・・
拡散バリア、2 ’05− A u −S n層、20
6− P b −A g −S n層、207−・・電
気回路保持部材(回路基板)。 第6F!!J(a) 第6図(b) 第7図(a) 第7図(b) 第8図(a) 第8図(b) 第9図(a) 第9図(b) 第11図 第12図 第13図 第15図 第17図 第18°図
2図(a)〜(C)は第1実旅例に使用する電気的接続
部材の一製造方法例を説明する断面図及び斜視図である
。 第3図(a)、(b)は第2実施例を示す断面図である
。 第4図(a)〜(C)は第3実施例に用いた電気的接続
部材の工程を示す断面図、第5図(a)。 (b)は第3実施例の接続する前と後を示す断面図であ
る。 第6図(a)、(b)は第4実施例の接続する前と後を
示す断面図、第7図(a)、(b)は第4実施例に用い
た電気的接続部材を示す斜視図及び断面図、第8図は第
4実施例のに用いた電気的接続部材にバンブを設けた例
を示す斜視図及び断面図である。 第9図(a)、(b)は第5実施例の接続する前と後を
示す断面図である。 第10図は第6実施例の接続後を示す断面図である。 第11図乃至第1B図は従来例を示し、第12図を除き
断面図であり、第12図は平面透視図である。 1.55・・・リードフレーム、2・・・リードフレー
ムの素子搭載部、3・・・銀ペースト、4,4°・・・
半導体素子、5,5°・・・半導体素子の接続部、6・
・・リードフレームの接続部、7・・・極細金属線、8
・・・樹脂、9・・・半導体装置、10・・・半導体素
子の外周縁部、11・・・リードフレームの素子搭載部
の該周縁部、16・・・キャリアフィルム基板、17・
・・キャリアフィルム基板のインナーリート部、20゜
21.123・・・樹脂、31・・・半田バンプ、32
゜51.75,75°・・・回路基板、33,52゜7
6.76°・・・回路基板の接続部、54・・・電気的
接続部材の接続部、63・・・封止材、70,70゜・
・・金属材、71.71’ 、103,106・・・絶
縁膜、72.72’・・・絶縁膜の露出面、73゜73
°・・・金属材の露出面、77・・・異方性導電膜の絶
縁物質、78・・・異方性導電膜、79・・・導電粒子
、81・・・エラスチックコネクタの絶縁物質、82・
・・エラスチックコネクタの金属線、83・・・エラス
チックコネクタ、101,101’・・・電気回路部品
(半導体素子、回路基板)、102゜105.108,
109・・・接続部、104・・・他の電気回路部品(
回路基板)、107・・・電気的導電部材(金属部材)
、111・・・保持体(絶縁体)、121・・・金属線
、122・・・棒、124・・・点線、125・・・電
気的接続部材、126・・・突起、150・・・バンプ
、201・・・電気回路保持部材(回路基板)、202
・・・接着剤、203・・・レジスト、204 ・・・
拡散バリア、2 ’05− A u −S n層、20
6− P b −A g −S n層、207−・・電
気回路保持部材(回路基板)。 第6F!!J(a) 第6図(b) 第7図(a) 第7図(b) 第8図(a) 第8図(b) 第9図(a) 第9図(b) 第11図 第12図 第13図 第15図 第17図 第18°図
Claims (4)
- (1)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されている少
なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分において、該電気回路部品の少なくと
も1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以
上の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の
面に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されている少
なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置において、該電気回路
部材及び該他の電気回路部品のいずれか一方が該電気的
接続部材を保持しており、保持していない他方が着脱可
能であることを特徴とする電気回路装置。 - (2)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されており、
該接続は、該接続部と該一端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続層を介してなされてい
る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分において、該電気回路部品の少なくと
も1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以
上の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の
面に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の他方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、
該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続層を介してなされてい
る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置において、該保持体の
一方の面において露出している該電気的接続部材の一端
を形成している材質の融点と他方の面において露出して
いる該電気的導電部材の他端を形成している材質の融点
とが異なるものからなっており、該電気回路装置を該一
端及び該他端の一方の融点以上、他方の融点未満に加熱
することにより、該電気回路部品あるいは該他の電気回
路部品のいずれか一方のみを着脱可能にしたことを特徴
とする電気回路装置。 - (3)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されている少
なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分において、該電気回路部品の少なくと
も1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以
上の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の
面に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部にいて、該
保持体の他方の面において露出している該電気的導電部
材のうちの少なくとも1つの他端が接続されている少な
くとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置において、該保持体の
一方の面において露出している該電気的導電部材のうち
の少なくとも1つの一端が該電気回路保持部材の少なく
とも1つの接続部と接続されており、該電気回路保持部
材及び該電気回路部品、又は、該他の電気回路部品のい
ずれか一方が該電気的接続部材を保持しており、保持し
ていない他方が着脱可能であることを特徴とする電気回
路装置。 - (4)電気的絶縁材料よりなる保持体と、該保持体中に
埋設された複数の電気的導電部材とを有し、該電気的導
電部材の一端が該保持体の一方の面において露出してお
り、また、該電気的導電部材の他端が該保持体の他方の
面において露出している電気的接続部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの一端が接続されており、
該接続は、該接続部と該一端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続層を介してなされてい
る少なくとも1以上の電気回路部品と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部あるいは該
接続部以外の部分において、該電気回路部品の少なくと
も1以上の該接続部の存在する面以外の少なくとも1以
上の面を接続及び/又は保持する少なくとも1面以上の
面に回路が形成されている電気回路保持部材と; 少なくとも1以上の接続部を有し、該接続部において、
該保持体の一方の面において露出している該電気的導電
部材のうちの少なくとも1つの他端が接続されており、
該接続は、該接続部と該他端とを金属化及び/又は合金
化することにより形成された接続層を介してなされてい
る少なくとも1以上の他の電気回路部品と; を少なくとも有する電気回路装置において、該保持体の
一方の面において露出している該電気的導電部材のうち
の少なくとも1つの一端が該電気回路保持部材の少なく
とも1つの接続部と金属化及び/又は合金化することに
より接続されており、該保持体の他方の面において露出
している該電気的導電部材のうちの少なくとも1つの他
端が該他の電気回路部品の少なくとも1つの該接続部と
金属化及び/又は合金化することにより接続されており
、該保持体の一方の面において露出している該電気的接
続部材の一端を形成している材質の融点と他方の面にお
いて露出している該電気的導電部材の他端を形成してい
る材質の融点とが異なるものからなっており、該電気回
路装置を該一端及び該他端の一方の融点以上、他方の融
点未満に加熱することにより、該電気回路保持部材及び
該電気回路部品、又は、該他の電気回路部品のいずれか
一方のみを着脱可能にしたことを特徴とする電気回路装
置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63133392A JPH01302826A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 電気回路装置 |
| EP89109709A EP0344702B1 (en) | 1988-05-30 | 1989-05-30 | Electric circuit apparatus |
| DE68925922T DE68925922T2 (de) | 1988-05-30 | 1989-05-30 | Elektrischer Schaltungsapparat |
| US08/043,629 US5283468A (en) | 1988-05-30 | 1993-04-08 | Electric circuit apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63133392A JPH01302826A (ja) | 1988-05-31 | 1988-05-31 | 電気回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01302826A true JPH01302826A (ja) | 1989-12-06 |
Family
ID=15103673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63133392A Pending JPH01302826A (ja) | 1988-05-30 | 1988-05-31 | 電気回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01302826A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010153797A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体インターポーザ及びその製造方法(3次元チップ・スタックのためのシリコン・インターポーザのテスト) |
-
1988
- 1988-05-31 JP JP63133392A patent/JPH01302826A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010153797A (ja) * | 2008-12-24 | 2010-07-08 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 半導体インターポーザ及びその製造方法(3次元チップ・スタックのためのシリコン・インターポーザのテスト) |
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