JPH01310547A - 半導体装置のボンディング方法 - Google Patents
半導体装置のボンディング方法Info
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- JPH01310547A JPH01310547A JP63142282A JP14228288A JPH01310547A JP H01310547 A JPH01310547 A JP H01310547A JP 63142282 A JP63142282 A JP 63142282A JP 14228288 A JP14228288 A JP 14228288A JP H01310547 A JPH01310547 A JP H01310547A
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置のボンディング方法に関し、特に金
属線ワイヤーを用いた半導体装置のボンディング方法に
関する。
属線ワイヤーを用いた半導体装置のボンディング方法に
関する。
従来、この種のワイヤーボンディングは、大別すると以
下の2方式および両方式の複合型となっていた。
下の2方式および両方式の複合型となっていた。
■、第6図に示すように、半導体素子及びリードフレー
ムの裏面を加熱することにより、半導体素子の外部引出
し用電極及びリードフレームのステッチ部を加熱させ、
その状態で半導体素子の外部引出し用電極リードフレー
ムのステッチ部に金属ワイヤーを接触・加圧させること
によりワイヤーボンディングを行っていた。
ムの裏面を加熱することにより、半導体素子の外部引出
し用電極及びリードフレームのステッチ部を加熱させ、
その状態で半導体素子の外部引出し用電極リードフレー
ムのステッチ部に金属ワイヤーを接触・加圧させること
によりワイヤーボンディングを行っていた。
2、第7図に示すように半導体素子の外部引出し用電極
及びリードフレームのステッチ部に接触している金属ワ
イヤーを震動させそれによって発生する摩擦熱と半導体
素子及びリードフレームの裏面からの補助加熱を加えて
ボンディングを行っていた。
及びリードフレームのステッチ部に接触している金属ワ
イヤーを震動させそれによって発生する摩擦熱と半導体
素子及びリードフレームの裏面からの補助加熱を加えて
ボンディングを行っていた。
上述した従来のボンディングでは、半導体素子及びリー
ドフレームの裏面を加熱しているので、リードフレーム
が熱膨張によりあばれたりフレームの表面が酸化したり
するという欠点がある。
ドフレームの裏面を加熱しているので、リードフレーム
が熱膨張によりあばれたりフレームの表面が酸化したり
するという欠点がある。
本発明のボンディングは、レーザーを用いて極小部分の
みを加熱させるという手段を有している。
みを加熱させるという手段を有している。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の半導体素子の外部引出し用電極と金属
ワイヤーのボンディングの一実施例の縦断面図である。
ワイヤーのボンディングの一実施例の縦断面図である。
1は銅ワイヤ−,2は半導体素子、3は半導体素子上の
外部引出し用電極で、銅ワイヤ1を4のクランパーで猟
んで先端を外部引出し用電極3に接触させ5のレーザー
を接触部に照射させたところである。この時、レーザー
5の照射角度が外部引出し用電極3の表面より大きくな
ると外部引出し用電極3がレーザー5によって破壊され
る現象が発生し、良好な接続を行うことができなくなる
。また、レーザー5のパワーを上げすぎると銅ワイヤ−
1や外部引出し用電極3が蒸発してしまう。また、レー
ザー5が外部引出し用電極3以外の半導体素子2上に照
射されない様集光率を上げて選択的に照射する。
外部引出し用電極で、銅ワイヤ1を4のクランパーで猟
んで先端を外部引出し用電極3に接触させ5のレーザー
を接触部に照射させたところである。この時、レーザー
5の照射角度が外部引出し用電極3の表面より大きくな
ると外部引出し用電極3がレーザー5によって破壊され
る現象が発生し、良好な接続を行うことができなくなる
。また、レーザー5のパワーを上げすぎると銅ワイヤ−
1や外部引出し用電極3が蒸発してしまう。また、レー
ザー5が外部引出し用電極3以外の半導体素子2上に照
射されない様集光率を上げて選択的に照射する。
第2図は、本実施例で作成した製品の縦断面図である。
なお、第2図はレーザーの照射方向を銅ワイヤ−2を中
心にして360°回転して作った。
心にして360°回転して作った。
第3図は本発明の実施例2の縦断面図である。
6は銅リードフレームのステッチ部で銅ワイヤ−1をク
ランパー4で派んで図示の様にまげ、ワイヤー自身の張
力でもってステッチ6と接触させレーザー5を上方から
照射したものである。
ランパー4で派んで図示の様にまげ、ワイヤー自身の張
力でもってステッチ6と接触させレーザー5を上方から
照射したものである。
第4図は、本実施例で作成した製品の縦断面図である。
また第5図は本実施例の派生例で銅ワイヤ−1がレーザ
ー5で溶融状態になった時点でクランパー4を閉じて銅
ワイヤーを猟み上げたところである。この様にするとス
テッチ6と銅ワイヤ−1の接続と銅ワイヤーの切断を同
時にできるという利点がある。
ー5で溶融状態になった時点でクランパー4を閉じて銅
ワイヤーを猟み上げたところである。この様にするとス
テッチ6と銅ワイヤ−1の接続と銅ワイヤーの切断を同
時にできるという利点がある。
以上説明したように本発明は、レーザーを用いることに
より、余分なエネルギーを半導体素子やリードフレーム
に与えることなくボンディングできリードフレームの熱
膨張によるあばれやフレーム表面の酸化を低減できる効
果がある。また実施例2のようにすることにより連続ボ
ンディングも可能となる効果もある。
より、余分なエネルギーを半導体素子やリードフレーム
に与えることなくボンディングできリードフレームの熱
膨張によるあばれやフレーム表面の酸化を低減できる効
果がある。また実施例2のようにすることにより連続ボ
ンディングも可能となる効果もある。
第1図は本発明の実施例1の縦断面図、第2図は実施例
1の方法で作った製品の縦断面図、第3図は実施例2の
縦断面図、第4図は実施例2の方縦断面図である。 1・・・・・・銅ワイヤ−,2・・・・・・半導体素子
、3・・・・・・半導体素子の外部引出し用電極、4・
・・・・・ワイヤークランパー、5・・・・・・レーザ
ー、6・・・・・・リードフレームのステッチ部、7・
・・・・・金ワイヤ−、訃・・・・・リードフレーム、
9・・・・・・ヒーターブロック、10・・・・・・ウ
ェッジツール、11・・・・・・キャピラリーツール。 代理人 弁理士 内 原 音 第10 篤Z面 第3七d /明予酊イヤーーー
・ −6・・・ト一゛す“−61、又テ、7+@p づイ54 ト] 箭5回 /・・・泰月ワイヤー 4パ・グクンハ1− Δ・・・ステ1.フ+杏や 笈Z図 7・・・全フイAクー ロ・1、リートフトーム ?・・・I咀李j 9 ′b−ターグロック /I・・・ヴトヅツール 7・・・金フ仔 δ・、・ リー1′−りし−ム 2・・・半葎株案5 ワ・・・ ピプフ゛口、ツク /l・・・午「じフソーツーノト
1の方法で作った製品の縦断面図、第3図は実施例2の
縦断面図、第4図は実施例2の方縦断面図である。 1・・・・・・銅ワイヤ−,2・・・・・・半導体素子
、3・・・・・・半導体素子の外部引出し用電極、4・
・・・・・ワイヤークランパー、5・・・・・・レーザ
ー、6・・・・・・リードフレームのステッチ部、7・
・・・・・金ワイヤ−、訃・・・・・リードフレーム、
9・・・・・・ヒーターブロック、10・・・・・・ウ
ェッジツール、11・・・・・・キャピラリーツール。 代理人 弁理士 内 原 音 第10 篤Z面 第3七d /明予酊イヤーーー
・ −6・・・ト一゛す“−61、又テ、7+@p づイ54 ト] 箭5回 /・・・泰月ワイヤー 4パ・グクンハ1− Δ・・・ステ1.フ+杏や 笈Z図 7・・・全フイAクー ロ・1、リートフトーム ?・・・I咀李j 9 ′b−ターグロック /I・・・ヴトヅツール 7・・・金フ仔 δ・、・ リー1′−りし−ム 2・・・半葎株案5 ワ・・・ ピプフ゛口、ツク /l・・・午「じフソーツーノト
Claims (1)
- 半導体素子の外部引出し用電極と、金属ワイヤーを接
触させ、該部分にレーザーを照射させることによって、
両物質の溶融・混合を行わせ、しかる後に該部分を冷却
させることにより両物質間のオーミックコンタクトを得
る半導体装置のボンディング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63142282A JPH01310547A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | 半導体装置のボンディング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63142282A JPH01310547A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | 半導体装置のボンディング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01310547A true JPH01310547A (ja) | 1989-12-14 |
Family
ID=15311743
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63142282A Pending JPH01310547A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | 半導体装置のボンディング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01310547A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7772031B2 (en) | 2006-01-24 | 2010-08-10 | Nec Electronics Corporation | Semiconductor apparatus manufacturing method |
-
1988
- 1988-06-08 JP JP63142282A patent/JPH01310547A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7772031B2 (en) | 2006-01-24 | 2010-08-10 | Nec Electronics Corporation | Semiconductor apparatus manufacturing method |
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