JPH01310578A - 光起電力装置 - Google Patents
光起電力装置Info
- Publication number
- JPH01310578A JPH01310578A JP63141281A JP14128188A JPH01310578A JP H01310578 A JPH01310578 A JP H01310578A JP 63141281 A JP63141281 A JP 63141281A JP 14128188 A JP14128188 A JP 14128188A JP H01310578 A JPH01310578 A JP H01310578A
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- Japan
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- layer
- metal electrode
- semiconductor film
- alloy
- photovoltaic device
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(0産業上の利用分野
本発明は光起電力装置に関する。
(ロ)従来の技術
光起電力装置としては、ガラス、耐熱プラスチック等の
透明基板上に、透明電極、アモルファスシリコン(a−
Si)等の光活性層を含む半導体膜、金属電極をこの順
序で積層した構造のものが知られている。
透明基板上に、透明電極、アモルファスシリコン(a−
Si)等の光活性層を含む半導体膜、金属電極をこの順
序で積層した構造のものが知られている。
このような構造の光起電力装置における金属電極として
は、a−Siと電気的にオーム性接触すると共にa−S
iと良好な接着性を必要とすることから、一般に、Al
2(アルミ)やAgの上にTi(チタン)を重ねたもの
が用いられる。
は、a−Siと電気的にオーム性接触すると共にa−S
iと良好な接着性を必要とすることから、一般に、Al
2(アルミ)やAgの上にTi(チタン)を重ねたもの
が用いられる。
ところが、斯るAgは光の反射率が長波長領域であまり
高くない(600mmで約85%、800mで約80%
)ため、半導体膜で吸収されずに通過してきた光を金属
電極にて反射して再度半導体膜へ入射させることによっ
て、全ての光を充分に有効に利用することに対しては、
不利であった。
高くない(600mmで約85%、800mで約80%
)ため、半導体膜で吸収されずに通過してきた光を金属
電極にて反射して再度半導体膜へ入射させることによっ
て、全ての光を充分に有効に利用することに対しては、
不利であった。
そこで、長波長の光に対しても90%以上の反射率を有
するAg(銀)を金属電極として用いることが考えられ
たが、このAgはa−Siとの接若作がAQと較べて1
/1o以下であるため、a−8iからのはがれが生じ易
い。
するAg(銀)を金属電極として用いることが考えられ
たが、このAgはa−Siとの接若作がAQと較べて1
/1o以下であるため、a−8iからのはがれが生じ易
い。
こうした問題点を解決すべく、特開昭60−30183
号公報では、AgとAgとの合金を金属電極として用い
ることが提案されている。
号公報では、AgとAgとの合金を金属電極として用い
ることが提案されている。
(ハ)考案が解決しようとする課題
しかし乍ら、Agはa−Si中へ拡散しやすく、斯る拡
散が生じると、a−Siの特性が低下し、引いては光起
電力装置の出力特性を低下させる。
散が生じると、a−Siの特性が低下し、引いては光起
電力装置の出力特性を低下させる。
(ニ)課題を解決するための手段
本発明は、光活性層を含む半導体膜と光入射側から見て
上記半導体膜の背面側に形成された金属電極とを備えた
光起電力装置におキいて、上記金属電極の少なくとも上
記半導体膜と接する層がTi(チタン)、Niにノケル
)、Cr(クロム)、Zn(亜鉛)、Si(シリコン)
またはMO(モリブデン)の少なくとも1つとAg(銀
)との合金から成ることを特徴とする。
上記半導体膜の背面側に形成された金属電極とを備えた
光起電力装置におキいて、上記金属電極の少なくとも上
記半導体膜と接する層がTi(チタン)、Niにノケル
)、Cr(クロム)、Zn(亜鉛)、Si(シリコン)
またはMO(モリブデン)の少なくとも1つとAg(銀
)との合金から成ることを特徴とする。
また、上記合金層はAgの含有率が40%未満の場合に
膜厚が100人未満であることを特徴とする。
膜厚が100人未満であることを特徴とする。
更に、上記合金層はAgの含有率が40%以上の場合に
膜厚が100Å以上であることを特徴とする。
膜厚が100Å以上であることを特徴とする。
(ネ)作 用
本発明によれば、Agに含有されたTi、Ni、Cr、
Zr3 S iまたはMOの少なくとも1つが斯る合金
とa−Siとの接着性を高める。
Zr3 S iまたはMOの少なくとも1つが斯る合金
とa−Siとの接着性を高める。
(へ)実施例
嘱1図は本発明の一実施例を示す断面図である。
ガラス、耐熱プラスチック等の透光性基板(1)上に、
I n 203 、S nQ 2 等の透明電極(2
)、膜面に平行なp −i −n構造を有するa−Si
等の半導体膜(3)及び金属電極(4)が、この順序で
積層形成され、金属電極(4)の少なくとも半導体膜(
3)と接する層は、Ti、Ni= Cr、Zn、Siま
たはMoの少なくとも1つとAgとの合金から成る。
I n 203 、S nQ 2 等の透明電極(2
)、膜面に平行なp −i −n構造を有するa−Si
等の半導体膜(3)及び金属電極(4)が、この順序で
積層形成され、金属電極(4)の少なくとも半導体膜(
3)と接する層は、Ti、Ni= Cr、Zn、Siま
たはMoの少なくとも1つとAgとの合金から成る。
斯る金属型f!+4)は、Agの中にTi、Ni、Cr
、Zn、SiまたはMoの少なくとも1つを所定量含ん
だ合金ベレットを用いた真空蒸着により得られる。
、Zn、SiまたはMoの少なくとも1つを所定量含ん
だ合金ベレットを用いた真空蒸着により得られる。
第2図は金属電極(4)としてTiAg合金を用いた場
合のAgの含有率と550mmの光反射率との関係を種
々の膜厚のものについて示す特性図である。
合のAgの含有率と550mmの光反射率との関係を種
々の膜厚のものについて示す特性図である。
同図から見て、Agの含有率が40%未満の場合、膜厚
が大きくなると反射率が大きく低下してしま°うため、
膜厚は100人未満であることが望まれる。この場合、
膜厚が薄くても、半導体膜(3)との接着性は十分なも
のが得られる。
が大きくなると反射率が大きく低下してしま°うため、
膜厚は100人未満であることが望まれる。この場合、
膜厚が薄くても、半導体膜(3)との接着性は十分なも
のが得られる。
一方、Agの含有率が40%以上の場合、膜厚に関係な
く高い反射率を有するが、膜厚が小さいと半導体Jli
(3+との十分な接着性が得られないことから、膜厚は
100Å以上が好適である。
く高い反射率を有するが、膜厚が小さいと半導体Jli
(3+との十分な接着性が得られないことから、膜厚は
100Å以上が好適である。
下表に、本発明の実施例の光起電力装置の出力特性を、
従来例のものと比較(従来例のものを1として比較)し
て示す。本発明の実施例は、金属電極(4)として半導
体膜(3)側からAgの含有率が30%である膜厚50
人のTiAg合金層、Ag層及びTi層を順に積層した
構造を採用したものであり、従来例は金属電極(4)と
して半導体層(3)側からAg層及びTi層を順に積層
した構造を用いたものである。
従来例のものと比較(従来例のものを1として比較)し
て示す。本発明の実施例は、金属電極(4)として半導
体膜(3)側からAgの含有率が30%である膜厚50
人のTiAg合金層、Ag層及びTi層を順に積層した
構造を採用したものであり、従来例は金属電極(4)と
して半導体層(3)側からAg層及びTi層を順に積層
した構造を用いたものである。
このように、本発明の実施例は、従来例に比較して出力
特性が向上する。
特性が向上する。
また、本発明の実施例及び実施例に対して、90°Cの
雰囲気中で1000時間の高温放置試験を行なった結果
、変換効率が従来例では初期値の32?≦にまで劣化し
たのに対し、本発明の実施例では初期値から全く変化し
なかった。
雰囲気中で1000時間の高温放置試験を行なった結果
、変換効率が従来例では初期値の32?≦にまで劣化し
たのに対し、本発明の実施例では初期値から全く変化し
なかった。
更に、本発明の実施例及び従来例の金属電極の半導体膜
との接着性は全く変わらない。
との接着性は全く変わらない。
(ト)発明の効果
本発明によれば、半導体膜との接着性を従来に比べて低
下させることなく、出力特性を向上するとともに劣化を
防止することができる。
下させることなく、出力特性を向上するとともに劣化を
防止することができる。
第11”lは本発明の一実施例を示す断面図、第2図は
Agの含有率と反射率との関係を示す特性図である。 (1)・・基板、(2)・・透明電極、(3)・・・半
導体膜、(4)・・金属電極。
Agの含有率と反射率との関係を示す特性図である。 (1)・・基板、(2)・・透明電極、(3)・・・半
導体膜、(4)・・金属電極。
Claims (3)
- (1)光活性層を含む半導体膜と、光入射側から見て上
記半導体膜の背面側に形成された金属電極とを備えた光
起電力装置において、上記金属電極の少なくとも上記半
導体膜と接する層がTi(チタン)、Ni(ニッケル)
、Cr(クロム)、Zn(亜鉛)、Si(シリコン)ま
たはMo(モリブデン)の少なくとも1つとAg(銀)
との合金から成ることを特徴とする光起電力装置。 - (2)上記合金層はAgの含有率が40%未満の場合に
膜厚が100Å未満であることを特徴とする第1項記載
の光起電力装置。 - (3)上記合金層はAgの含有率が40%以上の場合に
膜厚が100Å以上であることを特徴とする第1項記載
の光起電力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63141281A JPH01310578A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | 光起電力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63141281A JPH01310578A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | 光起電力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01310578A true JPH01310578A (ja) | 1989-12-14 |
Family
ID=15288244
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63141281A Pending JPH01310578A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | 光起電力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01310578A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7291374B2 (en) | 1998-06-22 | 2007-11-06 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314657B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314659B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314660B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7316837B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-08 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7374805B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-05-20 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7645500B2 (en) | 2003-04-18 | 2010-01-12 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| JP2016143855A (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-08 | シャープ株式会社 | 光電変換素子および光電変換素子の製造方法 |
| WO2017043522A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | シャープ株式会社 | 太陽電池および太陽電池の製造方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5896780A (ja) * | 1981-12-04 | 1983-06-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光電変換素子 |
| JPS58157176A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-19 | Hitachi Ltd | 太陽電池素子 |
| JPS59208789A (ja) * | 1983-05-12 | 1984-11-27 | Agency Of Ind Science & Technol | 太陽電池 |
| JPS60253281A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-13 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置作製方法 |
-
1988
- 1988-06-08 JP JP63141281A patent/JPH01310578A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7291374B2 (en) | 1998-06-22 | 2007-11-06 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7384677B2 (en) | 1998-06-22 | 2008-06-10 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314657B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314659B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7314660B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-01 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7316837B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-01-08 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7374805B2 (en) | 2000-07-21 | 2008-05-20 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| US7645500B2 (en) | 2003-04-18 | 2010-01-12 | Target Technology Company, Llc | Metal alloys for the reflective or the semi-reflective layer of an optical storage medium |
| JP2016143855A (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-08 | シャープ株式会社 | 光電変換素子および光電変換素子の製造方法 |
| WO2016125627A1 (ja) * | 2015-02-05 | 2016-08-11 | シャープ株式会社 | 光電変換素子および光電変換素子の製造方法 |
| WO2017043522A1 (ja) * | 2015-09-09 | 2017-03-16 | シャープ株式会社 | 太陽電池および太陽電池の製造方法 |
| CN107924957A (zh) * | 2015-09-09 | 2018-04-17 | 夏普株式会社 | 太阳能电池及太阳能电池的制造方法 |
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