JPH01310644A - Ｘ線ｃｔスキャナ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔスキャナ装置Info
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- JPH01310644A JPH01310644A JP63139562A JP13956288A JPH01310644A JP H01310644 A JPH01310644 A JP H01310644A JP 63139562 A JP63139562 A JP 63139562A JP 13956288 A JP13956288 A JP 13956288A JP H01310644 A JPH01310644 A JP H01310644A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、Ｘ線ＣＴスキャナ装置に関し、特に、アーチ
ファクトを低減することができるＸ線ＣＴスキャナ装置
に関する。
ファクトを低減することができるＸ線ＣＴスキャナ装置
に関する。
（従来の技術）
Ｘ！ＩＣＴスキャナ装置の一例を第４図を参照して説明
する。すなわち、高圧発生器１の出力で駆動されるＸ線
源２と検出器３とは撮影域を挟んで対向配置され、この
撮影域内には被検体Ｐが置かれる。ここで、検出器３は
、Ｘ線バスが撮影域を通らない、つまりＸ線ビームが被
検体Ｐを通らないようにして配置されたリファレンス検
出器Ｄ（３ｔｏと、Ｘ線バスが撮影域を通るようにして
配置されたデータ収集用検出器群Ｄｅ線〜ＤｅＬＮとか
ら構成されている。
する。すなわち、高圧発生器１の出力で駆動されるＸ線
源２と検出器３とは撮影域を挟んで対向配置され、この
撮影域内には被検体Ｐが置かれる。ここで、検出器３は
、Ｘ線バスが撮影域を通らない、つまりＸ線ビームが被
検体Ｐを通らないようにして配置されたリファレンス検
出器Ｄ（３ｔｏと、Ｘ線バスが撮影域を通るようにして
配置されたデータ収集用検出器群Ｄｅ線〜ＤｅＬＮとか
ら構成されている。
そして、例えばＸ線Ｍ２と検出器３との組を対向関係を
保って回転することにより被検体Ｐに対する多方向から
の透過Ｘ線に基づく投影データを、検出器群Ｄ ｅ線
＝ Ｄ ｅｔＮｓ及び例えばＩ／Ｖ変換器４．積分器５
．マルチプレクサ６、Ａ／Ｄ変換器７等を有するデータ
収集部ＤＡＳにより収集し、前処理部８にて検出器群Ｄ
ｅｔ］〜ＤｅｔＮ及びデータ収集部ＤＡＳの特性のバラ
ツキ等を補正し、処理後データを再構成部９に送ってこ
こで再構成処理を施してスライス像を得、モニタ１０に
表示を行なうようにしている。
保って回転することにより被検体Ｐに対する多方向から
の透過Ｘ線に基づく投影データを、検出器群Ｄ ｅ線
＝ Ｄ ｅｔＮｓ及び例えばＩ／Ｖ変換器４．積分器５
．マルチプレクサ６、Ａ／Ｄ変換器７等を有するデータ
収集部ＤＡＳにより収集し、前処理部８にて検出器群Ｄ
ｅｔ］〜ＤｅｔＮ及びデータ収集部ＤＡＳの特性のバラ
ツキ等を補正し、処理後データを再構成部９に送ってこ
こで再構成処理を施してスライス像を得、モニタ１０に
表示を行なうようにしている。
このような構成のものでは、Ｘ線強度の変化による収集
データの変動を打消してアーチファクトを低減した画像
を得ようとするリファレンス補正を行うことができる。
データの変動を打消してアーチファクトを低減した画像
を得ようとするリファレンス補正を行うことができる。
以下、リファレンス補正について説明する。すなわち、
リファレンス補正は、第４図のリファレンス検出器Ｄ
ｅｔ□と、このリファレンス検出器ＤｅｔＯの出力が導
かれるデータ収集部ＤＡＳの対応する要素（１／Ｖ変換
器４．積分器５．マルチプレクサ６、Ａ／Ｄ変換器７）
と、前処理部８にて実施されるものであり、その原理を
第５図及び第６図を参照して説明する。
リファレンス補正は、第４図のリファレンス検出器Ｄ
ｅｔ□と、このリファレンス検出器ＤｅｔＯの出力が導
かれるデータ収集部ＤＡＳの対応する要素（１／Ｖ変換
器４．積分器５．マルチプレクサ６、Ａ／Ｄ変換器７）
と、前処理部８にて実施されるものであり、その原理を
第５図及び第６図を参照して説明する。
すなわち、第５図に示すように、Ｘ線系にあっては、Ｘ
線源１から強度ＸのＸ線が放射され、被検体Ｐを透過し
てＸｌ′の強度まで減弱し透過Ｘ線となった後検出器Ｄ
ｅ線に入る。そして、データ収集部ＤＡＳの出力として
は透過Ｘ線強度Ｘｌ′に対応する信号をＡ／Ｄ変換した
ものとなり、このＡ／Ｄ変換したものを前処理、再構成
に使う。この場合、Ｘ線強度Ｘは常に変動しているので
、その影響を補正する必要がある。
線源１から強度ＸのＸ線が放射され、被検体Ｐを透過し
てＸｌ′の強度まで減弱し透過Ｘ線となった後検出器Ｄ
ｅ線に入る。そして、データ収集部ＤＡＳの出力として
は透過Ｘ線強度Ｘｌ′に対応する信号をＡ／Ｄ変換した
ものとなり、このＡ／Ｄ変換したものを前処理、再構成
に使う。この場合、Ｘ線強度Ｘは常に変動しているので
、その影響を補正する必要がある。
つまり、Ｘ線ＣＴスキャナ装置の再構成に必要なデータ
はＸｉ ’ ／Ｘであるので、これを実現するために、
データ処理部ＤＡＳ内にて、データ収集用検出器群Ｄ
ｅ線 −Ｄ ｅｔＮのＡ／Ｄ変換出力（Ｘｉ ’ ）を
、リファレンス検出器Ｄｅｔ□のＡ／Ｄ変換出力（Ｘ）
で割算する。これにより、Ｘ線強度の変化によるデータ
の変動を打消すことができる。なお、実際のデータ収集
にあって、データｘ、ｘｔ’ の測定には第６図に示す
ように、一定の期間（積分時間ΔＴ）を要するので、各
チャンネルに渡って共通に用いるリファレンス検出器Ｄ
ｅｔｏからのデータＸ、及びデータ収集用検出器群Ｄｅ
線〜ＤｅｔＮのデータＸＩ’ は、この期間に変動した
Ｘ線強度、及び透過Ｘ線強度の平均値となっている。
はＸｉ ’ ／Ｘであるので、これを実現するために、
データ処理部ＤＡＳ内にて、データ収集用検出器群Ｄ
ｅ線 −Ｄ ｅｔＮのＡ／Ｄ変換出力（Ｘｉ ’ ）を
、リファレンス検出器Ｄｅｔ□のＡ／Ｄ変換出力（Ｘ）
で割算する。これにより、Ｘ線強度の変化によるデータ
の変動を打消すことができる。なお、実際のデータ収集
にあって、データｘ、ｘｔ’ の測定には第６図に示す
ように、一定の期間（積分時間ΔＴ）を要するので、各
チャンネルに渡って共通に用いるリファレンス検出器Ｄ
ｅｔｏからのデータＸ、及びデータ収集用検出器群Ｄｅ
線〜ＤｅｔＮのデータＸＩ’ は、この期間に変動した
Ｘ線強度、及び透過Ｘ線強度の平均値となっている。
ここで、パルスＸ線を用いるシステムと連続Ｘ線を用い
るシステムとではリファレンス補正の結果にも相違があ
ることについて説明する。先ず、Ｘ線強度の変動を高圧
発生器１の動作に注目して考察する。すなわち、高圧発
生器１の出力電圧つまり管電圧は、データ収集期間にあ
って高い周波数で変動しくリップル）、これに対し管電
流は緩やかに変動する。そして、パルスＸ線を用いるシ
ステムでは、第７図に示すように、積分時間ΔＴのタイ
ミングはリファレンス検出器Ｄｅｔ（、及びデータ収集
用検出器群Ｄｅｔ１〜ＤｅｔＮの各チャンネルに共通で
あるので、全て同じタイミングでのＤ ａｔＯの出力と
データ収集用検出器群Ｄｅ線〜ＤｃｔＮの出力とで補正
演算Ｘｉ ’ ／Ｘがなされることから、正確な補正結
果を得ることができる。
るシステムとではリファレンス補正の結果にも相違があ
ることについて説明する。先ず、Ｘ線強度の変動を高圧
発生器１の動作に注目して考察する。すなわち、高圧発
生器１の出力電圧つまり管電圧は、データ収集期間にあ
って高い周波数で変動しくリップル）、これに対し管電
流は緩やかに変動する。そして、パルスＸ線を用いるシ
ステムでは、第７図に示すように、積分時間ΔＴのタイ
ミングはリファレンス検出器Ｄｅｔ（、及びデータ収集
用検出器群Ｄｅｔ１〜ＤｅｔＮの各チャンネルに共通で
あるので、全て同じタイミングでのＤ ａｔＯの出力と
データ収集用検出器群Ｄｅ線〜ＤｃｔＮの出力とで補正
演算Ｘｉ ’ ／Ｘがなされることから、正確な補正結
果を得ることができる。
従って、Ｘ線強度の変化による収集データの変動が打消
され、アーチファクトを低減した画像が得られる。
され、アーチファクトを低減した画像が得られる。
これに対し、連続Ｘ線を用いるシステムでは、第８図に
示すように積分時間ΔＴはリファレンス検出器Ｄｅｔ□
及びデータ収集用検出器群Ｄｅｔ１〜ＤｅｔＮの各チャ
ンネルに共通であるが、そのタイミングはそれぞれ時間
ｄだけずれたものである。
示すように積分時間ΔＴはリファレンス検出器Ｄｅｔ□
及びデータ収集用検出器群Ｄｅｔ１〜ＤｅｔＮの各チャ
ンネルに共通であるが、そのタイミングはそれぞれ時間
ｄだけずれたものである。
従って、全て異なるタイミングでのＤ ｅｔ（、の出力
とデータ収集用検出器群Ｄｅｔ１〜ＤｏｔＮの出力とで
補正演算Ｘｉ ’ ／Ｘがなされることから、補正結果
は不正確なものとなってしまう（特に、Ｘｌ’／ＸとＸ
Ｎ’／Ｘとテハ太き（異なる。）。
とデータ収集用検出器群Ｄｅｔ１〜ＤｏｔＮの出力とで
補正演算Ｘｉ ’ ／Ｘがなされることから、補正結果
は不正確なものとなってしまう（特に、Ｘｌ’／ＸとＸ
Ｎ’／Ｘとテハ太き（異なる。）。
従って、Ｘ線強度の変化による収集データの変動を的確
に打消すことができないので、アーチファクトの生じた
画像となってしまう。
に打消すことができないので、アーチファクトの生じた
画像となってしまう。
（発明が解決しようとする課題）
このように従来の技術において、特に連続Ｘ線を用いる
場合は、変動するＸ線強度に追随したデータを用いない
で補正演算を行なっているので、Ｘ線強度の変化による
収集データの変動を的確に打消すことができなく、よっ
て、アーチファクトの生じた画像となってしまう、問題
点があった。
場合は、変動するＸ線強度に追随したデータを用いない
で補正演算を行なっているので、Ｘ線強度の変化による
収集データの変動を的確に打消すことができなく、よっ
て、アーチファクトの生じた画像となってしまう、問題
点があった。
そこで本発明の目的は、変動するＸ線強度に追随したデ
ータを用いてリファレンス補正演算を行なうようにして
、Ｘ線強度の変化による収集データの変動を的確に打消
し、アーチファクトの低減した画像を得ることを可能と
したＸＩＣＴスキャナ装置を提供することにある。
ータを用いてリファレンス補正演算を行なうようにして
、Ｘ線強度の変化による収集データの変動を的確に打消
し、アーチファクトの低減した画像を得ることを可能と
したＸＩＣＴスキャナ装置を提供することにある。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段）
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために次
のような手段を講じた構成としている。
のような手段を講じた構成としている。
すなわち、本発明は、撮影域を介してＸ線源と検出器群
とを対向配置してなり、前記撮影域に置かれた被検体に
ついて前記Ｘ線源から曝射されて多方向から透過した透
過Ｘ線を前記検出器群にて検出し、該検出信号をデータ
収集部、前処理部を通して再構成部にて再構成処理を施
すようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置において、前記撮影
域を通らないバス上にリファレンス検出器を設けると共
に前記Ｘ線源を駆動する高圧発生器の出力電圧をモニタ
する手段を設け、前記リファレンス検出器の出力と前記
手段による電圧モニタ出力とに基づき前記検出器群の各
チャンネルについての補正用データを算出し、該算出値
を用いて前記前処理部にてリファレンス補正を行なう構
成、又は、前記Ｘ線源を駆動する高圧発生器の出力電圧
と出力電圧とをモニタする手段を設け、この手段による
電圧モニタ出力と電流モニタ出力とに基づき前記検出器
群の各チャンネルについての補正用データを算出し、該
算出値を用いて前記前処理部にてリファレンス補正を行
なう構成としたものである。
とを対向配置してなり、前記撮影域に置かれた被検体に
ついて前記Ｘ線源から曝射されて多方向から透過した透
過Ｘ線を前記検出器群にて検出し、該検出信号をデータ
収集部、前処理部を通して再構成部にて再構成処理を施
すようにしたＸ線ＣＴスキャナ装置において、前記撮影
域を通らないバス上にリファレンス検出器を設けると共
に前記Ｘ線源を駆動する高圧発生器の出力電圧をモニタ
する手段を設け、前記リファレンス検出器の出力と前記
手段による電圧モニタ出力とに基づき前記検出器群の各
チャンネルについての補正用データを算出し、該算出値
を用いて前記前処理部にてリファレンス補正を行なう構
成、又は、前記Ｘ線源を駆動する高圧発生器の出力電圧
と出力電圧とをモニタする手段を設け、この手段による
電圧モニタ出力と電流モニタ出力とに基づき前記検出器
群の各チャンネルについての補正用データを算出し、該
算出値を用いて前記前処理部にてリファレンス補正を行
なう構成としたものである。
（作用）
このような構成によれば、パルスＸ線、連続Ｘ線のいず
れであっても、変動するＸ線強度に追随した被検体を通
らないＸ線強度データを用いてリファレンス補正演算を
行なうことができ、よって、Ｘ線強度の変化による収集
データの変動を的確に打消すことができ、アーチファク
トを低減した画像を得ることができる。
れであっても、変動するＸ線強度に追随した被検体を通
らないＸ線強度データを用いてリファレンス補正演算を
行なうことができ、よって、Ｘ線強度の変化による収集
データの変動を的確に打消すことができ、アーチファク
トを低減した画像を得ることができる。
（実施例）
以下本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の一実施例を
、第４図と同一部分には同一符号を付した第１図を参照
して説明する。本実施例は、高圧発生器１とＸ線源２と
のライン上に電圧変成器１１を設け、この電圧変成器１
１の出力を電圧計１２に導いて、ここで管電圧検出信号
をΔＴ／ （Ｎ＋１）の周期でサンプリングし、該サン
プリングデータをＡ／Ｄ変換器１３にてディジタル化し
、第４図のものとは違って所定の演算手順を有する前処
理部８′に導入する。この前処理部８′ではリファレン
ス検出器Ｄｅｔ□のＡ／Ｄ変換出力（Ｘ）を、Ｘ線強度
変動を反映しているサンプリング管電圧信号により補正
し、リファレンス補正演算を、変動するＸ線強度に追随
したデータを用いて行なうようにしている。
、第４図と同一部分には同一符号を付した第１図を参照
して説明する。本実施例は、高圧発生器１とＸ線源２と
のライン上に電圧変成器１１を設け、この電圧変成器１
１の出力を電圧計１２に導いて、ここで管電圧検出信号
をΔＴ／ （Ｎ＋１）の周期でサンプリングし、該サン
プリングデータをＡ／Ｄ変換器１３にてディジタル化し
、第４図のものとは違って所定の演算手順を有する前処
理部８′に導入する。この前処理部８′ではリファレン
ス検出器Ｄｅｔ□のＡ／Ｄ変換出力（Ｘ）を、Ｘ線強度
変動を反映しているサンプリング管電圧信号により補正
し、リファレンス補正演算を、変動するＸ線強度に追随
したデータを用いて行なうようにしている。
以下、具体的な補正手順について詳細に説明する。すな
わち、先に述べたようにＸ線強度の急激な変動は主にＸ
線管に供給される電圧の変化に起因している。そして、
Ｘ線の測定に比べて電圧の測定は遥かに容易であり、積
分時間ΔＴよりも遥かに短い時間で次々と測定すること
ができる。つまり、電圧変成器１及び電圧計１２により
高圧発生器１の出力電圧である管電圧を積分時間ΔＴよ
りも遥かにサンプリングタイムにてモニタすることがで
きる。
わち、先に述べたようにＸ線強度の急激な変動は主にＸ
線管に供給される電圧の変化に起因している。そして、
Ｘ線の測定に比べて電圧の測定は遥かに容易であり、積
分時間ΔＴよりも遥かに短い時間で次々と測定すること
ができる。つまり、電圧変成器１及び電圧計１２により
高圧発生器１の出力電圧である管電圧を積分時間ΔＴよ
りも遥かにサンプリングタイムにてモニタすることがで
きる。
今、第３図に示すようなタイミングにてＸ線放射、管電
圧、Ｘ線強度、検出器出力となったとすると、各データ
収集期間１ｏ、１１．・・・、ＩＮにおける管電圧の測
定値は次のようになる。ただし、第３図においては、Ｎ
−６であり、一般にΔＴ≦（Ｎ＋１）ｄであり、ｍ−４
である。
圧、Ｘ線強度、検出器出力となったとすると、各データ
収集期間１ｏ、１１．・・・、ＩＮにおける管電圧の測
定値は次のようになる。ただし、第３図においては、Ｎ
−６であり、一般にΔＴ≦（Ｎ＋１）ｄであり、ｍ−４
である。
Ｉｏの期間に対応する管電圧の測定値はｖｏ、・・・、
Ｖｍ−１■、の期間に対応する管電圧の測定値はｖｌ
、・・・、ＶｌＩＮの期間に対応する管電圧のｉｌｌ定
値はＶＮ、・・・、 Ｖｍ＋Ｎ−１ここで、管電流の変
化は緩やかなので、ここでは電流一定とすることができ
、この条件の下で、電圧ＶのときのＸ線強度を測定し、
これをｐ （ｖ）とする。さらに、基準の電圧Ｖにおけ
るＰ （ｖ）と、電圧Ｖにおけるｐ （ｖ）の比を関数
Ｑｖ （Ｖ）とする。
Ｖｍ−１■、の期間に対応する管電圧の測定値はｖｌ
、・・・、ＶｌＩＮの期間に対応する管電圧のｉｌｌ定
値はＶＮ、・・・、 Ｖｍ＋Ｎ−１ここで、管電流の変
化は緩やかなので、ここでは電流一定とすることができ
、この条件の下で、電圧ＶのときのＸ線強度を測定し、
これをｐ （ｖ）とする。さらに、基準の電圧Ｖにおけ
るＰ （ｖ）と、電圧Ｖにおけるｐ （ｖ）の比を関数
Ｑｖ （Ｖ）とする。
Ｑｖ （Ｖ）−Ｐ （Ｖン ／Ｐ （ｖ）Ｑｖ
（Ｖ）は一般に多項式で充分精度よく近似できる（ｌ
１−Ｖ／ｖ ｌ＝Ｑ、０１のオーダの変動であるから
。）。この多項式をＲｖ （Ｖ）とする。
（Ｖ）は一般に多項式で充分精度よく近似できる（ｌ
１−Ｖ／ｖ ｌ＝Ｑ、０１のオーダの変動であるから
。）。この多項式をＲｖ （Ｖ）とする。
ただし、システムがｖ−ｔ−例えば１００ＫＶ。
１２０ＫＶ、１４０ＫＶの３ｇ類に設定できるものであ
るとすれば、この電圧の定格の数だけ多項式を予め用意
しておく。
るとすれば、この電圧の定格の数だけ多項式を予め用意
しておく。
よって、期間ＩＯに対応する平均電圧Ｖ。は次のように
なる。
なる。
同じく、期間１１に対応する平均電圧Ｖ１は次のように
なる。
なる。
従って、期間ＩＯの被検体を通らないＸ線の平均強度は
Ｄ ｅｔＯの出力から算出できる。これをＸｏとすると
、期間１１の被検体を通らないＸ線強度Ｘ１は次のよう
になる。
Ｄ ｅｔＯの出力から算出できる。これをＸｏとすると
、期間１１の被検体を通らないＸ線強度Ｘ１は次のよう
になる。
Ｘｌ ”１Ｘ（１−Ｒｖ （Ｖｌ ） ／Ｒｖ （Ｖｏ
）このように各々検出器Ｄｅ線について、その固有の
積分時間１１における被検体を通らないＸ線強度Ｘ１つ
まりリファレンスデータを算出することができ、このリ
ファレンスデータＸＩを用い、次のようにリファレンス
補正を行なう。
）このように各々検出器Ｄｅ線について、その固有の
積分時間１１における被検体を通らないＸ線強度Ｘ１つ
まりリファレンスデータを算出することができ、このリ
ファレンスデータＸＩを用い、次のようにリファレンス
補正を行なう。
（ＤｅｌｌのＡ／Ｄ変換出力） ／Ｘｉこの補正の結果
、再構成部にはＸ線強度に依存しないデータが与えられ
、アーチファクトの低減された画像が生成される。
、再構成部にはＸ線強度に依存しないデータが与えられ
、アーチファクトの低減された画像が生成される。
上述した算術の手順は、第２図に示すように前処理部８
′における、測定電圧の平均値ｖＯ＋Ｖ１．・・・を求
めるブロック８Ａ、被検体を通らないＸ線強度Ｘ１を求
めるブロック８Ｂ。
′における、測定電圧の平均値ｖＯ＋Ｖ１．・・・を求
めるブロック８Ａ、被検体を通らないＸ線強度Ｘ１を求
めるブロック８Ｂ。
ｒｌ ＝ＤＩ ／Ｘｉを求めるブロック８Ｃ，ｐｉ −
ノｏｇｒｌを求めるブロック８Ｄで実行される。
ノｏｇｒｌを求めるブロック８Ｄで実行される。
次に本発明の他の実施例を説明する。前述の実施例では
、変動するＸ線強度に追随した被検体を通らないＸ線強
度データを求めるのに、撮影域を通らないバス上にリフ
ァレンス検出器Ｄｅｔ□を設け、高圧発生器１の出力電
圧をモニタする手段として電圧変成器１１．電圧計１２
等を設けるようにしたが、リファレンス検出器Ｄ ｅｔ
（、を設けずに、出力電圧をモニタする手段の他に出力
電流をモニタする手段例えば変流器、電圧計等を設け、
電圧モニタ出力と電流モニタ出力とで補正用データを算
出することができる。
、変動するＸ線強度に追随した被検体を通らないＸ線強
度データを求めるのに、撮影域を通らないバス上にリフ
ァレンス検出器Ｄｅｔ□を設け、高圧発生器１の出力電
圧をモニタする手段として電圧変成器１１．電圧計１２
等を設けるようにしたが、リファレンス検出器Ｄ ｅｔ
（、を設けずに、出力電圧をモニタする手段の他に出力
電流をモニタする手段例えば変流器、電圧計等を設け、
電圧モニタ出力と電流モニタ出力とで補正用データを算
出することができる。
電流値がａである（ａは一定とする。）ときの電圧Ｖに
おけるＸ線強度を予め測定し、これをＰ （ｖ）とする
。
おけるＸ線強度を予め測定し、これをＰ （ｖ）とする
。
サンプル周期ｄにあって電圧計で測定したデータＶＯ＋
”１ ＋ ・・・サンプル周期ｄにあって電流計で測
定したデータＡＯ＋ Ａ１ ｒ ・・・これにより、 を求め、被検体を通らないＸ線強度のデータＸ１を次の
式で算出する。
”１ ＋ ・・・サンプル周期ｄにあって電流計で測
定したデータＡＯ＋ Ａ１ ｒ ・・・これにより、 を求め、被検体を通らないＸ線強度のデータＸ１を次の
式で算出する。
Ｘｉ −Ｐ （Ｖｉ ） ・Ａ１ ／ａ本発明は上記実
施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱し
ない範囲で種々変形して実施できるものである。
施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱し
ない範囲で種々変形して実施できるものである。
［発明の効果］
以上のように本発明では、撮影域を通らないパス上にリ
ファレンス検出器を設けると共にＸ線源を駆動する高圧
発生器の出力電圧をモニタする手段を設け、前記リファ
レンス検出器の出力と前記手段による電圧モニタ出力と
に基づき前記検出器群の各チャンネルについての補正用
データを算出し、該算出値を用いて前記前処理部にてリ
ファレンス補正を行なう構成、又は、前記Ｘ線源を駆動
する高圧発生器の出力電圧と出力電圧とをモニタする手
段を設け、この手段による電圧モニタ出力と電流モニタ
出力とに基づき前記検出器群の各チャンネルについての
補正用データを算出し、該算出値を用いて前記前処理部
にてリファレンス補正を行なう構成としたことにより、
パルスＸ線。
ファレンス検出器を設けると共にＸ線源を駆動する高圧
発生器の出力電圧をモニタする手段を設け、前記リファ
レンス検出器の出力と前記手段による電圧モニタ出力と
に基づき前記検出器群の各チャンネルについての補正用
データを算出し、該算出値を用いて前記前処理部にてリ
ファレンス補正を行なう構成、又は、前記Ｘ線源を駆動
する高圧発生器の出力電圧と出力電圧とをモニタする手
段を設け、この手段による電圧モニタ出力と電流モニタ
出力とに基づき前記検出器群の各チャンネルについての
補正用データを算出し、該算出値を用いて前記前処理部
にてリファレンス補正を行なう構成としたことにより、
パルスＸ線。
連続Ｘ線のいずれであっても、変動するＸ線強度に追随
した被検体を通らないＸ線強度データを用いてリファレ
ンス補正演算を行なうことができ、よって、Ｘ線強度の
変化による収集データの変動を的確に打消すことができ
、アーチファクトの低減した画像を得ることができる。
した被検体を通らないＸ線強度データを用いてリファレ
ンス補正演算を行なうことができ、よって、Ｘ線強度の
変化による収集データの変動を的確に打消すことができ
、アーチファクトの低減した画像を得ることができる。
よって、本発明によれば、変動するＸ線強度に追随した
データを用いてリファレンス補正演算を行なうようにし
て、Ｘ線強度の変化による収集データの変動を的確に打
消し、アーチファクトの低減した画像を得ることを可能
としたＸｎＣＴスキャナ装置を提供できる。
データを用いてリファレンス補正演算を行なうようにし
て、Ｘ線強度の変化による収集データの変動を的確に打
消し、アーチファクトの低減した画像を得ることを可能
としたＸｎＣＴスキャナ装置を提供できる。
第１図は本発明にかかるＸ線ＣＴスキャナ装置の一実施
例の構成を示す図、第２図及び第３図は同実施例の動作
を示す図、第４図は従来例を示す図、第５図及び第６図
はリファレンス補正の原理を説明する図、第７図はパル
スＸ線を用いるシステムにおけるリファレンス補正を説
明する図、第８図は連続Ｘ線を用いるシステムにおける
リファレンス補正を説明する図である。 １・・・高圧発生器、２・・・Ｘ線源、３・・・検出器
、Ｄ ａｔ□・・・リファレンス検出器、Ｄａｔａ、・
・・。 Ｄ ＯｔＮ・・・検出器群、ＤＡＳ・・・データ収集部
、８′・・・前処理部、９・・・再構成部、１０・・・
モニタ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 １ 区 再鵬部ヘ ズ ２ 区 第３図 第 ４ 区 第６図 第７図 第８図
例の構成を示す図、第２図及び第３図は同実施例の動作
を示す図、第４図は従来例を示す図、第５図及び第６図
はリファレンス補正の原理を説明する図、第７図はパル
スＸ線を用いるシステムにおけるリファレンス補正を説
明する図、第８図は連続Ｘ線を用いるシステムにおける
リファレンス補正を説明する図である。 １・・・高圧発生器、２・・・Ｘ線源、３・・・検出器
、Ｄ ａｔ□・・・リファレンス検出器、Ｄａｔａ、・
・・。 Ｄ ＯｔＮ・・・検出器群、ＤＡＳ・・・データ収集部
、８′・・・前処理部、９・・・再構成部、１０・・・
モニタ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 １ 区 再鵬部ヘ ズ ２ 区 第３図 第 ４ 区 第６図 第７図 第８図
Claims (2)
- （１）撮影域を介してＸ線源と検出器群とを対向配置し
てなり、前記撮影域に置かれた被検体について前記Ｘ線
源から曝射されて多方向から透過した透過Ｘ線を前記検
出器群にて検出し、該検出信号をデータ収集部、前処理
部を通して再構成部にて再構成処理を施すようにしたＸ
線ＣＴスキャナ装置において、前記撮影域を通らないパ
ス上にリファレンス検出器を設けると共に前記Ｘ線源を
駆動する高圧発生器の出力電圧をモニタする手段を設け
、前記リファレンス検出器の出力と前記手段による電圧
モニタ出力とに基づき前記検出器群の各チャンネルにつ
いての補正用データを算出し、該算出値を用いて前記前
処理部にてリファレンス補正を行なうことを特徴とする
Ｘ線ＣＴスキャナ装置。 - （２）撮影域を介してＸ線源と検出器群とを対向配置し
てなり、前記撮影域に置かれた被検体について前記Ｘ線
源から曝射されて多方向から透過した透過Ｘ線を前記検
出器群にて検出し、該検出信号をデータ収集部、前処理
部を通して再構成部にて再構成処理を施すようにしたＸ
線ＣＴスキャナ装置において、前記Ｘ線源を駆動する高
圧発生器の出力電圧と出力電圧とをモニタする手段を設
け、この手段による電圧モニタ出力と電流モニタ出力と
に基づき前記検出器群の各チャンネルについての補正用
データを算出し、該算出値を用いて前記前処理部にてリ
ファレンス補正を行なうことを特徴とするＸ線ＣＴスキ
ャナ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63139562A JPH01310644A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63139562A JPH01310644A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01310644A true JPH01310644A (ja) | 1989-12-14 |
Family
ID=15248157
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63139562A Pending JPH01310644A (ja) | 1988-06-08 | 1988-06-08 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01310644A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016063725A1 (ja) * | 2014-10-22 | 2016-04-28 | 株式会社日立製作所 | データ処理装置、ｘ線ｃｔ装置、及びリファレンス補正方法 |
-
1988
- 1988-06-08 JP JP63139562A patent/JPH01310644A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016063725A1 (ja) * | 2014-10-22 | 2016-04-28 | 株式会社日立製作所 | データ処理装置、ｘ線ｃｔ装置、及びリファレンス補正方法 |
| JPWO2016063725A1 (ja) * | 2014-10-22 | 2017-08-03 | 株式会社日立製作所 | データ処理装置、ｘ線ｃｔ装置、及びリファレンス補正方法 |
| US10398404B2 (en) | 2014-10-22 | 2019-09-03 | Hitachi, Ltd. | Data processing device, X-ray CT apparatus, and reference correction method |
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