JPH01318912A - デジタイジング方法及び装置 - Google Patents

デジタイジング方法及び装置

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JPH01318912A
JPH01318912A JP15305488A JP15305488A JPH01318912A JP H01318912 A JPH01318912 A JP H01318912A JP 15305488 A JP15305488 A JP 15305488A JP 15305488 A JP15305488 A JP 15305488A JP H01318912 A JPH01318912 A JP H01318912A
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JP
Japan
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axis
model
axis direction
detection head
contact detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP15305488A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinsuke Yasogawa
八十川 信介
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Osaka Kiko Co Ltd
Original Assignee
Osaka Kiko Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、モデルまたは製品等から加工用データを得る
ためのデジタイジング方法及び装置に関するものである
〔従来の技術〕
従来のデジタイジング方法は、接触型のトレーサヘンド
を有する倣い機能を持った機械にょリ、モデルまたは製
品を倣い、その時の機械の動きを、検出器を用いてデジ
タル化して記憶させ、これから加工用NCデータを作成
させていたものである。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来のデジタイジング方法では、高精度の倣いサーボ技
術が必要で高価となり、また、倣いサーボのため、高速
化に限界があり、しかも、接触式のため、粘土等の軟ら
かいモデルに対しては通用が困難又は不可能であった。
本発明は、従来のデジタイジング方法の上記点に鑑みて
提案されたもので、その目的とするところは、高精度の
倣いサーボ技術を必要とせず、かつ、デジタイジングの
高速化を可能とし、やわらかい対象物に対してもデジタ
イジングが可能なデジタイジング方法及び装置を提供し
ようとするものである。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、本発明のデジタイジング方法
は、モデルに対して、Z軸方向位置を一定の非接触位置
に保持した状態で非接触検出へノドを、Z軸と直交する
X−Y平面内でモデルのX−Y平面内の投影像を、その
一端から他端へ定ピッチで細分割した経路に沿って非接
触で走査させ、上記非接触検出ヘッドのX−Y平面内で
の位置データを刻々と検出し、かつ、各位置での非接触
検出ヘッドとモデルとの間のZ軸方向の隔離距離を検出
してモデルの三次元形状データを得るようにしたもので
ある。
また、本発明のデジク・fジング装置は、モデルを装着
するテーブルと、テーブル上のモデルに対して、X−Y
−Z軸方向に移動制御可能とした移動体と、移動体のX
−Y平面内での位置データを刻々と検出可能としたX軸
及びY軸位置検出器と、モデルに対してZ@方向位置を
一定の接触位置に保持した状態で上記移動体に装着され
、上記X軸及びY軸位置検出器の位置データ検出に対応
してモデルまでのZ軸方向の隔離距離を検出する非接触
検出ヘッドと、モデルのX−Y平面内の投影像をその一
端から他端へ定ピッチで細分割した経路に沿って移動体
を介して非接触検出ヘッドを走査させ、かつ、この走査
中のX軸及びY軸位置検出器のX−Y平面内の位置デー
タと非接触検出ヘッドによるZ軸方向の離隔距離データ
からモデルの三次元形状データを演算するコントローラ
とを具備したものである。
〔作用〕
本発明のデジタイジング方法は、モデルのX−Y平面内
の投影像を、その一端から他端へ定ピッチで細分割した
経路に沿って非接触検出ヘッドを非接触で走行させて、
X軸方向及びY軸方向の位置データを刻々と検出する。
そして、Z軸方向のデータは、非接触検出ヘッドを2軸
方向に固定しておき、モデルとの間の離隔距離を刻々と
検出させ、上記X軸方向及びY軸方向の位置データと合
わせてモデルの三次元形状データを得るものである。
また、本発明のデジタイジング装置は、非接触検出へ・
ノドを移動体を介して移動させ、X軸方向及びY軸方向
の位置データを、移動体の移動量から検出させ、Z軸方
向の位置データは、非接触検出ヘッドにより、モデルま
での離隔距離で検出させており、これら各軸の位置デー
タは、コントローラにより演算処理される。
〔実施例〕
第1図は本発明装置の一実施例を示す概略斜視図であっ
て、同図において、(1)はテーブル、(2)はテーブ
ル(1)の後面に立設したコラム、(3)はコラム(2
)にX軸方向(左右方向)に摺動可能に装備したX軸方
向移動体、(4)はX軸サーボモータ、(5)はX軸ボ
ールねしであって、ボールナツト(図示省略)を介して
X軸方向移動体(3)をコラム(2)上でX軸方向に駆
動する装置を構成しており、X軸方向移動体(3)の移
動量は、X軸位置検出器(6)で検出される。
(7)はX軸方向移動体(3)にY軸方向(前後方向)
に移動可能に装着されたX軸方向移動体、(8)はY軸
サーボモータ、(9)はY軸ボールねしであって、ポー
ルナツト(図示−省略)を介してY軸方向移動体(7)
をX軸方向移動体(3)に対してY軸方向に駆動する装
置を構成しており、Y軸方向移動体(7)の移動量は、
Y軸位置検出器(10)で検出される。
(11)はY軸方向移動体(7)に2軸方向(上下方向
)に移動可能に装着されたX軸方向移動体、(12)は
2軸サーボモータ、(13)はZ軸ボールねしであって
、ポールナツト(図示省略)を介してX軸方向移動体(
11)をY軸方向移動体(7)に対してZiIl17I
iFlに駆動する装置を構成しており、X軸方向移動体
(11)の移動量は、Z軸位置検出器(14)で検出さ
れる。
(15)はX軸方向移動体(11)に装着された非接触
検出ヘッド、(16)はコントローラ、(M)はモデル
を示している。
非接触検出ヘッド(15)は、第2図に示す様にレーデ
光源(17)とレンズ(18)  (19)と絞り(2
0)及び光位置センサ(21)の組合せよりなり、非接
触検出ヘッド(15)からモデル(M)までの離隔距離
を、光位置センサ(21)により検出させる構成である
。即ち、レーザ光源(17)からのレーザ光は、ハーフ
ミラ−(22)からレンズ(18)を経てモデル(M)
に達し、モデル(M)を反射したレーザ光は、レンズ(
18)、絞り(20) 、レンズ(19)を経て光位置
センサ(21)に入射し、非接触検出ヘッド(15)か
らモデル(M)までの離隔距離に比例して光位置センサ
(21)への入射位置が変化することによって、離隔距
離を検出させるものである。
コントローラ(16)は、X軸サーボモータ(4)及び
Y軸サーボモータ(8)を介してX軸方向移動体(3)
及びY軸方向移動体く7)を第3図に示す様に移動させ
、かつ、各軸位置検出器(6)  (10)  (14
)の位置データ及び非接触検出ヘッド(15)の光位置
センサ(21)の検出値を演算処理してモデル(M)の
三次元形状データを作成する。
上記X軸方向移動体(3)の移動範囲(P)及びY軸方
向移動体(7)の移動範囲(Q)は、モデル(M)のX
−Y平面内の投影像によって決定され、この範囲を、そ
の一端から他端へ定ピッチ(S)で細分割したジグザグ
経路に沿ってコントローラ(16)により駆動される。
上記ピンチ(S)は、光位置センサ(21)の分解能を
限度として小さくする程精密なデジタイジングが可能と
なり、加工条件等によって適当な値に設定される。
本発明装置は以上の構成からなり、次に動作を説明する
テーブル(1)上に装着したモデル(M)のZ軸方向の
最大値より若干大きい値で非接触検出ヘッド(15)の
下端をX軸方向移動体(11)にセントする。そして、
モデル(M)のX軸方向の最大値及びY軸方向の最大値
並びにピッチ(S)を設定し、コントローラ(16)に
よって、X軸方向移動体(3)及びY軸方向移動体(7
)を第3図の如き経路に沿って一定速度で移動させる。
これにより、非接触検出ヘッド(15)はモデル(M 
)に非接触で移動する。そして、この間、X軸位置検出
器(6)及びY軸位置検出器(10)のデータを一定時
間間隔でサンプリングし、これと同時に、非接触検出ヘ
ッド(15)の光位置センサ(21)の検出値を刻々と
サンプリングする。これらの検出値に予め設定した形状
パターン及び補間精度を加味させて、モデル(M)の三
次元形状データが得られる。
上記実施例では、X軸方向に定ピッチ(S)で細分割し
ているが、Y軸方向に定ピンチ(S)で細分割させても
よく、また、それぞれの移動範囲(P)  (Q)は、
モデル(M)のx−y平面への投影像の輪郭形状に適合
させることによって、無駄な動作を減少させることが可
能である。
また、非接触検出ヘッド(15)には、レーザー光以外
に、指向性の高い媒体(例えば、超音波)を使用しても
よい。
さらに、非接触検出ヘッド(15)で検出したデータは
、そのまま取り込まず、複数個分のデータをサンプリン
グする毎に、前のデータを遅らせて記憶させる如きバッ
ファ処理機能をもたせたり、或いは、各測定点で、その
周囲のデータを集めて平均値を求めさせるために、微小
範囲の走査機能を持たせることができる。また、非接触
検出ヘッド(15)に先行検出制御機能をもたせ、測定
点の前方のモデル形状を検出させてZ軸方向の位置を変
更させ、衝突等を防止させることも可能であり、さらに
、先行検出で得たデータにより、傾斜面や曲面等の場合
には、これらの面に対向するように傾斜させたり、或い
は、法線方向検出機能を付与すること藻可能である。
〔発明の効果〕
本発明の方法によれば、高精度の倣いサーボ技術を必要
とせず、かつ、デジタイジングの高速化が可能であり、
しかも、やわらかいモデルに対してもデジタイジングが
可能となり、モデルの製作が容易化できる。
また、本発明の装置によれば、簡単安価な構成からなる
デジタイジング装置を提供することが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の一実施例を示す概略斜視図、第2
図は非接触検出ヘッドの一例を示す原理説明図、第3図
はX軸及びY軸方向の移動方法の一例を示す移動経路図
である。 (1)・・・テーブル、   (2)・−・コラム、(
3)・−・X軸方向移動体、 (4)・・−X軸サーボモータ、 (5)−・・X軸ボールねし、 (6)・・−X軸位置検出器、 (7)・−X軸方向移動体、 (8)・・・Y軸サーボモータ、 (9)−Y軸ボールねじ、 (10)・−・Y軸位置検出器、 (11)−・−Z軸方向移動体、 (12)・・・X軸サーボモータ、 (13)・・−・Z軸ボールねし、 (14)・・・Z軸位置検出器、 (15)−・−非接触検出ヘッド、 (16)・・−・・コントローラ、(M)・・・−・モ
デル。 特許 出願人 大阪機工株式会社

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)モデルに対して、Z軸方向位置を一定の非接触位
    置に保持した状態で非接触検出ヘッドを、Z軸と直交す
    るX−Y平面内でモデルのX−Y平面内の投影像を、そ
    の一端から他端へ定ピッチで細分割した経路に沿って非
    接触で走査させ、上記非接触検出ヘッドのX−Y平面内
    での位置データを刻々と検出し、かつ、各位置での非接
    触検出ヘッドとモデルとの間のZ軸方向の隔離距離を検
    出してモデルの三次元形状データを得ることを特徴とす
    るデジタイジング方法。
  2. (2)モデルを装着するテーブルと、テーブル上のモデ
    ルに対して、X−Y−Z軸方向に移動制御可能とした移
    動体と、移動体のX−Y平面内での位置データを刻々と
    検出可能としたX軸及びY軸位置検出器と、モデルに対
    してZ軸方向位置を一定の接触位置に保持した状態で上
    記移動体に装着され、上記X軸及びY軸位置検出器の位
    置データ検出に対応してモデルまでのZ軸方向の隔離距
    離を検出する非接触検出ヘッドと、モデルのX−Y平面
    内の投影像をその一端から他端へ定ピッチで細分割した
    経路に沿って移動体を介して非接触検出ヘッドを走査さ
    せ、かつ、この走査中のX軸及びY軸位置検出器のX−
    Y平面内の位置データと非接触検出ヘッドによるZ軸方
    向の離隔距離データとからモデルの三次元形状データを
    演算するコントローラとを具備したことを特徴とするデ
    ジタイジング装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0445911U (ja) * 1990-08-22 1992-04-20
JPH0716107U (ja) * 1993-08-25 1995-03-17 株式会社東京精密 三次元表面粗さ・輪郭形状測定機

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61124816A (ja) * 1984-11-22 1986-06-12 Hitachi Ltd 非接触式三次元計測装置

Patent Citations (1)

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