JPH01240260A - 非接触式デジタイザ - Google Patents
非接触式デジタイザInfo
- Publication number
- JPH01240260A JPH01240260A JP6863788A JP6863788A JPH01240260A JP H01240260 A JPH01240260 A JP H01240260A JP 6863788 A JP6863788 A JP 6863788A JP 6863788 A JP6863788 A JP 6863788A JP H01240260 A JPH01240260 A JP H01240260A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- axis
- sensors
- head
- movement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000700 radioactive tracer Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Machine Tool Copy Controls (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明はモデル形状を数値化し、ＮＣプログラムを作成
するデジタイザに関するものである。
するデジタイザに関するものである。
従来の技術
赤外ＬＥＤの光束を対象物に照射し、その反射光を受光
レンズにより位置検出素子上に集光させて信号を出力す
る光学式のセンサにおいては検出素子を受光に最適な角
度に傾けて取付けねばならない。このため影となる領域
ができ、１個のセンサでは必ず不感帯が存在し、測定す
る斜面角度に制限が生じる。従来これを解決するために
センサヘッドを２軸制御してセンサの傾斜角度を変更す
るための旋回と、この旋回平面を進行方向と平行にする
ための回転とを行ってモデル形状の全てを測定できるよ
うにしていた。
レンズにより位置検出素子上に集光させて信号を出力す
る光学式のセンサにおいては検出素子を受光に最適な角
度に傾けて取付けねばならない。このため影となる領域
ができ、１個のセンサでは必ず不感帯が存在し、測定す
る斜面角度に制限が生じる。従来これを解決するために
センサヘッドを２軸制御してセンサの傾斜角度を変更す
るための旋回と、この旋回平面を進行方向と平行にする
ための回転とを行ってモデル形状の全てを測定できるよ
うにしていた。
発明が解決しようとする課題
従来の技術で述べたセンサヘッドを２軸制御する方法は
制御が複雑で、スキャニング速度を速くすることが難し
く、更にデータ処理が複雑であるという問題点を有して
いた。 本発明は従来の技術の有するこれらの問題点に
鑑のなされたものであり、その目的とするところは、セ
ンザヘノトを２軸制御する必要のない垂直壁を含む±９
０°までのモデル形状全てが測定可能なデジタイザを提
供しようとするものである。
制御が複雑で、スキャニング速度を速くすることが難し
く、更にデータ処理が複雑であるという問題点を有して
いた。 本発明は従来の技術の有するこれらの問題点に
鑑のなされたものであり、その目的とするところは、セ
ンザヘノトを２軸制御する必要のない垂直壁を含む±９
０°までのモデル形状全てが測定可能なデジタイザを提
供しようとするものである。
課題を解決するだめの手段
上記目的を達成するために本発明における非接触式デジ
タイザは、受光または受信に最適な角度に移動方向前後
に傾げた少なくとも２個の非接触式センサを移動方向に
対し平行に設けて計測面の１点の位置を検出するトレー
サヘッドと、旧測面が平面及び」二かり斜面のとき進行
方向に対し後側のセンサをまた下り斜面のとき進行方向
に対して前側のセンサを選択し前記センサの出力信号に
よるスキャニングデータによりＮＣ形状データを作成す
るデジダイズ制御装置とを含んでなるものである。
タイザは、受光または受信に最適な角度に移動方向前後
に傾げた少なくとも２個の非接触式センサを移動方向に
対し平行に設けて計測面の１点の位置を検出するトレー
サヘッドと、旧測面が平面及び」二かり斜面のとき進行
方向に対し後側のセンサをまた下り斜面のとき進行方向
に対して前側のセンサを選択し前記センサの出力信号に
よるスキャニングデータによりＮＣ形状データを作成す
るデジダイズ制御装置とを含んでなるものである。
また少なくとも２個の光学式センサはそれぞれ移動軸線
上の一定距離はなれた少なくとも２点の位置を検出する
センサを２個ずつ組合わせ速度ヘクトルも算出可能とす
ることもできる。
上の一定距離はなれた少なくとも２点の位置を検出する
センサを２個ずつ組合わせ速度ヘクトルも算出可能とす
ることもできる。
作用
Ｘ軸方向のトレーサヘッド用クイル先端にトレーサヘッ
トが取付けられ、主軸頭移動方向のＹ軸を移動軸とした
場合Ｙ軸と平行に並んで設けられている受光に最適な角
度に傾けられた２個のセン４、ｊ−Ａ、Ｂのうち進行方
向の後側のセンサが、干デルの表面形状が平面及び上が
り傾斜面＋ＤＥＦを計測するときに選択され、また下が
り斜面〜ＤＥＦを計測するときは前側センサが選択され
る。そして選択された側のセンサ出力によりトレーサヘ
ッ用タイルのＸ軸方向の移動が制御され、Ｙ軸とＺ軸の
座標値からモデル表面の各座標値とＺ軸速度を算出して
ＮＣによる形状データを作成する。
トが取付けられ、主軸頭移動方向のＹ軸を移動軸とした
場合Ｙ軸と平行に並んで設けられている受光に最適な角
度に傾けられた２個のセン４、ｊ−Ａ、Ｂのうち進行方
向の後側のセンサが、干デルの表面形状が平面及び上が
り傾斜面＋ＤＥＦを計測するときに選択され、また下が
り斜面〜ＤＥＦを計測するときは前側センサが選択され
る。そして選択された側のセンサ出力によりトレーサヘ
ッ用タイルのＸ軸方向の移動が制御され、Ｙ軸とＺ軸の
座標値からモデル表面の各座標値とＺ軸速度を算出して
ＮＣによる形状データを作成する。
また上述の２個のセンサをそれぞれ一定距離はなれたＹ
軸線上の２点の位置を同時検出する２つのセンサＡ１．
Ａ２またばＢ１．Ｂ２を組合わせたものとし、右行のと
きは進行方向前側の位置を検出するセンサＢ１が、左行
のときは進行方向後側位置を検出するセンサＡ１が選択
され、選択されたセンサが斜面±ＤＥＦを検知したとき
組合わされている。２個のセンサＡ１．Ａ２又はＢ１゜
Ｂ２で２点の位置を同時に検出して、速度ベクトルを算
出する。
軸線上の２点の位置を同時検出する２つのセンサＡ１．
Ａ２またばＢ１．Ｂ２を組合わせたものとし、右行のと
きは進行方向前側の位置を検出するセンサＢ１が、左行
のときは進行方向後側位置を検出するセンサＡ１が選択
され、選択されたセンサが斜面±ＤＥＦを検知したとき
組合わされている。２個のセンサＡ１．Ａ２又はＢ１゜
Ｂ２で２点の位置を同時に検出して、速度ベクトルを算
出する。
実施例
実施例について図面を参照して説明する。第１回〜第２
図において、周知のデジタイザにおいてヘッド１に削設
されたＸ軸方向のすべり案内面上に、モデル２を取付け
るモデルテーブル３が移動可能に載置され、ＮＧにより
Ｘ軸制御される。ヘット１の両側に角形のコラム４が立
設され、コラム４上に取付けられた横桁５のＹ軸方向の
すべり案内面上に主軸頭６が移動可能に載置され、ＮＣ
によりＹ軸制御される。主軸頭６にはトレーサへＦ用り
イル７がＸ軸方向に移動可能に設けられており、ＮＣに
より制御される。トレーサヘッド用クイル７の先端に装
着されるトレーサヘッド９には、受光に最適な角度θに
Ｘ軸方向前後に傾けられモデル上の１点の位置を検出す
る２個の光学式センサＡ、ＢがＹ軸方向に並んで取付け
られている。センサＡ、Ｂは例えば浜松ホトニクス（株
）製のＨ３Ｏ６５形光学式距離センサ等を使用できるこ
とができ、このものはパルス点灯させた赤外Ｌ ＥＤの
光束を投光レンズを通して対象物に照射させ、その反射
光を受光レンズにより位置検出素子上に集光させ、対象
物までの距離情報に相当する検出素子の出力位置信号を
基にコントローラ内で演算して距離に対応したアナグロ
電圧を出力するものである。そしてセンサＡ又はＢの出
力電圧が常時一定値（例えばゼロボルト）になるように
Ｚ軸を制御して移動軸とトレーサヘッド用タイルの刻々
に変化するスキャニングデータからＮＣ形状データを作
成するデジタイザ制御装置１１がヘッドの近傍に設置さ
れている。
図において、周知のデジタイザにおいてヘッド１に削設
されたＸ軸方向のすべり案内面上に、モデル２を取付け
るモデルテーブル３が移動可能に載置され、ＮＧにより
Ｘ軸制御される。ヘット１の両側に角形のコラム４が立
設され、コラム４上に取付けられた横桁５のＹ軸方向の
すべり案内面上に主軸頭６が移動可能に載置され、ＮＣ
によりＹ軸制御される。主軸頭６にはトレーサへＦ用り
イル７がＸ軸方向に移動可能に設けられており、ＮＣに
より制御される。トレーサヘッド用クイル７の先端に装
着されるトレーサヘッド９には、受光に最適な角度θに
Ｘ軸方向前後に傾けられモデル上の１点の位置を検出す
る２個の光学式センサＡ、ＢがＹ軸方向に並んで取付け
られている。センサＡ、Ｂは例えば浜松ホトニクス（株
）製のＨ３Ｏ６５形光学式距離センサ等を使用できるこ
とができ、このものはパルス点灯させた赤外Ｌ ＥＤの
光束を投光レンズを通して対象物に照射させ、その反射
光を受光レンズにより位置検出素子上に集光させ、対象
物までの距離情報に相当する検出素子の出力位置信号を
基にコントローラ内で演算して距離に対応したアナグロ
電圧を出力するものである。そしてセンサＡ又はＢの出
力電圧が常時一定値（例えばゼロボルト）になるように
Ｚ軸を制御して移動軸とトレーサヘッド用タイルの刻々
に変化するスキャニングデータからＮＣ形状データを作
成するデジタイザ制御装置１１がヘッドの近傍に設置さ
れている。
続いて第３図のフローチャートを参照してスキャニング
手順を説明する。 ステップＳ１においてＹ軸方向の主
軸頭６の進行方向が右行かが判断され、イエスであれば
ステップＳ２において、センサの変位出力ＤＥＦがゼロ
又はゼロより大きいかが判断され、イエスであればステ
ップＳ３において、モデル表面の測定点が第４図のよう
に平面又は上がり斜面＋ Ｄ Ｅ Ｆでありセン４３Ｂ
が選択される。ノーであればステップＳ４において、下
り斜面−ＤＥＦでありセンサＡが選択される。 ステッ
プＳ１において、主軸頭６の進行方向が左行であればノ
ーでステップＳ５において、再びＤＥＦがゼロ又はゼロ
より大きいかが判断され、イエスであればステップＳ６
において、モデル上面の測定点が第５図のように平面又
は上がり斜面＋ＤＥＦでありセンサＡが選択される。ま
たノーであればステップＳ７において、下り斜面−ＤＥ
Ｆでありセン′ＩＩＢが選択される。
手順を説明する。 ステップＳ１においてＹ軸方向の主
軸頭６の進行方向が右行かが判断され、イエスであれば
ステップＳ２において、センサの変位出力ＤＥＦがゼロ
又はゼロより大きいかが判断され、イエスであればステ
ップＳ３において、モデル表面の測定点が第４図のよう
に平面又は上がり斜面＋ Ｄ Ｅ Ｆでありセン４３Ｂ
が選択される。ノーであればステップＳ４において、下
り斜面−ＤＥＦでありセンサＡが選択される。 ステッ
プＳ１において、主軸頭６の進行方向が左行であればノ
ーでステップＳ５において、再びＤＥＦがゼロ又はゼロ
より大きいかが判断され、イエスであればステップＳ６
において、モデル上面の測定点が第５図のように平面又
は上がり斜面＋ＤＥＦでありセンサＡが選択される。ま
たノーであればステップＳ７において、下り斜面−ＤＥ
Ｆでありセン′ＩＩＢが選択される。
次にステップＳ８において、選択されたセンサから出力
信号がありこの出力データの読み取りが可能かが判断さ
れノーであればステップＳ９において、センサＡ、Ｂの
切替えが行われステップＳ１０において、センサＡ又は
Ｂが再び選択されステップ３１．１において、センサか
らの出力データが読み取り可能かが判断されノーであれ
ばステップＳ１２において、予め入力されたデータ読み
取り設定回数以内かが判断されイエスであればステップ
ＳＩＯに戻り、ノーであればステップＳ１３において、
最初の計測点まで戻って測定を再開する。そしてステッ
プＳ１４において、戻し回数設定値以内かが判断されイ
エスであればステップＳ１０に戻り、ノーであればアラ
ーム停止する。
信号がありこの出力データの読み取りが可能かが判断さ
れノーであればステップＳ９において、センサＡ、Ｂの
切替えが行われステップＳ１０において、センサＡ又は
Ｂが再び選択されステップ３１．１において、センサか
らの出力データが読み取り可能かが判断されノーであれ
ばステップＳ１２において、予め入力されたデータ読み
取り設定回数以内かが判断されイエスであればステップ
ＳＩＯに戻り、ノーであればステップＳ１３において、
最初の計測点まで戻って測定を再開する。そしてステッ
プＳ１４において、戻し回数設定値以内かが判断されイ
エスであればステップＳ１０に戻り、ノーであればアラ
ーム停止する。
ステップＳ８．Ｓｌｌにおいてイエスであればステップ
３１．５において、モデル表面座標値が算出され、ステ
ップＳ１６において、前回と今回のデータの偏差値ＤＥ
Ｆから斜面角度が算出され、ステップＳ１７において、
Ｚ軸速度が算出される。
３１．５において、モデル表面座標値が算出され、ステ
ップＳ１６において、前回と今回のデータの偏差値ＤＥ
Ｆから斜面角度が算出され、ステップＳ１７において、
Ｚ軸速度が算出される。
そしてステップＳ１８において、トレランス処理を行い
許容誤差を処理しステップＳ１９において、ＮＣ形状デ
ータが作成されステップＳ２０において、データが記憶
される。そして引続きステップＳ１に戻り、上記の繰り
返しにより一次元スキャニングが行われる。 次に第６
図のようにＹ軸方向の一定距離はなれた位置ａ、ｂを同
時検出が可能なようにセンサＡにはＡ１とＡ２の２つの
センサが組込まれ、センサＢにはＢ１とＢ２の２つのセ
ンサが組込まれている。そしてセンサＡｌ、Ｂ１でａ位
置をセンサＡ２、Ｂ２でｂ位置を測定し、ＡＩ、Ａ２及
びＢｌ、Ｂ２の組合わせで速度ヘクトルの検出を行う。
許容誤差を処理しステップＳ１９において、ＮＣ形状デ
ータが作成されステップＳ２０において、データが記憶
される。そして引続きステップＳ１に戻り、上記の繰り
返しにより一次元スキャニングが行われる。 次に第６
図のようにＹ軸方向の一定距離はなれた位置ａ、ｂを同
時検出が可能なようにセンサＡにはＡ１とＡ２の２つの
センサが組込まれ、センサＢにはＢ１とＢ２の２つのセ
ンサが組込まれている。そしてセンサＡｌ、Ｂ１でａ位
置をセンサＡ２、Ｂ２でｂ位置を測定し、ＡＩ、Ａ２及
びＢｌ、Ｂ２の組合わせで速度ヘクトルの検出を行う。
続いて第７図を参照して上記センサＡ１．Ａ２゜Ｂｌ、
Ｂ２によるスキャニング手順を説明する。
Ｂ２によるスキャニング手順を説明する。
上述の第３図のフローチャートと同一の個所は重複を避
けるため説明を省略または簡素化する。
けるため説明を省略または簡素化する。
ステップ８１〜Ｓ７において、センサＡ又はＢが選択さ
れステップＳ８において、センサ出力データの読み取り
可能かが判断され、ノーの場合はステップＳｌｌがイエ
スになるまでステップＳＩＯ〜Ｓ１４が繰り返され、こ
の繰り返し回数が設定回数を越えたときアラーム停止さ
れる。
れステップＳ８において、センサ出力データの読み取り
可能かが判断され、ノーの場合はステップＳｌｌがイエ
スになるまでステップＳＩＯ〜Ｓ１４が繰り返され、こ
の繰り返し回数が設定回数を越えたときアラーム停止さ
れる。
ステップＳ８．Ｓｌｌにおいて、イエスであればステッ
プＳ１５において、選択されたセンサがＡ１かが判断さ
れイエスであればステップＳ１６において、センサＡ２
が選択され、ノーであればステップＳ１７において、セ
ンサＢが選択される。
プＳ１５において、選択されたセンサがＡ１かが判断さ
れイエスであればステップＳ１６において、センサＡ２
が選択され、ノーであればステップＳ１７において、セ
ンサＢが選択される。
このようにして第８図、第９図のように進行方向が右行
のときも左行のときもセンサＡはＡＩでまたセンサＢは
Ｂ１でそれぞれ位置検出を行い、ヘクトル検出はセンサ
Ａ１．Ａ２又はＢｌ、Ｂ２の組合わせで行うよう選択さ
れる。 ステップＳ１８において、再びデータの読み取
り可能かが判断されノーであればアラーム停止し、イエ
スであればステップＳ１９において、モデル表面座標値
が算出され、ステップＳ２０において、同時に計測した
センサＡ２．ＡＩ又はセンサＢ２．Ｂｌのデータの偏差
値ＤＥＦから斜面角度が算出されステップＳ２１におい
て、速度ベクトルが算出されてＹ軸及びＺ軸の軸速度が
求められる。ステップ８２２〜Ｓ２４において、トレラ
ンス処理が行われＮＣデータが作成されて記憶され、引
続きステップＳ１に戻り上記の繰り返しにより二次元ス
キャニングが行われる。
のときも左行のときもセンサＡはＡＩでまたセンサＢは
Ｂ１でそれぞれ位置検出を行い、ヘクトル検出はセンサ
Ａ１．Ａ２又はＢｌ、Ｂ２の組合わせで行うよう選択さ
れる。 ステップＳ１８において、再びデータの読み取
り可能かが判断されノーであればアラーム停止し、イエ
スであればステップＳ１９において、モデル表面座標値
が算出され、ステップＳ２０において、同時に計測した
センサＡ２．ＡＩ又はセンサＢ２．Ｂｌのデータの偏差
値ＤＥＦから斜面角度が算出されステップＳ２１におい
て、速度ベクトルが算出されてＹ軸及びＺ軸の軸速度が
求められる。ステップ８２２〜Ｓ２４において、トレラ
ンス処理が行われＮＣデータが作成されて記憶され、引
続きステップＳ１に戻り上記の繰り返しにより二次元ス
キャニングが行われる。
尚センサは光学式の非接触式センサに限定されるもので
はなく、超音波等を使用する非接触式センサを使用する
こともできる。
はなく、超音波等を使用する非接触式センサを使用する
こともできる。
効果
本発明は以上詳述したように構成されているので、以下
に記載するような効果を奏する。
に記載するような効果を奏する。
請求項１の非接触式デジタイザにおいては、トレーサヘ
ッドに受光に最適な角度に移動方向前後に傾けた２個の
光学式センサを設け、２個のうち１個のセンサを進行方
向及び進行方向に対する計測面形状に応じて自動選択し
て計測するようになしたので、トレーサヘッドを２軸制
御して傾けることなく光学式の欠点である死角（影の領
域）をなし、垂直壁を含む±９０６までの形状全てが測
定可能になる。
ッドに受光に最適な角度に移動方向前後に傾けた２個の
光学式センサを設け、２個のうち１個のセンサを進行方
向及び進行方向に対する計測面形状に応じて自動選択し
て計測するようになしたので、トレーサヘッドを２軸制
御して傾けることなく光学式の欠点である死角（影の領
域）をなし、垂直壁を含む±９０６までの形状全てが測
定可能になる。
請求項２の非接触式デジタイザにおいては、請求項１の
２個のセンサをそれぞれ離れた二点の位置を検出可能な
ものになしたので、請求項１の効果に加えて速度ヘクト
ルの検出が可能となり未知の形状のものでも滑らかな速
度で二次元スキヤニングができる。
２個のセンサをそれぞれ離れた二点の位置を検出可能な
ものになしたので、請求項１の効果に加えて速度ヘクト
ルの検出が可能となり未知の形状のものでも滑らかな速
度で二次元スキヤニングができる。
第１図は本発明のデジタイザと制御装置及びモデルを示
す説明図、第２図は２個のセンサの取付状態を示す説明
図、第３図は請求項１の動作説明用フローチャート図、
第４図、第５図は第２図のセンサの選択条件説明図、第
６図は請求項２の離れた２点の位置を検出するセンサの
取付は状態を示す説明図、第７図は請求項２の動作説明
用フローチャート図、第８図、第９図は第６図のセンサ
の選択条件の説明図である。 Ａ、Ａ１．Ａ２．Ｂ、Ｂ１．Ｂ２・・センサ９・・トレ
ーサヘッド １１・・デジタイザ制御装置
す説明図、第２図は２個のセンサの取付状態を示す説明
図、第３図は請求項１の動作説明用フローチャート図、
第４図、第５図は第２図のセンサの選択条件説明図、第
６図は請求項２の離れた２点の位置を検出するセンサの
取付は状態を示す説明図、第７図は請求項２の動作説明
用フローチャート図、第８図、第９図は第６図のセンサ
の選択条件の説明図である。 Ａ、Ａ１．Ａ２．Ｂ、Ｂ１．Ｂ２・・センサ９・・トレ
ーサヘッド １１・・デジタイザ制御装置
Claims (2)
- （１）受光または受信に最適な角度に移動方向の前後に
傾けた少なくとも２個の非接触式センサ（Ａ、Ｂ）を移
動方向に対し平行に並べて設けて計測面の１点の位置を
検出するトレーサヘッド（９）と、計測面が平面及び上
がり斜面のとき進行方向に対し後側のセンサをまた下り
斜面のとき進行方向に対して前側のセンサを選択し前記
センサの出力信号によるスキャニングデータによりＮＣ
形状データを作成するデジダイズ制御装置（１１）とを
含んでなり、垂直壁を含む±９０°までのモデル形状の
トレースを可能にしたことを特徴とする非接触式デジタ
イザ。 - （２）少なくとも２個の光学式センサはそれぞれ移動軸
線上の一定距離はなれた少なくとも２点の位置を検出す
るセンサ（Ａ１、Ａ２及びＢ１、Ｂ２）を２個ずつ組合
わせたものである速度ベクトルも算出可能にしたことを
特徴とする請求項１記載の非接触式デジタイザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63068637A JP2577950B2 (ja) | 1988-03-22 | 1988-03-22 | 非接触式デジタイザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63068637A JP2577950B2 (ja) | 1988-03-22 | 1988-03-22 | 非接触式デジタイザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01240260A true JPH01240260A (ja) | 1989-09-25 |
| JP2577950B2 JP2577950B2 (ja) | 1997-02-05 |
Family
ID=13379448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63068637A Expired - Lifetime JP2577950B2 (ja) | 1988-03-22 | 1988-03-22 | 非接触式デジタイザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2577950B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1990014924A1 (fr) * | 1989-05-30 | 1990-12-13 | Fanuc Ltd | Unite de commande de numerisation |
| US5733079A (en) * | 1995-12-15 | 1998-03-31 | Eastman Chemical Company | Surface determination and automatic milling in spinnerette manufacturing |
| JP2014219299A (ja) * | 2013-05-09 | 2014-11-20 | 新日鐵住金株式会社 | 高炉内装入物のプロフィル測定データの処理方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636004A (en) * | 1979-09-03 | 1981-04-09 | Hitachi Ltd | Detecting method of configuration and apparatus thereof |
| JPS60191745A (ja) * | 1984-03-13 | 1985-09-30 | Okuma Mach Works Ltd | 三次元倣い方法 |
-
1988
- 1988-03-22 JP JP63068637A patent/JP2577950B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5636004A (en) * | 1979-09-03 | 1981-04-09 | Hitachi Ltd | Detecting method of configuration and apparatus thereof |
| JPS60191745A (ja) * | 1984-03-13 | 1985-09-30 | Okuma Mach Works Ltd | 三次元倣い方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1990014924A1 (fr) * | 1989-05-30 | 1990-12-13 | Fanuc Ltd | Unite de commande de numerisation |
| US5733079A (en) * | 1995-12-15 | 1998-03-31 | Eastman Chemical Company | Surface determination and automatic milling in spinnerette manufacturing |
| JP2014219299A (ja) * | 2013-05-09 | 2014-11-20 | 新日鐵住金株式会社 | 高炉内装入物のプロフィル測定データの処理方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2577950B2 (ja) | 1997-02-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3341933B2 (ja) | 加工物表面の走査方法および走査装置 | |
| US4761072A (en) | Electro-optical sensors for manual control | |
| JP2958456B1 (ja) | 走行車両の距離測定装置 | |
| JPH03208105A (ja) | 床面積を処理する方法及び機械の誘導システム | |
| JP2000186913A (ja) | コントラストラインの光学的検出のための方法および装置 | |
| JPH04176543A (ja) | デジタイジング制御装置 | |
| JPH01240260A (ja) | 非接触式デジタイザ | |
| JPH0914921A (ja) | 非接触三次元測定装置 | |
| US4949024A (en) | Contactless profiling method | |
| JP3600763B2 (ja) | ウェッジプリズムの照射位置制御方法および装置 | |
| JPH07246547A (ja) | 自動工作機械 | |
| JPH0123041B2 (ja) | ||
| JPH01109058A (ja) | 非接触ならい制御装置 | |
| JP2708195B2 (ja) | ３次元レーザ加工機用ティーチング方法およびその装置 | |
| JPH0665438B2 (ja) | 曲線状溶接溝用の埋め制御修正機能を有する適応溶接装置 | |
| JP4753657B2 (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
| JPH0418601B2 (ja) | ||
| JPS61223505A (ja) | 鋳ばりの位置検出装置 | |
| CN116002583B (zh) | 用于作业平台的控制方法、处理器、控制装置及作业平台 | |
| JPH0360957A (ja) | 非接触式デジタイザ用トレーサヘツド | |
| JPS63253206A (ja) | 形状計測装置 | |
| JPH01113190A (ja) | 曲面レーザ加工機 | |
| JPH01318912A (ja) | デジタイジング方法及び装置 | |
| JP2000093207A (ja) | 靴型測定方法及び装置 | |
| JPH02212047A (ja) | デジタイズ装置 |