JPH01321320A - 光量分布測定装置 - Google Patents
光量分布測定装置Info
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- JPH01321320A JPH01321320A JP15570688A JP15570688A JPH01321320A JP H01321320 A JPH01321320 A JP H01321320A JP 15570688 A JP15570688 A JP 15570688A JP 15570688 A JP15570688 A JP 15570688A JP H01321320 A JPH01321320 A JP H01321320A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 20
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光量分布測定装置に関し、特に、簡潔な構成に
より長尺様の光源の光量分布特性を照度レベルから輝度
に近いレベルまで容易に測定することのできる光量分布
測定装置に関する。
より長尺様の光源の光量分布特性を照度レベルから輝度
に近いレベルまで容易に測定することのできる光量分布
測定装置に関する。
従来の光量分布測定装置として、例えば、第４図に示す
ものがある。この光量分布測定装置は、両ロタイブの蛍
光ランプやあるいは特開昭６２−１４２４６５号公報に
開示されている光伝送用ロッド等から出射される光のよ
うに長尺様の光源からの出射光の光量分布を測定するの
に使用されるものである。
ものがある。この光量分布測定装置は、両ロタイブの蛍
光ランプやあるいは特開昭６２−１４２４６５号公報に
開示されている光伝送用ロッド等から出射される光のよ
うに長尺様の光源からの出射光の光量分布を測定するの
に使用されるものである。
この光量分布測定装置は、長尺様の光源１０が内蔵され
、この光源１０の出射光を放射するスリット１１ａを有
したケース１１の長手方向に平行に沿設された基板１２
と、基板１２上をリニアパルスモータドライバ１３によ
り光源１０の光源軸に平行に摺動可能なリニアパルスモ
ーク１４と、リニアパルスモータ１４に取り付けられ受
光面を光源１０側に対置された光ファイバー１６と、光
ファイバー１６に接続された光量分布測定用受光素子２
０と、光量分布測定用受光素子２０へ人力された信号を
増幅するオペレーション・アンプ２２と、オペレーショ
ン・アンプ２２からの出力を読み込むデジタル・ボルト
・メータ（ＤＶＭ）２４と、ＤＶＭ２４からの出力を入
力するコンピュータ２６と、コンピュータ２６からの出
力を表示するデイスプレィ２８とよりなっている。なお
、デイスプレィ２８のほかに出力を表示する装置として
、プロッタ、デイスプレィ等を適宜選択できる。また、
リニアパルスモータ１４は、コンピュータ２６により制
御されている。
、この光源１０の出射光を放射するスリット１１ａを有
したケース１１の長手方向に平行に沿設された基板１２
と、基板１２上をリニアパルスモータドライバ１３によ
り光源１０の光源軸に平行に摺動可能なリニアパルスモ
ーク１４と、リニアパルスモータ１４に取り付けられ受
光面を光源１０側に対置された光ファイバー１６と、光
ファイバー１６に接続された光量分布測定用受光素子２
０と、光量分布測定用受光素子２０へ人力された信号を
増幅するオペレーション・アンプ２２と、オペレーショ
ン・アンプ２２からの出力を読み込むデジタル・ボルト
・メータ（ＤＶＭ）２４と、ＤＶＭ２４からの出力を入
力するコンピュータ２６と、コンピュータ２６からの出
力を表示するデイスプレィ２８とよりなっている。なお
、デイスプレィ２８のほかに出力を表示する装置として
、プロッタ、デイスプレィ等を適宜選択できる。また、
リニアパルスモータ１４は、コンピュータ２６により制
御されている。
以上の構成において、この光量分布測定装置により光源
の光量分布を測定するには、コンピュータ２６よりの出
力信号により、リニアパルスモータドライド１３を作動
し、リニアパルスモーク１４を基板１２上で摺動させ、
スリブ）ｌｌａからの出射光Ａを光ファイバー１６を介
して、光量分布測定用受光素子２０へ受光伝送する。光
量分布測定用受光素子２０で検知された出射光は、コン
ピュータ２６を介して、その光量分布がデイスプレィ２
８により出力表示される。
の光量分布を測定するには、コンピュータ２６よりの出
力信号により、リニアパルスモータドライド１３を作動
し、リニアパルスモーク１４を基板１２上で摺動させ、
スリブ）ｌｌａからの出射光Ａを光ファイバー１６を介
して、光量分布測定用受光素子２０へ受光伝送する。光
量分布測定用受光素子２０で検知された出射光は、コン
ピュータ２６を介して、その光量分布がデイスプレィ２
８により出力表示される。
従来の光量分布測定装置にあっては、機械的操作により
リニアパルスモータ１４を基板上で移動させるため、装
置全体が複雑化するという問題があった。
リニアパルスモータ１４を基板上で移動させるため、装
置全体が複雑化するという問題があった。
さらにまた、リニアパルスモータ１４を光源１０の光源
軸に沿って、一方の端部から他方の端部に渡ってスキャ
ンして作動させないと光源の特性がわからないため、ス
キャンするのに時間がかかるので、測定時間が長いもの
となっていた。
軸に沿って、一方の端部から他方の端部に渡ってスキャ
ンして作動させないと光源の特性がわからないため、ス
キャンするのに時間がかかるので、測定時間が長いもの
となっていた。
本発明は、従来の技術の有するこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、簡潔
な構成により、短時間に長尺様の光源の光量分布特性を
、照度レベルから輝度に近いレベルにまで測定すること
のできる光量分布測定装置を提供しようとするものであ
る。
てなされたものであり、その目的とするところは、簡潔
な構成により、短時間に長尺様の光源の光量分布特性を
、照度レベルから輝度に近いレベルにまで測定すること
のできる光量分布測定装置を提供しようとするものであ
る。
〔課題を解決するための手段及び作用〕上記目的を達成
するために、本発明における光量分布測定装置は、基板
上に光源の軸方向に沿った複数個の貫通孔を穿設し、こ
の貫通孔の光源と反対側の面に、貫通孔を閉塞するよう
に光量分布測定用受光素子を配設するようにしたもので
ある。
するために、本発明における光量分布測定装置は、基板
上に光源の軸方向に沿った複数個の貫通孔を穿設し、こ
の貫通孔の光源と反対側の面に、貫通孔を閉塞するよう
に光量分布測定用受光素子を配設するようにしたもので
ある。
各光量分布測定用受光素子で受光された出射光は、オペ
レーション・アンプを介してコンピュータに人力され、
補正がなされたのち、デイスプレー、プリンター、ある
いはプロッタ等により出力表示される。
レーション・アンプを介してコンピュータに人力され、
補正がなされたのち、デイスプレー、プリンター、ある
いはプロッタ等により出力表示される。
上記のように構成された光量分布測定装置においては、
光源からの出射光は、各光量分布測定用受光素子により
受光される。各光量分布測定用受光素子の人力データは
、コンピュータにより所定の補正を受けたのち出力表示
される。
光源からの出射光は、各光量分布測定用受光素子により
受光される。各光量分布測定用受光素子の人力データは
、コンピュータにより所定の補正を受けたのち出力表示
される。
以下、図面に基づいて本発明による光量分布測定装置を
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第１図は本発明による一実施例を示し、第４図と同一の
部分は同一の引用数字で示したので重複する説明は省略
するが、基板１００には、スリブ）ｌｌａと対応する位
置に、所定の間隔をあけて貫通孔１０２が複数個（本実
施例においては１６個）穿設されている。（この貫通孔
の直径は、本実施例においては、約０．８ ｍｍである
。スリブ）１１ａａ反対側の基板１００の面上には、各
貫通孔１０２と対応する位置に、スリット１１ａから出
射されて、貫通孔１０２を通り抜けた出射光を受光する
光量分布測定用受光素子１０４が配設されている。（本
実施例においては、光量分布測定用受光素子は１６個配
設されている。）各光量分布測定用受光素子１０４から
の出力信号は、各光量分布測定用受光素子１０４に対応
する各オペレーションアンプ１０６（本実施例において
は、１６回路設けられている。）を介して、高速アナロ
グ・デジタル変換モジニール１０８を介して、コンピュ
ータ２６に入力され、所望の方式（プリンタ、ブロック
、デイスプレィ等）によって出力表示される（本実施例
では、デイスプレィ２８により画像表示される）。
部分は同一の引用数字で示したので重複する説明は省略
するが、基板１００には、スリブ）ｌｌａと対応する位
置に、所定の間隔をあけて貫通孔１０２が複数個（本実
施例においては１６個）穿設されている。（この貫通孔
の直径は、本実施例においては、約０．８ ｍｍである
。スリブ）１１ａａ反対側の基板１００の面上には、各
貫通孔１０２と対応する位置に、スリット１１ａから出
射されて、貫通孔１０２を通り抜けた出射光を受光する
光量分布測定用受光素子１０４が配設されている。（本
実施例においては、光量分布測定用受光素子は１６個配
設されている。）各光量分布測定用受光素子１０４から
の出力信号は、各光量分布測定用受光素子１０４に対応
する各オペレーションアンプ１０６（本実施例において
は、１６回路設けられている。）を介して、高速アナロ
グ・デジタル変換モジニール１０８を介して、コンピュ
ータ２６に入力され、所望の方式（プリンタ、ブロック
、デイスプレィ等）によって出力表示される（本実施例
では、デイスプレィ２８により画像表示される）。
なお、実際の測定時には、ケース１１と基板１００は任
意の方法により着脱自在に密着されるものである（第２
図参照）。
意の方法により着脱自在に密着されるものである（第２
図参照）。
また、詳細には図示しないが、貫通孔１０２を有した基
板１００は、ケース１１に所定のアタッチメントにより
着脱自在とされており、その受光特性を即座に種々変化
させることができる。すなわち、基板１００は、着脱分
割自在の複数の部材により構成され、その取付は位置を
変化できる。
板１００は、ケース１１に所定のアタッチメントにより
着脱自在とされており、その受光特性を即座に種々変化
させることができる。すなわち、基板１００は、着脱分
割自在の複数の部材により構成され、その取付は位置を
変化できる。
また、一般に知られているように、貫通孔１０２の直径
と深さ（すなわち、基板１００の厚さ）を変化させるこ
とによって、光量分布測定用受光素子１０４への受光特
性が変化するものであり、従来の測定装置のように光フ
ァイバー１６により受光し、光量分布測定用受光素子２
０へ入力する構成と同じ受光角を達成することが可能で
ある。
と深さ（すなわち、基板１００の厚さ）を変化させるこ
とによって、光量分布測定用受光素子１０４への受光特
性が変化するものであり、従来の測定装置のように光フ
ァイバー１６により受光し、光量分布測定用受光素子２
０へ入力する構成と同じ受光角を達成することが可能で
ある。
以上の構成において、光源１０の光量分布を測定するに
は、光源１０を点灯すると、出射光は、スリット１１ａ
より貫通孔１０２内に進入し、光量分布測定用受光素子
１０４にて検知される。検知さた信号は、コンピュータ
２６より出力表示される。
は、光源１０を点灯すると、出射光は、スリット１１ａ
より貫通孔１０２内に進入し、光量分布測定用受光素子
１０４にて検知される。検知さた信号は、コンピュータ
２６より出力表示される。
さらに詳細には、第３図に示すフローチャートに従って
説明するものとする。まず、従来の光量分布測定装置が
単一の受光素子を使用しているのに対して、本装置は複
数個の受光素子を用いているため、個々の受光素子につ
いて、従来の標準となる単一受光素子との差異を補正す
るため、ケース１１内に装着された光源１０を従来の標
準となる装置に装着し、本発明による光量分布測定装置
の貫通孔１０２及び光量分布測定用受光素子１０４が位
置する部位に対応する部位の出射光の出力ＶＳＩ −Ｖ
Ｓｈ （本実施例の場合、ｎ＝１６）をコンビ二−タ
内に読み込む。次に、このケース１１内に設置された光
源１０を本発明による光量分布測定装置に装着し、各光
量分布測定用受光素子１０４の出力Ｖ、−Ｖｈ （本実
施例の場合、ｎ＝１６）をコンピュータにに読み込む。
説明するものとする。まず、従来の光量分布測定装置が
単一の受光素子を使用しているのに対して、本装置は複
数個の受光素子を用いているため、個々の受光素子につ
いて、従来の標準となる単一受光素子との差異を補正す
るため、ケース１１内に装着された光源１０を従来の標
準となる装置に装着し、本発明による光量分布測定装置
の貫通孔１０２及び光量分布測定用受光素子１０４が位
置する部位に対応する部位の出射光の出力ＶＳＩ −Ｖ
Ｓｈ （本実施例の場合、ｎ＝１６）をコンビ二−タ
内に読み込む。次に、このケース１１内に設置された光
源１０を本発明による光量分布測定装置に装着し、各光
量分布測定用受光素子１０４の出力Ｖ、−Ｖｈ （本実
施例の場合、ｎ＝１６）をコンピュータにに読み込む。
書き込んだＫｈを、本発明による光量分布測定装置の演
算に用いることになる。このことにより、複数個の受光
素子各々の補正が可能となる。
算に用いることになる。このことにより、複数個の受光
素子各々の補正が可能となる。
本発明による光量分布測定装置により、光量分布を測定
するには、測定すべき光源１０の出射光 ｌを、本発明
による光量分布測定装置において読み取ったデータを、
Ｖｎ＋〜ＶＤ１１とすると、Ｖａｈ＝ＫｎＸｖ、ｈの演
算をし、測定データＶａ、〜ｖａｈとして出力表示する
。これらの操作により、複数個の光量分布測定用受光素
子が従来の標準となる単一受光素子に対して補正され、
測定装置相互の再現性が確保される。
するには、測定すべき光源１０の出射光 ｌを、本発明
による光量分布測定装置において読み取ったデータを、
Ｖｎ＋〜ＶＤ１１とすると、Ｖａｈ＝ＫｎＸｖ、ｈの演
算をし、測定データＶａ、〜ｖａｈとして出力表示する
。これらの操作により、複数個の光量分布測定用受光素
子が従来の標準となる単一受光素子に対して補正され、
測定装置相互の再現性が確保される。
本発明は、以上説明したように構成されているので、以
下に記載されるような効果を奏する。
下に記載されるような効果を奏する。
基板に貫通孔を穿設し、各貫通孔に光量分布測定用受光
素子を配設したため、機械的可動部分を排除できるため
、構成が簡易化される。
素子を配設したため、機械的可動部分を排除できるため
、構成が簡易化される。
さらに、機械的な可動部の移動によるスキャンを要しな
いため、測定時間を短縮できる。さらにまた、即時に光
量分布データを得ることができるため各構成部材の微細
位置ズレに対する光量特性の変化を目視でシミュレーシ
ョンすることも可能となる。
いため、測定時間を短縮できる。さらにまた、即時に光
量分布データを得ることができるため各構成部材の微細
位置ズレに対する光量特性の変化を目視でシミュレーシ
ョンすることも可能となる。
第１図は本発明の一実施例による光量分布測定装置の全
体概略説明図、第２図はケース、基板及び光量分布測定
用受光素子を示す要部正面図、第３図は信号処理の流れ
を示すフローチャート、第４図は従来の光量分布測定装
置を示す全体概略説明図である。 符号の説明 １０・・・光源１１・・・ケース ｌｌａ・・・スリ
ット１２・・・基板１３・・・リニアパルスモータ１４
・・・リニアパルスモータ １６・・・光ファイバー２
０・・・光量分布測定用受光素子 ２２・・・オペレーション・アンプ ２４・・・デジタル・ボルトメータ ２６・・・コンピ
ュータ２８・・・デイスプレィ １００・・・基板１０
２・・・貫通孔 １０４・・・光量分布測定用受光
素子１０６・・・オペレーション・アンプ １０８・・・高速アナログ・デジタル変換モジュール第
Ｉ 口 第 ３ 図
体概略説明図、第２図はケース、基板及び光量分布測定
用受光素子を示す要部正面図、第３図は信号処理の流れ
を示すフローチャート、第４図は従来の光量分布測定装
置を示す全体概略説明図である。 符号の説明 １０・・・光源１１・・・ケース ｌｌａ・・・スリ
ット１２・・・基板１３・・・リニアパルスモータ１４
・・・リニアパルスモータ １６・・・光ファイバー２
０・・・光量分布測定用受光素子 ２２・・・オペレーション・アンプ ２４・・・デジタル・ボルトメータ ２６・・・コンピ
ュータ２８・・・デイスプレィ １００・・・基板１０
２・・・貫通孔 １０４・・・光量分布測定用受光
素子１０６・・・オペレーション・アンプ １０８・・・高速アナログ・デジタル変換モジュール第
Ｉ 口 第 ３ 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、長尺様の光源からの出射光を、光軸方向に沿って光
量分布を測定する光量分布測定装置において、 前記光源の光軸に沿って所定間隔をおいて穿設された貫
通孔を有するとともに、前記光軸と平行に配置された基
板と、 前記基板の光源が位置する面と反対面に位置し、かつ前
記貫通孔を遮閉するように配設された光量分布測定用受
光素子と、 前記光量分布測定用受光素子からの信号を演算して表示
する表示手段と を有する光量分布測定装置。 ２、前記基板は、前記光源に着脱自在とされている請求
項１記載の光量分布測定装置。 ３、前記貫通孔及び前記光量分布測定用受光素子は、前
記基板上に複数配設されている請求項１記載の光量分布
測定装置。 ４、前記貫通孔及び前記光量分布測定用受光素子は、前
記基板上に各１６個配設されている請求項１記載の光量
分布測定装置。 ５、前記基板は着脱分割自在の複数部材で構成され、前
記光軸に対する配設位置を変化することができ、受光特
性を即座に種々変化することができる請求項１記載の光
量分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63155706A JP2707106B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | 光量分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63155706A JP2707106B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | 光量分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01321320A true JPH01321320A (ja) | 1989-12-27 |
| JP2707106B2 JP2707106B2 (ja) | 1998-01-28 |
Family
ID=15611734
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63155706A Expired - Lifetime JP2707106B2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 | 光量分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2707106B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57114827A (en) * | 1981-01-08 | 1982-07-16 | Toshiba Corp | Measuring device for luminous intensity distribution of rod-shaped lamp |
| JPS5941525A (ja) * | 1982-09-02 | 1984-03-07 | Seikou Kogyo Kk | 掘削装置 |
-
1988
- 1988-06-23 JP JP63155706A patent/JP2707106B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57114827A (en) * | 1981-01-08 | 1982-07-16 | Toshiba Corp | Measuring device for luminous intensity distribution of rod-shaped lamp |
| JPS5941525A (ja) * | 1982-09-02 | 1984-03-07 | Seikou Kogyo Kk | 掘削装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2707106B2 (ja) | 1998-01-28 |
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