JPH0132746Y2 - - Google Patents

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JPH0132746Y2
JPH0132746Y2 JP1981126892U JP12689281U JPH0132746Y2 JP H0132746 Y2 JPH0132746 Y2 JP H0132746Y2 JP 1981126892 U JP1981126892 U JP 1981126892U JP 12689281 U JP12689281 U JP 12689281U JP H0132746 Y2 JPH0132746 Y2 JP H0132746Y2
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JP
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thin film
piezoelectric thin
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film layer
insulating layer
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Description

【考案の詳細な説明】 この考案は圧電薄膜層を負の熱膨張係数を有す
る材料で形成した圧電薄膜形電気−機械的変位変
換素子に関するものである。
従来、この種素子として、第3図に示すように
半導体基体1の表面に、絶縁層2と圧電薄膜層3
とその両面の電極層4,5とからなる素子ブロツ
ク6を片持梁状に形成して、上記両電極層4,5
により圧電薄膜層3に電界を加えたとき、上記素
子ブロツク6の先端側が下方へ変位するようにし
たものが知られている。なお、上記絶縁層2は
SiO2(二酸化シリコン)からなり、また圧電薄膜
層3の材料にはPZT(チタン酸−ジルコン酸−
鉛)やBaTiO3(チタン酸バリウム)などが、電
極層4,5には主としてPt(白金)がそれぞれ用
いられている。
しかし、上記構成の圧電薄膜形電気−機械的変
位変換素子は圧電薄膜層3の分極処理時、400〜
500℃の高温度で加熱されるため、絶縁層2と圧
電薄膜層3および電極層4,5との間の熱膨張係
数差により、素子ブロツク6が図示のように先端
側で上方へそり返るように曲がるという欠点があ
つた。
この考案は上記欠点を解消するためになされた
もので、圧電薄膜層を負の熱膨張係数を有する材
料で形成して、正の熱膨張係数を有する電極層と
熱的にバランスさせることにより、素子ブロツク
の曲がりの少ない圧電薄膜形電気−機械的変位変
換素子を提供することを目的としている。
以下、この考案の実施例を図面にもとづいて説
明する。
第1図はこの考案の一実施例にかかる圧電薄膜
形電気−機械的変位変換素子の一部切欠斜視図、
第2図は同素子の一部切欠側面図を示す。この素
子の製造法として、まず、半導体基体11の表面
に熱酸化またはCVD法などにより二酸化シリコ
ン(SiO2)からなる絶縁層12を形成したのち、
フオトリゾグラフイおよびエツチング工程により
絶縁層12の一部をコ字形に開口するとともに、
その開口部13を通して半導体基体11に異方性
エツチング液により孔14を設け、もつてこの孔
14の上に絶縁層12の一部からなる片持梁(以
下絶縁層と称する)12aを形成する。ついで上
記絶縁層12aの表面にアルミニウム層15を蒸
着し、この蒸着後、正の熱膨張係数を有する材
料、たとえば白金(Pt)からなる下部電極層1
6をスパツタリングにより、素子表面の温度を上
昇させたまま、上記アルミニウム層15上に形成
する。このとき、アルミニウム層15は絶縁層1
2aと下部電極層16との密着性をよくする効果
がある。ついで、負の熱膨張係数を有する材料、
たとえばチタン酸鉛(PbTiO3)からなる圧電薄
膜層17をスパツタリングにより下部電極層16
上に形成する。しかるのち、上記圧電薄膜層17
上に白金からなる上部電極層18をスパツタリン
グにより形成し、続いて分極方向を考慮して圧電
薄膜層17の分極処理を行なう。
上記構成では基本的に、絶縁層12aと圧電薄
膜層17とその両面の電極層16,18とにより
片持梁状の素子ブロツク19が形成されている。
そして上記電極層16,18により圧電薄膜層1
7に電界を加えたとき、素子ブロツク19の先端
部が下方へ変位し、所定の電気−機械的変位変換
作用が行なわれる。
また、上記構成では圧電薄膜層17を負の熱膨
張係数を有する材料で形成して、正の熱膨張係数
を有する電極層16,18と熱的にバランスさせ
ており、したがつて製造工程での高温度の熱影響
を回避して、素子ブロツク19の曲がりを少なく
おさえることができる。
以上の説明からわかるように、この考案によれ
ば、製造工程での高温度の熱影響に対処して、素
子ブロツクの曲がりの少ない圧電薄膜形電気−機
械的変位変換素子を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例にかかる圧電薄膜
形電気−機械的変位変換素子の一部切欠斜視図、
第2図は同素子の一部切欠側面図、第3図は従来
例の一部切欠側面図である。 11……半導体基体、12,12a……絶縁
層、13……開口部、14……孔、16……下部
電極層、17……圧電薄膜層、18……上部電極
層、19……素子ブロツク。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 半導体基体の表面に絶縁層を形成するととも
    に、この絶縁層の開口部を通して設けられた半
    導体基体の孔の上に、上記絶縁層と圧電薄膜層
    とその両面の電極層とからなる素子ブロツクを
    片持梁状に設け、かつ上記電極層により上記圧
    電薄膜層に電界を加えることにより、上記素子
    ブロツクの先端部を変位させるようにした構成
    で、上記圧電薄膜層を負の熱膨張係数を有する
    材料で形成したことを特徴とする圧電薄膜形電
    気−機械的変位変換素子。 (2) 圧電薄膜層はチタン酸鉛である実用新案登録
    請求の範囲第1項記載の圧電薄膜形電気−機械
    的変位変換素子。
JP1981126892U 1981-08-26 1981-08-26 圧電薄膜形電気−機械的変位変換素子 Granted JPS5832665U (ja)

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JPS5832665U JPS5832665U (ja) 1983-03-03
JPH0132746Y2 true JPH0132746Y2 (ja) 1989-10-05

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JP5909858B2 (ja) * 2011-03-30 2016-04-27 セイコーエプソン株式会社 圧電型発電機及びセンサーノード

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JPS5832665U (ja) 1983-03-03

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