JPH0132928B2 - - Google Patents
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- JPH0132928B2 JPH0132928B2 JP5424082A JP5424082A JPH0132928B2 JP H0132928 B2 JPH0132928 B2 JP H0132928B2 JP 5424082 A JP5424082 A JP 5424082A JP 5424082 A JP5424082 A JP 5424082A JP H0132928 B2 JPH0132928 B2 JP H0132928B2
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- JP
- Japan
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- samples
- weight
- counting
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- counted
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- 239000000523 sample Substances 0.000 description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000005303 weighing Methods 0.000 description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G19/00—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups
- G01G19/40—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups with provisions for indicating, recording, or computing price or other quantities dependent on the weight
- G01G19/42—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups with provisions for indicating, recording, or computing price or other quantities dependent on the weight for counting by weighing
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は試料重量を平均試料重量で除算して試
料個数を演算計数する電子はかりに関する。
料個数を演算計数する電子はかりに関する。
計数はかりによる多数試料の計数に際して生ず
る誤差は、はかり自体の誤差によるものと、計数
すべき試料の個々の重量のばらつきによるものと
がある。このうち、後者による誤差を最小限に抑
えるため、従来は、基準とすべき平均重量を、試
料を追加計数する毎に、その総個数により順次補
正して行く方式（特開昭53−141072）や、この平
均重量補正時に仮平均重量と平均重量を比較し、
所定の精度内で両者が一致するか否かを判定し、
一致しない場合には警告信号が発せられる方式
（特開昭56−70421）の計数はかりが採用されてい
る。しかしこのような方式では、追加秤量計数時
の追加試料個数が多すぎると、仮平均値で秤量値
を除して得た個数値に、丁度整数に近い誤差を含
む場合があり、この場合には１以上の誤差の含ま
れる可能性がある。このような場合計数個数値の
１未満の端数にどのような「丸め」操作を行うこ
とも、また、仮平均重量と平均重量との差の一致
性を検討することも無意味になり、誤差を検出す
ることはできない。したがつて、このようにして
得られた値に基づいて平均重量を補正して行つて
も計数誤差を防ぐことはできない。
る誤差は、はかり自体の誤差によるものと、計数
すべき試料の個々の重量のばらつきによるものと
がある。このうち、後者による誤差を最小限に抑
えるため、従来は、基準とすべき平均重量を、試
料を追加計数する毎に、その総個数により順次補
正して行く方式（特開昭53−141072）や、この平
均重量補正時に仮平均重量と平均重量を比較し、
所定の精度内で両者が一致するか否かを判定し、
一致しない場合には警告信号が発せられる方式
（特開昭56−70421）の計数はかりが採用されてい
る。しかしこのような方式では、追加秤量計数時
の追加試料個数が多すぎると、仮平均値で秤量値
を除して得た個数値に、丁度整数に近い誤差を含
む場合があり、この場合には１以上の誤差の含ま
れる可能性がある。このような場合計数個数値の
１未満の端数にどのような「丸め」操作を行うこ
とも、また、仮平均重量と平均重量との差の一致
性を検討することも無意味になり、誤差を検出す
ることはできない。したがつて、このようにして
得られた値に基づいて平均重量を補正して行つて
も計数誤差を防ぐことはできない。
本発明は、上記のような計数方式上の不備を除
去し、各計数時に１以上の誤差が生じないよう誤
差の発生を制御した計数はかりの提供を目的とし
ている。
去し、各計数時に１以上の誤差が生じないよう誤
差の発生を制御した計数はかりの提供を目的とし
ている。
本発明は、試料重量のばらつき範囲を示す量を
パラメータとし、既計数試料個数の関数として予
め計算された、所定の計数誤差で追加計数可能な
許容最大試料追加個数を記憶するメモリと、上記
許容最大試料追加個数未満の試料が追加されたと
きに限り、総重量を総個数で除して上記基準重量
の値を補正する手段を有する。
パラメータとし、既計数試料個数の関数として予
め計算された、所定の計数誤差で追加計数可能な
許容最大試料追加個数を記憶するメモリと、上記
許容最大試料追加個数未満の試料が追加されたと
きに限り、総重量を総個数で除して上記基準重量
の値を補正する手段を有する。
以下本発明の実施例を説明する。
第１図は本発明実施例のブロツク図である。図
において電子はかり部１は、その皿上の荷重をデ
イジタル信号化して出力する。CPUは演算用各
種レジスタ、演算器、クロツク信号発生器等を内
蔵し、バスラインを通じて各周辺装置を制御して
いる。ROMにはプログラムが記憶されており、
RAMは測定値および演算値等を一時的に記憶す
る。これらCPU、ROM、RAMおよびバスライ
ンはマイクロコンピユータ２を構成している。キ
ーボード３は数値キー、基準メモリ・キー、平均
更新キー、風袋引キーおよび平均クリア・キーを
備えている。表示部４は演算結果等の数値を表示
し、警告表示部５は追加試料ののせ過ぎを警告す
る。
において電子はかり部１は、その皿上の荷重をデ
イジタル信号化して出力する。CPUは演算用各
種レジスタ、演算器、クロツク信号発生器等を内
蔵し、バスラインを通じて各周辺装置を制御して
いる。ROMにはプログラムが記憶されており、
RAMは測定値および演算値等を一時的に記憶す
る。これらCPU、ROM、RAMおよびバスライ
ンはマイクロコンピユータ２を構成している。キ
ーボード３は数値キー、基準メモリ・キー、平均
更新キー、風袋引キーおよび平均クリア・キーを
備えている。表示部４は演算結果等の数値を表示
し、警告表示部５は追加試料ののせ過ぎを警告す
る。
次に本実施例による試料計数手順を説明する。
先づ最初、予め定められた個数n1、例えば５個を
電子はかりの皿に載せ、基準メモリ・キーを押す
と、この重量を５で除した第１の仮平均値m1が
算出されRAMに記憶される。一方表示部４の第
１の表示器には計数試料個数５が表示される。こ
の個数５に対応して、予めROMに記憶されてい
る許容最大試料追加個数の曲線より、許容最大試
料追加個数１６が表示部４の第２の表示器に表示
されると共に、RAMに記憶される。なお、上記
許容最大試料追加個数の曲線については後述す
る。次にこの表示に基づいて16個以下の個数、例
えば15個の試料をはかり皿に追加し、キーボード
３の平均更新キーを押す。第１の表示器には試料
総個数20が表示されると共に、ROMに記憶され
ている曲線から、この総個数20に相当する次回の
最大許容試料追加個数29が第２の表示器に表示さ
れ、RAMの記憶は16から29に更新される。以
下、所望の総計数個数を計数し終るまで、同様の
過程を繰り返す。警告表示部５は、試料の追加個
数が最大許容試料追加個数に所定の個数を超えて
近づくと、その第１の警告灯が点灯して許容最大
試料追加個数に近いことを知らせ、試料追加個数
が許容最大試料追加個数を過ぎると第２の警告灯
が点灯して“はかり過ぎ”を警告する。第２の警
告灯が点灯すれば、平均更新キーが作動しないよ
うになつており、誤つた個数で平均値の補正が行
われるのを防いでいる。処で、上記ROMに記憶
されている許容最大試料追加個数N′は次式 N′＝（１／6Cv）2・Ｎ／Ｎ＋N′ …(1) 但し、Ｎ＝既計数試料個数 Cv＝試料重量の変動係数 より求めた値であり、本実施例ではCvに0.02を採
用している。またこの式によれば計数誤差が1/2
個未満となる確率は99.7％である。第２図におい
て上式のＮとN′の関係をグラフに示す。
先づ最初、予め定められた個数n1、例えば５個を
電子はかりの皿に載せ、基準メモリ・キーを押す
と、この重量を５で除した第１の仮平均値m1が
算出されRAMに記憶される。一方表示部４の第
１の表示器には計数試料個数５が表示される。こ
の個数５に対応して、予めROMに記憶されてい
る許容最大試料追加個数の曲線より、許容最大試
料追加個数１６が表示部４の第２の表示器に表示
されると共に、RAMに記憶される。なお、上記
許容最大試料追加個数の曲線については後述す
る。次にこの表示に基づいて16個以下の個数、例
えば15個の試料をはかり皿に追加し、キーボード
３の平均更新キーを押す。第１の表示器には試料
総個数20が表示されると共に、ROMに記憶され
ている曲線から、この総個数20に相当する次回の
最大許容試料追加個数29が第２の表示器に表示さ
れ、RAMの記憶は16から29に更新される。以
下、所望の総計数個数を計数し終るまで、同様の
過程を繰り返す。警告表示部５は、試料の追加個
数が最大許容試料追加個数に所定の個数を超えて
近づくと、その第１の警告灯が点灯して許容最大
試料追加個数に近いことを知らせ、試料追加個数
が許容最大試料追加個数を過ぎると第２の警告灯
が点灯して“はかり過ぎ”を警告する。第２の警
告灯が点灯すれば、平均更新キーが作動しないよ
うになつており、誤つた個数で平均値の補正が行
われるのを防いでいる。処で、上記ROMに記憶
されている許容最大試料追加個数N′は次式 N′＝（１／6Cv）2・Ｎ／Ｎ＋N′ …(1) 但し、Ｎ＝既計数試料個数 Cv＝試料重量の変動係数 より求めた値であり、本実施例ではCvに0.02を採
用している。またこの式によれば計数誤差が1/2
個未満となる確率は99.7％である。第２図におい
て上式のＮとN′の関係をグラフに示す。
上記(1)式は、以下に示す通り導かれる。
今、試料重量のばらつきの標準偏差をSDとし、
Ｎ個の試料の平均重量を求めると、求められた平
均重量の真の平均重量からのずれは、確率99.7％
（従つて3SD）のもとに、 で表される。これを基準としてN′を計数すると、
N′の試料の計数時において重量単位で次の誤差
が生じる。
Ｎ個の試料の平均重量を求めると、求められた平
均重量の真の平均重量からのずれは、確率99.7％
（従つて3SD）のもとに、 で表される。これを基準としてN′を計数すると、
N′の試料の計数時において重量単位で次の誤差
が生じる。
一方、N′の試料を皿上に載せたとき、その平
均重量は真の平均重量に対して、 だけずれている。従つてそのトータルの重量の誤
差は、 となる。
均重量は真の平均重量に対して、 だけずれている。従つてそのトータルの重量の誤
差は、 となる。
(2)式と(3)式の統計的加算値が平均重量の1/2
以下であれば計数誤差が生じない。従つて、 を満足するN′が計数誤差を生じない追加個数の
上限値であり、これを変形すると前記した(1)式が
得られる。ただし、変動係数Cvは、 で表される。
以下であれば計数誤差が生じない。従つて、 を満足するN′が計数誤差を生じない追加個数の
上限値であり、これを変形すると前記した(1)式が
得られる。ただし、変動係数Cvは、 で表される。
なおROMには異なるCvに対して上式の関係を
記憶させておき、計数すべき試料の重量変動係数
に応じて適宜Cvを選択できるようにすることも
できる。
記憶させておき、計数すべき試料の重量変動係数
に応じて適宜Cvを選択できるようにすることも
できる。
次に、第３図に示すプログラムのフローチヤー
トに基づいて本実施例の作用を説明する。なお、
本実施例におけるRAMには、はかりの皿に載つ
ている試料個数を記憶するレジスタＮ、最大許容
試料追加個数を記憶するレジスタN′、仮平均重
量を記憶するジスタＭ、追加された試料個数を記
憶するレジスタＸ、が設けられている。
トに基づいて本実施例の作用を説明する。なお、
本実施例におけるRAMには、はかりの皿に載つ
ている試料個数を記憶するレジスタＮ、最大許容
試料追加個数を記憶するレジスタN′、仮平均重
量を記憶するジスタＭ、追加された試料個数を記
憶するレジスタＸ、が設けられている。
最初、ステツプ１１において第１の表示器は、
はかりの皿に載つている試料個数ゼロを、第２の
表示器は所定の秤量個数n1、例えば５を表示して
いる。はかりの皿にn1個の試料を載せると、ステ
ツプ１２においてn1個の試料の平均重量（第１の
平均重量）m1が算出され、それがレジスタＭに
格納されると共に、ROMに記憶されている許容
最大試料追加個数の曲線によりn1に対応する
N′が捜し出され、レジスタN′に記憶される。な
お第１の表示器にはn1が、第２の表示器には
N′が表示される。次に、このN′以下の個数をは
かりの皿に追加すれば、ステツプ１３において追
加個数Ｘが算出され、第１の表示器に合計個数n1
＋Ｘが表示される。追加個数がN′を超えていれ
ば第２の警告灯が点灯して（ステツプ１４）警告
が発せられ、追加個数がN′以下で、かつ、予め
定められた所定の個数Ｑを超えてN′より小さく
ない場合には、第１の警告灯が点灯し、追加され
た個数がN′に近いことを知らせると共に、補充
追加により追加個数がN′を超えないよう計数者
に警告する。第２の警告灯が点灯したとき以外
は、平均更新キーを操作することにより、ステツ
プ１５で試料総重量がW1からW2に変更された
上、演算過程はステツプ１２の前段、「Ｎ＝n1」
のステツプに戻り、希望試料個数を計数するま
で、以下同じ過程をくり返す。
はかりの皿に載つている試料個数ゼロを、第２の
表示器は所定の秤量個数n1、例えば５を表示して
いる。はかりの皿にn1個の試料を載せると、ステ
ツプ１２においてn1個の試料の平均重量（第１の
平均重量）m1が算出され、それがレジスタＭに
格納されると共に、ROMに記憶されている許容
最大試料追加個数の曲線によりn1に対応する
N′が捜し出され、レジスタN′に記憶される。な
お第１の表示器にはn1が、第２の表示器には
N′が表示される。次に、このN′以下の個数をは
かりの皿に追加すれば、ステツプ１３において追
加個数Ｘが算出され、第１の表示器に合計個数n1
＋Ｘが表示される。追加個数がN′を超えていれ
ば第２の警告灯が点灯して（ステツプ１４）警告
が発せられ、追加個数がN′以下で、かつ、予め
定められた所定の個数Ｑを超えてN′より小さく
ない場合には、第１の警告灯が点灯し、追加され
た個数がN′に近いことを知らせると共に、補充
追加により追加個数がN′を超えないよう計数者
に警告する。第２の警告灯が点灯したとき以外
は、平均更新キーを操作することにより、ステツ
プ１５で試料総重量がW1からW2に変更された
上、演算過程はステツプ１２の前段、「Ｎ＝n1」
のステツプに戻り、希望試料個数を計数するま
で、以下同じ過程をくり返す。
以上のように、本発明によれば、試料重量の変
動係数に応じて順次指示される、所定の確率で誤
差ゼロの計数を可能とする最大許容試料追加個数
以下の試料を追加計数することにより、所望個数
の試料を、誤差なしに計数することができる。な
お、計数値にある程度の誤差を許す場合には、上
記のＮとN′の関係は第２図のような曲線とせず、
近似的な折線グラフとすることも可能である。ま
た、平均更新キーの操作は自動化することができ
る。この場合には、最大許容試料追加個数以下の
試料が追加されたときに限り重量値が安定したか
どうか判定し安定したときに自動的に更新する。
安定の判定には予め定められた時間内に重量値が
決められた範囲以上変らなければ安定と判断す
る。
動係数に応じて順次指示される、所定の確率で誤
差ゼロの計数を可能とする最大許容試料追加個数
以下の試料を追加計数することにより、所望個数
の試料を、誤差なしに計数することができる。な
お、計数値にある程度の誤差を許す場合には、上
記のＮとN′の関係は第２図のような曲線とせず、
近似的な折線グラフとすることも可能である。ま
た、平均更新キーの操作は自動化することができ
る。この場合には、最大許容試料追加個数以下の
試料が追加されたときに限り重量値が安定したか
どうか判定し安定したときに自動的に更新する。
安定の判定には予め定められた時間内に重量値が
決められた範囲以上変らなければ安定と判断す
る。
第１図は本発明実施例のブロツク図、第２図は
既計数試料個数と許容最大試料追加個数との関係
を示すグラフ、第３図は本発明実施例に採用した
ROMのプログラムを示すフローチヤート図であ
る。 １…電子はかり部、２…マイクロコンピユー
タ、３…キー・ボード、４…表示部、５…警告表
示部、１１〜１５…フローチヤートのステツプ。
既計数試料個数と許容最大試料追加個数との関係
を示すグラフ、第３図は本発明実施例に採用した
ROMのプログラムを示すフローチヤート図であ
る。 １…電子はかり部、２…マイクロコンピユー
タ、３…キー・ボード、４…表示部、５…警告表
示部、１１〜１５…フローチヤートのステツプ。
Claims (1)
- １ 計数すべき試料の重量を予め求めた基準重量
で除して個数を演算する電子計数はかりにおい
て、試料重量の変動係数をパラメータとする、既
計数試料個数と、所定の計数誤差で追加計数可能
な許容最大試料追加個数との間の所定の関数関係
を記憶するメモリを設け、上記許容最大試料追加
個数未満の試料が追加されたときに限り、総重量
を総個数で除して上記基準重量の値を補正してゆ
くことを特徴とする電子計数はかり。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5424082A JPS58171629A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子計数はかり |
| US06/479,338 US4493384A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-28 | Electronic counting scale |
| EP83301798A EP0091274B1 (en) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Electronic counting scale |
| DE8383301798T DE3377162D1 (en) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Electronic counting scale |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5424082A JPS58171629A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子計数はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58171629A JPS58171629A (ja) | 1983-10-08 |
| JPH0132928B2 true JPH0132928B2 (ja) | 1989-07-11 |
Family
ID=12965012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5424082A Granted JPS58171629A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子計数はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58171629A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6085333A (ja) * | 1983-10-17 | 1985-05-14 | Shimadzu Corp | 電子計数はかり |
-
1982
- 1982-03-31 JP JP5424082A patent/JPS58171629A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58171629A (ja) | 1983-10-08 |
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