JPH0132927B2 - - Google Patents
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- JPH0132927B2 JPH0132927B2 JP5423982A JP5423982A JPH0132927B2 JP H0132927 B2 JPH0132927 B2 JP H0132927B2 JP 5423982 A JP5423982 A JP 5423982A JP 5423982 A JP5423982 A JP 5423982A JP H0132927 B2 JPH0132927 B2 JP H0132927B2
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01G—WEIGHING
- G01G19/00—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups
- G01G19/40—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups with provisions for indicating, recording, or computing price or other quantities dependent on the weight
- G01G19/42—Weighing apparatus or methods adapted for special purposes not provided for in the preceding groups with provisions for indicating, recording, or computing price or other quantities dependent on the weight for counting by weighing
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- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Cash Registers Or Receiving Machines (AREA)
Description
本発明は計数はかりに関する。
計数はかりによる多数試料の計数に際して生ず
る誤差は、はかり自体の誤差によるものと、計数
すべき試料の個々の重量のばらつきによるものと
がある。このうち、後者による誤差を最小限に抑
えるため、従来は、基準とすべき平均重量を、試
料を追加計数する毎に、その総個数により順次補
正して行く方式（特開昭53−141072）や、この平
均重量補正時に仮平均重量と平均重量を比較し、
所定の精度内で両者が一致するか否かを判定し、
一致しない場合には警告信号が発せられる方式
（特開昭56−70421）の計数はかりが採用されてい
る。しかしこのような方式では、追加秤量計数時
の追加試料個数が多すぎると、仮平均値で秤量値
を除して得た個数値に、丁度整数に近い誤差を含
む場合があり、この場合には１以上の誤差の含ま
れる可能性がある。このような場合、計数個数値
の１未満の端数にどのような「丸め」操作を行う
ことも、また、仮平均重量を平均重量との差の一
致性を検討することも無意味になり、誤差を検出
することはできない。したがつて、このようにし
て得られた値に基づいて平均重量を補正して行つ
ても計数誤差を防ぐことはできない。 本発明は、上記のような計数方式上の不備を除
去し、各計数時に１以上の誤差が生じないよう誤
差の発生を制御した計数はかりの提供を目的とし
ている。 この目的を達成するための構成を、第１図に示
す基本概念図を参照しつつ説明する。 本発明は、下記の(イ)〜(ル)を備え、判定手段
（ル）による判定結果に基づいて、算出された追加
個数ajが許容最大追加個数N′以下の場合に限つ
て、その個数ajを累計個数に加えるよう構成した
ことによつて、特徴づけられる。 (イ) 電子はかり部 (ロ) 電子はかり部(イ)に既知個数n1の試料を負荷し
たときに得られる重量W1をその個数n1で除し
て第１の仮平均重量m1を算出する第１の仮平
均重量算出手段 (ハ) 電子はかり部(イ)に未知個数の試料を追加した
ときの増加重量Wi（ｉ＝２、３…ｓ）をその直
前に算出された第（ｉ−１）の仮平均重量mi-1
（ｉ＝２、３…ｓ）で除してその追加個数niを
算出する第１の個数算出手段 (ニ) 各増加重量Wiをそれぞれ対応する追加個数ni
で除して第ｉの仮平均重量mi（ｉ＝２、３…
ｓ）を算出する第２の仮平均重量算出手段 (ホ) 既知個数n1に上記追加個数niを順次加算して
累計個数を求める加算手段 (ヘ) 加算手段(ホ)による累計個数を表示する表示器 (ト) 第ｓの仮平均重量msの算出後に電子はかり
部(イ)に負荷されている総重量ΣW（＝W1＋W2＋
…＋Ws）を加算手段(ホ)による累計個数Ｎ（＝n1
＋n2＋…＋ns）で除して平均重量を算出する
平均重量算出手段 (チ) ｓ個の仮平均重量m1、miのばらつきと平均
重量から試料重量の変動係数Cvを算出する
変動係数算出手段 (リ) 上記の累計個数Ｎと変動係数Cvから、計数
誤差が１未満の所定値に収まる許容最大追加個
数N′を算出する許容最大追加個数算出手段 (ヌ) 許容最大追加個数N′の算出後に電子はかり
部(イ)に未知個数の試料を追加したときの増加重
量Wjを平均重量で除してその追加個数ajを
算出する第２の個数算出手段 (ル) 算出された追加個数ajと許容最大追加個数
N′の大小関係を判定する判定手段 以下に本発明の実施例を説明する。第２図は本
発明実施例の構成を示すブロツク図で、第３図は
そのROM４に書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチヤートである。なおローマ数字
（、…）はフローチヤートの所定の段階を示
す番号である。第１図において電子はかり部の皿
３に載せられた荷重はデイジタル電気信号に変換
出力される。CPUは演算器、クロツク信号発生
器等を内蔵し、バスラインを介して各周辺装置を
制御している。ROM４はプログラムを記憶、
RAM５は測定値および演算値等を一時的に記憶
する。これらCPU、ROM、RAMおよびバスラ
インはマイクロコンピユータ１１を構成してい
る。また第１の表示器１は試料の累積計数個数
を、第２の表示器２は追加秤量すべき試料個数を
表示する。キーボード１２は基準メモリ・キー
６、平均更新キー７、風袋引キー８、平均クリ
ア・キー９および数値キー１０から成つている。 先づ最初に所定の個数n1個、例えば５個を電子
はかりの皿３にのせ基準メモリ・キー６を押す
と、その重量W1がROM４に記憶されているプロ
グラムに従つて５で除算され、第１の仮平均重量
m1がRAM５に記憶される。第１の表示器１には
個数５が、第２の表示器２には、５に近似の追加
試料個数が指示される（）。この指示個数に近
い未知個数（４〜６個）の試料を電子はかりの皿
３に追加し（）、基準メモリ・キー６を押すか、
あるいは自動安定検出後に自動的に記憶すること
によつて、増加重量W2が上記仮平均重量m1で除
され、１未満が四捨五入された追加個数はn2、例
えば、５と計数され、上記増加重量W2をこの計
数個数n2（＝５）で除した第２の仮平均重量m2が
RAM５に記憶される（）。追加試料個数が指
示された追加個数より２個以上多いか、少ない場
合（ここでは３個以下または７個以上）には警告
が発せられ、m2が計算、記憶されないようにす
ることが望ましい。何故なら、後に示す式(1)にお
いて、ｎは一定値（例えば５）であり、この値が
大きくずれると誤差が大きくなるからである。但
し、ｎを完全に一定値に限定することは、作業員
に大きな負担をかけることになるので、±１の幅
を許容するのが適当である。第１の表示器１には
先に表示されていた個数n1（＝５）と今回の計数
個数n2（＝５）との和n1＋n2（＝10）が表示され
（）、第２の表示器２は再び５に近似の追加個数
を指示する。この指示個数に近い未知個数（４〜
６個）の試料を再度電子はかりの皿３に追加し、
上記の過程を所定の回数、例えば５回繰り返す
（）ことにより、合計６個の仮平均重量m1、
m2、…m6がRAM５に記憶されると共に第１の
表示器１にはこれまでの合計試料個数30が表示さ
れる。第２の表示器２には次式 但し、；合計重量／合計個数 Ｎ＝合計個数（＝n1＋n2＋…＋n6＝30） ｎ＝最初の計量個数（＝５） Ds＝仮平均重量の標準偏差（＝√分散） より導かれる、下記(1)式のN′を表示する。 なお、下記の式について説明すると、左辺第１
項は基準重量側の誤差に起因する誤差分で、同じ
く第２項は計数される試料重量側の誤差に起因す
る誤差分であり、左辺全体はこれらの統計的加算
値である。そして、これが平均重量の1/2以下で
あれば、丸められた計数値に誤差が生じないこと
になり、右辺はこの条件を示す項である。ただ
し、Dsの前の係数３は、確率99.7％で計算を行つ
ているためである。 ここで、Dsはｎ個の仮平均重量の標準偏差で
あるから、試料個々に重量を測定したときに得ら
れる標準偏差SDとは Ds＝√・SD の関係がある。左辺第１項および第２項をこの
SDを用いて表せば、それぞれ
る誤差は、はかり自体の誤差によるものと、計数
すべき試料の個々の重量のばらつきによるものと
がある。このうち、後者による誤差を最小限に抑
えるため、従来は、基準とすべき平均重量を、試
料を追加計数する毎に、その総個数により順次補
正して行く方式（特開昭53−141072）や、この平
均重量補正時に仮平均重量と平均重量を比較し、
所定の精度内で両者が一致するか否かを判定し、
一致しない場合には警告信号が発せられる方式
（特開昭56−70421）の計数はかりが採用されてい
る。しかしこのような方式では、追加秤量計数時
の追加試料個数が多すぎると、仮平均値で秤量値
を除して得た個数値に、丁度整数に近い誤差を含
む場合があり、この場合には１以上の誤差の含ま
れる可能性がある。このような場合、計数個数値
の１未満の端数にどのような「丸め」操作を行う
ことも、また、仮平均重量を平均重量との差の一
致性を検討することも無意味になり、誤差を検出
することはできない。したがつて、このようにし
て得られた値に基づいて平均重量を補正して行つ
ても計数誤差を防ぐことはできない。 本発明は、上記のような計数方式上の不備を除
去し、各計数時に１以上の誤差が生じないよう誤
差の発生を制御した計数はかりの提供を目的とし
ている。 この目的を達成するための構成を、第１図に示
す基本概念図を参照しつつ説明する。 本発明は、下記の(イ)〜(ル)を備え、判定手段
（ル）による判定結果に基づいて、算出された追加
個数ajが許容最大追加個数N′以下の場合に限つ
て、その個数ajを累計個数に加えるよう構成した
ことによつて、特徴づけられる。 (イ) 電子はかり部 (ロ) 電子はかり部(イ)に既知個数n1の試料を負荷し
たときに得られる重量W1をその個数n1で除し
て第１の仮平均重量m1を算出する第１の仮平
均重量算出手段 (ハ) 電子はかり部(イ)に未知個数の試料を追加した
ときの増加重量Wi（ｉ＝２、３…ｓ）をその直
前に算出された第（ｉ−１）の仮平均重量mi-1
（ｉ＝２、３…ｓ）で除してその追加個数niを
算出する第１の個数算出手段 (ニ) 各増加重量Wiをそれぞれ対応する追加個数ni
で除して第ｉの仮平均重量mi（ｉ＝２、３…
ｓ）を算出する第２の仮平均重量算出手段 (ホ) 既知個数n1に上記追加個数niを順次加算して
累計個数を求める加算手段 (ヘ) 加算手段(ホ)による累計個数を表示する表示器 (ト) 第ｓの仮平均重量msの算出後に電子はかり
部(イ)に負荷されている総重量ΣW（＝W1＋W2＋
…＋Ws）を加算手段(ホ)による累計個数Ｎ（＝n1
＋n2＋…＋ns）で除して平均重量を算出する
平均重量算出手段 (チ) ｓ個の仮平均重量m1、miのばらつきと平均
重量から試料重量の変動係数Cvを算出する
変動係数算出手段 (リ) 上記の累計個数Ｎと変動係数Cvから、計数
誤差が１未満の所定値に収まる許容最大追加個
数N′を算出する許容最大追加個数算出手段 (ヌ) 許容最大追加個数N′の算出後に電子はかり
部(イ)に未知個数の試料を追加したときの増加重
量Wjを平均重量で除してその追加個数ajを
算出する第２の個数算出手段 (ル) 算出された追加個数ajと許容最大追加個数
N′の大小関係を判定する判定手段 以下に本発明の実施例を説明する。第２図は本
発明実施例の構成を示すブロツク図で、第３図は
そのROM４に書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチヤートである。なおローマ数字
（、…）はフローチヤートの所定の段階を示
す番号である。第１図において電子はかり部の皿
３に載せられた荷重はデイジタル電気信号に変換
出力される。CPUは演算器、クロツク信号発生
器等を内蔵し、バスラインを介して各周辺装置を
制御している。ROM４はプログラムを記憶、
RAM５は測定値および演算値等を一時的に記憶
する。これらCPU、ROM、RAMおよびバスラ
インはマイクロコンピユータ１１を構成してい
る。また第１の表示器１は試料の累積計数個数
を、第２の表示器２は追加秤量すべき試料個数を
表示する。キーボード１２は基準メモリ・キー
６、平均更新キー７、風袋引キー８、平均クリ
ア・キー９および数値キー１０から成つている。 先づ最初に所定の個数n1個、例えば５個を電子
はかりの皿３にのせ基準メモリ・キー６を押す
と、その重量W1がROM４に記憶されているプロ
グラムに従つて５で除算され、第１の仮平均重量
m1がRAM５に記憶される。第１の表示器１には
個数５が、第２の表示器２には、５に近似の追加
試料個数が指示される（）。この指示個数に近
い未知個数（４〜６個）の試料を電子はかりの皿
３に追加し（）、基準メモリ・キー６を押すか、
あるいは自動安定検出後に自動的に記憶すること
によつて、増加重量W2が上記仮平均重量m1で除
され、１未満が四捨五入された追加個数はn2、例
えば、５と計数され、上記増加重量W2をこの計
数個数n2（＝５）で除した第２の仮平均重量m2が
RAM５に記憶される（）。追加試料個数が指
示された追加個数より２個以上多いか、少ない場
合（ここでは３個以下または７個以上）には警告
が発せられ、m2が計算、記憶されないようにす
ることが望ましい。何故なら、後に示す式(1)にお
いて、ｎは一定値（例えば５）であり、この値が
大きくずれると誤差が大きくなるからである。但
し、ｎを完全に一定値に限定することは、作業員
に大きな負担をかけることになるので、±１の幅
を許容するのが適当である。第１の表示器１には
先に表示されていた個数n1（＝５）と今回の計数
個数n2（＝５）との和n1＋n2（＝10）が表示され
（）、第２の表示器２は再び５に近似の追加個数
を指示する。この指示個数に近い未知個数（４〜
６個）の試料を再度電子はかりの皿３に追加し、
上記の過程を所定の回数、例えば５回繰り返す
（）ことにより、合計６個の仮平均重量m1、
m2、…m6がRAM５に記憶されると共に第１の
表示器１にはこれまでの合計試料個数30が表示さ
れる。第２の表示器２には次式 但し、；合計重量／合計個数 Ｎ＝合計個数（＝n1＋n2＋…＋n6＝30） ｎ＝最初の計量個数（＝５） Ds＝仮平均重量の標準偏差（＝√分散） より導かれる、下記(1)式のN′を表示する。 なお、下記の式について説明すると、左辺第１
項は基準重量側の誤差に起因する誤差分で、同じ
く第２項は計数される試料重量側の誤差に起因す
る誤差分であり、左辺全体はこれらの統計的加算
値である。そして、これが平均重量の1/2以下で
あれば、丸められた計数値に誤差が生じないこと
になり、右辺はこの条件を示す項である。ただ
し、Dsの前の係数３は、確率99.7％で計算を行つ
ているためである。 ここで、Dsはｎ個の仮平均重量の標準偏差で
あるから、試料個々に重量を測定したときに得ら
れる標準偏差SDとは Ds＝√・SD の関係がある。左辺第１項および第２項をこの
SDを用いて表せば、それぞれ
【式】および
【式】
となる。そしてこれらが意味するところは、以下
の通りである。 今、試料重量のばらつきの標準偏差をSDとし、
Ｎ個の試料の平均重量を求めると、求められた平
均重量の真の平均重量からのずれは、確率99.7％
（従つて3SD）のもとに、 で表される。これを基準としてN′を計数すると、
N′の試料の計数時において重量単位で次の誤差
が生じる。 これが左辺第１項に対応する。 一方、N′の試料を皿上に載せたとき、その平
均重量は真の平均重量に対して だけずれている。従つてそのトータルの重量の誤
差は、 となり、左辺第２項に対応する。 さて、前記した式を変形して、計数誤差を１未
満とする上限の追加個数、つまり許容最大個数 N′＝（１／6Cv）2１／ｎ Ｎ／Ｎ＋N′ …(1) 但し、Cv＝変動係数＝Ds／Ｗ が表示される（）。また合計重量を合計個数で
除した平均重量はRAM５に記憶される。以上
において変動係数Cvが、例えば0.0045と求められ
たとすれば、式(1)によるN′の値は76.9となり、こ
の値の１未満の端数を切り捨てた値76が第２の表
示器２に表示される（）。この表示に従つて76
以内の個数、例えば70個を電子はかりの皿３に追
加された場合、平均更新キー７を押すか、あるい
は自動安定検出後に自動的に更新されることによ
つて、増加重量が平均重量で除され、その１未
満の端数が四捨五入されて70と算出（）された
追加個数が、上記30個に加算され、合計個数100
として第１の表示器１に表示される（）。なお、
上記計数された個数70に見積られる誤差が±1/2
以内におさまる確率は、式(1)によつて99.7％とな
るまで、上記の、これまでの合計個数100が誤差
ゼロで計数された値と考えて妥当である。 次に再び、式(1)による計算が行われ（）、 N′＝（１／６×0.0045）2・１／５・（100／100＋
N′） ＝123.01 の端数を切り捨てた個数123が第２の表示器２に
表示される。この個数123は、誤差ゼロと考えら
れる現時点での皿３上の試料の累計個数100を基
準にして算出された許容最大追加個数、つまり拡
大許容最大追加個数である。ここで平均更新キー
７を押すか、あるいは自動安定検出後に自動的に
更新されることによつて、全重量を合計個数で除
した第２の平均重量2が求められ、先の平均重
量（＝1）が補正される。この値2は、誤差
が含まれていないと考えられる合計個数を用いて
求められたものであり、より、より真の値に近
い値となつている。以上の操作過程を、希望計数
個数に達するまで繰り返す。なお、最終追加段階
では、１個の計数誤差を認めてよい場合には、第
２の表示器２が指示する個数の４倍までの個数を
追加することができる。その理由は、１個の誤差
を認める場合、式(1)における6Cvは3Cvに変わり、 （１／3Cv）2＝４（１／6Cv）2 となるからである。また式(1)の6Cvを9Cvとすれ
ば誤差1/3個で、15Cvとすれば誤差1/5個で個数
を判定することになつて精度が上るが、これに伴
つて許容最大追加個数N′が減少し、必要個数の
計数に要する計量操作回数が増す。計数精度は両
者の兼ね合いを考慮し、必要に応じて選択するこ
とができる。 以上の操作過程を通じて希望計数個数の計数
後、試料を電子はかりの皿３より降ろし、再び同
じ個数の計数に着手する場合、第１の表示器１の
表示は０に戻るが、前回の計数過程で得られた平
均重量の記憶はそのまゝ保たれているので、直ち
に前回の最終追加個数から計数操作を開始するこ
とができる。以後は増加重量を平均重量で除し、
端数を四捨五入して得られた追加個数が順次加算
されて第１の表示器１に表示される。一方、第２
の表示器２には最初の追加個数（前回の計数過程
における最終追加個数）が表示されたまゝであ
る。なお前回より多くの個数を計数したい場合に
は、フローチヤートの○イの測定ルーチンに戻り、
平均重量の更新がなされ、追加可能数が増加する
ようにする。これは、今回の計数操作で直ちに○イ
印のルーチンに戻すと電子はかりの皿３に載せら
れた全個数が少いため、平均を更新するとかえつ
て追加可能数が減少するという欠点が生ずるため
である。 以上のように本発明によれば、試料重量のばら
つきの範囲内で順次平均重量が補正され、その都
度計数誤差を生じない範囲での試料追加数が指示
されるので、計数誤差ゼロの電子はかりが得られ
る。 本発明の変形実施例として、複数回にわたる、
ほぼ一定数の個数による仮平均重量のバラツキよ
り試料重量の変動係数を求める部分を（７頁参
照）計数する試料のCvの最大限を0.03以下に限定
し（一般にCvが0.03を越えることはまれである。）
あらかじめ許容された増加個数、例えば最初５
個、次に10個、３回目15個、４回目18個、５回目
21個、６回目22個というように順次増加していき
ながら、各々の仮平均重量を求め、そのバラツキ
から試料重量の変動係数を求めるようにすること
ができる。その場合の変動係数算出式は、各々の
個数をP1、P2、…Pi、…Ps、各々の平均重量を
Q1、Q2…Qi、Qsとすると ＝〓S／i=1Qi／〓S／i=1Pi となる。なお、di＝（Qi−）√であり、また
個数増加毎に平均重量Ｗを更新する。 次に上式により求めたCvを用いて、追加許容
数N′を算出するが、(1)式を(2)式におきかえて
N′を算出する。 N′＝（１／6Cv）2Ｎ／Ｎ＋Ｎ …(2) Cvを求め終つた後は、変形例以前のCv測定後
と全く同じルーチンに戻るだけの方法と、同じル
ーチンに戻した後も、Cvをさらに繰り返し求め
て、Cvの精度を向上させながら測定を進める方
法の２つがある。いずれの場合でもCvが判明し
た後は、判明したCvに応じた許容最大追加個数
が算出されることになる。 この変形例が優れている点は、Cvを算出する
ステツプでも個数を増加させているから、Cvを
求め終つたとき、皿上には上記の例で既に91個の
試料が乗つており、変形例以前の方式の30個に比
べて多いから、追加許容個数も多くなり、従つて
必要個数のはかり取りがスピーデイに行なえるこ
とである。 この変形例は、本特許請求の範囲に含まれるも
のである。
の通りである。 今、試料重量のばらつきの標準偏差をSDとし、
Ｎ個の試料の平均重量を求めると、求められた平
均重量の真の平均重量からのずれは、確率99.7％
（従つて3SD）のもとに、 で表される。これを基準としてN′を計数すると、
N′の試料の計数時において重量単位で次の誤差
が生じる。 これが左辺第１項に対応する。 一方、N′の試料を皿上に載せたとき、その平
均重量は真の平均重量に対して だけずれている。従つてそのトータルの重量の誤
差は、 となり、左辺第２項に対応する。 さて、前記した式を変形して、計数誤差を１未
満とする上限の追加個数、つまり許容最大個数 N′＝（１／6Cv）2１／ｎ Ｎ／Ｎ＋N′ …(1) 但し、Cv＝変動係数＝Ds／Ｗ が表示される（）。また合計重量を合計個数で
除した平均重量はRAM５に記憶される。以上
において変動係数Cvが、例えば0.0045と求められ
たとすれば、式(1)によるN′の値は76.9となり、こ
の値の１未満の端数を切り捨てた値76が第２の表
示器２に表示される（）。この表示に従つて76
以内の個数、例えば70個を電子はかりの皿３に追
加された場合、平均更新キー７を押すか、あるい
は自動安定検出後に自動的に更新されることによ
つて、増加重量が平均重量で除され、その１未
満の端数が四捨五入されて70と算出（）された
追加個数が、上記30個に加算され、合計個数100
として第１の表示器１に表示される（）。なお、
上記計数された個数70に見積られる誤差が±1/2
以内におさまる確率は、式(1)によつて99.7％とな
るまで、上記の、これまでの合計個数100が誤差
ゼロで計数された値と考えて妥当である。 次に再び、式(1)による計算が行われ（）、 N′＝（１／６×0.0045）2・１／５・（100／100＋
N′） ＝123.01 の端数を切り捨てた個数123が第２の表示器２に
表示される。この個数123は、誤差ゼロと考えら
れる現時点での皿３上の試料の累計個数100を基
準にして算出された許容最大追加個数、つまり拡
大許容最大追加個数である。ここで平均更新キー
７を押すか、あるいは自動安定検出後に自動的に
更新されることによつて、全重量を合計個数で除
した第２の平均重量2が求められ、先の平均重
量（＝1）が補正される。この値2は、誤差
が含まれていないと考えられる合計個数を用いて
求められたものであり、より、より真の値に近
い値となつている。以上の操作過程を、希望計数
個数に達するまで繰り返す。なお、最終追加段階
では、１個の計数誤差を認めてよい場合には、第
２の表示器２が指示する個数の４倍までの個数を
追加することができる。その理由は、１個の誤差
を認める場合、式(1)における6Cvは3Cvに変わり、 （１／3Cv）2＝４（１／6Cv）2 となるからである。また式(1)の6Cvを9Cvとすれ
ば誤差1/3個で、15Cvとすれば誤差1/5個で個数
を判定することになつて精度が上るが、これに伴
つて許容最大追加個数N′が減少し、必要個数の
計数に要する計量操作回数が増す。計数精度は両
者の兼ね合いを考慮し、必要に応じて選択するこ
とができる。 以上の操作過程を通じて希望計数個数の計数
後、試料を電子はかりの皿３より降ろし、再び同
じ個数の計数に着手する場合、第１の表示器１の
表示は０に戻るが、前回の計数過程で得られた平
均重量の記憶はそのまゝ保たれているので、直ち
に前回の最終追加個数から計数操作を開始するこ
とができる。以後は増加重量を平均重量で除し、
端数を四捨五入して得られた追加個数が順次加算
されて第１の表示器１に表示される。一方、第２
の表示器２には最初の追加個数（前回の計数過程
における最終追加個数）が表示されたまゝであ
る。なお前回より多くの個数を計数したい場合に
は、フローチヤートの○イの測定ルーチンに戻り、
平均重量の更新がなされ、追加可能数が増加する
ようにする。これは、今回の計数操作で直ちに○イ
印のルーチンに戻すと電子はかりの皿３に載せら
れた全個数が少いため、平均を更新するとかえつ
て追加可能数が減少するという欠点が生ずるため
である。 以上のように本発明によれば、試料重量のばら
つきの範囲内で順次平均重量が補正され、その都
度計数誤差を生じない範囲での試料追加数が指示
されるので、計数誤差ゼロの電子はかりが得られ
る。 本発明の変形実施例として、複数回にわたる、
ほぼ一定数の個数による仮平均重量のバラツキよ
り試料重量の変動係数を求める部分を（７頁参
照）計数する試料のCvの最大限を0.03以下に限定
し（一般にCvが0.03を越えることはまれである。）
あらかじめ許容された増加個数、例えば最初５
個、次に10個、３回目15個、４回目18個、５回目
21個、６回目22個というように順次増加していき
ながら、各々の仮平均重量を求め、そのバラツキ
から試料重量の変動係数を求めるようにすること
ができる。その場合の変動係数算出式は、各々の
個数をP1、P2、…Pi、…Ps、各々の平均重量を
Q1、Q2…Qi、Qsとすると ＝〓S／i=1Qi／〓S／i=1Pi となる。なお、di＝（Qi−）√であり、また
個数増加毎に平均重量Ｗを更新する。 次に上式により求めたCvを用いて、追加許容
数N′を算出するが、(1)式を(2)式におきかえて
N′を算出する。 N′＝（１／6Cv）2Ｎ／Ｎ＋Ｎ …(2) Cvを求め終つた後は、変形例以前のCv測定後
と全く同じルーチンに戻るだけの方法と、同じル
ーチンに戻した後も、Cvをさらに繰り返し求め
て、Cvの精度を向上させながら測定を進める方
法の２つがある。いずれの場合でもCvが判明し
た後は、判明したCvに応じた許容最大追加個数
が算出されることになる。 この変形例が優れている点は、Cvを算出する
ステツプでも個数を増加させているから、Cvを
求め終つたとき、皿上には上記の例で既に91個の
試料が乗つており、変形例以前の方式の30個に比
べて多いから、追加許容個数も多くなり、従つて
必要個数のはかり取りがスピーデイに行なえるこ
とである。 この変形例は、本特許請求の範囲に含まれるも
のである。
第１図は本発明の構成を示す基本概念図、第２
図は本発明実施例の構成を示すブロツク図、第３
図はそのROM４に書き込まれたプログラムの内
容を示すフローチヤートである。 １…第１の表示器、２…第２の表示器、３…電
子はかりの秤量皿、４…ROM、５…RAM、６
…基準メモリ・キー、７…平均更新キー、８…風
袋引キー、９…平均クリア・キー、１０…数値キ
ー、１１…マイクロコンピユータ、１２…キー・
ボード。
図は本発明実施例の構成を示すブロツク図、第３
図はそのROM４に書き込まれたプログラムの内
容を示すフローチヤートである。 １…第１の表示器、２…第２の表示器、３…電
子はかりの秤量皿、４…ROM、５…RAM、６
…基準メモリ・キー、７…平均更新キー、８…風
袋引キー、９…平均クリア・キー、１０…数値キ
ー、１１…マイクロコンピユータ、１２…キー・
ボード。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 電子はかり部に既知個数n1の試料を負荷した
ときに得られる重量W1をその個数n1で除して第
１の仮平均重量m1を算出する第１の仮平均重量
算出手段と、上記電子はかり部に未知個数の試料
を追加したときの増加重量Wi（ｉ＝２、３…ｓ）
をその直前に算出された第（ｉ−１）の仮平均重
量mi-1（ｉ＝２、３…ｓ）で除してその追加個数
niを算出する第１の個数算出手段と、上記各増加
重量Wiをそれぞれ対応する追加個数niで除して第
ｉの仮平均重量mi（ｉ＝２、３…ｓ）を算出する
第２の仮平均重量算出手段と、上記既知個数n1に
上記追加個数niを順次加算して累計個数を求める
加算手段と、その加算手段による累計個数を表示
する表示器と、第ｓの仮平均重量msの算出後に
上記電子はかり部に負荷されている総重量ΣW
（＝W1＋W2＋…＋Ws）を加算手段による累計個
数Ｎ（＝n1＋n2＋…＋ns）で除して平均重量を
算出する平均重量算出手段と、上記各仮平均重量
m1およびmiのばらつきと上記平均重量から試
料重量の変動係数Cvを算出する変動係数算出手
段と、上記累計個数Ｎと変動係数Cvから計数誤
差が１未満の所定値に収まる許容最大追加個数
N′を算出する許容最大追加個数算出手段と、上
記許容最大追加個数N′の算出後に電子はかり部
に未知個数の試料を追加したときの増加重量Wj
を上記平均重量で除してその追加個数ajを算出
する第２の個数算出手段と、その算出された追加
個数ajと上記許容最大追加個数N′の大小関係を判
定する判定手段を有し、その判定結果に基づいて
上記加算手段を、上記追加個数ajが上記N′以下の
ときに限りその個数ajを上記累計個数に加えるよ
う構成された電子計数はかり。 ２ 上記平均重量算出手段は、上記個数ajが上記
累計個数に加えられた後に上記電子はかり部に負
荷されている総重量を当該累計個数で除して補正
平均重量を算出し、上記第２の個数算出手段は、
以後、その補正平均重量を用いて個数を算出する
とともに、上記許容最大追加個数算出手段は上記
個数ajが加えられた累計個数と上記変動係数から
拡大許容最大追加個数を算出して上記判定手段に
供給するよう構成したことを特徴とする、特許請
求の範囲第１項記載の電子計数はかり。 ３ 上記許容最大追加個数または拡大許容最大追
加個数を表示する手段を備えたことを特徴とす
る、特許請求の範囲第１項または第２項記載の電
子計数はかり。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5423982A JPS58171628A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子計数はかり |
| US06/479,338 US4493384A (en) | 1982-03-31 | 1983-03-28 | Electronic counting scale |
| DE8383301798T DE3377162D1 (en) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Electronic counting scale |
| EP83301798A EP0091274B1 (en) | 1982-03-31 | 1983-03-30 | Electronic counting scale |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5423982A JPS58171628A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子計数はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58171628A JPS58171628A (ja) | 1983-10-08 |
| JPH0132927B2 true JPH0132927B2 (ja) | 1989-07-11 |
Family
ID=12964987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5423982A Granted JPS58171628A (ja) | 1982-03-31 | 1982-03-31 | 電子計数はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58171628A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6085333A (ja) * | 1983-10-17 | 1985-05-14 | Shimadzu Corp | 電子計数はかり |
| JPS62113030A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-23 | Anritsu Corp | 計数装置 |
-
1982
- 1982-03-31 JP JP5423982A patent/JPS58171628A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58171628A (ja) | 1983-10-08 |
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