JPH0134430Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はインダクタおよび容量を組合せてなる
遅延特性の変化可能な超高速可変遅延線の改良に
関する。

従来この種の可変遅延線は、ボビンに導体条を
ソレノイド状に形成して構成したインダクタに固
定接点列を設け、この固定接点列に可動接点とし
ての摺動ばねを摺動可能に接触させ、その摺動ば
ねを固定接点列に沿つて摺動させることにより、
個々の固定接点と摺動ばねの単接触と、隣合う固
定接点間に摺動ばねを落込むようにして隣合う固
定接点と摺動ばねの複接触とを交互に切換てなる
構造を有している。

そして、摺動ばねは、一担所定の固定接点を選
択した後には可変遅延線に加わる振動や衝撃等に
より移動して特性が変動しないように、摺動ばね
に付勢力を与えて固定接点列上を摺動させてい
る。

また、第１図に示すように、ボビン１上に形成
された固定接点列２を構成する各固定接点２ａ，
２ｂ，２ｃ……は、導体条３上にニツケルメツキ
層４を形成した上に更にメツキ層５を形成するこ
とにより、導体条３の腐食を抑えて摺動ばねとの
接触抵抗を低く保つようにしている。

しかしながらこのように構成された可変遅延線
は、第２図に示すよう付勢された状態で固定接点
列２を摺動する摺動ばね６が、各固定接点２ａ，
２ｂ，２ｃ……との単接触および、摺動ばね６を
隣合う固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……間に落し込
むことによる複接触を繰り返すので、摺動ばね６
が固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……間に落込む際や
固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……上に乗り上げる際
に、各固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……の上端縁部
が摩耗して導体条３の露出した傾斜部８が形成さ
れ易い。

しかも導体条３は、銅等の電気的良導体で形成
されることから導体条３の傾斜部８には酸化皮膜
が生じ易くなつて摺動ばね６との接触抵抗が大き
くなり、損失の増大および遅延特性の不安定化を
まねく欠点があり、極端な場合には接触不良によ
る動作不能をもたらすこともある。

特に、摺動ばね６と隣合う固定接点２ａ，２
ｂ，２ｃとの複接触時には接触不良を生じ易く、
良好な複接触状態を確保し難い。

また、固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……の上端縁
部が摩耗する場合には、摺動ばね６の摩耗も伴う
ので、摺動ばね６表面状態が悪化し、遅延特性の
劣化を早める難点がある。

本考案はこのような従来の欠点を解決するため
になされたもので、固定接点および可動接点の摩
耗が少く、固定接点と可動接点間の接触抵抗を経
時的に安定かつ低く抑えることが可能で、遅延特
性の切換えが安定かつ確実な超高速の小形可変遅
延線の提供を目的とする。

この目的を達成するために本考案は、インダク
タと、このインダクタに組合せて遅延線を形成す
る容量と、そのインダクタに形成された固定接点
列と、この固定接点列を摺動する可動接点を備え
てなる可変遅延線において、その固定接点におけ
る上記可動接点の接触する上端縁部に傾斜部を形
成し、隣合う固定接点の両傾斜部に可動接点が同
時に接触するように形成し、その傾斜部を含む上
記固定接点に耐食性の良好な導電性保護層を形成
してなることを特徴とし、可動接点の摺動に伴な
う固定接点の上端縁部の摩耗と化学的変化を抑え
たものである。

以下本考案の詳細を説明する。なお従来例と共
通する部分には共通の符号を付す。

第３図は本考案の一実施例を示す縦断面図であ
る。符号１は横断面が長方形の棒状非磁性ボビン
であり、横置きされその長手方向上面には接地電
極９が形成され、この接地電極９上に誘電体層１
０が形成されている。

ボビン１の外周には、銅からなる導体条３を所
定のピツチで単層ソレノイド状にスペース巻きし
たインダクタ１１が形成されており、第４図に示
すように、隣合う導体条３間は凹陥部となつてい
る。インダクタ１１において、誘電体層１０上の
導体条３とこれに対向する接地電極９によつてイ
ンダクタ１１の各ターン毎に容量Ｃが導体条３に
接続された状態で形成され、１ターンを１区間分
のインダクタンスＬとしてその容量Ｃと組合せた
複数区間からなる集中定数型遅延線１２が構成さ
れている。

また、インダクタ１１の導体条３は、両上端縁
部に傾斜部１３を有し、この傾斜部１３を含む導
体条３の上面にはニツケルメツキ層４が形成さ
れ、さらにこのニツケルメツキ層４の上に金メツ
キ層５が形成されている。

そして、インダクタ１１における上側の導体条
３は、後述する可動接点としての摺動ばね６が接
触する固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……となつてお
り、これら固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……によつ
て固定接点列２が構成されている。なお、導体条
３における傾斜部１３、ニツケルメツキ層４およ
び金メツキ層５は、摺動ばね６の接触する部分も
しくはその近傍に形成することも可能であり、形
成個所を限定すれば各メツキ層４，５の材料の節
約ができる。

第３図においてボビン１は、下面すなわち容量
Ｃの形成された面に対向する面を筐体１４の底部
１５内側に固定され、接地電極９がボビン１の両
端面近傍を経て筐体１４の底部１５に植設された
入出力接地端子１６，１７に接続され、インダク
タ１１の導体条３の巻終わりが同様に底部１５に
植設された出力端子１８に接続されている。な
お、導体条３の巻始めは終端抵抗を介して入力接
地端子１６に接続されている。

筐体１４はその天井部１９内側にボビン１の固
定接点列２に沿つて形成された摺動電極２０を有
しており、筐体１４の内側面を経てその底部１５
に植設された入力端子２１に接続されている。

筐体１４の天井部１９には、この天井部１９に
固定接点列２に沿つて設けた摺動溝２１からつま
み２２を突出させたつまみ付きばねホルダ２３が
配置され、このつまみ付きばねホルダ２３は固定
接点列２方向に開くように形成された収納部２４
に、摺動電極２０および固定接点列２へ付勢され
た状態で接触する摺動ばね６を収納し、可変遅延
線が構成されている。なお、摺動ばね６は、ベリ
リウム銅等のように比較的硬く加工が容易な帯状
導体を湾曲もしくは折曲加工して、例えば逆山形
に形成され、必要り応じて耐食性の良好なメツキ
層（図示せず）で覆われている。

第５図は上述の可変遅延線の等価回路図であ
り、図中符号PGはパルス信号源、C_sは浮遊容量、
L_wは摺動電極２０や摺動ばね６等の結結インダ
クタンス、R_pは終端抵抗、そしてａはインダク
タ１１の各ターン間の結合係数を示している。

この可変遅延線は、ばねホルダ２３のつまみ２
２を筐体１４の摺動溝２１内で移動させることに
より、摺動ばね６が摺動電極２０に接触しなが
ら、固定接点列２の個々固定接点２ａ，２ｂ，２
ｃ……との単接触と、隣合う固定接点２ａ，２
ｂ，２ｃ……間の凹陥部への凹陥による隣合う固
定接点２ａ，２ｂ，２ｃにおける傾斜部１３との
複接点とを繰返しながら摺動して切換わり、所定
の細い時間差で階段状に変化する可変遅延特性が
得られる。

このように構成された可変遅延線は、固定接点
列２を構成する個々の固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ
……が、少なくとも摺動ばね６の接触する上端縁
に予め傾斜部１３を有しているので、摺動ばね６
が固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……間に凹陥する際
や固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……上面に乗り上げ
る際に、摩耗しにくいうえ、傾斜部１３を含めて
固定接点２ａ，２ｂ，２ｃ……がニツケルメツキ
層４および金メツキ層５で覆われているので、さ
らに摩耗しにくく耐食性が良好となる。

そのため、摺動ばね６と固定接点列２間の接触
抵抗を経時的に低く抑えることが可能で、安定し
た遅延特性を得ることができるばかりか、切換え
も確実となる。

なお、上述の実施においては、インダクタ１１
としてボビン１を用いる例を示したが、ボビン１
を省略して導体条３によつて構成することも可能
であり、ボビン１を用いる場合にあつても、ボビ
ン１に導線を巻回したものに限らず、例えばアル
ミナ磁器ボビンの表面に導電体層を形成し、フオ
トエツチングやレーザービームによつてソレノイ
ド状の導体条３を形成することができる。

もつとも、本考案における導体条３は、固定接
点２ａ，２ｂ，２ｃ……上での摺動ばね６の安定
性を確保するために、上面が平らな、例えば平角
線状のものが適する。そして導体条３の上端縁に
形成する傾斜部１３は、メツキ層４，５を形成す
る前に加圧手法や腐食等の化学的手法によつて簡
単に形成することが可能である。

さらに、導体条３に形成するニツケルメツキ層
４は、導体条３の材質によつて選定すればよく、
耐摩耗性の良好な導電性材料をメツキすれば本考
案の目的達成が可能であるが、導体条３の材質に
よつてはその省略も可能である。ニツケルメツキ
層４上に形成するメツキ層５は、金等のほか耐食
性の良好な導電材質を保護層として形成すればよ
い。

以上説明したように本考案の可変遅延線は、イ
ンダクタに設けた固定接点において、可動接点が
同時に接触する隣合う固定接点の各上端縁部に傾
斜部を形成するとともに、この傾斜部を含む固定
接点に耐食性の良好な導電性保護層を形成してな
るので、固定接点および可動接点の摩耗や酸化等
の化学変化が少なく、接触抵抗を低く抑えること
ができる。特に、複接触時における可動接点の安
定性の確保および接触不良の改善を図ることがで
きる。

従つて、経時的に安定で良好な遅延特性を得る
ことができるし、遅延時間の切換えを確実に行な
うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は従来の可変遅延線の固定
接点列を示す部分断面図、第３図および第４図は
本考案の可変遅延線の一実施例を示す縦断面図お
よびその固定接点列を示す部分断面図、第５図は
可変遅延線の等価回路図である。 １……ボビン、２……固定接点列、２ａ，２
ｂ，２ｃ……固定接点、３……導体条、４……耐
摩耗性の良好な導電層（ニツケルメツキ層）、５
……耐食性の良好な導電保護層（金メツキ層）、
６……可動接点（摺動ばね）、８，１３……傾斜
部、１１……インダクタ、１２……集中定数型遅
延線。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) インダクタと、このインダクタと組合せて遅
   延線を形成する容量と、前記インダクタに形成
   された固定接点列と、この固定接点列を摺動す
   る可動接点を備え、この可動接点の摺動によつ
   て前記固定接点列から任意の固定接点を選択し
   て遅延特性を変化させる可変遅延線において、
   前記固定接点の前記可動接点が接触する上端縁
   部に傾斜部を形成し、隣合う固定接点の両傾斜
   部に可動接点が同時に接触するように形成し、
   前記傾斜部を含む前記固定接点に耐食性の良好
   な導電性保護層を形成してなることを特徴とす
   る可変遅延線。 (2) 耐食性の良好な導電性保護層が、耐摩耗性の
   良好な導電層を介して形成されてなる実用新案
   登録請求の範囲第(1)項記載の可変遅延線。