JPH0141111B2 - - Google Patents

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JPH0141111B2
JPH0141111B2 JP15532580A JP15532580A JPH0141111B2 JP H0141111 B2 JPH0141111 B2 JP H0141111B2 JP 15532580 A JP15532580 A JP 15532580A JP 15532580 A JP15532580 A JP 15532580A JP H0141111 B2 JPH0141111 B2 JP H0141111B2
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JP
Japan
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water
turbidity
sludge
over time
treated water
Prior art date
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Expired
Application number
JP15532580A
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English (en)
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JPS5778991A (en
Inventor
Takao Sekine
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02WCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO WASTEWATER TREATMENT OR WASTE MANAGEMENT
    • Y02W10/00Technologies for wastewater treatment
    • Y02W10/10Biological treatment of water, waste water, or sewage

Landscapes

  • Activated Sludge Processes (AREA)
  • Treatment Of Biological Wastes In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、活性汚泥処理や浄水プロセスの沈殿
池における固液分離の状態監視ならびに上澄水質
の予測制御のための水質監視制御方法に関する。
活性汚泥処理プロセスにおいて、最終沈殿池で
は活性汚泥と処理水に固液分離されるが、この沈
降特性の指標として従来から30分汚泥容量SV30
や汚泥容量指標SVIが用いられその自動測定装置
も開発されている。しかし、この従来の固液分離
状態監視では次のような欠点がある。
(1) SVIが小さい場合、即ち活性汚泥の沈降性が
良い場合でも上澄水質の濁度又は浮遊物質濃度
(SS濃度)が小さいとは限らないことのよう
に、沈降特性と上澄水のSS濃度とは一般に強
い相関関係を有しない。
(2) 従来のSV又はSVI自動測定装置は汚泥の一
部又は全部が測定管内で浮上したか否かをチエ
ツクすることができず、沈降した汚泥のみを計
測していた。
(3) 活性汚泥処理後の処理水(放流水)SSの排
水基準は、例えば終末下水処理場においては70
mg/以下と定められるが、処理水SSのモニ
ターのみでは基準を越えるもその処置ができな
い。
以上の問題点は浄水場における凝集沈殿プロセ
スにも生じる。
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたもの
で、サンプリング方式による活性汚泥の特性解析
及び上澄水濃度の予測制御を可能にした水質監視
制御方法を提供することを目的とする。
本発明においては、検水の濁度測定と、この測
定装置による濁度測定結果を解析する演算によつ
て実現される。
第1図はサンプリングした検水の濁度測定装置
の構造を示す。処理施設よりエアリフト又は水中
ポンプによりサンプリングされた検水は測定管1
に導入される。測定管1の底部には検水中に気泡
を発生させるための曝気装置2が設けられ、検水
のサンプリング完了後一定時間だけ測定管1内検
水を空気かく拌して均一に調整し、濁度測定の準
備処理をなす。光透過式や光反射式で濁度を受光
量変化として測定する濁度計3は測定管1の中央
部より上の部分に設けられ、曝気装置2による検
水の均一調整後のかく拌停止時点から濁度変化測
定を開始する。検水の濁度変化が安定するに必要
な時間(例えば30〜60分)までの測定後、検水は
排水装置4から排水され、必要とする場合には測
定管内壁、底面の洗浄がなされて次回の検水サン
プリングがなされる。この測定サイクルは連続的
に繰り返され、各種水処理制御装置の演算データ
にされる。
上記測定装置における沈降測定結果の特性は、
第2図に示すようにa〜dの4つのパターンに大
別される。同図中、特性aは正常に汚泥が沈降す
ることを示し、上澄水の濁度は急速に減少する。
特性bは測定初期の混合液のままの状態(濁度
A)から変化しないことを示し、実際の処理場に
おいても30分汚泥沈降速度SV30が90%以上の場
合も観測される。特性cは汚泥が測定初期から浮
上する場合に見られる現象を示す。特性dは測定
初期の段階では汚泥が一旦沈降するが、測定途中
から汚泥の全部又は一部が浮上したことを示す。
このように、サンプリング測定装置により測定
管内における汚泥沈降特性を自由沈降に近くし
て、濁度計3による濁度の経時変化を測定する。
これにより、実際の沈殿池の汚泥の複雑な動きと
は異なり、短時間に沈殿池の上澄水濁度又は浮遊
物質濃度の沈降状態(固液分離状態)の経時変化
及び第2図に示す濁度の変化パターンとの比較か
ら汚泥の特性を求めることができ、実際の沈殿池
の滞留時間(2〜4時間程度)に先立つて放流水
の濁度が悪化する前に沈殿池の状態模擬から放流
水(溢流水)濁度を予測して放流水質処理に応用
できる。
第3図は上記沈殿池の状態予測データを活性汚
泥処理プロセスの水質制御に適用した場合を示
す。処理対象水は曝気槽5に流入して曝気された
後、最終沈殿池6で活性汚泥の沈殿がなされて放
流され、沈殿池6の沈殿活性汚泥は曝気槽5に必
要とされる量だけ返送される。この活性汚泥処理
プロセスにおいて、曝気槽5の入口側又は出口側
もしくは放流口に設けられる薬注装置7から曝気
槽5に凝集剤を注入する高度処理により良好な処
理水質を得る場合、凝集剤の注入率決定に流入負
荷測定装置8による測定値のほかに本発明による
前記サンプリング式濁度測定装置9による放流水
濁度予測値を指標として演算器10が演算決定す
ることで放流水質を早い時期に予測制御して良好
な放流水質制御を可能にする。また。上記高度処
理のほかに、活性汚泥処理水を流入水として凝集
沈殿や塩素注入を行う三次処理に汚泥特性、濁度
の経時変化から予測制御情報を提供することがで
きる。また、浄水場の凝集沈殿池においても活性
汚泥処理の最終沈殿池と同様な機能を有すること
から処理水濁度を予測して混和池への注入率の指
標として利用できる。
以上のとおり、本発明による沈殿池に対する水
質監視制御方法は、汚泥の沈殿特性及び上澄み液
の濁度(又は浮遊物質濃度)の経時変化を早期に
把握して従来のSV(SVI)計の不十分な計測を補
い、放流水の濁度が悪化する前に状態を予測制御
できるなど良好な水処理を可能にする。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明における濁度測定方法の一実施
例を示す構成図、第2図は処理水の濁度特性図、
第3図は本発明の活性汚泥処理プロセスへの適用
例を示すブロツク図である。 1……測定管、2……曝気装置、3……濁度
計、4……排水装置、5……曝気槽、6……最終
沈殿池、7……薬注装置、8……流入負荷測定装
置、9……濁度測定装置、10……演算器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 サンプリングした検水を測定管内で均一濁度
    にするに必要な時間だけ空気かく拌し、この空気
    かく拌終了時点から該測定管の中央部より上の部
    分に固定して設けた濁度計により該検水の濁度の
    経時変化を測定し、この経時変化から沈殿池の処
    理水の固液分離の状態監視をし、前記経時変化の
    パターンから沈殿池の処理水の特性を予測して該
    処理水に対する水質処理予測制御を行うことを特
    徴とする水質監視制御方法。
JP15532580A 1980-11-05 1980-11-05 Apparatus for monitoring and controlling water quality Granted JPS5778991A (en)

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JPS5778991A JPS5778991A (en) 1982-05-17
JPH0141111B2 true JPH0141111B2 (ja) 1989-09-04

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JP5201372B2 (ja) * 2010-05-27 2013-06-05 栗田工業株式会社 汚泥性状診断装置
WO2020183577A1 (ja) * 2019-03-11 2020-09-17 株式会社 ゴーダ水処理技研 排水処理施設の試験方法

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JPS5778991A (en) 1982-05-17

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