JPH0141118Y2 - - Google Patents
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- JPH0141118Y2 JPH0141118Y2 JP174585U JP174585U JPH0141118Y2 JP H0141118 Y2 JPH0141118 Y2 JP H0141118Y2 JP 174585 U JP174585 U JP 174585U JP 174585 U JP174585 U JP 174585U JP H0141118 Y2 JPH0141118 Y2 JP H0141118Y2
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- Tunnel Furnaces (AREA)
- Furnace Charging Or Discharging (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は内部にセラミツクス成型体を収容して
焼成するセラミツクス成型体焼成用カプセルに関
する。
焼成するセラミツクス成型体焼成用カプセルに関
する。
(従来技術)
一般に、セラミツクス成型体の焼成には、従来
より、トンネル炉と呼ばれる横型の電気炉やガス
炉が使用されている。
より、トンネル炉と呼ばれる横型の電気炉やガス
炉が使用されている。
この種のトンネル炉は、第3図aに示すよう
に、トンネル状の炉体1が水平に配置されたもの
で、炉体1の内部は予熱ゾーン1a、焼成ゾーン
1bおよび冷却ゾーン1cに区画され、これら予
熱ゾーン1a、焼成ゾーン1bおよび冷却ゾーン
1cは夫々第3図bに折れ線h1で示すような温度
分布を有している。
に、トンネル状の炉体1が水平に配置されたもの
で、炉体1の内部は予熱ゾーン1a、焼成ゾーン
1bおよび冷却ゾーン1cに区画され、これら予
熱ゾーン1a、焼成ゾーン1bおよび冷却ゾーン
1cは夫々第3図bに折れ線h1で示すような温度
分布を有している。
上記のような構成を有するトンネル炉でセラミ
ツクス成型体を焼成する場合、第4図に示すよう
に焼成するセラミツクス成型体2を箱体状の焼成
匣3にたて詰め、もしくは横詰めする。この焼成
匣3を第3図aに示すように台板4上に積載し、
図示しないプツシヤにより、先ず、炉体1の予熱
ゾーン1a内に矢印A1で示すように自動的にプ
ツシユする。この予熱ゾーン1a内にてセラミツ
クス成型体2中のバインダ(成形助剤)を燃焼さ
せた(脱バインダ工程)後、上記台板4を炉体1
の焼成ゾーン1bにプツシユしてセラミツクス成
型体2を120℃〜135℃の温度で20時間ないし30時
間焼成する。この焼成が完了すると、セラミツク
ス成型体2は炉体1の冷却ゾーン1cにプツシユ
されて冷却された後、炉体1から矢印A2で示す
ように引き出される。
ツクス成型体を焼成する場合、第4図に示すよう
に焼成するセラミツクス成型体2を箱体状の焼成
匣3にたて詰め、もしくは横詰めする。この焼成
匣3を第3図aに示すように台板4上に積載し、
図示しないプツシヤにより、先ず、炉体1の予熱
ゾーン1a内に矢印A1で示すように自動的にプ
ツシユする。この予熱ゾーン1a内にてセラミツ
クス成型体2中のバインダ(成形助剤)を燃焼さ
せた(脱バインダ工程)後、上記台板4を炉体1
の焼成ゾーン1bにプツシユしてセラミツクス成
型体2を120℃〜135℃の温度で20時間ないし30時
間焼成する。この焼成が完了すると、セラミツク
ス成型体2は炉体1の冷却ゾーン1cにプツシユ
されて冷却された後、炉体1から矢印A2で示す
ように引き出される。
上記焼成匣3はアルミナもしくはムライト質の
材料からなり、セラミツクス成型体2と反応性が
ある場合は、上記焼成匣3にジルコニアセツタも
しくはジルコニアパウダが敷かれ、その上にセラ
ミツクス成型体2が上記のようにたて詰め、もし
くは横詰めされる。
材料からなり、セラミツクス成型体2と反応性が
ある場合は、上記焼成匣3にジルコニアセツタも
しくはジルコニアパウダが敷かれ、その上にセラ
ミツクス成型体2が上記のようにたて詰め、もし
くは横詰めされる。
ところで、上記のようなセラミツクス焼成装置
では、焼成匣3内のセラミツクス成型体2は、焼
成匣3に詰め込まれたまゝの形状を保つて熱処理
されるが、焼成匣3の中心部と外周部とでは温度
差が生じ、焼成匣3の異なつた位置に詰め込まれ
たセラミツクス成型体は夫々異なつた熱履歴を受
ける。この熱履歴の差は、焼成匣3にセラミツク
ス成型体2を多段多列に詰め込んだり、焼成匣3
を多段に積み重ねて焼成する場合に顕著であり、
焼成後のセラミツクス成型体2の特性に大きなば
らつきが生じる。
では、焼成匣3内のセラミツクス成型体2は、焼
成匣3に詰め込まれたまゝの形状を保つて熱処理
されるが、焼成匣3の中心部と外周部とでは温度
差が生じ、焼成匣3の異なつた位置に詰め込まれ
たセラミツクス成型体は夫々異なつた熱履歴を受
ける。この熱履歴の差は、焼成匣3にセラミツク
ス成型体2を多段多列に詰め込んだり、焼成匣3
を多段に積み重ねて焼成する場合に顕著であり、
焼成後のセラミツクス成型体2の特性に大きなば
らつきが生じる。
(考案の目的)
本考案はセラミツクス成型体の焼成における上
記事情に鑑みてなされたものであつて、セラミツ
クス成型体の完全な焼結体を連続的に効率よく得
ることができるセラミツクス成型体焼成用カプセ
ルを提供することを目的としている。
記事情に鑑みてなされたものであつて、セラミツ
クス成型体の完全な焼結体を連続的に効率よく得
ることができるセラミツクス成型体焼成用カプセ
ルを提供することを目的としている。
(考案の構成)
このため、本考案は、筒状のカプセル本体およ
びその両端部に設けられた蓋体のうち少なくとも
カプセル本体が多孔質のセラミツクスで形成さ
れ、カプセルが炉体の内部を移送される過程で軸
心のまわりに回転し、内部に収容されたセラミツ
クス成型体が流動しつゝ連続的に焼成されるよう
に構成したことを特徴としている。
びその両端部に設けられた蓋体のうち少なくとも
カプセル本体が多孔質のセラミツクスで形成さ
れ、カプセルが炉体の内部を移送される過程で軸
心のまわりに回転し、内部に収容されたセラミツ
クス成型体が流動しつゝ連続的に焼成されるよう
に構成したことを特徴としている。
(考案の効果)
本考案によれば、セラミツクス成型体がカプセ
ル内に収容されて流動しつゝ炉体の内部を移送さ
れる過程で多孔質セラミツクスの有する通気性に
より一種の呼吸作用が得られ、高温の雰囲気の内
部への導入やバインダの燃焼による排ガスの外部
への排出がスムースに行われ、カプセル内、外の
熱交換が活発となり、また雰囲気が万遍なく流入
出されるので、多量のセラミツクス成型体を均一
かつ連続的に効率よく焼成することができる。
ル内に収容されて流動しつゝ炉体の内部を移送さ
れる過程で多孔質セラミツクスの有する通気性に
より一種の呼吸作用が得られ、高温の雰囲気の内
部への導入やバインダの燃焼による排ガスの外部
への排出がスムースに行われ、カプセル内、外の
熱交換が活発となり、また雰囲気が万遍なく流入
出されるので、多量のセラミツクス成型体を均一
かつ連続的に効率よく焼成することができる。
(実施例)
以下、添付図面を参照して本考案の実施例を説
明する。
明する。
第1図aおよび第1図bに示すように、カプセ
ル10は、円筒状のカプセル本体8と、その前端
部および後端部の蓋体10aおよび10bとから
なる。このカプセル本体8、蓋体10aおよび1
0bは、ムライト、アルミナ質もしくは炭化硅素
質等の材料からなる多数の気孔を有する多孔質の
ものである。
ル10は、円筒状のカプセル本体8と、その前端
部および後端部の蓋体10aおよび10bとから
なる。このカプセル本体8、蓋体10aおよび1
0bは、ムライト、アルミナ質もしくは炭化硅素
質等の材料からなる多数の気孔を有する多孔質の
ものである。
カプセル本体8は、外径が約100mm、長さが100
mmないし300mmで、その気孔率は20%ないし50%
とすることが好ましい。気孔率が20%より少ない
と意図する通気性が得られず、50%を越えるとカ
プセル強度が低下して実用に供しえない。
mmないし300mmで、その気孔率は20%ないし50%
とすることが好ましい。気孔率が20%より少ない
と意図する通気性が得られず、50%を越えるとカ
プセル強度が低下して実用に供しえない。
カプセル本体8の前端部の蓋体10aは、その
中心部に少くともカプセル10内に収容されたセ
ラミツクス成型体2が通過し得る、たとえば10mm
ないし20mmの径を有する開口10cを有してい
る。蓋体10aも20%ないし50%の気孔率を有す
る。
中心部に少くともカプセル10内に収容されたセ
ラミツクス成型体2が通過し得る、たとえば10mm
ないし20mmの径を有する開口10cを有してい
る。蓋体10aも20%ないし50%の気孔率を有す
る。
上記蓋体10aは、カプセル本体8の前端面よ
りも内側の内径が他の部分よりも大きな部分に嵌
め込まれ、セラミツクス接着剤9によりカプセル
本体8に接着されている。このセラミツクス接着
剤9は、蓋体10aをカプセル本体8に嵌合させ
た状態で両者の接合部分に塗布され、全体が高温
に加熱されると融解して蓋体10aとカプセル本
体8とを接合する。
りも内側の内径が他の部分よりも大きな部分に嵌
め込まれ、セラミツクス接着剤9によりカプセル
本体8に接着されている。このセラミツクス接着
剤9は、蓋体10aをカプセル本体8に嵌合させ
た状態で両者の接合部分に塗布され、全体が高温
に加熱されると融解して蓋体10aとカプセル本
体8とを接合する。
一方、カプセル本体8のいま一つの蓋体10b
は、蓋体10aと同様の形状を有し、カプセル本
体8の後端面の内側にて内径が他の部分よりも大
きくなつた部分に嵌め込まれ、セラミツクス接着
剤9によりカプセル本体8に接着されている。
は、蓋体10aと同様の形状を有し、カプセル本
体8の後端面の内側にて内径が他の部分よりも大
きくなつた部分に嵌め込まれ、セラミツクス接着
剤9によりカプセル本体8に接着されている。
上記カプセル10は、たとえばその開口10e
を上にして直立させるとともに、いま一つの開口
10cを塞ぎ、図示しない漏斗等を利用して上記
開口10eからセラミツクス成型体が充填され
る。このカプセル10は、たとえば第2図aに示
すようなセラミツクス焼成装置に供給され、内部
のセラミツクス成型体2が熱処理される。
を上にして直立させるとともに、いま一つの開口
10cを塞ぎ、図示しない漏斗等を利用して上記
開口10eからセラミツクス成型体が充填され
る。このカプセル10は、たとえば第2図aに示
すようなセラミツクス焼成装置に供給され、内部
のセラミツクス成型体2が熱処理される。
第2図aのセラミツクス焼成装置は、ベース1
1上に載置された炉体12を有し、この炉体12
には、円筒状の炉心管13が回転可能に配置され
ている。この炉心管13は、焼成後のセラミツク
ス成型体2への銀焼付等の低温処理用のもので
は、ステンレスもしくはインコネル等の材料から
なり、セラミツクス成型体2の本焼成のような高
温処理用のものでは、ムライトもしくはアルミナ
質、さらには炭化硅素質の材料からなるものが使
用される。
1上に載置された炉体12を有し、この炉体12
には、円筒状の炉心管13が回転可能に配置され
ている。この炉心管13は、焼成後のセラミツク
ス成型体2への銀焼付等の低温処理用のもので
は、ステンレスもしくはインコネル等の材料から
なり、セラミツクス成型体2の本焼成のような高
温処理用のものでは、ムライトもしくはアルミナ
質、さらには炭化硅素質の材料からなるものが使
用される。
上記炉心管13は、その一端開口13aの外周
部に配置された支持ローラ14aと、他端開口1
3bの外周部に配置された支持ローラ14bとに
より支持されている。上記支持ローラ14aは、
その支軸15に設けられたプーリ15aと駆動モ
ータ16のプーリ16aとの間にベルト17が張
り渡され、駆動モータ16により回転駆動され
る。
部に配置された支持ローラ14aと、他端開口1
3bの外周部に配置された支持ローラ14bとに
より支持されている。上記支持ローラ14aは、
その支軸15に設けられたプーリ15aと駆動モ
ータ16のプーリ16aとの間にベルト17が張
り渡され、駆動モータ16により回転駆動され
る。
炉体12は、充分な断熱効果を得るため、肉厚
がたとえば150mmないし200mmのセラミツクスボー
ド等の高断熱材料をその壁材として使用してい
る。上記炉体12の長さは、炉心管13の長さか
ら支持ローラ14a,14bを設置するための長
さを差引いた長さよりもやゝ短くなつている。
がたとえば150mmないし200mmのセラミツクスボー
ド等の高断熱材料をその壁材として使用してい
る。上記炉体12の長さは、炉心管13の長さか
ら支持ローラ14a,14bを設置するための長
さを差引いた長さよりもやゝ短くなつている。
炉体12の内部には、炉心管13を取り囲むよ
うにヒータ18が配置されている。このヒータ1
8は、セラミツクス成型体2の熱処理のパターン
に対応し、炉心管13がたとえば第2図bに示す
ような温度分布を呈するように配置されている。
うにヒータ18が配置されている。このヒータ1
8は、セラミツクス成型体2の熱処理のパターン
に対応し、炉心管13がたとえば第2図bに示す
ような温度分布を呈するように配置されている。
既にその構造を説明したカプセル10は、第2
図aに示すように、プツシヤ20により炉心管1
3内にその一端開口13aより順次押し込まれ
る。
図aに示すように、プツシヤ20により炉心管1
3内にその一端開口13aより順次押し込まれ
る。
本実施例では、カプセル本体8の外径が100mm
で長さが100mmないし300mm、開口10c,10e
の径が10mmないし20mmの場合、炉心管13は内径
を140mm、外径を155mmないし160mm、長さが180mm
ないし2600mmとしている。
で長さが100mmないし300mm、開口10c,10e
の径が10mmないし20mmの場合、炉心管13は内径
を140mm、外径を155mmないし160mm、長さが180mm
ないし2600mmとしている。
セラミツクス成型体2の充填量はカプセル10
の開口10c,10eからセラミツクス成型体2
が漏出するのを防止するため、カプセル10を水
平にしたときにセラミツクス成型体2のレベルが
開口10c,10eの周縁よりも、たとえば10mm
程度、下に位置していることが好ましい。
の開口10c,10eからセラミツクス成型体2
が漏出するのを防止するため、カプセル10を水
平にしたときにセラミツクス成型体2のレベルが
開口10c,10eの周縁よりも、たとえば10mm
程度、下に位置していることが好ましい。
カプセル10はその蓋体10aを前方に向け
て、第2図aに示すように、プツシヤ20によ
り、炉心管13の一端開口13aより押し込ま
れ、同様に、他のカプセル10がプツシヤ20に
より炉心管13に押し込まれる毎に、順次、炉心
管13の回転に伴つて回転しつゝその他端13b
に向つて移動する。
て、第2図aに示すように、プツシヤ20によ
り、炉心管13の一端開口13aより押し込ま
れ、同様に、他のカプセル10がプツシヤ20に
より炉心管13に押し込まれる毎に、順次、炉心
管13の回転に伴つて回転しつゝその他端13b
に向つて移動する。
この過程で、カプセル10内のセラミツクス成
型体2は、カプセル10の回転に伴つて絶えず流
動し、炉心管13から均一に熱を受け、ほゞ等し
い熱履歴を経て炉心管13の他端から取り出され
ることになる。カプセル10は多孔質のセラミツ
クスにより構成されているため、カプセル10の
回転および内部のセラミツクス成型体の流動に伴
つて、カプセル10内にはその気孔(図示せず。)
を通して高温の雰囲気が導入され、セラミツクス
成型体2中のバインダ等の燃焼により発生した排
ガスは上記気孔を通して排出されるので、カプセ
ル10内外での熱交換が促進され、カプセル10
内での雰囲気の偏在がなく、セラミツクス成型体
2は均一で充分な焼結が行われる。
型体2は、カプセル10の回転に伴つて絶えず流
動し、炉心管13から均一に熱を受け、ほゞ等し
い熱履歴を経て炉心管13の他端から取り出され
ることになる。カプセル10は多孔質のセラミツ
クスにより構成されているため、カプセル10の
回転および内部のセラミツクス成型体の流動に伴
つて、カプセル10内にはその気孔(図示せず。)
を通して高温の雰囲気が導入され、セラミツクス
成型体2中のバインダ等の燃焼により発生した排
ガスは上記気孔を通して排出されるので、カプセ
ル10内外での熱交換が促進され、カプセル10
内での雰囲気の偏在がなく、セラミツクス成型体
2は均一で充分な焼結が行われる。
焼成済のセラミツクス成型体2はカプセル10
の蓋体10aの開口10cもしくは蓋体10の開
口10eから取り出すことができる。
の蓋体10aの開口10cもしくは蓋体10の開
口10eから取り出すことができる。
カプセル10の炉心管13内での総滞留時間
は、焼成の完了したセラミツクス成型体2への銀
焼付では3時間ないし5時間であり、セラミツク
ス成型体2の本焼成では、そのバインダを燃焼さ
せていないときは5時間ないし10時間であり、バ
インダが既に燃焼しているときは、3時間ないし
5時間である。また、炉心管13の回転数は
0.1rpmないし5rpmとする。
は、焼成の完了したセラミツクス成型体2への銀
焼付では3時間ないし5時間であり、セラミツク
ス成型体2の本焼成では、そのバインダを燃焼さ
せていないときは5時間ないし10時間であり、バ
インダが既に燃焼しているときは、3時間ないし
5時間である。また、炉心管13の回転数は
0.1rpmないし5rpmとする。
以上に説明した実施例において、カプセル本体
8および蓋体10a,10bを構成するセラミツ
クスの気孔率が20%未満では、カプセル10内へ
の空気の挿入および排ガスの排出が行われない。
また、上記気孔率が50%を越えると、カプセル1
0の内面が粗くなり、カプセル10の回転によ
り、焼成時にセラミツクス成型体2が損傷を受け
易くなり、カプセル10の強度も小さくなる。
8および蓋体10a,10bを構成するセラミツ
クスの気孔率が20%未満では、カプセル10内へ
の空気の挿入および排ガスの排出が行われない。
また、上記気孔率が50%を越えると、カプセル1
0の内面が粗くなり、カプセル10の回転によ
り、焼成時にセラミツクス成型体2が損傷を受け
易くなり、カプセル10の強度も小さくなる。
なお、上記セラミツクスの気孔率は、カプセル
本体8および蓋体10a,10bの成型時のバイ
ンダの量を調整することにより調整できる。
本体8および蓋体10a,10bの成型時のバイ
ンダの量を調整することにより調整できる。
本考案では、セラミツク成型体2は、積層コン
デンサや肉厚の大きな板状のセラミツクスの焼成
に適しているが、炉心管13の回転速度を調整
し、カプセル10の開口10c,10eを大きく
することにより直径が20mmφ、肉厚が0.3mm程度
のものまで熱処理可能である。
デンサや肉厚の大きな板状のセラミツクスの焼成
に適しているが、炉心管13の回転速度を調整
し、カプセル10の開口10c,10eを大きく
することにより直径が20mmφ、肉厚が0.3mm程度
のものまで熱処理可能である。
第1図aは本考案に係るセラミツクス成型体焼
成用カプセルの一実施例の縦断面図、第1図bは
第1図aの−線に沿う断面図、第2図aはセ
ラミツクス焼成装置の概略を示す説明図、第2図
bは第2図aのセラミツクス焼成装置の炉心管の
温度分布図、第3図aは従来のセラミツクス焼成
装置の説明図、第3図bは第3図aのセラミツク
ス焼成装置の炉体内の温度分布図、第4図は第3
図aのセラミツクス焼成装置に使用される焼成匣
の斜視図である。 2……セラミツクス成型体、8……カプセル本
体、10……カプセル、10a,10b……蓋
体、10c,10e……開口、12……炉体。
成用カプセルの一実施例の縦断面図、第1図bは
第1図aの−線に沿う断面図、第2図aはセ
ラミツクス焼成装置の概略を示す説明図、第2図
bは第2図aのセラミツクス焼成装置の炉心管の
温度分布図、第3図aは従来のセラミツクス焼成
装置の説明図、第3図bは第3図aのセラミツク
ス焼成装置の炉体内の温度分布図、第4図は第3
図aのセラミツクス焼成装置に使用される焼成匣
の斜視図である。 2……セラミツクス成型体、8……カプセル本
体、10……カプセル、10a,10b……蓋
体、10c,10e……開口、12……炉体。
Claims (1)
- 炉体の内部を移送される過程で軸心のまわりに
回転して内部に収容されたセラミツクス成型体が
流動しつゝ連続的に焼成されるようにした筒状の
カプセルであつて、筒状のカプセル本体と、カプ
セル本体の両端部に設けられ、中心部に上記セラ
ミツクス成型体が通過可能な径を有する開口を備
えた蓋体とからなり、少くともカプセル本体は通
気性を有する多孔質のセラミツクスで形成された
ことを特徴とするセラミツクス成型体焼成用カプ
セル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP174585U JPH0141118Y2 (ja) | 1985-01-09 | 1985-01-09 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP174585U JPH0141118Y2 (ja) | 1985-01-09 | 1985-01-09 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61119099U JPS61119099U (ja) | 1986-07-26 |
| JPH0141118Y2 true JPH0141118Y2 (ja) | 1989-12-06 |
Family
ID=30474767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP174585U Expired JPH0141118Y2 (ja) | 1985-01-09 | 1985-01-09 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0141118Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-01-09 JP JP174585U patent/JPH0141118Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61119099U (ja) | 1986-07-26 |
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