JPH0141938B2 - - Google Patents
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- JPH0141938B2 JPH0141938B2 JP58246646A JP24664683A JPH0141938B2 JP H0141938 B2 JPH0141938 B2 JP H0141938B2 JP 58246646 A JP58246646 A JP 58246646A JP 24664683 A JP24664683 A JP 24664683A JP H0141938 B2 JPH0141938 B2 JP H0141938B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- sample
- phase
- magnetic resonance
- nuclear magnetic
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 claims description 10
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 7
- 230000009466 transformation Effects 0.000 claims description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- 238000000655 nuclear magnetic resonance spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
- G01R33/48—NMR imaging systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、核磁気共鳴測定方法に関し、特に固
体試料を測定する際に用いて好適な測定方法に関
する。
体試料を測定する際に用いて好適な測定方法に関
する。
核磁気共鳴装置においては、通常、第1図aに
示すように試料に90゜パルス(観測核の磁化を90゜
倒すための高周波パルス)を照射し、その直後に
生じる自由誘導減衰信号(FID信号)を検出し、
フーリエ変換することにより試料のNMRスペク
トルを得ている。その際、90゜パルスの立ち下が
り部分で多少のリークLが発生することは避けら
れず、その間FID信号の検出(サンプリング)を
行うことができない。試料が液体の場合は、FID
信号の減衰が比較的ゆつくりで長時間発生してい
るため、そのリークが収まつてからFID信号をサ
ンプリングしても影響が少ないが、試料が固体の
場合、FID信号の減衰が早いため、リークが収ま
つてから観測したのでは、FID信号の前半のかな
りの部分がサンプリングできないことになり、フ
ーリエ変換後得られるスペクトルにはデータ欠落
による影響が大きく現われてしまうし、欠落をな
くそうとするとリークによる影響を大きく受けた
データとなり、フーリエ変換後得られるスペクト
ルにはリークによる影響が極めて大きく現われる
結果となる。
示すように試料に90゜パルス(観測核の磁化を90゜
倒すための高周波パルス)を照射し、その直後に
生じる自由誘導減衰信号(FID信号)を検出し、
フーリエ変換することにより試料のNMRスペク
トルを得ている。その際、90゜パルスの立ち下が
り部分で多少のリークLが発生することは避けら
れず、その間FID信号の検出(サンプリング)を
行うことができない。試料が液体の場合は、FID
信号の減衰が比較的ゆつくりで長時間発生してい
るため、そのリークが収まつてからFID信号をサ
ンプリングしても影響が少ないが、試料が固体の
場合、FID信号の減衰が早いため、リークが収ま
つてから観測したのでは、FID信号の前半のかな
りの部分がサンプリングできないことになり、フ
ーリエ変換後得られるスペクトルにはデータ欠落
による影響が大きく現われてしまうし、欠落をな
くそうとするとリークによる影響を大きく受けた
データとなり、フーリエ変換後得られるスペクト
ルにはリークによる影響が極めて大きく現われる
結果となる。
そこで、これを解消するため、ソリツドエコー
法と呼ばれる測定法が用いられている。この方法
は、第1図bに示すように、90゜パルスを照射し
てから試料によつて決まる所定期間τ後に再結像
パルス(例えば90゜パルス)を照射し、その再結
像パルスを照射してからτ後に発生するエコー信
号をサンプリングし、このエコー信号をフーリエ
変換してスペクトルを得るものである。この方法
によれば、サンプリングまでにτの期間が挿入さ
れるため、リークによる影響を受けることを少な
くすることができる。
法と呼ばれる測定法が用いられている。この方法
は、第1図bに示すように、90゜パルスを照射し
てから試料によつて決まる所定期間τ後に再結像
パルス(例えば90゜パルス)を照射し、その再結
像パルスを照射してからτ後に発生するエコー信
号をサンプリングし、このエコー信号をフーリエ
変換してスペクトルを得るものである。この方法
によれば、サンプリングまでにτの期間が挿入さ
れるため、リークによる影響を受けることを少な
くすることができる。
ところが、この方法を用いても、τが短い場
合、リークによるエコー信号の歪みが発生してし
まうことは避けられない。そこで、近時、第1図
cに示すように、最初の90゜パルスの中に含まれ
る高周波の位相が0゜である測定と、第1図dに示
すように同じく180゜である測定を行うことによ
り、位相が反転したエコー信号Ec,Edを得、こ
の2つのエコー信号の差を求めることが提案され
ている。この提案方法によれば、位相が同じであ
るリークによる信号は差をとることによつて除去
されるため、上述した問題点を解決することがで
きる。
合、リークによるエコー信号の歪みが発生してし
まうことは避けられない。そこで、近時、第1図
cに示すように、最初の90゜パルスの中に含まれ
る高周波の位相が0゜である測定と、第1図dに示
すように同じく180゜である測定を行うことによ
り、位相が反転したエコー信号Ec,Edを得、こ
の2つのエコー信号の差を求めることが提案され
ている。この提案方法によれば、位相が同じであ
るリークによる信号は差をとることによつて除去
されるため、上述した問題点を解決することがで
きる。
しかしながら、多くの核磁気共鳴装置にとつ
て、FID信号を加算して積算する機能は標準的に
装備しているものの、減算を行う機能は備えてお
らる、新たに減算機能を付加することは、コンピ
ユータプログラムの改造等多大な手間及び費用が
かかつてしまうことになる。
て、FID信号を加算して積算する機能は標準的に
装備しているものの、減算を行う機能は備えてお
らる、新たに減算機能を付加することは、コンピ
ユータプログラムの改造等多大な手間及び費用が
かかつてしまうことになる。
本発明は、この点に鑑みてなされたものであ
り、核磁気共鳴装置が通常備えている加算機能を
用いてリークによる影響を除去することのできる
測定方法を提供することを目的としている。
り、核磁気共鳴装置が通常備えている加算機能を
用いてリークによる影響を除去することのできる
測定方法を提供することを目的としている。
本発明は、試料に観測核の磁化を90゜倒すため
の高周波パルスを照射してから所定時間τ後に再
結像パルスを照射し、該再結像パルスを照射して
からτ後に発生するエコー信号を検出するように
した核磁気共鳴測定方法において、最初に照射す
る90゜パルスの高周波位相が等しく、それに続い
て照射される再結像パルスの高周波位相が互いに
180゜異なる2種の測定を同じ回数行い、得られた
エコー信号を積算した後フーリエ変換するように
したことを特徴としている。以下、図面を用いて
本発明の一実施例を詳説する。
の高周波パルスを照射してから所定時間τ後に再
結像パルスを照射し、該再結像パルスを照射して
からτ後に発生するエコー信号を検出するように
した核磁気共鳴測定方法において、最初に照射す
る90゜パルスの高周波位相が等しく、それに続い
て照射される再結像パルスの高周波位相が互いに
180゜異なる2種の測定を同じ回数行い、得られた
エコー信号を積算した後フーリエ変換するように
したことを特徴としている。以下、図面を用いて
本発明の一実施例を詳説する。
第2図は、本発明にかかる方法を実施するため
の核磁気共鳴装置の一例を示す。図において1は
静磁場を発生するための磁石、2は該静磁場内に
配置される試料管、3は試料管2の周囲に配置さ
れる試料コイルである。4は観測核の共鳴周波数
を持つ高周波を発生する発振器で、該発振器で生
成された高周波は、4位相回路5において0゜、
90゜、180゜、270゜と90゜ずつ異なる4種の位相が与
えられ、その内の1つが選択回路6によつて取出
され、ゲート7を介して高周波パルスとして前記
試料コイル3へ送られて試料に照射される。
の核磁気共鳴装置の一例を示す。図において1は
静磁場を発生するための磁石、2は該静磁場内に
配置される試料管、3は試料管2の周囲に配置さ
れる試料コイルである。4は観測核の共鳴周波数
を持つ高周波を発生する発振器で、該発振器で生
成された高周波は、4位相回路5において0゜、
90゜、180゜、270゜と90゜ずつ異なる4種の位相が与
えられ、その内の1つが選択回路6によつて取出
され、ゲート7を介して高周波パルスとして前記
試料コイル3へ送られて試料に照射される。
該高周波パルス照射にもとづく核磁気共鳴によ
つて試料コイル3に誘起された共鳴信号は、ゲー
ト8を介して復調回路9へ送られ、該復調回路9
において前記発振器4から送られる高周波に基づ
いて復調が行われる。復調によつて得られたFID
信号は、A−D変換器10によつてデジタル信号
に変換された後積算回路11へ送られて積算され
る。該積算回路11において所定回数積算されて
得られた積算データは、コンピユータ12へ送ら
れてフーリエ変換処理を受ける。13は予め定め
られたシーケンスに従つて選択回路6、ゲート
7,8、A−D変換器10の動作を制御するパル
スプログラマである。
つて試料コイル3に誘起された共鳴信号は、ゲー
ト8を介して復調回路9へ送られ、該復調回路9
において前記発振器4から送られる高周波に基づ
いて復調が行われる。復調によつて得られたFID
信号は、A−D変換器10によつてデジタル信号
に変換された後積算回路11へ送られて積算され
る。該積算回路11において所定回数積算されて
得られた積算データは、コンピユータ12へ送ら
れてフーリエ変換処理を受ける。13は予め定め
られたシーケンスに従つて選択回路6、ゲート
7,8、A−D変換器10の動作を制御するパル
スプログラマである。
上述の如き構成において、測定は偶数回例えば
2回行われ、パルスプログラマ13の制御で、2
回の測定においてゲート7は第3図aに示すタイ
ミングでON−OFFされ、ゲート8とA−D変換
器10は第3図bのタイミングでON−OFF及び
サンプリングを行う。従つて、試料には第1図
b,c,dと同様に2つの90゜パルスが間隔τで
照射されるが、本発明ではこの時、1回目の測定
と2回目の測定で再結像パルス内の高周波の位相
を180゜異ならせている。即ち、選択回路5から取
出される高周波の位相は、例えば第3図cに示す
ように、1回目の測定の際は第1パルスの位相が
0゜で再結像パルスの位相が90゜、2回目の測定の
際は第3図dに示すように、第1パルスの位相が
0゜で再結像パルスの位相が270゜となるように切替
えられる。従つて、試料には、1回目の測定では
第3図eに示すような高周波パルスが照射され、
2回目の測定では第3図fに示すような高周波パ
ルスが照射されることになる。第3図e,fから
リーク部分Lの位相が逆転していることが分る。
しかしながら、第1パルスの位相は2回の測定で
同じため、エコー信号の位相は2回の測定で同じ
である。従つて、積算回路11において2回の測
定で得られたエコー信号を積算回路11において
加算すれば、位相の同じエコー信号成分は2倍に
なり、2回の測定で位相が逆転しているリークに
より影響を受けた信号成分はキヤンセルされる結
果となる。従つて、τの小さな試料であつてもリ
ークによる悪影響を除くことが可能となる。しか
も、積算機構は従来の加算によるもので良く、減
算を行うように改造する必要はない。
2回行われ、パルスプログラマ13の制御で、2
回の測定においてゲート7は第3図aに示すタイ
ミングでON−OFFされ、ゲート8とA−D変換
器10は第3図bのタイミングでON−OFF及び
サンプリングを行う。従つて、試料には第1図
b,c,dと同様に2つの90゜パルスが間隔τで
照射されるが、本発明ではこの時、1回目の測定
と2回目の測定で再結像パルス内の高周波の位相
を180゜異ならせている。即ち、選択回路5から取
出される高周波の位相は、例えば第3図cに示す
ように、1回目の測定の際は第1パルスの位相が
0゜で再結像パルスの位相が90゜、2回目の測定の
際は第3図dに示すように、第1パルスの位相が
0゜で再結像パルスの位相が270゜となるように切替
えられる。従つて、試料には、1回目の測定では
第3図eに示すような高周波パルスが照射され、
2回目の測定では第3図fに示すような高周波パ
ルスが照射されることになる。第3図e,fから
リーク部分Lの位相が逆転していることが分る。
しかしながら、第1パルスの位相は2回の測定で
同じため、エコー信号の位相は2回の測定で同じ
である。従つて、積算回路11において2回の測
定で得られたエコー信号を積算回路11において
加算すれば、位相の同じエコー信号成分は2倍に
なり、2回の測定で位相が逆転しているリークに
より影響を受けた信号成分はキヤンセルされる結
果となる。従つて、τの小さな試料であつてもリ
ークによる悪影響を除くことが可能となる。しか
も、積算機構は従来の加算によるもので良く、減
算を行うように改造する必要はない。
尚、上記2回の測定を1サイクルとして測定を
繰返し行つて積算を繰返せば、積算効果が更にあ
がることは言うまでもない。その際、再結像パル
スの位相を180゜異ならせた2種の測定を必ずしも
交互に行う必要はなく、要するに2種の測定を同
じ回数行つて得られたエコー信号を積算すれば良
い。
繰返し行つて積算を繰返せば、積算効果が更にあ
がることは言うまでもない。その際、再結像パル
スの位相を180゜異ならせた2種の測定を必ずしも
交互に行う必要はなく、要するに2種の測定を同
じ回数行つて得られたエコー信号を積算すれば良
い。
又、再結像パルスとしては、90゜パルスに限ら
ず45゜パルスや180゜パルスを使用することが可能
であるし、位相も90゜と270゜ではなく、0゜と180゜を
選んでも良く、要するに2種の測定で再結像パル
スの位相が180゜異なれば良い。
ず45゜パルスや180゜パルスを使用することが可能
であるし、位相も90゜と270゜ではなく、0゜と180゜を
選んでも良く、要するに2種の測定で再結像パル
スの位相が180゜異なれば良い。
又、厳密に言えば、第1のパルスの立ち下がり
部分にもリークが生じているが、第1図及び第3
図では省略されている。
部分にもリークが生じているが、第1図及び第3
図では省略されている。
第1図は従来の問題点を説明するための図、第
2図は本発明にかかる方法を実施するための核磁
気共鳴装置の一例を示す図、第3図は第2図の装
置の動作を説明するための図である。 1:磁石、2:試料管、3:試料コイル、4:
高周波発振器、5:4位相回路、6:選択回路、
7,8:ゲート、9:復調回路、10:A−D変
換器、11:積算回路、12:コンピユータ、1
3:パルスプログラマ。
2図は本発明にかかる方法を実施するための核磁
気共鳴装置の一例を示す図、第3図は第2図の装
置の動作を説明するための図である。 1:磁石、2:試料管、3:試料コイル、4:
高周波発振器、5:4位相回路、6:選択回路、
7,8:ゲート、9:復調回路、10:A−D変
換器、11:積算回路、12:コンピユータ、1
3:パルスプログラマ。
Claims (1)
- 1 試料に観測核の磁化を90゜倒すための高周波
パルスを照射してから所定時間τ後に再結像パル
スを照射し、該再結像パルスを照射してからτ後
に発生するエコー信号を検出するようにした核磁
気共鳴測定方法において、最初に照射する90゜パ
ルスの高周波位相が等しく、それに続いて照射さ
れる再結像パルスの高周波位相が互いに180゜異な
る2種の測定を夫々同じ回数行い、得られたエコ
ー信号を積算した後フーリエ変換するようにした
ことを特徴とする核磁気共鳴測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24664683A JPS60140148A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 核磁気共鳴測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24664683A JPS60140148A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 核磁気共鳴測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60140148A JPS60140148A (ja) | 1985-07-25 |
| JPH0141938B2 true JPH0141938B2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=17151504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24664683A Granted JPS60140148A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 核磁気共鳴測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60140148A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB8621322D0 (en) * | 1986-09-04 | 1986-10-15 | Mcdonald P J | Imaging solids |
-
1983
- 1983-12-28 JP JP24664683A patent/JPS60140148A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| JOURNAL OF MAGNETIC RESONANCE=1977 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60140148A (ja) | 1985-07-25 |
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