JPH0143294B2 - - Google Patents
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- JPH0143294B2 JPH0143294B2 JP55143448A JP14344880A JPH0143294B2 JP H0143294 B2 JPH0143294 B2 JP H0143294B2 JP 55143448 A JP55143448 A JP 55143448A JP 14344880 A JP14344880 A JP 14344880A JP H0143294 B2 JPH0143294 B2 JP H0143294B2
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- JP
- Japan
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- output
- beams
- detector
- timer
- signal
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K15/00—Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers
- G06K15/02—Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers
- G06K15/12—Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers by photographic printing, e.g. by laser printers
- G06K15/1238—Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers by photographic printing, e.g. by laser printers simultaneously exposing more than one point
- G06K15/1257—Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers by photographic printing, e.g. by laser printers simultaneously exposing more than one point on more than one main scanning line
- G06K15/1261—Arrangements for producing a permanent visual presentation of the output data, e.g. computer output printers using printers by photographic printing, e.g. by laser printers simultaneously exposing more than one point on more than one main scanning line using an array of light sources
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D15/00—Component parts of recorders for measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
- G01D15/10—Heated recording elements acting on heatsensitive layers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D9/00—Recording measured values
- G01D9/42—Recording indications of measuring instruments by photographic means, e.g. of counters
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は複数のビームにより記録部材上を走査
して該記録部材上にビーム照射跡を記録するビー
ム記録装置に関するものである。
して該記録部材上にビーム照射跡を記録するビー
ム記録装置に関するものである。
ビームにより記録媒体上に情報の記録を行う従
来の記録装置にあつては、単一ビームによつて順
次記録媒体上を走査して記録を行うものである
為、高速で印字を行なわせようとする場合、ビー
ムを変調する為の情報信号の転送速度を大きくす
る必要がある。
来の記録装置にあつては、単一ビームによつて順
次記録媒体上を走査して記録を行うものである
為、高速で印字を行なわせようとする場合、ビー
ムを変調する為の情報信号の転送速度を大きくす
る必要がある。
また、主走査を速くしなければならないので主
走査に回転多面鏡を用いるときには、その回転数
が数万rpmをも必要とする場合があり、高速記録
装置とするにはその構造上自づから限界がある。
走査に回転多面鏡を用いるときには、その回転数
が数万rpmをも必要とする場合があり、高速記録
装置とするにはその構造上自づから限界がある。
かかる欠点を取り除く為に夫々記録信号により
変調された複数のビームにより記録媒体上を同時
に走査するものが知られている。
変調された複数のビームにより記録媒体上を同時
に走査するものが知られている。
この場合、第１図Ａに示す如く、ビームＢ１〜
Ｂ４をビームの走査方向SLに対して直角と成る
如く配列しておくならば、任意の１つのビームの
位置を検出することにより全てのビームの位置を
検出出来るので、ビームの変調開始等の制御は極
めて容易に行なえるものである。
Ｂ４をビームの走査方向SLに対して直角と成る
如く配列しておくならば、任意の１つのビームの
位置を検出することにより全てのビームの位置を
検出出来るので、ビームの変調開始等の制御は極
めて容易に行なえるものである。
しかしながら、この様に走査方向SLに対して
直角に配列するとビーム間隔そのものを記録媒体
上に形成される画素間隔と等しくなければなら
ず、画素間隔がビーム間隔によつて支配されてし
まうものである。
直角に配列するとビーム間隔そのものを記録媒体
上に形成される画素間隔と等しくなければなら
ず、画素間隔がビーム間隔によつて支配されてし
まうものである。
これに対し第１図Ｂに示す如く、ビームを走査
方向と直角な直線Ｌ−L′に対してθだけ傾ける
と、画素間隔PSよりも広いビーム間隔Peを得る
ことが出来るものである。この場合は、前述した
様にビーム間隔Peにかかわらず、任意の画素間
隔PSが得られるが、走査方向のビームの走査、
開始位置を夫々のビームについて変えなければな
らない。このために記録媒体外にビーム検出器を
設け走査に先だち、このビーム検出器へ第１のビ
ームを入射することによつて得られた信号を第１
のビームの走査開始信号とし、それに続くビーム
の走査開始信号は第１のビームの走査開始信号に
より起動されるタイマによつて得る如くの方法が
考えられる。しかし、このタイマを用いた走査開
始信号はタイマの精度等が、走査開始位置を左右
してしまい、信頼性に欠ける点がある。
方向と直角な直線Ｌ−L′に対してθだけ傾ける
と、画素間隔PSよりも広いビーム間隔Peを得る
ことが出来るものである。この場合は、前述した
様にビーム間隔Peにかかわらず、任意の画素間
隔PSが得られるが、走査方向のビームの走査、
開始位置を夫々のビームについて変えなければな
らない。このために記録媒体外にビーム検出器を
設け走査に先だち、このビーム検出器へ第１のビ
ームを入射することによつて得られた信号を第１
のビームの走査開始信号とし、それに続くビーム
の走査開始信号は第１のビームの走査開始信号に
より起動されるタイマによつて得る如くの方法が
考えられる。しかし、このタイマを用いた走査開
始信号はタイマの精度等が、走査開始位置を左右
してしまい、信頼性に欠ける点がある。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、複数
のビームにより記録を行なう際に、各ビームの位
置信号の検出を簡単かつ正確にできる様に構成し
たビーム記録装置を提供するものである。
のビームにより記録を行なう際に、各ビームの位
置信号の検出を簡単かつ正確にできる様に構成し
たビーム記録装置を提供するものである。
以下、図面にしたがつて本発明の一実施例を説
明する。
明する。
第２図は本発明による記録装置を示す１実施例
であり、１は例えば複数個の半導体レーザーを一
列に配置したアレーザのごとき光源ユニツトであ
る。２は、前記光源ユニツトからの発散光を平行
ビームL1，L2，L3，L4とする集光レンズである。
３は前述した平行ビームL1，L2，L3，L4を感光
ドラム５上に走査させる回転多面鏡である。４は
回転多面鏡によつて走査された走査ビームを感光
ドラム上に結像させるFθレンズである。６は複
数の走査ビームを検出器７へ導く為に走査ライン
の先端に配置した反射鏡である。８はビームの位
置を正確に検出するための遮光板であり、ビーム
が遮光板８の間隙を横切る時、遮断されていた光
が急にビーム検出器７に照射され、このビーム照
射に応じた電気出力をビーム検出器７は出力する
ものである。ビーム検出器７の出力は第３図のご
とくその出力を増幅器１０で増幅し、更にその出
力をスライサ１１でスライスする。スライスレベ
ルはポテンシヨメータ１２で決定する。そしてこ
のスライス出力を端子１３から出力するものであ
る。
であり、１は例えば複数個の半導体レーザーを一
列に配置したアレーザのごとき光源ユニツトであ
る。２は、前記光源ユニツトからの発散光を平行
ビームL1，L2，L3，L4とする集光レンズである。
３は前述した平行ビームL1，L2，L3，L4を感光
ドラム５上に走査させる回転多面鏡である。４は
回転多面鏡によつて走査された走査ビームを感光
ドラム上に結像させるFθレンズである。６は複
数の走査ビームを検出器７へ導く為に走査ライン
の先端に配置した反射鏡である。８はビームの位
置を正確に検出するための遮光板であり、ビーム
が遮光板８の間隙を横切る時、遮断されていた光
が急にビーム検出器７に照射され、このビーム照
射に応じた電気出力をビーム検出器７は出力する
ものである。ビーム検出器７の出力は第３図のご
とくその出力を増幅器１０で増幅し、更にその出
力をスライサ１１でスライスする。スライスレベ
ルはポテンシヨメータ１２で決定する。そしてこ
のスライス出力を端子１３から出力するものであ
る。
遮光板８とビームの位置関係を第４図に示す。
遮光板８の間隔dsは、ビーム間スペースdaより小
さくする必要がある。ビーム間スペースdaとはビ
ームの走査方向の径をdd、隣り合うビームの中心
間の走査方向の距離をdbとするとda＝db−ddで表
わされる。ds＜daの条件は個々のビームを分離す
るのに必要である。また遮光板８の遮光部の大き
さはすべてのビームを遮光するのに充分な大きさ
を持つ必要がある。これら検出器７に一つのビー
ムのみを入射させるための条件である。つまり検
出器７はすべてのビームを受光するのに充分な大
きさの開口を持つため、遮光板で複数ビームのう
ちの１つのみを選択しなければ、同時に２つ以上
のビームが検出器７に入射し検出器７はその入射
光を積分してしまい、その結果検出器７の出力信
号を見ただけではその出力がどのビームのものか
判断できなくなるのである。
遮光板８の間隔dsは、ビーム間スペースdaより小
さくする必要がある。ビーム間スペースdaとはビ
ームの走査方向の径をdd、隣り合うビームの中心
間の走査方向の距離をdbとするとda＝db−ddで表
わされる。ds＜daの条件は個々のビームを分離す
るのに必要である。また遮光板８の遮光部の大き
さはすべてのビームを遮光するのに充分な大きさ
を持つ必要がある。これら検出器７に一つのビー
ムのみを入射させるための条件である。つまり検
出器７はすべてのビームを受光するのに充分な大
きさの開口を持つため、遮光板で複数ビームのう
ちの１つのみを選択しなければ、同時に２つ以上
のビームが検出器７に入射し検出器７はその入射
光を積分してしまい、その結果検出器７の出力信
号を見ただけではその出力がどのビームのものか
判断できなくなるのである。
遮光板８の間隔dsと検出器７の出力関係を第５
図に示す。第５図ａは間隔dsがビーム径ddとほぼ
等しいかやや大きく、かつビーム間スペースdaよ
り小さい場合で各ビームが完全に分離されてい
る。第５図ｂは遮光板間隔dsがビームの中心間の
距離dbより大きい時の出力波形例である。第５図
Ｃは遮光板間隔dsがビーム径ddより小さい時で各
ビームは完全に分離されるが検出器７へ入射する
ビーム量が少ないことにより検出器７の面積分の
効果が利用できないので出力が減少し、検出誤差
を生じる恐れがある。第５図ａのような波形をス
ライサ１１でスライスしたものが第６図ａであ
る。この波形を分配器で分配すると第６図ｂ〜ｅ
の波形が得られる。
図に示す。第５図ａは間隔dsがビーム径ddとほぼ
等しいかやや大きく、かつビーム間スペースdaよ
り小さい場合で各ビームが完全に分離されてい
る。第５図ｂは遮光板間隔dsがビームの中心間の
距離dbより大きい時の出力波形例である。第５図
Ｃは遮光板間隔dsがビーム径ddより小さい時で各
ビームは完全に分離されるが検出器７へ入射する
ビーム量が少ないことにより検出器７の面積分の
効果が利用できないので出力が減少し、検出誤差
を生じる恐れがある。第５図ａのような波形をス
ライサ１１でスライスしたものが第６図ａであ
る。この波形を分配器で分配すると第６図ｂ〜ｅ
の波形が得られる。
分配器の構成を第７図に示す。
第３図の端子１３からのスライス出力（波形は
第６図ａ）が端子１４に入る。この出力はアンド
ゲート１５〜１８に入ると共にビームの番号をカ
ウントする４進カウンタ１９のクロツクCKに入
る。カウンタ１９はあらかじめリセツト信号でリ
セツトされその出力はゼロになつている、スライ
ス出力がクロツクCKへ入ることによるカウンタ
の出力をデコーダ２０でデコードすると第１のス
ライス出力によりCO端子のみ出力がハイとなり
アンドゲート１５からパルスが出力され出力端子
２１より出る。以後パルスが端子１４から入るご
とにカウンター１９はアツプしデコーダ２０の出
力がC1からC3へと変化しパルス出力も端子２２
から２４へと変つていく。かくのごとく一連のパ
ルスが端子２１〜２４に順番に分配されていく。
第６図ａ）が端子１４に入る。この出力はアンド
ゲート１５〜１８に入ると共にビームの番号をカ
ウントする４進カウンタ１９のクロツクCKに入
る。カウンタ１９はあらかじめリセツト信号でリ
セツトされその出力はゼロになつている、スライ
ス出力がクロツクCKへ入ることによるカウンタ
の出力をデコーダ２０でデコードすると第１のス
ライス出力によりCO端子のみ出力がハイとなり
アンドゲート１５からパルスが出力され出力端子
２１より出る。以後パルスが端子１４から入るご
とにカウンター１９はアツプしデコーダ２０の出
力がC1からC3へと変化しパルス出力も端子２２
から２４へと変つていく。かくのごとく一連のパ
ルスが端子２１〜２４に順番に分配されていく。
複数個のレーザのうち１個でも光量が低下した
り不良になつたものがあることを検出するのがタ
イマＡ２５とアンド回路２６である。タイマＡ２
５は第１番目のビームのパルスで起動し、アンド
回路２６へハイ信号を出力し第４番目のビームが
入射した後オフする様に時間設定されている。第
４番目のビームが入射するとアンドゲート１８の
出力がアンド回路２６へ入力し、タイマＡの出力
とアンド回路２６を作動し、アンド回路２６の出
力によりタイマＢ２７を記動する。
り不良になつたものがあることを検出するのがタ
イマＡ２５とアンド回路２６である。タイマＡ２
５は第１番目のビームのパルスで起動し、アンド
回路２６へハイ信号を出力し第４番目のビームが
入射した後オフする様に時間設定されている。第
４番目のビームが入射するとアンドゲート１８の
出力がアンド回路２６へ入力し、タイマＡの出力
とアンド回路２６を作動し、アンド回路２６の出
力によりタイマＢ２７を記動する。
このタイムチヤートを第８図に示す。第８図ａ
はビームＢ１の検出波形、ｂはビームＢ４の検出
波形、ＣはビームＢ１の入射により起動するタイ
マＡの出力で、タイマＡが出力中にビームＢ４が
検出器７へ入射すれば波形ｄがアンド回路２６よ
り出力されるその波形でタイマＢ２７をトリガし
タイマＢ２７を起動する。タイマＢは１走査周期
よりやや長い時定数を持つたタイマでアンド回路
２６から最後のビームを正規の時間内に検出した
ことを示すパルスが出力されたのを１走査周期の
間ホールドし、READY信号として装置へビーム
が正常に働らいていることを伝達し、装置に平常
の動作を行なわせる。
はビームＢ１の検出波形、ｂはビームＢ４の検出
波形、ＣはビームＢ１の入射により起動するタイ
マＡの出力で、タイマＡが出力中にビームＢ４が
検出器７へ入射すれば波形ｄがアンド回路２６よ
り出力されるその波形でタイマＢ２７をトリガし
タイマＢ２７を起動する。タイマＢは１走査周期
よりやや長い時定数を持つたタイマでアンド回路
２６から最後のビームを正規の時間内に検出した
ことを示すパルスが出力されたのを１走査周期の
間ホールドし、READY信号として装置へビーム
が正常に働らいていることを伝達し、装置に平常
の動作を行なわせる。
つまり、検出器７でビームを検出する度にカウ
ンタ１９が歩進され、デコーダ２０の出力がＣ０
からＣ３へビームの入射に従つて移動する。ここ
において、複数個のレーザのうち１個でも光量が
低下したり不良になつたものがあると、所定のビ
ーム数の入射が検出器７で確認されず、またはス
ライスレベルより低いことにより分配器の入力端
子１４への入力パルスの数がビームの所定数（本
実施例では４）より少なくなる。従つて全てのビ
ームが検出器７を通過した後においてもデコーダ
Ｃ３の出力は得られず、また、これによりアンド
ゲート１８も動作しないのでタイマＡ２５の動作
中にアンド回路２６へ信号がアンドゲート１８か
ら入力されず、タイマＢ２７も起動されない。以
上のようにビーム検出器７に最初に入射したビー
ムから順次デコーダ出力を移動させ所定数の入射
があつてはじめてタイマＢ２７が起動される様に
なつているので、前述した如くのビームの不良が
あつた場合には所定数の入射が確認されずタイマ
Ｂ２７が起動されずREADY信号が発生されな
い。このことにより、ビームの不良を検出するこ
とができる。
ンタ１９が歩進され、デコーダ２０の出力がＣ０
からＣ３へビームの入射に従つて移動する。ここ
において、複数個のレーザのうち１個でも光量が
低下したり不良になつたものがあると、所定のビ
ーム数の入射が検出器７で確認されず、またはス
ライスレベルより低いことにより分配器の入力端
子１４への入力パルスの数がビームの所定数（本
実施例では４）より少なくなる。従つて全てのビ
ームが検出器７を通過した後においてもデコーダ
Ｃ３の出力は得られず、また、これによりアンド
ゲート１８も動作しないのでタイマＡ２５の動作
中にアンド回路２６へ信号がアンドゲート１８か
ら入力されず、タイマＢ２７も起動されない。以
上のようにビーム検出器７に最初に入射したビー
ムから順次デコーダ出力を移動させ所定数の入射
があつてはじめてタイマＢ２７が起動される様に
なつているので、前述した如くのビームの不良が
あつた場合には所定数の入射が確認されずタイマ
Ｂ２７が起動されずREADY信号が発生されな
い。このことにより、ビームの不良を検出するこ
とができる。
第９図は本発明による記録装置のビーム位置検
出と情報信号の処理を示す回路ブロツクを示すも
のである。
出と情報信号の処理を示す回路ブロツクを示すも
のである。
図においてCPU１７の磁気テープ８０等から
読出された文字コード信号は順次ページメモリ８
１に格納される。このページメモリ８１はアドレ
ス回路８２の制御のもとで逐次文字コード信号を
記憶するものであり、所定量の文字コード信号
（記録媒体の一頁に相当する量）を記憶したら制
御回路８３により記憶モードを停止して読出しモ
ードにうつる。
読出された文字コード信号は順次ページメモリ８
１に格納される。このページメモリ８１はアドレ
ス回路８２の制御のもとで逐次文字コード信号を
記憶するものであり、所定量の文字コード信号
（記録媒体の一頁に相当する量）を記憶したら制
御回路８３により記憶モードを停止して読出しモ
ードにうつる。
このページメモリ８１からの情報の読出しは行
単位で行なわれ、読出された文字コード信号は順
次文字発生器（CG）８４に印加されるものであ
る。
単位で行なわれ、読出された文字コード信号は順
次文字発生器（CG）８４に印加されるものであ
る。
この文字発生器８４は文字コード信号に対応し
たドツトマトリツクス状の文字を記憶しているも
のであり、文字コード信号と列を指示する信号を
印加することにより、該列に属するドツト信号を
出力線８５上に導出するものである。なお実施例
においては説明を簡単にするため出力線８５を４
本しか示さなかつたが、ビームＢ１〜Ｂ４の本数
を更にふやし、これに応じて出力線の数を増やす
ことが出来るものである。
たドツトマトリツクス状の文字を記憶しているも
のであり、文字コード信号と列を指示する信号を
印加することにより、該列に属するドツト信号を
出力線８５上に導出するものである。なお実施例
においては説明を簡単にするため出力線８５を４
本しか示さなかつたが、ビームＢ１〜Ｂ４の本数
を更にふやし、これに応じて出力線の数を増やす
ことが出来るものである。
この様にして出力線８５上に導出したドツト信
号は順次ラインバツフア８６〜８９に格納する。
号は順次ラインバツフア８６〜８９に格納する。
このラインバツフアは１つの文字行を構成する
複数の走査線の１つを構成する為のドツト信号、
換言するならば１走査線相当分のドツト信号を格
納するものである。
複数の走査線の１つを構成する為のドツト信号、
換言するならば１走査線相当分のドツト信号を格
納するものである。
一方、前述の如きビーム検出器７の出力は第７
図に示された分配器９０に印加され、出力線９１
−１〜９１−４上にタイミング信号を出力する。
図に示された分配器９０に印加され、出力線９１
−１〜９１−４上にタイミング信号を出力する。
９２で示すのはクロツク信号を導出する水晶発
振器であり、かかるクロツク信号は夫々、印加さ
れた周波数を１／Ｐに逓降する逓降器９３に印加
されている。
振器であり、かかるクロツク信号は夫々、印加さ
れた周波数を１／Ｐに逓降する逓降器９３に印加
されている。
かかる逓降器９３は夫々タイミング信号が印加
されて始めて逓降動作を開始するもので、出力線
９１−１〜９１−４に第６図ｂ〜ｅに示す如きタ
イミング信号が導出されているとすると、逓降器
９３−１〜９３−４からは夫々第６図ｆ〜ｉで示
す如き画像クロツク信号を形成するものである。
されて始めて逓降動作を開始するもので、出力線
９１−１〜９１−４に第６図ｂ〜ｅに示す如きタ
イミング信号が導出されているとすると、逓降器
９３−１〜９３−４からは夫々第６図ｆ〜ｉで示
す如き画像クロツク信号を形成するものである。
かかる画像クロツク信号は前記ラインバツフア
８６〜８９に夫々読出しクロツクとして印加され
るものであるので、ラインバツフア８６〜８９に
格納されたドツト信号はクロツク信号の印加に応
じて順次読出されるものである。
８６〜８９に夫々読出しクロツクとして印加され
るものであるので、ラインバツフア８６〜８９に
格納されたドツト信号はクロツク信号の印加に応
じて順次読出されるものである。
この様にして読出されたドツト信号は夫々レー
ザ光源変調駆動回路９４−１〜９４−４に送り、
アレーレーザ１を変調駆動し、第１図に示す様に
変調ビームL1，L2，L3，L4が出射する。このマ
ルチビームによつて感光ドラム５に情報を記録す
る。このようにしてラインバツフア８６〜８９に
格納されている全てのドツト信号の読出しが完了
したら、次の行情報をページメモリ８１から読出
すものである。
ザ光源変調駆動回路９４−１〜９４−４に送り、
アレーレーザ１を変調駆動し、第１図に示す様に
変調ビームL1，L2，L3，L4が出射する。このマ
ルチビームによつて感光ドラム５に情報を記録す
る。このようにしてラインバツフア８６〜８９に
格納されている全てのドツト信号の読出しが完了
したら、次の行情報をページメモリ８１から読出
すものである。
また、本実施例においては検出器７は１個であ
つたが複数個の検出器を設けその出力を一つにま
とめても同様の効果を得られる。
つたが複数個の検出器を設けその出力を一つにま
とめても同様の効果を得られる。
以上述べた様に本実施例においては１個の検出
器で複数のビームの位置を検出しているが、検出
器の前に遮光板を設け検出器には一度に１つのビ
ームしか入らないようにしている。従つて、検出
器の出力信号に２つ以上のビーム出力が重畳され
て出てくることが無いので、１個のスライサでス
ライスすることにより容易に波形整形できる。
器で複数のビームの位置を検出しているが、検出
器の前に遮光板を設け検出器には一度に１つのビ
ームしか入らないようにしている。従つて、検出
器の出力信号に２つ以上のビーム出力が重畳され
て出てくることが無いので、１個のスライサでス
ライスすることにより容易に波形整形できる。
また、スライス後にパルスを分配しているが各
パルスはそれぞれのビームを検出しスライスした
ものであるから第１のビームのみ検出しあとのビ
ームの位置信号はタイマーで合成して作るような
方法に比べ位置検出精度が高い。加えて、スライ
サは１個であるので、スライスレベルが温度変化
等で変化した時、すべてのビームのスライス点が
一様に変化する。このため画像上でその変化が同
期ずれとして目につくことは無い。
パルスはそれぞれのビームを検出しスライスした
ものであるから第１のビームのみ検出しあとのビ
ームの位置信号はタイマーで合成して作るような
方法に比べ位置検出精度が高い。加えて、スライ
サは１個であるので、スライスレベルが温度変化
等で変化した時、すべてのビームのスライス点が
一様に変化する。このため画像上でその変化が同
期ずれとして目につくことは無い。
更には複数のビームのうち１番目のビームがビ
ーム検出器において検出された時にタイマを起動
させるとともにビームの番号をカウントするカウ
ンタを動かし、最後のビームを確認するまでの時
間を測つてビーム検出エラーを検出するので複数
のビームのうち１つでも欠損が存在したことを１
個のタイマーで検出でき、簡単かつ低価格なエラ
ー検出を行うことができる。この方式はビームの
本数が多いほど効果が大きい。
ーム検出器において検出された時にタイマを起動
させるとともにビームの番号をカウントするカウ
ンタを動かし、最後のビームを確認するまでの時
間を測つてビーム検出エラーを検出するので複数
のビームのうち１つでも欠損が存在したことを１
個のタイマーで検出でき、簡単かつ低価格なエラ
ー検出を行うことができる。この方式はビームの
本数が多いほど効果が大きい。
以上説明した様に本発明によれば、複数のビー
ムの各々に対応したビームの位置信号を簡単な構
成でかつ正確に検出することができる。
ムの各々に対応したビームの位置信号を簡単な構
成でかつ正確に検出することができる。
第１図Ａ，Ｂは夫々ビーム配列を示す正面図、
第２図は記録装置を示す斜視図、第３図はビーム
検出回路のブロツク図、第４図は遮光板とビーム
の位置関係を示す図、第５図はビーム検出器の出
力信号を示す図、第６図はスライス波形及びタイ
ミング信号を示す図、第７図は分配器の回路のブ
ロツク図、第８図はタイマ出力を示す図、第９図
はビーム位置検出と情報信号の処理を示す回路の
ブロツク図であり、Ｂ１〜Ｂ４はビーム、１はア
レーレーザ、８は遮光板、７は検出器、１１はス
ライサ、１９はカウンタ、２０はデコーダ、２５
はタイマである。
第２図は記録装置を示す斜視図、第３図はビーム
検出回路のブロツク図、第４図は遮光板とビーム
の位置関係を示す図、第５図はビーム検出器の出
力信号を示す図、第６図はスライス波形及びタイ
ミング信号を示す図、第７図は分配器の回路のブ
ロツク図、第８図はタイマ出力を示す図、第９図
はビーム位置検出と情報信号の処理を示す回路の
ブロツク図であり、Ｂ１〜Ｂ４はビーム、１はア
レーレーザ、８は遮光板、７は検出器、１１はス
ライサ、１９はカウンタ、２０はデコーダ、２５
はタイマである。
Claims (1)
- １ 複数のビームにより記録媒体上を走査して、
該記録媒体上に情報の記録を行うマルチビーム記
録装置において、前記複数のビームが所定位置に
到来したことを検出し検出信号を出力するビーム
検出器と、前記ビーム検出器へ前記複数のビーム
の各々が別個に入射せしめるように設けられたビ
ーム選択部材と、前記検出信号を分配する分配器
とを有し、前記分配されたビーム検出信号により
前記複数のビームの夫々の記録開始を制御するこ
とを特徴とするマルチビーム記録装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55143448A JPS5767375A (en) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | Multibeam recorder |
| US06/309,058 US4404571A (en) | 1980-10-14 | 1981-10-06 | Multibeam recording apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55143448A JPS5767375A (en) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | Multibeam recorder |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5767375A JPS5767375A (en) | 1982-04-23 |
| JPH0143294B2 true JPH0143294B2 (ja) | 1989-09-20 |
Family
ID=15338931
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55143448A Granted JPS5767375A (en) | 1980-10-14 | 1980-10-14 | Multibeam recorder |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5767375A (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0750257B2 (ja) * | 1986-04-14 | 1995-05-31 | キヤノン株式会社 | 画像記録装置 |
| JPS63124664A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-28 | Fuji Xerox Co Ltd | マルチビ−ムレ−ザプリンタ |
| JPS63142316A (ja) * | 1986-12-04 | 1988-06-14 | Fuji Xerox Co Ltd | 半導体レ−ザアレイ光源装置及び同光源装置を使用したレ−ザスキヤナ |
| JPS63163871A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-07 | Toshiba Corp | 画像形成装置 |
| JPS6470722A (en) * | 1987-09-11 | 1989-03-16 | Canon Kk | Scanning optical device |
| JPH01257912A (ja) * | 1988-04-08 | 1989-10-16 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像記録装置 |
| US4978849A (en) * | 1989-08-01 | 1990-12-18 | International Business Machines Corporation | Pel placement correction in the scan dimension of a multiple beam laser scanning system |
| JP3817398B2 (ja) | 1999-11-04 | 2006-09-06 | キヤノン株式会社 | 画像形成装置およびその画像マスキング制御方法 |
| JP4080686B2 (ja) | 2000-11-06 | 2008-04-23 | 株式会社リコー | 画像形成装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6033019B2 (ja) * | 1978-06-05 | 1985-07-31 | 株式会社日立製作所 | 光記録装置 |
-
1980
- 1980-10-14 JP JP55143448A patent/JPS5767375A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5767375A (en) | 1982-04-23 |
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