JPH0147895B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は、電子部品テスタに接続することによ
り集積回路（以下「IC」という）等の電子部品
の特性試験及びそのテスト結果の良否の判定等を
自動的に処理する電子部品テスタ用オートハンド
ラにおいて、テスト治具をテストすべき電子部品
の形状、寸法等に応じて適宜交換可能とすると共
にその交換時において信号受渡し部へのテスト治
具の接続又は離脱が容易にできるテスト治具交換
機構に関する。

(2) 抜術の背景 IC、特にSIP型ICは、各製造業者によつて放熱
板の取付位置、形状、寸法等がバラバラで、SIP
型IC全体の形状、寸法がそれぞれ異なつている
のが現状である。従来、このような各種の形状、
寸法を有するSIP型IC等の特性試験をする際に、
そのSIP型ICを測定部へ自動的に供給したり、測
定後のSIP型ICを所定の箇所に自動的に収納する
装置はほとんどなく、測定部へ１個ずつ手で挿入
したり抜去したりして試験を行つていた。このた
め、上記のような各種の形状、寸法のSIP型IC及
びDIP型IC等の電子部品でも自動的に処理するこ
とができる電子部品テスタ用オートハンドラが要
望され、特に各種の電子部品の形状、寸法等に応
じてテスト治具を容易に交換可能とするテスト治
具交換機構が要望されている。

(3) 発明の目的 本発明は上記事情に対処してなされたもので、
各種の形状、寸法等の電子部品でも自動的に処理
する電子部品テスタ用オートランドにおいて、テ
スト治具をテストすべき電子部品の形状、寸法等
に応じて適宜交換可能とすると共にその交換時に
おいて信号受渡し部へのテスト治具の接続又は離
脱が容易にできるテスト治具交換機構を提供する
ことを目的とする。

(4) 発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば架台に設置さ
れた制御部に隣接して一側方に傾斜して設けられ
たテーブルと、このテーブルの中央部に設けられ
内部に上記テーブルの傾斜方向に沿う部品ガイド
レールを有すると共に該部品ガイドレールに沿つ
て電子部品を給送、遮断するシヤツタ部及び測定
部並びに判定部を有し且つ交換可能とされたテス
ト治具と、上記テーブルの上部に設けられこれか
らテストすべき電子部品を収納した部品ケースが
整列して格納され送り機構により横方向にピツチ
移動する供給ヤトイと、上記テーブルの下部に設
けられテスト終了後の電子部品を収納する部品ケ
ースが整列して格納され送り機構により上記供給
側ヤトイと連動して横方向にピツチ移動する受け
側ヤトイと、上記テーブルの上端及び下端の中央
部からそれぞれ供給側ヤトイ及び受け側ヤトイの
上方に張り出されると共にそれぞれの部品ケース
を順次下方に押し下げて上記テスト治具の部品ガ
イドレールに連結するドツキング機構部とを有し
てなる電子部品テスタ用オートハンドラにおい
て、上記テスト治具のセツト位置に、該テスト治
具を所定位置に位置決めして載置する搭載基板を
有しこの搭載基板の一側辺部には駆動源接続箇所
を有して駆動装置によつて横方向へ前進、後退す
るように移動可能とされた治具搭載ステーシヨン
を設け、この治具搭載ステーシヨンの前進側にて
上記テスト治具のセツト位置に隣接して信号受渡
し部を設け、上記治具搭載ステーシヨンにテスト
治具を載置して前進することにより信号受渡し部
のコネクタと接続固定し、後退することにより離
脱するようにしたことを特徴とする電子部品テス
タ用オートハンドラにおけるテスト治具交換機構
を提供することによつて達成される。

(5) 発明の実施例 以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細
に説明する。

第１図は本発明に係る電子部品テスタ用オート
ハンドラの全体を示す斜視図である。架台１は上
記オートハンドラをささえる台となるもので、こ
の架台１の上面には制御部２が設置されている。
この制御部２はオートハンドラの作動を制御する
もので、その上面には操作パネル３が設けられて
いる。

上記制御部２の側方には、これに隣接して一側
方に傾斜し適宜の幅と長さを有するテーブル４が
設けられている。このテーブル４は、後述のテス
ト治具５や供給側ヤトイ９、受け側ヤトイ１２等
をセツトするためのもので、テストすべきIC等
の電子部品が重力の作用で供給側から受け側に流
れるように、例えば45゜程度の傾斜がつけられて
いる。

上記テーブル４の長手方向中央部には、テスト
治具５が交換可能に取り付けられる。このテスト
治具５は、その内部に上記テーブル４の長手方向
すなわち傾斜方向に沿つて部品ガイドレール６
（第４図参照）が設けられており、この部品ガイ
ドレール６の上流側にはIC等を給送、遮断する
シヤツタ部を有し、中央部にはIC等のリードに
コンタクトピンが接触してテストする測定部を有
し、さらに下流部にはテスト結果の良否を判定し
て良品、不良品を選別する判定部を有している。
そして、上記部品ガイドレール６の上端及び下端
には、後述の供給側ヤトイ９及び受け側ヤトイ１
２に整列格納された部品ケース１０，１０の端部
を挿入しうる形状とされたドツキングガイドレー
ル７，８（第４図参照）がそれぞれ設けられてい
る。なお、このテスト治具５は、テーブル４の所
定位置において着脱可能とされており、テストす
べきIC等の形状、寸法に応じた部品ガイドレー
ル６を有する他のテスト治具５と交換することが
できる。

上記テーブル４の上部には、供給側ヤトイ９が
設けられている。この供給側ヤトイ９は、上記テ
スト治具５にこれからテストすべきIC等を供給
するもので、その上面には第１図に示すように、
テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿つて
これからテストすべきIC等が収納された部品ケ
ース１０が整列して格納されている。この部品ケ
ース１０は、収納するIC等の形状、寸法に応じ
て例えば断面矩形状等の細長筒状に形成されてい
る。そしてこの供給側ヤトイ９は、テーブル４の
孔部１１内に設けられた駆動モータとボールネジ
等からなる送り機構によつて矢印Ａ、Ｂ方向にピ
ツチ移動するようにされている。

上記テーブル４の下部には、受け側ヤトイ１２
が設けらている。この受け側ヤトイ１２は、テス
ト終了後に上記テスト治具５から送り出された
IC等を受けるもので、その上面には第１図に示
すように、テーブル４の長手方向すなわち傾斜方
向に沿つてテスト終了後のIC等を収納する前述
と同様の部品ケース１０が整列して格納されてい
る。そしてこの受け側ヤトイ１２は、テーブル４
の孔部１３内に設けられた前述と同様の送り機構
によつて矢印Ａ，Ｂ方向にピツチ移動するように
されている。

上記テーブル４の上端及び下端の中央部から
は、第１図に示すように、上記テスト治具５の部
品ガイドレール６及びドツキングガイドレール
７，８と同一軸線上に配置され、供給側ヤトイ９
及び受け側ヤトイ１２の部品ケース１０，１０の
上方にてその長手方向に沿つてテーブル４に平行
に供給側ドツキング機構部１４及び受け側ドツキ
ング機構部１５が張り出している。これら両ドツ
キング機構部１４，１５は、上記それぞれのヤト
イ９，１２に整列格納された部品ケース１０，１
０をその下面側に設けられた押えバーを押し下げ
ることにより順次下方に押し下げて、テスト治具
５の部品ガイドレール６の上端及び下端に設けら
れたドツキングガイドレール７，８に連結するも
のである。

上記テーブル４の長手方向中央部におけるテス
ト治具５のセツト位置には、第２図及び第３図に
示すように、治具搭載ステーシヨン１６が設けら
れている。この治具搭載ステーシヨン１６は、テ
スト治具５を載置するもので、搭載基板１７の上
縁部及び下縁部に角柱状のスライドブロツク１
８，１８を有し、上記搭載基板１７の下面側には
エアシリンダ等の駆動装置１９を有してなる。上
記スライドブロツク１８，１８の中間部には、テ
スト治具５の部品ガイドレール６に設けられたド
ツキングガイドレール７及び８（第４図参照）が
嵌合する位置決め機構２０，２０が穿設されてい
る。このスライドブロツク１８，１８の軸心部に
は孔があけられたリニアモーシヨンベアリングが
形成され、この孔の中にガイドボール２１，２１
が貫挿されて左右の側板２２，２３に至つてい
る。そして、上記駆動装置１９のエアホース２
４，２４′から空気等が流入することによりロツ
ド２５が伸縮して、治具搭載ステーシヨン１６が
上記ガイドポール２１，２１を案内として横方
向、すなわち矢印Ｃ，Ｄ方向へ前進又は後退す
る。このとき、最前進位置又は最後退位置での衝
撃を緩和するため、所定の位置にウレタンゴム等
でできたダンパー２６が設けらている。上記搭載
基板１７の一側辺部にはエアーカプラ２７等の駆
動源を接続する駆動源接続部位２８がある。

上記治具搭載ステーシヨン１６の前進側にてテ
スト治具５のセツト位置に隣接する箇所には、第
２図及び第３図に示すように、信号受渡し部２９
が設けられている。この信号受渡し部２９は、テ
スト治具５の測定部からの信号を電子部品テスタ
へ送るもので、取付プレート３０の上部等にプリ
ント板コネクタ３１が設けられてなる。なお、第
３図において符号３２は上記プリント板コネクタ
３１から電子部品テスタへ向う信号線であり、符
号３３はシールドカバーである。

次に本発明による電子部品テスタ用オートハン
ドラにおけるテスト治具交換機構の作動について
説明する。まず、テスト治具５をテーブル４の中
央部の所定位置に取り付けるには、第４図及び第
５図に示すように、治具搭載ステーシヨン１６の
上方にテスト治具５を持つて来て、該テスト治具
５に内蔵された部品ガイドレール６の上端及び下
端に設けられたドツキングガイドレール７，８を
上記治具搭載ステーシヨン１６のスライドブロツ
ク１８，１８に穿設された位置決め溝２０，２０
に嵌合して載置する。このとき、上記テスト治具
５の上端側面と下端側面は、それぞれ上方のスラ
イドブロツク１８及び下方のスライドブロツク１
８の内側面に当接するようになつている。従つ
て、テスト治具５は治具搭載ステーシヨン１６の
上面に上下左右に位置ずれしないように搭載され
る。次に、駆動源接続部位２８においてテスト治
具５のエアーニツプル３４にエアーカプラ２７を
結合し、テスト治具５のプラグ３５にコネクタ３
６を接続する。このような状態になつたところ
で、治具搭載ステーシヨン１６の前進側の操作ボ
タン３７を押すと、エアホース３９からエアーカ
プラ２７及びエアーニツプル３４を介して駆動装
置１９のエアホース２４から空気がシリンダ内に
流入して、ロツド２５が矢印Ｃ方向に伸びる。こ
のとき、治具搭載ステーシヨン１６はその上面に
テスト治具５を載せた状態でガイドポール２１を
案内として信号受渡し部２９の方へ前進する。治
具搭載ステーシヨン１６が最も前進したところ
で、第６図に示すように、該治具搭載ステーシヨ
ン１６の前側面が前進側のダンパ２６に当接して
リミツトスイツチ等が作動してエアホース３９か
らの空気の流入が止まり、その前進が停止する。
このとき、第５図に示すテスト治具５の内部に設
けられたプリント板４０の先端のエツヂ部４１が
信号受渡し部２９のプリント板コネクタ３１に挿
入される。この結果、第６図に示すように、テス
ト治具５の部品ガイドレール６及びドツキングガ
イドレール７，８が供給側ドツキング機構部１４
及び受け側ドツキング機構部１５と同一軸線上に
位置して、テスト治具５をテーブル４の中央部の
所定位置に固定される。

次に、上記テスト治具５をテーブル４から取り
外すには、第４図に示す治具搭載ステーシヨン１
６の後退側の操作ボタン３８を押すと、第６図に
示すエアホース３９からエアーカプラ２７及びエ
アーニツプル３４を介して駆動装置２９のエアホ
ース２４′から空気がシリンダ内に流入して、ロ
ツド２５が矢印Ｄ方向に縮む。このとき、治具搭
載ステーシヨン１６はその上面にテスト治具５を
載せた状態でガイドポール２１を案内として信号
受渡し部２９から後退する。この後退によつてテ
スト治具５のプリント板４０のエツヂ部４１は、
第５図に示すように、信号受渡し部２９のコネク
タ３１から離脱する。治具搭載ステーシヨン１６
が最も後退したところで、第５図に示すように、
該治具搭載ステーシヨン１６の後側面が後退側の
ダンパ２６に当接してリミツトスイツチ等が作動
してエアホース３９からの空気の流入が止まり、
その後退が停止する。この状態になつたところ
で、テスト治具５へのエアーカプラ２７及びコネ
クタ３６の結を解くと、テスト治具５をそのまま
上方へ持ち上げて取り外すことができる。このよ
うにして、テストすべきIC等の電子部品の形状、
寸法等に応じて適宜の形状、寸法等をした部品ガ
イドレール６を有する他のテスト治具５と交換す
ることができる。

(6) 発明の効果 本発明は以上のように構成されたので、テスト
治具５をテストすべき電子部品の形状、寸法等に
応じて適宜交換することができる。従つて、一台
のオートハンドラで上記のようにテスト治具５を
交換することによつて、各種の形状、寸法等の電
子部品でもその特性試験の処理を行うことができ
る。また、テスト治具５の信号受渡し部２９への
接続、離脱は、ボタン操作による駆動装置１９に
よつて行うので、プリント板コネクタ３１へのプ
リント板４０のエツヂ部４１の挿入、離脱が容易
で簡単にテスト治具５を交換することができる。
さらに、治具搭載ステーシヨン１６の駆動源接続
部位２８においてエアーカプラ２７やコネクタ３
６をテスト治具５に結合するようにしたので、空
気の流入、遮断等を制御する電磁弁等のノイズ源
を上記テスト治具５から離れたところに設けるこ
とができ、オートハンドラの各種作動操作による
テスト治具５へのノイズの影響をほとんど無くす
ことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る電子部品テスタ用オート
ハンドラの全体を示す斜視図、第２図は治具搭載
ステーシヨン部を示す拡大平面図、第３図は第２
図の―線断面図、第４図は治具搭載ステーシ
ヨンにテスト治具を載置した状態を示す拡大平面
図、第５図は第４図の―線断面図、第６図は
テスト治具を信号受渡し部に接続した状態を示す
第５図と同じ部位の断面図である。 １……架台、２……制御部、４……テーブル、
５……テスト治具、６……部品ガイドレール、
７，８……ドツキングガイドレール、９……供給
側ヤトイ、１０……部品ケース、１２……受け側
ヤトイ、１４……供給側ドツキング機構部、１５
……受け側ドツキング機構部、１６……治具搭載
ステーシヨン、１７……搭載基板、１８……スラ
イドブロツク、１９……駆動装置、２０……位置
決め溝、２１……ガイドポール、２８……駆動源
接続部位、２９……信号受渡し部、３１……プリ
ント板コネクタ、３７，３８……操作ボタン、４
０……プリント板、４１……エツヂ部。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 架台に設置された制御部に隣接して一側方に
   傾斜して設けられたテーブルと、このテーブルの
   中央部に設けられ内部に上記テーブルの傾斜方向
   に沿う部品ガイドレールを有すると共に該部品、
   ガイドレールに沿つて電子部品を給送、遮断する
   シヤツタ部及び測定部並びに判定部を有し且つ交
   換可能とされたテスト治具と、上記テーブルの上
   部に設けられこれからテストすべき電子部品を収
   納した部品ケースが整列して格納され送り機構に
   より横方向にピツチ移動する供給側ヤトイと、上
   記テーブルの下部に設けられテスト終了後の電子
   部品を収納する部品ケースが整列して格納され送
   り機構により上記供給側ヤトイと連動して横方向
   にピツチ移動する受け側ヤトイと、上記テーブル
   の上端及び下端の中央部からそれぞれ供給側ヤト
   イ及び受け側ヤトイの上方に張り出されると共に
   それぞれの部品ケースを順次下方に押し下げて上
   記テスト治具の部品ガイドレールに連結するドツ
   キング機構部とを有してなる電子部品テスタ用オ
   ートハンドラにおいて、上記テスト治具のセツト
   位置に、該テスト治具を所定位置に位置決めして
   載置する搭載基板を有しこの搭載基板の一側辺部
   には駆動源接続部位を有して駆動装置によつて横
   方向へ前進、後退するように移動可能とされた治
   具搭載ステーシヨンを設け、この治具搭載ステー
   シヨンの前進側にて上記テスト治具のセツト位置
   に隣接して信号受渡し部を設け、上記治具搭載ス
   テーシヨンにテスト治具を載置して前進すること
   により信号受渡し部のコネクタと接続固定し、後
   退することにより離脱するようにしたことを特徴
   とする電子部品テスタ用オートハンドラにおける
   テスト治具交換機構。