JPS5896258A - 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 - Google Patents
電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構Info
- Publication number
- JPS5896258A JPS5896258A JP56194909A JP19490981A JPS5896258A JP S5896258 A JPS5896258 A JP S5896258A JP 56194909 A JP56194909 A JP 56194909A JP 19490981 A JP19490981 A JP 19490981A JP S5896258 A JPS5896258 A JP S5896258A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- component
- parts
- guide rail
- docking
- yatoi
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- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の技術分野
本発明は、電子部品テスタＫｍ続することにより集積回
路（以下「ＩＣ」という）等の電子部品の特性試験及び
そのテスト結果の良否の判定◆を自動的に処理する電子
部品テスタ用オートハンドラにおいて、電子部品を収納
する部品ケースをテスト治具に内蔵された部品ガイドレ
ールに順次連結するドツキング機構に関する。
路（以下「ＩＣ」という）等の電子部品の特性試験及び
そのテスト結果の良否の判定◆を自動的に処理する電子
部品テスタ用オートハンドラにおいて、電子部品を収納
する部品ケースをテスト治具に内蔵された部品ガイドレ
ールに順次連結するドツキング機構に関する。
（力 技術の背景
ＩＣ％４！Ｋ ’Ｊ ＝アＩＣは、各製造業者によって
放熱板の取付位置、形状、寸法等がバラバラで、リニア
ＩＣ全体の形状、寸法がそれぞれ＾なっているのが現状
である。従来、このような各種の形状、寸法を有するＩ
Ｊ ニアＩＣ等の特性試験をする際に、そのリニアＩＣ
を測定部へ自動的に供給したり、測定後のＩＪ ＝アＩ
Ｃを所定の箇所に自動的に収納する装置はほとんどなく
、測定部へ１個ずつ手で挿入したり抜去したりして試験
を行っていた。このため上記のような各種の形状、寸法
のリニアＩＣ等の電子部品でも自動的に処理することが
できる電子部品テスタ用オートハンドラが要望され、特
に電子部品を収納する各種の部品ケースを測定部に順次
連結するドツキング機構が要望されている。
放熱板の取付位置、形状、寸法等がバラバラで、リニア
ＩＣ全体の形状、寸法がそれぞれ＾なっているのが現状
である。従来、このような各種の形状、寸法を有するＩ
Ｊ ニアＩＣ等の特性試験をする際に、そのリニアＩＣ
を測定部へ自動的に供給したり、測定後のＩＪ ＝アＩ
Ｃを所定の箇所に自動的に収納する装置はほとんどなく
、測定部へ１個ずつ手で挿入したり抜去したりして試験
を行っていた。このため上記のような各種の形状、寸法
のリニアＩＣ等の電子部品でも自動的に処理することが
できる電子部品テスタ用オートハンドラが要望され、特
に電子部品を収納する各種の部品ケースを測定部に順次
連結するドツキング機構が要望されている。
（３）発明の目的
本発明は上記事情に対処してなされたもので、各種の形
状、寸法の電子部品でも自動的に処理する電子部品テス
タ用オートパノドラにおいて、電子部品を収納する部品
ケースをテスト治具に内蔵された部品ガイドレールに順
次連結することができるドツキング機構を提供すること
を目的とする。
状、寸法の電子部品でも自動的に処理する電子部品テス
タ用オートパノドラにおいて、電子部品を収納する部品
ケースをテスト治具に内蔵された部品ガイドレールに順
次連結することができるドツキング機構を提供すること
を目的とする。
（４）発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば、架台に設置され九制
御部に隣接して一側方に傾斜して設けられ九テーブルと
、このテーブルの中央部に設けられ内部に上記テーブル
の傾斜方向に沿う部品ガイドレールを有し且つ交換可能
とされ九テスト治具と、上記テーブルの上部に設けられ
これからテストすべき電子部品を収納した部品ケースが
上下動可能に整列して格納された供給側ヤトイと、上記
テーブルの下部に設けられテスト終了後の電子部品を収
納する部品ケースが上下動可能に整列して格納された受
は側ヤトイとを有する電子部品テスタ用オートハンド２
において、上記テスト治具の部品ガイドレールの上端及
び下端にそれぞれ供給側ヤトイ及び受は儒ヤトイの部品
ケースの端部を挿入しうるドツキングガイドレールを設
け、上記テスト治具の部品ガイドレールと同一軸線上に
配置され上記テーブルの上端及び下端の中央部からそれ
ぞれ供給側ヤトイ及び受は儒ヤトイの上方に張シ出され
ると共に下面側に突出して上記部品ケースを押し下げる
押えバーを有する供給側ドツキング機構部及び受は側ド
ツキング機構部を設け、上記供給側ヤトイ及び受は側ヤ
トイを送り機構により連動して横方向にピッチ送りする
と共に上記両ドツキング機構部の押えバーでそれぞれの
部品ケースを順次下方に押し下げてドツキングガイドレ
ールに挿入連結するようにしたことを特徴とする電子部
品テスタ用オートハンドラにおける部品ケースドツキン
グ機構を提供することによって達成される。
御部に隣接して一側方に傾斜して設けられ九テーブルと
、このテーブルの中央部に設けられ内部に上記テーブル
の傾斜方向に沿う部品ガイドレールを有し且つ交換可能
とされ九テスト治具と、上記テーブルの上部に設けられ
これからテストすべき電子部品を収納した部品ケースが
上下動可能に整列して格納された供給側ヤトイと、上記
テーブルの下部に設けられテスト終了後の電子部品を収
納する部品ケースが上下動可能に整列して格納された受
は側ヤトイとを有する電子部品テスタ用オートハンド２
において、上記テスト治具の部品ガイドレールの上端及
び下端にそれぞれ供給側ヤトイ及び受は儒ヤトイの部品
ケースの端部を挿入しうるドツキングガイドレールを設
け、上記テスト治具の部品ガイドレールと同一軸線上に
配置され上記テーブルの上端及び下端の中央部からそれ
ぞれ供給側ヤトイ及び受は儒ヤトイの上方に張シ出され
ると共に下面側に突出して上記部品ケースを押し下げる
押えバーを有する供給側ドツキング機構部及び受は側ド
ツキング機構部を設け、上記供給側ヤトイ及び受は側ヤ
トイを送り機構により連動して横方向にピッチ送りする
と共に上記両ドツキング機構部の押えバーでそれぞれの
部品ケースを順次下方に押し下げてドツキングガイドレ
ールに挿入連結するようにしたことを特徴とする電子部
品テスタ用オートハンドラにおける部品ケースドツキン
グ機構を提供することによって達成される。
６）発明の実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細に説明す
る。
る。
第１図は１本発明に係る電子部品テスタ用オートハンド
ラの全体を示す斜視図である。架台１は上記オートハン
ドラをささえる台となるもので、この架台１の上面には
制御部２が設置されている。この制御部２はオートハン
ドラの作動を制御するもので、その上面には操作パネル
３が設けられている。
ラの全体を示す斜視図である。架台１は上記オートハン
ドラをささえる台となるもので、この架台１の上面には
制御部２が設置されている。この制御部２はオートハン
ドラの作動を制御するもので、その上面には操作パネル
３が設けられている。
上記制御部２の側方には、これＫ１１Ｉ接して一側方に
傾斜し適宜の幅と長さを有すｂｆ−プル４が設けられて
いる。このテーブル４は、後述のテスト治具５やヤトイ
１３．１ｇをセットする丸めのもので、テストすべきＩ
Ｃ等の電子部品が重力の作用で供給側から受け＠に流れ
るように、例えシ４５６程度の傾斜がつけられている。
傾斜し適宜の幅と長さを有すｂｆ−プル４が設けられて
いる。このテーブル４は、後述のテスト治具５やヤトイ
１３．１ｇをセットする丸めのもので、テストすべきＩ
Ｃ等の電子部品が重力の作用で供給側から受け＠に流れ
るように、例えシ４５６程度の傾斜がつけられている。
上記デープル４の長手方向中央部（は、テスト治具Ｓ及
びこれに隣接して信号受渡し部６が設けられている。こ
のテスト治具５は、第３図に示すように、その内部に上
記テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿って部品
ガイドレ−ルＴが設けられており、この部品ガイドレー
ルＴの下流部にはＩＣ等を給送、遮断するシャッタ郁＄
を有し、中央部にはＩＣ等のり−ドにコンタクトビンが
接触してテストする測定部９を有し、さもに下流部には
テスト結果の真否を判定して良品、不良品を選別する判
定部１０を有している。そして上記部品ガイドレールＴ
の上端及び下端には、後述の供給側ヤトイ１３及び受は
儒ヤトイ１ｓに整列格納された部品ケース１４％１４の
端部を挿入しうる形状とされ九ドツ中ングガイドレール
Ｉｔ、１２がそれぞれ設けられている。なお、このテス
ト治具５は、テーブル４０所定位置において着脱可能と
されておシ、テストすべ１ｋＩｃ等の形状、寸法に応じ
た部品ガイドレールＴを有する他のテスト治具５と交換
することがでちる。上記信号受渡し部６は、テスト治具
５の測定部９と電子部品テスタとの間で特性試験に必要
な信号の送受を行うものである。＃テスタからのテスト
結果信号は制御部２へ送られ、この制御部から判定駆動
部へ出力信号が出され、治Ａｓの判定部１０にて判定作
業を行なう。
びこれに隣接して信号受渡し部６が設けられている。こ
のテスト治具５は、第３図に示すように、その内部に上
記テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿って部品
ガイドレ−ルＴが設けられており、この部品ガイドレー
ルＴの下流部にはＩＣ等を給送、遮断するシャッタ郁＄
を有し、中央部にはＩＣ等のり−ドにコンタクトビンが
接触してテストする測定部９を有し、さもに下流部には
テスト結果の真否を判定して良品、不良品を選別する判
定部１０を有している。そして上記部品ガイドレールＴ
の上端及び下端には、後述の供給側ヤトイ１３及び受は
儒ヤトイ１ｓに整列格納された部品ケース１４％１４の
端部を挿入しうる形状とされ九ドツ中ングガイドレール
Ｉｔ、１２がそれぞれ設けられている。なお、このテス
ト治具５は、テーブル４０所定位置において着脱可能と
されておシ、テストすべ１ｋＩｃ等の形状、寸法に応じ
た部品ガイドレールＴを有する他のテスト治具５と交換
することがでちる。上記信号受渡し部６は、テスト治具
５の測定部９と電子部品テスタとの間で特性試験に必要
な信号の送受を行うものである。＃テスタからのテスト
結果信号は制御部２へ送られ、この制御部から判定駆動
部へ出力信号が出され、治Ａｓの判定部１０にて判定作
業を行なう。
上記テーブル４の上部には、供給側ヤトイ１３が設けら
れている。この供給側ヤトイ１３は一上記テスト治具５
にこれからテストすべきＩＣ等を供給するもので、その
上ＭＫは第１図に示すように、デープル４０長手方向す
なわち傾斜方向に沿ってこれからテストすべきＩＣ尋が
収納された部品ケース１４が整列して格納されている。
れている。この供給側ヤトイ１３は一上記テスト治具５
にこれからテストすべきＩＣ等を供給するもので、その
上ＭＫは第１図に示すように、デープル４０長手方向す
なわち傾斜方向に沿ってこれからテストすべきＩＣ尋が
収納された部品ケース１４が整列して格納されている。
この部品ケース１４は、収納するＩＣ勢の形状、寸法に
応じて例えば断面矩形状等の細長筒状に形成されてｓＰ
６、第２ＷＪに示すように、上記供給側ヤトイ１３の内
部底面に設けられたフローティングバネ１５、Ｉｓの上
方からｍヤトイ１３の上面側に整列され、両端部Ｏ押覆
藝材１１１、Ｉｌｌで上記フローティングバネ１５゜１
５をやや押圧して格納されている。従って、上記部品ケ
ース１４は、ヤトイ１３に格納され良状態で上記フロー
ティングバネ１５％ＩＳの弾性作用によって上下動可能
とされている。そして、上記供給側ヤトイ１３は、第１
図に示すテーブル４の孔部１Ｔ内に設けられた駆動モー
タとＩ−ルネジ等からなゐ送り機構によって矢印人、Ｂ
方向にピッチ送〕され、るようになっている。
応じて例えば断面矩形状等の細長筒状に形成されてｓＰ
６、第２ＷＪに示すように、上記供給側ヤトイ１３の内
部底面に設けられたフローティングバネ１５、Ｉｓの上
方からｍヤトイ１３の上面側に整列され、両端部Ｏ押覆
藝材１１１、Ｉｌｌで上記フローティングバネ１５゜１
５をやや押圧して格納されている。従って、上記部品ケ
ース１４は、ヤトイ１３に格納され良状態で上記フロー
ティングバネ１５％ＩＳの弾性作用によって上下動可能
とされている。そして、上記供給側ヤトイ１３は、第１
図に示すテーブル４の孔部１Ｔ内に設けられた駆動モー
タとＩ−ルネジ等からなゐ送り機構によって矢印人、Ｂ
方向にピッチ送〕され、るようになっている。
上記テーブル４の下部には、受は側ヤトイ１８が設けら
れている。この受は儒ヤトイ１８は、テスト終了後に上
記テスＦ治具５から送シ出され九ＩＣ等を受けるもので
、その上面には第１図及び１１７４２図に示すように、
テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿ってテスト
終了後のＩＣ等を収納する前述と同様の部品ケース１４
が整列して格納されている。そしてこの受は側ヤトイ１
８は、第１図に示すテーブル４の孔部１ｓ内に設けられ
た前述と同様の送シ機構によって矢印人、Ｂ方向にピッ
チ送りされるようＫなっている。
れている。この受は儒ヤトイ１８は、テスト終了後に上
記テスＦ治具５から送シ出され九ＩＣ等を受けるもので
、その上面には第１図及び１１７４２図に示すように、
テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿ってテスト
終了後のＩＣ等を収納する前述と同様の部品ケース１４
が整列して格納されている。そしてこの受は側ヤトイ１
８は、第１図に示すテーブル４の孔部１ｓ内に設けられ
た前述と同様の送シ機構によって矢印人、Ｂ方向にピッ
チ送りされるようＫなっている。
上記テーブル４の上端及び下端の中央部からは、第１図
に示すように１上記テスト治具５の部品ガイドレール１
（第３図参照）及びドツキングガイドレール１１．１２
と同一輪線上に配置され、供給側ヤトイ１３及び受は側
ヤトイ１ｓの部品ケース１４．１４の上方にてその長手
方向に沿りてｔ−プル４に平行に供給側ドツキング機構
部２０及び受は側ドツキング機構部２１が張）出してい
る。上記両ドッ命ング機構郁２゜、２１の下面側には、
第３図及び第４図に示すように、そこ−から下方に突出
して上記部品ケース１４．１４の上面を押圧する押えバ
ー２２が設けられている。この押えパー２２は、例えば
両ドツキング機構部２０％２１内に設けられたエアシリ
ンダ２５の作動によって第４図に示すレバー２３を回動
操作することにより下方に突出される。なお、第２１１
ないし第４図において符号２４は、部品ケース１４が上
下動する−にその両端開口部ＫｉＩをするように両ヤト
イ１３、ＩＩＩＫ設けらｈた端板である。
に示すように１上記テスト治具５の部品ガイドレール１
（第３図参照）及びドツキングガイドレール１１．１２
と同一輪線上に配置され、供給側ヤトイ１３及び受は側
ヤトイ１ｓの部品ケース１４．１４の上方にてその長手
方向に沿りてｔ−プル４に平行に供給側ドツキング機構
部２０及び受は側ドツキング機構部２１が張）出してい
る。上記両ドッ命ング機構郁２゜、２１の下面側には、
第３図及び第４図に示すように、そこ−から下方に突出
して上記部品ケース１４．１４の上面を押圧する押えバ
ー２２が設けられている。この押えパー２２は、例えば
両ドツキング機構部２０％２１内に設けられたエアシリ
ンダ２５の作動によって第４図に示すレバー２３を回動
操作することにより下方に突出される。なお、第２１１
ないし第４図において符号２４は、部品ケース１４が上
下動する−にその両端開口部ＫｉＩをするように両ヤト
イ１３、ＩＩＩＫ設けらｈた端板である。
次に、本発明による電子部品テスタ用オートハンド２に
おける部品ケースドツキング機構の作動にりいて説明す
る。ｔず、テストの皐備段階としてこれからテストすべ
きＩＣ等を収納し九部品ケース１４を供給側ヤトイ１３
の上面に整列格納する。一方、受は儒ヤトイ１８の上面
ＫＦｉ上記供給側の部品ケース１４と形状、寸法が同一
で空の部品ケース１４を整列格納する。
おける部品ケースドツキング機構の作動にりいて説明す
る。ｔず、テストの皐備段階としてこれからテストすべ
きＩＣ等を収納し九部品ケース１４を供給側ヤトイ１３
の上面に整列格納する。一方、受は儒ヤトイ１８の上面
ＫＦｉ上記供給側の部品ケース１４と形状、寸法が同一
で空の部品ケース１４を整列格納する。
このような状態で、上記供給側ヤトイ１３及び受は儒ヤ
トイ１８を第１図に示すように矢印Ｂ方向に一杯に後退
させてシ（０次に、上記供給側ヤトイ１３に格納された
部品ケース１４に収納されているこれからテストすべき
ＩＣ等の形状、寸法に応じた形状、寸法を有する部品ガ
イドレール１を内蔵したテスト治具Ｓをテーブル４の中
央部の所定位置にセットする。このとき、テスト治具５
のパーフオマンスボード（プリント板）の端子社信号受
渡し部６のコネクタへ挿入される。このようにして準備
が完了したところで、制御部２の操作パネル３の操作ボ
タン２６を操作すると起動する。まず、孔部Ｉ？、１１
内に設けられ圧送）機構によって供給側ヤトイ１３及び
受は側ヤトイ１８が連動して第１図において矢印入方向
にピッチ送シされる。このようにしてそれぞれのヤトイ
１３．１８の第一番目の部品ケース１４．１４が、ｍｓ
図に示すように、それぞれ供給側ドツキング機４１１１
部２０及び受は側ドツキング機構部２１の真下で停止し
たところで、該ドツキング機構部２０．２１の下面＠に
設けられ圧押えパー２２が、エアシリンダ２Ｓの作動に
より嬉４図に示す矢印のように回動操作されるレバー２
３によυ下方に突出される。この結果、上記部品ケース
１４．１４は、その上面を上記押えパー２２６Ｃより押
圧されてそれぞれのヤトイ１３．１０の内部底面に設け
られたフローティングバネ１５に抗して下方に押し下げ
られ、＃Ｉ４図に示すように１テスト治具５の部品ガイ
ドレールＴの上端及び下端に設けられたドツキングガイ
ドレール１１及び１２にその端部が挿入されて連結され
る。このようになったところで、供給側ヤトイ１３の部
品ケース１４からテストすべきＩＣ等が重力の作用によ
シテスト治具５内の部品ガイドレール１に送り込まれ、
シャッタ部、測定部、判定部の所定の行程を経てテスト
が行われる。
トイ１８を第１図に示すように矢印Ｂ方向に一杯に後退
させてシ（０次に、上記供給側ヤトイ１３に格納された
部品ケース１４に収納されているこれからテストすべき
ＩＣ等の形状、寸法に応じた形状、寸法を有する部品ガ
イドレール１を内蔵したテスト治具Ｓをテーブル４の中
央部の所定位置にセットする。このとき、テスト治具５
のパーフオマンスボード（プリント板）の端子社信号受
渡し部６のコネクタへ挿入される。このようにして準備
が完了したところで、制御部２の操作パネル３の操作ボ
タン２６を操作すると起動する。まず、孔部Ｉ？、１１
内に設けられ圧送）機構によって供給側ヤトイ１３及び
受は側ヤトイ１８が連動して第１図において矢印入方向
にピッチ送シされる。このようにしてそれぞれのヤトイ
１３．１８の第一番目の部品ケース１４．１４が、ｍｓ
図に示すように、それぞれ供給側ドツキング機４１１１
部２０及び受は側ドツキング機構部２１の真下で停止し
たところで、該ドツキング機構部２０．２１の下面＠に
設けられ圧押えパー２２が、エアシリンダ２Ｓの作動に
より嬉４図に示す矢印のように回動操作されるレバー２
３によυ下方に突出される。この結果、上記部品ケース
１４．１４は、その上面を上記押えパー２２６Ｃより押
圧されてそれぞれのヤトイ１３．１０の内部底面に設け
られたフローティングバネ１５に抗して下方に押し下げ
られ、＃Ｉ４図に示すように１テスト治具５の部品ガイ
ドレールＴの上端及び下端に設けられたドツキングガイ
ドレール１１及び１２にその端部が挿入されて連結され
る。このようになったところで、供給側ヤトイ１３の部
品ケース１４からテストすべきＩＣ等が重力の作用によ
シテスト治具５内の部品ガイドレール１に送り込まれ、
シャッタ部、測定部、判定部の所定の行程を経てテスト
が行われる。
このようにして次々にＩＣ等をテストするがそのテスト
し九個数はカウンタによって計数１第一番目の供給側の
部品ケース１４内に収納され九すべてのＩＣ等のテスト
が終了したら、それぞれのドツキング機構部２０．２１
の押えパー２２が、エアシリンダ２５の上記とは逆作動
によるレバー２３の逆の回動操作により浮き上がシ、そ
れぞれのヤトイ１３，１８の対応する部品ケース１４％
１４がブローティングバネ１５０弾性力によって上昇さ
れてそれぞれのドツキングガイドレールＩｔ、１２から
その端部が上方に抜けて連結が解かれる。次に、両ヤト
イ１３．１８がその送り機構により矢印入方向にピッチ
遂シされて、次なる部品ケース１４．１４がそれぞれの
ドツキング機構部２０．２１の真下で停止する。以下、
上記と同様の作動を繰シ返して、供給側ヤトイ１３及び
受は側ヤトイ１８の部品ケース１４．１４を自動的に順
次下方に押し下げてはドツキングガイドレール１１．１
２に挿入連結し丸や、それを解除したシする。このよう
にして、供給側のすべての部品ケース１４内に収納され
７１ｊＩＣ等のテストが自動的に行われる。
し九個数はカウンタによって計数１第一番目の供給側の
部品ケース１４内に収納され九すべてのＩＣ等のテスト
が終了したら、それぞれのドツキング機構部２０．２１
の押えパー２２が、エアシリンダ２５の上記とは逆作動
によるレバー２３の逆の回動操作により浮き上がシ、そ
れぞれのヤトイ１３，１８の対応する部品ケース１４％
１４がブローティングバネ１５０弾性力によって上昇さ
れてそれぞれのドツキングガイドレールＩｔ、１２から
その端部が上方に抜けて連結が解かれる。次に、両ヤト
イ１３．１８がその送り機構により矢印入方向にピッチ
遂シされて、次なる部品ケース１４．１４がそれぞれの
ドツキング機構部２０．２１の真下で停止する。以下、
上記と同様の作動を繰シ返して、供給側ヤトイ１３及び
受は側ヤトイ１８の部品ケース１４．１４を自動的に順
次下方に押し下げてはドツキングガイドレール１１．１
２に挿入連結し丸や、それを解除したシする。このよう
にして、供給側のすべての部品ケース１４内に収納され
７１ｊＩＣ等のテストが自動的に行われる。
如 発明の効果
本発明は以上のように構成され九〇で、供給側ヤトイ１
３及び受は儒ヤトイ１８に多数整列格納された部品ケー
ス１４を供給側ドツキング機構部２０及び受は側ドツキ
ング機構部２１の押えパー２２によシ順次下方に押し下
げてテスト治具５０部品ガイドレールＴの上端及び下端
に設けられたドツキングガイドレール１１．１２に挿入
連結することができる。また、テスト治具５の部品ガイ
ドレールＴの両端部に直接供給側及び受は備の部品ケー
ス１４．１４を連結するので、上記部品ガイドレールＴ
の長さ及びその上方及び下方に連結される部品ケース１
４．１４の長さだけの範囲内で電子部品のテストの処理
を行うことができ、オートハンドラの全体形状を小型化
することができる。
３及び受は儒ヤトイ１８に多数整列格納された部品ケー
ス１４を供給側ドツキング機構部２０及び受は側ドツキ
ング機構部２１の押えパー２２によシ順次下方に押し下
げてテスト治具５０部品ガイドレールＴの上端及び下端
に設けられたドツキングガイドレール１１．１２に挿入
連結することができる。また、テスト治具５の部品ガイ
ドレールＴの両端部に直接供給側及び受は備の部品ケー
ス１４．１４を連結するので、上記部品ガイドレールＴ
の長さ及びその上方及び下方に連結される部品ケース１
４．１４の長さだけの範囲内で電子部品のテストの処理
を行うことができ、オートハンドラの全体形状を小型化
することができる。
第１図祉本発明に係る電子部品テスタ用オートハンドラ
の全体を示す斜視図、第２図は供給側ヤトイ（又は受は
惰ヤトイ）を示す斜視図、第３図及び第４図は本発明に
よる部品ケースドツキング機構の作動状態を示す第１図
０Ａ−Ａ線断面図で、第３図は連結前の状態を第４図は
連結後の状態を示すものである。 １・・・・・・架台 ２・・・・・・制御部 ４・・・・・・テーブル Ｓ・・・・・・テスト治具 Ｔ・・・・・・部品ガイドレール １１．１２・・・・・・ドツキングガイドレール１３・
・・・・・供給側ヤトイ １４・・・・・・部品ケース １５・・・・・・フローティングバネ １８・・・・・・受は側ヤトイ ２０・・・・・・供給側ドツキング機構部２１・・・・
・・受は側ドツキング機構部２２・・・・・・押えバー ２３・・・・・・レバー ２５・・・・・・エアシリンダ 出願人 富士通株式会社 第１図 ム 第２図 １３（１８）
の全体を示す斜視図、第２図は供給側ヤトイ（又は受は
惰ヤトイ）を示す斜視図、第３図及び第４図は本発明に
よる部品ケースドツキング機構の作動状態を示す第１図
０Ａ−Ａ線断面図で、第３図は連結前の状態を第４図は
連結後の状態を示すものである。 １・・・・・・架台 ２・・・・・・制御部 ４・・・・・・テーブル Ｓ・・・・・・テスト治具 Ｔ・・・・・・部品ガイドレール １１．１２・・・・・・ドツキングガイドレール１３・
・・・・・供給側ヤトイ １４・・・・・・部品ケース １５・・・・・・フローティングバネ １８・・・・・・受は側ヤトイ ２０・・・・・・供給側ドツキング機構部２１・・・・
・・受は側ドツキング機構部２２・・・・・・押えバー ２３・・・・・・レバー ２５・・・・・・エアシリンダ 出願人 富士通株式会社 第１図 ム 第２図 １３（１８）
Claims (1)
- 架台に設置された制御部に隣接して一側方に傾斜して設
けられたテーブルと、このテーブルの中央部に設けられ
内部に上記テーブルの傾斜方向に沿う部品ガイドレール
を有し且つ交換可能とされ九テスト治具と、上記テーブ
ルの上部に設けられこれからテストすべき電子部品を収
納し九部品ケースが上下動可能に整列して格納された供
給側ヤトイと、上記テーブルの下部に設けられテスト終
了後の電子部品を収納する部品ケースが上下動可能に整
列して格納された受は側ヤトイとを有する電子部品テス
タ用オートハンドラＷＣ１ｔいて、上記テスト治具の部
品ガイドレールの上端及び下端にそれぞれ供給側ヤトイ
及び受は側ヤトイの部品ケースの端部な挿入しうるドツ
キングガイドレールを設け、上記テスト治具の部品ガイ
ドレールと同一軸線上に配置され上記テーブルの上端及
び下端の中央部からそれぞれ供給側ヤトイ及び受は儒ヤ
トイの上方にて誼テーブルに平行に張り出されると共に
下面側に突出して上記部品ケースを押し下げる押えパー
を有する供給側ドツキング機構部及び受は側ドツキング
機構部を設け、上記供給側ヤトイ及び受は側ヤトイを送
り機構によシ連動して横方向にピッチ送りすると共和上
記両ドツキング機構部の押えバーでそれぞれの部品ケー
スを順次下方に押し下げてドツキングガイドレールに挿
入連結するようにしたことを特徴とする電子部品テスタ
用オートハンドラにおける部品ケースドツキング機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194909A JPS5896258A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56194909A JPS5896258A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5896258A true JPS5896258A (ja) | 1983-06-08 |
| JPH0136592B2 JPH0136592B2 (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=16332349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56194909A Granted JPS5896258A (ja) | 1981-12-03 | 1981-12-03 | 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおける部品ケ−スドツキング機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5896258A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4647269A (en) * | 1985-07-01 | 1987-03-03 | Micro Component Technology, Inc. | Automatic integrated circuit transportation tube elevating and tilting device |
| EP0223189A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-27 | Hans-Heinrich Willberg | Vorrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen |
| US4778063A (en) * | 1985-11-11 | 1988-10-18 | Ekkehard Ueberreiter | Device for testing and sorting electronic components |
| JPH01266662A (ja) * | 1988-04-19 | 1989-10-24 | Canon Inc | 文書処理装置 |
| JPH0216071U (ja) * | 1988-07-19 | 1990-02-01 | ||
| US4908126A (en) * | 1986-11-11 | 1990-03-13 | Multitest, Elektronische Systeme Gmbh | Apparatus for testing and sorting electronic components, in particular IC's |
| KR100337571B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2002-05-24 | 김정곤 | 스프링 실린더를 갖는 모듈아이씨 테스터 도킹장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0479998U (ja) * | 1990-11-22 | 1992-07-13 |
-
1981
- 1981-12-03 JP JP56194909A patent/JPS5896258A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4647269A (en) * | 1985-07-01 | 1987-03-03 | Micro Component Technology, Inc. | Automatic integrated circuit transportation tube elevating and tilting device |
| EP0223189A1 (de) * | 1985-11-11 | 1987-05-27 | Hans-Heinrich Willberg | Vorrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen |
| US4778063A (en) * | 1985-11-11 | 1988-10-18 | Ekkehard Ueberreiter | Device for testing and sorting electronic components |
| US4908126A (en) * | 1986-11-11 | 1990-03-13 | Multitest, Elektronische Systeme Gmbh | Apparatus for testing and sorting electronic components, in particular IC's |
| JPH01266662A (ja) * | 1988-04-19 | 1989-10-24 | Canon Inc | 文書処理装置 |
| JPH0216071U (ja) * | 1988-07-19 | 1990-02-01 | ||
| KR100337571B1 (ko) * | 2000-06-22 | 2002-05-24 | 김정곤 | 스프링 실린더를 갖는 모듈아이씨 테스터 도킹장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0136592B2 (ja) | 1989-08-01 |
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