JPS5896745A - 電子部品テスタ用オ−トハンドラにおけるテスト治具交換機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）発明の技術分野 本発明は、電子部品デスクに接続することにより集積回
路（以下ｒｌｃＪという）等の電子部品の特性試験及び
そのテスト結果の良否の判定等を自動的に処理する電子
部品テスタ用オートハンドラにおいて、テスト治具をテ
ストすべき電子部品の形状、寸法等に応じて適宜交候可
能とすると共にその交換時において信号受渡し部へのテ
スト治具の接続又は離脱が容易にできるテスト治具交換
機構に関する。

（２）技術の背景 ＩＣ，特にＳＩＰ型ＩＣは、各製造業者によって放熱板
の取付位置、形状、寸法等がバラバラで、ＳＩＰ型Ｉ型
金Ｃ全体状、寸法がそれぞれ異なっているのが現状であ
る。従来、このような各種の形状、寸法を有するＳＩＰ
型ＩＣ等の特性試験をする際に、そのＳＩＰ型ＩＣを測
定部へ自動的に供給したり、測定後のＳＩＰ型ＩＣを所
定の箇所に自動的に収納する装置はほとんどなく、測定
部へ１個ずつ手で挿入したり抜去したりして試験を行っ
ていた。このため、上記のような各種の形状、寸法のＳ
ＩＰ型ＩＣ及びＤＩＰ型ＩＣ等の電子部品でも自動的に
処理することができる電子部品テスタ用オートハンドラ
が要望され、特に各種の′電子部品の形状、寸法等に応
じてテスト治具を容易に交換可能とするテスト治具変換
機構が要望されている。

（３）発明の目的 本発明は上記事情に対処してなされたもので、各種の形
状、寸法等の電子部品でも自動的に処理する電子部品テ
スタ用オートハンドラにおいて、テスト治具をテストす
べき電子部品の形状、寸法等に応じて適宜交俣可能とす
ると共にその交換時において信号受渡し部へのテスト治
具の接続又は離脱が容易にできるテスト治具交換機構を
提供することを目的とする。

（４）発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば架台に設置された制御
部に隣接して一側方に傾斜して設けらｈたテーブルと、
このテーブルの中央部に設けらｈ内部に上記テーブルの
傾斜方向に沿う部品ガイドレールを有すると共に該部品
ガイドレールに沿って電子部品を給送、遮断するシャッ
タ部及び測定部並びに判定部を有し且つ交換可能とさｈ
たテスト治具と、上記テーブルの上部に設けられこれか
らテストすべき電子部品を収納した部品ケースが整列し
て格納され送シ機構により横方向にピッチ移動する供給
側ヤトイと、上記テーブルの下部に設けられテスト終了
後の電子部品を収納する部品ケースが整列して格納され
送り機構により上記供給側ヤトイと連動して横方向にピ
ッチ移動する受は側ヤトイと、上記テーブルの上端及び
下端の中央部からそれぞれ供給側ヤトイ及び受は側ヤト
イの上方に張り出されると共にそれぞれの部品ケースを
１映次下方に押し下げて上記テスト治具の部品ガイドレ
ールに連結するドツキング機構部とを有してなる電子部
品テスタ用オートハンドラにおいて、上記テスト治具の
セット位置に、該テスト治具を所定位置に位置決めして
載置する搭載基板を有しこの搭載基板の一側辺部には駆
動源接続箇所を有して駆動装置によって横方向へ前進、
後退するように移動可能とさ九た治具搭載ステーション
を設け、この治具搭載ステーションの前進側にて上記テ
スト治具のセット位置に隣接して信号受渡し部を設け、
上記治具搭載ステーションにテスト治具を載置して前進
することによシ信号受渡し部のコネクタと接続固定し、
後退することにより離脱するようにしたことを特徴とす
る電子部品テスタ用オートハンドラにおけるテスト治具
交換機構を提供することによって達成される。

（５）発明の実施例 以下、本発明の実施例を添付図面に基いて詳細に説明す
る。

第１図は不発明に係る電子部品テスク用オートハンドラ
の全体を示す斜視図でめる。架台１は上記オートハンド
ラをささえる台となるもので、この架台１の上面には制
御部２が設置されている。この制御部２はオートハンド
ラの作動を制御するもので、その上面には慄作パネル３
が設けられている。

上記制御部２の側方には、これに隣接して一側方に傾斜
し適宜の幅と長さを有するテーブル４が設けられている
。このテーブル４は、後述のテスト治具５や供給側ヤト
イ９、受は側ヤトイ１２等をセットするためのもので、
テストすべきＩＣ等の電子部品が重力の作用で供給側か
ら受は側に流れるように、例えば４５°程度の傾斜がつ
けられている。

上記テーブル４の長手方向中央部には、テスト治具５が
交換可能に取シ付けられる。このテスト治具５は、その
内部に上記テーブル４の長手方向すなわち傾斜方向に沿
って部品ガイドレール６（第４図参照）が設けられてお
り、この部品ガイドレール６の上流部にはＩＣ等を給送
、遮断するシャツ４部を有し、中央部にはＩＣ等のリー
ドにコンタクトビンが接触してテストする測定部を有し
、さらに下流部にはテスト結果の良否を判定して良品、
不良品を選別する判定部を有している。そして、上記部
品ガイドレール６の上端及び下端には、後述の供給（Ｉ
ｔ！ヤトイ９及び受は側ヤトイ１２に整列格納さｈた部
品ケース１０．１０の端部を挿入しつる形状とされたド
ツキングガイドレール７．８（第４図参照）がそれぞれ
設けられている。なお、このテスト治具５は、テーブル
４０所定位置において着脱可能とされて訃り、テストす
べきＩＣ等の形状、寸法に応じた部品ガイドレール６を
有する他のテスト治具５と交換することができる。

上記テーブル４の上部には、供給側ヤトイ９が設けられ
ている。この供給側ヤトイ９は、上記テスト治具５にこ
れからテストすべきＩＣ等を供給するもので、その上面
には第１図に示すように、テーブル４の長手方向すなわ
ち傾斜方向に沿ってこわからテストすべきＩＣ等が収納
された部品ケース１０が整列して格納されている。この
部品ケース１０は、収納するＩＣ等の形状、寸法に応じ
て例えば断面矩形状等の細長筒状に形成されている。そ
してこの供給側ヤトイ９は、テーブル４の孔部１１内に
設けられた駆動モータとボールネジ等からなる送り機構
によって矢印Ａ％Ｂ方向にピッチ移動するよらにされて
いる。

上記テーブル４の下部には、受は側ヤトイ１２が設けら
れている。この受は側ヤトイ１２は、テスト終了後に上
記テスト治具５から送り出されたＩＣ等を受けるもので
、その上面には第１図に示すように、テーブル４の長手
方向すなわち傾斜方向に沿ってテスト終了後のＩＣ等を
収納する前述と同様の部品ケース１０が整列して格納さ
ｈている。そしてこの受は側ヤトイ１２は、テーブル４
の孔部１３内に設けられた前述と同様の送り機構によっ
て矢印Ａ％Ｂ方向にピッチ移動するようにされている。

上記テーブル４の上端及び下端の中央部からは、第１図
に示すように、上記テスト治具５の部品ガイドレール６
及びドツキングガイドレール７．８と同一軸線上に配置
され、供給側ヤトイ９及び受は側ヤトイ１２の部品ケー
ス１０．１０の上方にてその長手方向に沿ってテーブル
４に平行に供給側ドツキング機構部１４及び受は側ドツ
キング機構部１５が張り出している。

こｈら両ドツキング機構部１４．１５は、上記それぞれ
のヤトイ９．１２に整列格納された部品ケース１０．１
０をその下面側に設けら引た押えバーを押し下げること
により順次下方に押し下げて、テスト治具５の部品ガイ
ドレール６の上端及び下端に設けら引たドツキングガイ
ドレール７．８に連結するものである。

上記テーブル４の長手方向中央部におけるテスト治具５
のセット位置には、第２図及び第３図に示すように、治
具搭載ステーション１６が設けられ、ている。この治具
搭載ステーション１６は、テスト治具５を載置するもの
で、搭載基板１７の上縁部及び下縁部に角柱状のスライ
ドブロック１Ｂ、１Ｂを有し、上記搭載基板１７の下面
側にはエアシリンダ等の駆動装置１９を有してなる。上
記スライドブロック１８．１Ｂの中間部には、テスト治
具５の部品ガイドレール６に設けられたドツキングガイ
ドレール７及び８（第４図参照）が嵌合する位置決め購
２０．２０が穿設されている。このスライドブロック１
８．１８の軸心部には孔があけられてリニアモーション
ベアリングが形成され、この孔の中にガイドボール２１
．２１が貫挿されて左右の側［２２，２３に至っている
。そして、上記駆動装置１９のエアホース２４．２４’
から空気等が流入することによりロッド２５が伸縮して
、治具搭載ステーション１６が上記ガイドボール２１．
２１を案内として横方向、すなわち矢印Ｃ，Ｄ方向へ前
進又は後退する。このとき、最前進位置又は最後退位置
での衝撃を緩和するため、所定の位置にウレタンゴム等
でできたダンパー２６が設けられている。上記搭載基板
１Ｔの一側辺部にはエアーカプラ２７等の駆動源を接続
する駆動源接続部位２８がある。

上記治具搭載ステーション１６の前進側にてテスト治具
５のセット位置に隣接する箇所には、第２図及び第３図
に示すように、信号受渡し部２９が設けられている。こ
の信号受渡し部２９は、テスト治具５の測定部からの信
号を電子部品テスタへ送るもので、取付プレート３０の
上部等にプリント板コネクタ３１が設けられてなる。な
お、第３図において符号３２は上記プリント板コネクタ
３１から電子部品テスタへ向う信号線であり、符号３３
はシールドカバーである。

次に本発明による電子部品テスタ用オートハンドラにお
けるテスト治具交換機構の作動について説明する。まず
、テスト治具５をテーブル４の中央部の所定位置に取り
付けるには、第４図及び第５図に示すように、治具搭載
ステーション１６の上方にテスト治具５を持って来て、
該テスト治具５に内蔵された部品ガイドレール６の上端
及び下端に設けられたドツキングガイドレール７．８を
上記治具搭載ステーション１６のスライドブロック１８
．１８に穿設された位置決め溝２０．２０に嵌合して載
置する。このとき、上記テスト治具５の上端側面と下端
伸開は、それぞれ上方のスライドブロック１Ｂ及び下方
のスライドブロック１８の内側面に当接するようになっ
ている。従って、テスト治具５は治具搭載ステーション
１６の上面に上下左右に位置ずれしないように搭載され
る。次に、駆動源接続部位２８においてテスト治具５の
エアーニップル３４にエアーカプラ２７を結合し、テス
ト治具５のプラグ３５にコネクタ３６を接続する。この
ような状態になったところで、治具搭載ステーション１
６の前進側の操作ボクン３７を押すと、エアホース３９
からエアーカプラ２７及びエアーニップル３４を介して
駆動装置１９のエアホース２４から空気がシリンダ内に
流入して、ロッド２５が矢印Ｃ方向に伸びる。このとき
、治具搭載ステーション１６はその上面にテスト治具５
を載せた状態でガイドボール２１を案内として信号受渡
し部２９の方へ前進する。

治具搭載ステーション１６が最も前進したところで、第
６図に示すように、該治具搭載ステーション１６の前側
面が前進側のダンパ２６に当接してリミットスイッチ等
が作動してエアホース３９からの空気の流入が正寸り、
その前進が停止する。このとき、第５図に示すテスト治
具５の内部に設けられたプリント板４０の先端のエッヂ
部４１が信号受渡し部２９のプリント板コネクタ３１に
挿入される。この結果、第６図に示すように、テスト治
具５の部品ガイドレール６及びドツキングガイドレール
７．８が供給側ドツキング機構部１４及び受は側ドツキ
ング機４部１５と同一軸線上に位置して、テスト治具５
をテーブル４の中央部の所定位置に固定される。

次に、上記テスト冶具５をテーブル４から取り外すには
、第４図に示す治具搭載ステーション１６の後退側の操
作ボタン３８を押すと、第６図に示すエアホース３９か
らエアーカプラ２７及びエアーニップル３４を介して駆
動装置２９のエアホース２４′から空気がシリンダ内に
流入して、ロッド２５が矢印り方向に縮む。このとき、
治具搭載ステーション１６はその上面にテスト治具５ｆ
載せた状態でガイドボール２１を案内として信号受渡し
部２９から後退する。この後退によってテスト治具５の
プリント板４０のエッヂ部４１は、第５図に示すように
、信号受渡し部２９のコネクタ３１から離脱する。治具
搭載ステーション１６が最も後退したところで、第５図
に示すように、該治具搭載ステーション１６の後側面が
後退側のダンパ２６に当接してリミットスイッチ等が作
動してエアホース３９からの空気の流入が止まり、その
後退が停止する。この状態になったところで、テスト治
具５へのエアーカプラ２７及びコネクタ３６の結合を解
くと、テスト治具５をそのまま上方へ持ち上げてをり外
すことができる。このようにして、テストすべきＩＣ等
の電子部品の形状、寸法等に応じて適宜の形状、寸法等
をした部品ガイドレール６を有する他のテスト治具５と
交換することができる。

（６）発明の効果 本発明は以上のように構成されたので、テスト治具５を
テストすべき電子部品の形状、寸法等に応じて適宜交換
することができる。従って、一台のオートハンドラで上
記のようにテスト治具５を交換することによって、各種
の形状、寸法等の電子部品でもその特性試験の処理を行
うことができる。捷た、テスト治具５の信号受渡し部２
９への接続、離脱は、ボタン操作による駆動装置１９に
よって行うので、プリント板コネクタ３１へのプリント
板４０のエッヂ部４１の挿入、離脱が容易で簡垣にテス
ト治具５を交換することができる。さらに、治具搭載ス
テーション１６の駆動源接続部位２８においてエアーカ
プラ２７やコネクタ３６をテスト治具５に結合するよう
にしたので、空気の流入、遮断等を制御する電磁弁等の
ノイズ源を上記テスト治具５から離れたところに設ける
ことができ、オートハンドラの各種作動操作によるテス
ト治具５へのノイズの影響をほとんど無くすことができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る電子部品テスタ用オートハンドラ
の全体を示す斜視図、第２図は治具搭載ステーション部
を示す拡大平面図、第３図は第２図のＩＩＩ　−ＩＩＩ
線断面図、第４図は治具搭載ステーションにテスト治具
を載置した状態を示す拡大平面Ｍ、第５図は第４図のｖ
−ｖ線断面図、第６図はテスト治具を信号受渡し部に接
続した状態を示す第５図と同じ部位の断面図である。 １・・・・・・架台、　２・・・・・・制御部、　４・
・・・・・テーブル、　　５・・・・・・テスト治具、
　６・・・・・・部品ガイドレール、　　７．８・・・
・・・ドツキングガイドレール、　　９・・・・・・供
給側ヤトイ、　　１０・・・・・・部品ケース、　　１
２・・・・・・受は側ヤトイ、１４・・・・・・供給側
ドツキング機構部、　　１５・・・・・・受は側ドツキ
ング機構部、　　１６・・・・・・治具搭載ステーショ
ン、　　１７・・・・・・搭載基板、１８・・・・・・
スライドブロック、　　１９・・・・・・駆動装置、　
　２０・・・・・・位置決め溝、　２１・・・・・・ガ
イドボール、　２８・・・・・・駆動源ｔ＝ｉ絖部位、
２９・・・・・・信号受渡し部、　３１・・・・・・プ
リント板コネクタ、　３７．３８・・・・・・操作ボタ
ン、４０・・・・・・プリント板、　　４１・・・・・
・エッヂ部出願人　富士通株式会社 （１８）

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 架台に設置された制御部に隣接して一側方に傾斜して設
   けらｈたテーブルと、このテーブルの中央部に設けられ
   内部に上記テーブルの傾斜方向に沿う部品ガイドレール
   を有すると共に該部品、ガイドレールに沿って電子部品
   を給送、遮断するシャッタ部及び測定部並びに判定部を
   有し且つ交換可能とされたテスト治具と、上記テーブル
   の上部に設けられこれからテストすべき電子部品を収納
   した部品ケースが整列して格納され送り機構により横方
   向にピッチ移動する供給側ヤトイと、上記テーブルの下
   部に設けられテスト終了後の゛電子部品を収納する部品
   ケースが整列して格納され送シ機構によシ上記供給側ヤ
   トイと連動して横方向にピッチ移動する受は側ヤトイと
   、上記テーブルの上端及び下端の中央部からそれぞれ併
   給側ヤトイ及び受は側ヤトイの上方に張り出されると共
   にそれぞれの部品ケースを順次下方に押し下げて上記テ
   スト治具の部品ガイドレールに連結するドツキング機構
   部とを有してなる電子部品テスタ用オートハンドラにお
   いて、上記テスト治具のセット位置に、該テスト治具を
   所定位置に位置決めして載置する搭載基板を有しこの搭
   載基板の一側辺部には駆動源接続部位を有して駆動装置
   によって横方向へ前進、後退するように移動可能とされ
   た治具搭載ステーションを設け、この治具搭載ステーシ
   ョンの前進側にて上記テスト治具のセット位置に隣接し
   て信号受渡し部を設け、上記治具搭載ステーションにテ
   スト治具を載置して前進することにより信号受渡し部の
   コネクタと接続固定し、後退することによシ離脱するよ
   うにしたことを特徴とする電子部品テスタ用オートハン
   ドラにおけるテスト治具交換機構。