JPH0153428B2 - - Google Patents
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- JPH0153428B2 JPH0153428B2 JP20772081A JP20772081A JPH0153428B2 JP H0153428 B2 JPH0153428 B2 JP H0153428B2 JP 20772081 A JP20772081 A JP 20772081A JP 20772081 A JP20772081 A JP 20772081A JP H0153428 B2 JPH0153428 B2 JP H0153428B2
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- cable
- coupling capacitor
- partial discharge
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は電力ケーブルやこのケーブルの接続部
の絶縁劣化を測定する場合に有用な部分放電測定
法に関するものである。
の絶縁劣化を測定する場合に有用な部分放電測定
法に関するものである。
(発明の技術的背景とその問題点)
電力ケーブルやケーブル接続部の部分放電測定
法としては第1図に示すような方法が知られてい
る。
法としては第1図に示すような方法が知られてい
る。
すなわち、供試ケーブル1の導体の一端とブロ
ツキングコイル2間を結ぶリード線3の一点は、
結合コンデンサ4およびこれに直列に接続された
検出素子5を介して接地されている。
ツキングコイル2間を結ぶリード線3の一点は、
結合コンデンサ4およびこれに直列に接続された
検出素子5を介して接地されている。
またケーブルの遮蔽層6の一点も接地されてい
る。
る。
上記構成の測定回路において、ブロツキングコ
イル2の一端に高圧電源7を接続すれば供試ケー
ブル内部で発生した部分放電信号は検出素子5で
検出される。
イル2の一端に高圧電源7を接続すれば供試ケー
ブル内部で発生した部分放電信号は検出素子5で
検出される。
しかしながら、このような従来の測定方法にお
いては、結合コンデンサ4と検出素子5からなる
パルス検出回路が空間的に組立てられているので
静電誘導や電磁誘導による外来ノイズが入り込み
易い欠点がある。
いては、結合コンデンサ4と検出素子5からなる
パルス検出回路が空間的に組立てられているので
静電誘導や電磁誘導による外来ノイズが入り込み
易い欠点がある。
このため、第2図に示すように、結合コンデン
サとして、ケーブル絶縁体の静電容量を利用した
結合コンデンサ用ケーブル8で代用し、かつ外来
ノイズをパランサ9によつて除去する方法が提案
されている。
サとして、ケーブル絶縁体の静電容量を利用した
結合コンデンサ用ケーブル8で代用し、かつ外来
ノイズをパランサ9によつて除去する方法が提案
されている。
すなわち、上記の測定回路においては、供試ケ
ーブル接続部10および結合コンデンサ用ケーブ
ル8の各遮蔽層11,12が検出素子13,14
を介して接地され、この検出素子13,14で検
出される部分放電信号の極性が異なる時のみの信
号を測定することによつて外来ノイズを除去して
いる。
ーブル接続部10および結合コンデンサ用ケーブ
ル8の各遮蔽層11,12が検出素子13,14
を介して接地され、この検出素子13,14で検
出される部分放電信号の極性が異なる時のみの信
号を測定することによつて外来ノイズを除去して
いる。
しかし、かかる部分放電の測定法においては、
測定回路のループが長尺化しているので外来ノイ
ズが入来し易い欠点がある。
測定回路のループが長尺化しているので外来ノイ
ズが入来し易い欠点がある。
このため、この外来ノイズの入来を小さくする
分離測定法が提案されている。
分離測定法が提案されている。
この分離測定法においては、遮蔽層の一部を切
除することにより測定回路のループ長を電気的に
短尺化しているので、外来ノイズを小さくなしう
る利点を有するが以下に述べる欠点がある。
除することにより測定回路のループ長を電気的に
短尺化しているので、外来ノイズを小さくなしう
る利点を有するが以下に述べる欠点がある。
すなわち、第3図に示すようにOFケーブル等
からなる結合コンデンサ用ケーブルの任意個所の
金属シース15を所要長切除し、この切除部分に
一対の円筒体16,17を被せ、絶縁筒18を介
して一対のフランジ19,20どうしを連結す
る。
からなる結合コンデンサ用ケーブルの任意個所の
金属シース15を所要長切除し、この切除部分に
一対の円筒体16,17を被せ、絶縁筒18を介
して一対のフランジ19,20どうしを連結す
る。
同様にしてケーブル遮蔽層21も切除され、該
部の絶縁体22外周に所要の抵抗値を有するカー
ボン紙等の半導体層23を、ケーブル遮蔽層2
1,21間に跨つて設ける。
部の絶縁体22外周に所要の抵抗値を有するカー
ボン紙等の半導体層23を、ケーブル遮蔽層2
1,21間に跨つて設ける。
なお、上記の半導体層23の抵抗値は、検出素
子13,14の抵抗値より大きい値、例えば100
Ω以上とされるが、ケーブル絶縁体22外周に外
部半導電層(図示せず)が形成されている場合に
おいては、この外部半導電層の抵抗で代用しても
よい。
子13,14の抵抗値より大きい値、例えば100
Ω以上とされるが、ケーブル絶縁体22外周に外
部半導電層(図示せず)が形成されている場合に
おいては、この外部半導電層の抵抗で代用しても
よい。
上記のケーブル遮蔽層の切除部分に所要の半導
体層を設けるのは、ケーブル遮蔽層の完全分離に
よつてこの遮蔽端部に集中する電界のストレスを
緩和するためである。
体層を設けるのは、ケーブル遮蔽層の完全分離に
よつてこの遮蔽端部に集中する電界のストレスを
緩和するためである。
以上によつて測定回路のループ長を短尺化する
いわゆる分離手段が終了するがかかる分離作業に
おいては、金属シースの切除作業が困難であり、
またケーブル遮蔽層の切除作業時に絶縁体を損傷
させる欠点がある。
いわゆる分離手段が終了するがかかる分離作業に
おいては、金属シースの切除作業が困難であり、
またケーブル遮蔽層の切除作業時に絶縁体を損傷
させる欠点がある。
また、部分放電の測定を行なう毎に結合コンデ
ンサ用ケーブルを作成しなければならない欠点が
ある。
ンサ用ケーブルを作成しなければならない欠点が
ある。
(発明の目的)
本発明は、上記事情に基づきなされたもので、
ケーブル絶縁体を損傷させることがなくまた試験
毎に結合コンデンサ用ケーブルを作成しなくとも
試験を行ないうる部分放電測定法を提供しようと
するものである。
ケーブル絶縁体を損傷させることがなくまた試験
毎に結合コンデンサ用ケーブルを作成しなくとも
試験を行ないうる部分放電測定法を提供しようと
するものである。
(発明の概要)
本発明においては、結合コンデンサ用ケーブル
および例えば供試ケーブルの各端末を終端処理
し、得られた各ケーブルの終端部の一方側の終端
部どうしの導体のみを電気的に接続することによ
り、前記目的を達成している。
および例えば供試ケーブルの各端末を終端処理
し、得られた各ケーブルの終端部の一方側の終端
部どうしの導体のみを電気的に接続することによ
り、前記目的を達成している。
(発明の実施例)
以下、本発明を一実施例の図面に基づいてその
詳細を説明する。
詳細を説明する。
第4図において、例えばCVケーブルがOFケー
ブル等の接続部で構成される供試体24および前
記ケーブルと同様構成のケーブルで構成される結
合コンデンサ用ケーブル25の各端末は常法によ
りそれぞれ終端処理され、これによつて形成され
た供試体および結合コンデンサ用ケーブルの一方
側の終端部26,27どうしの導体のみが電気的
に接続され、この接続部分は、必要により、接地
した密閉金属ケース28で包被される。
ブル等の接続部で構成される供試体24および前
記ケーブルと同様構成のケーブルで構成される結
合コンデンサ用ケーブル25の各端末は常法によ
りそれぞれ終端処理され、これによつて形成され
た供試体および結合コンデンサ用ケーブルの一方
側の終端部26,27どうしの導体のみが電気的
に接続され、この接続部分は、必要により、接地
した密閉金属ケース28で包被される。
供試体24の他方の終端部29は、必要により
接地した密閉金属ケース30で包被され、結合コ
ンデンサ用ケーブル25の他方の終端部31はそ
のまま、すなわち気中終端とされ、その頂部には
ケーブル導体に電気的に接続された電極棒32が
露出されている。
接地した密閉金属ケース30で包被され、結合コ
ンデンサ用ケーブル25の他方の終端部31はそ
のまま、すなわち気中終端とされ、その頂部には
ケーブル導体に電気的に接続された電極棒32が
露出されている。
一方、供試体および結合コンデンサ用ケーブル
の各遮蔽層33,34は、それぞれ検出素子3
5,36を介して接地され、各リード線37,3
8間にはパランサ39を介して部分放電検出器4
0が接続されている。
の各遮蔽層33,34は、それぞれ検出素子3
5,36を介して接地され、各リード線37,3
8間にはパランサ39を介して部分放電検出器4
0が接続されている。
測定回路のループ長を短尺にする分離部41
は、第5図に示すようにして形成されている。
は、第5図に示すようにして形成されている。
すなわち、結合コンデンサ用ケーブルおよび供
試体の端末はそれぞれ段剥処理され、これによつ
て外部半導電層42、ケーブル遮蔽層43および
ケーブル絶縁体44がそれぞれ露出され、露出さ
れた絶縁体外周には、補強絶縁層45およびこの
頂部外周に設けたエポキシベルマウス46等によ
り構成される電界緩和手段47が設けられ、この
手段のテーパ部分にはケーブル遮蔽層43に跨が
る遮蔽体48が設けられている。
試体の端末はそれぞれ段剥処理され、これによつ
て外部半導電層42、ケーブル遮蔽層43および
ケーブル絶縁体44がそれぞれ露出され、露出さ
れた絶縁体外周には、補強絶縁層45およびこの
頂部外周に設けたエポキシベルマウス46等によ
り構成される電界緩和手段47が設けられ、この
手段のテーパ部分にはケーブル遮蔽層43に跨が
る遮蔽体48が設けられている。
一方、結合コンデンサ用ケーブルおよび供試体
の金属シース49端部には小径フランジ50を有
する筒状金具51が被嵌され、その端部は鉛工処
理によつて金属シース49に固着されている。
の金属シース49端部には小径フランジ50を有
する筒状金具51が被嵌され、その端部は鉛工処
理によつて金属シース49に固着されている。
また、一端に大径フランジ52、他端に小径フ
ランジ53を有する筒状金具54の大径フランジ
52側は、密閉金属ケース28または30にボル
ト55により固着されている。
ランジ53を有する筒状金具54の大径フランジ
52側は、密閉金属ケース28または30にボル
ト55により固着されている。
しかして上記の小径フランジ50,53どうし
を絶縁リング56を介して絶縁ボルト57で連結
すれば、金属シース49のパルス的な切離作業が
完成する。
を絶縁リング56を介して絶縁ボルト57で連結
すれば、金属シース49のパルス的な切離作業が
完成する。
なお、58はケーブル端末を包囲するエポキシ
套管でこの頂部には第4図に示すようにコロナシ
ールド59が設けられている。
套管でこの頂部には第4図に示すようにコロナシ
ールド59が設けられている。
また、各密閉金属ケース内にはSF6ガスもしく
は絶縁油等の絶縁性流体が封入もしくは油填され
ている。
は絶縁油等の絶縁性流体が封入もしくは油填され
ている。
第4図および第5図と同一部分に同一番号を付
した第6図は、結合コンデンサ用ケーブルの他方
の終端部にブロツキングコイル60を接続し、こ
の接続部分を前記同様に接地した密閉金属ケース
61で包被した場合の実施例を示している。
した第6図は、結合コンデンサ用ケーブルの他方
の終端部にブロツキングコイル60を接続し、こ
の接続部分を前記同様に接地した密閉金属ケース
61で包被した場合の実施例を示している。
この実施例においては、試験電圧の印加側すな
わち気中終端部から入来する外来ノイズをブロツ
キングコイルで除去できる利点がある。
わち気中終端部から入来する外来ノイズをブロツ
キングコイルで除去できる利点がある。
また、密閉金属ケース間は、例えば第6図の点
線で示すように接地した筒金具62で包被しても
よい。
線で示すように接地した筒金具62で包被しても
よい。
この場合においては測定回路全体が接地した密
閉体で包被された形となるので、外来ノイズの入
来を更に減少できる利点がある。
閉体で包被された形となるので、外来ノイズの入
来を更に減少できる利点がある。
上記のごとくして測定回路を構成し、コンデン
サ用ケーブルの他方の終端部に試験電圧を印加す
れば、供試体24内部に生じた部分放電信号は各
検出素子35,36で検出される。
サ用ケーブルの他方の終端部に試験電圧を印加す
れば、供試体24内部に生じた部分放電信号は各
検出素子35,36で検出される。
しかして、これらの各信号を、その極性が異な
るときに作動するパランサ39を介して部分放電
検出器40で検出すれば外来ノイズを含まない部
分放電信号を測定できる。
るときに作動するパランサ39を介して部分放電
検出器40で検出すれば外来ノイズを含まない部
分放電信号を測定できる。
なお、前述の実施例においては、供試体として
ケーブル接続部を用いた場合について述べてある
が、本発明はこれに限定されず、例えばケーブル
に適用してもよい。
ケーブル接続部を用いた場合について述べてある
が、本発明はこれに限定されず、例えばケーブル
に適用してもよい。
なお、第3図および第5図において符号63は
鉛工部を示しており、第2図において符号64は
部分放電検出器を示している。
鉛工部を示しており、第2図において符号64は
部分放電検出器を示している。
(発明の効果)
上述した本発明においては、結合コンデンサ用
ケーブルおよび例えば供試ケーブルの各端末を終
端処理し、得られた各ケーブルの終端部の一方側
の終端部どうしの導体のみを電気的に接続してい
るので、結合コンデンサ用ケーブルの金属シース
およびケーブル遮蔽層を供試体のそれから分離し
て測定回路の閉ループを短尺化できる。
ケーブルおよび例えば供試ケーブルの各端末を終
端処理し、得られた各ケーブルの終端部の一方側
の終端部どうしの導体のみを電気的に接続してい
るので、結合コンデンサ用ケーブルの金属シース
およびケーブル遮蔽層を供試体のそれから分離し
て測定回路の閉ループを短尺化できる。
すなわち、結合コンデンサ用ケーブルおよび供
試体のそれぞれの一方側の終端部どうしを絶縁筒
を介して小径フランジどうしを連結することで、
いわゆるシースの分離作業を行ないうるので、従
来困難であつた任意個所での金属シースの切除作
業が不要であり、また絶縁体を損傷させるおそれ
もない。
試体のそれぞれの一方側の終端部どうしを絶縁筒
を介して小径フランジどうしを連結することで、
いわゆるシースの分離作業を行ないうるので、従
来困難であつた任意個所での金属シースの切除作
業が不要であり、また絶縁体を損傷させるおそれ
もない。
また、本発明においては、両終端処理した結合
コンデンサ用ケーブルを一度作成しておけば、こ
の結合コンデンサ用ケーブルを他の部分放電試験
にも再使用できるので作業時間を短縮できる。
コンデンサ用ケーブルを一度作成しておけば、こ
の結合コンデンサ用ケーブルを他の部分放電試験
にも再使用できるので作業時間を短縮できる。
第1図は、従来の部分放電測定法における回路
図、第2図は分離測定法における模式図、第3図
は、遮蔽層の分離状況を示す要部縦断面図、第4
図は本発明の部分放電測定法における模式図、第
5図は本発明における遮蔽層の分離状況を示す要
部縦断面図、第6図は本発明の他の実施例を示す
模式図である。 24……供試体、25……結合コンデンサ用ケ
ーブル、26,27,29,31……終端部、2
8,30,61……密閉金属ケース、33,34
……遮蔽層、35,36……検出素子、39……
パランサ、40……部分放電検出器、41……分
離部、47……電界緩和手段、56……絶縁リン
グ、60……ブロツキングコイル。
図、第2図は分離測定法における模式図、第3図
は、遮蔽層の分離状況を示す要部縦断面図、第4
図は本発明の部分放電測定法における模式図、第
5図は本発明における遮蔽層の分離状況を示す要
部縦断面図、第6図は本発明の他の実施例を示す
模式図である。 24……供試体、25……結合コンデンサ用ケ
ーブル、26,27,29,31……終端部、2
8,30,61……密閉金属ケース、33,34
……遮蔽層、35,36……検出素子、39……
パランサ、40……部分放電検出器、41……分
離部、47……電界緩和手段、56……絶縁リン
グ、60……ブロツキングコイル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 それぞれの両端に終端部が形成され、それぞ
れの遮蔽層が検出素子を介して接地されてなる結
合コンデンサ用ケーブルと供試体の一方の終端部
どうしの導体のみを電気的に連結し、前記結合コ
ンデンサ用ケーブルの他方の終端部の導体に試験
電圧を印加したときに前記各検出素子で検出され
る部分放電信号の極性が異なるときの部分放電信
号の測定を行なうことを特徴とする部分放電測定
法。 2 結合コンデンサ用ケーブルと供試体の一方の
終端部どうしの連結部および供試体の他方の終端
部を接地した密閉金属ケースで包被してなること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の部分放
電測定法。 3 試験電圧が、結合コンデンサ用ケーブルの他
方の終端部の導体に電気的に接続されたブロツキ
ングコイルを介して印加されることを特徴とする
特許請求の範囲第1項または第2項記載の部分放
電測定法。 4 ブロツキングコイルおよびこれに接続された
結合コンデンサ用ケーブルの他方の終端部が、接
地した密閉金属ケースで包被されることを特徴と
する特許請求の範囲第3項記載の部分放電測定
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20772081A JPS58108472A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 部分放電測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20772081A JPS58108472A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 部分放電測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58108472A JPS58108472A (ja) | 1983-06-28 |
| JPH0153428B2 true JPH0153428B2 (ja) | 1989-11-14 |
Family
ID=16544428
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20772081A Granted JPS58108472A (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 部分放電測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58108472A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6072578U (ja) * | 1983-10-21 | 1985-05-22 | 三菱電線工業株式会社 | ケ−ブルの部分放電測定装置 |
| JPS60123673U (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-20 | 昭和電線電纜株式会社 | 部分放電測定装置 |
| JPS61251779A (ja) * | 1985-04-30 | 1986-11-08 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 部分放電測定方法 |
| JPS63253269A (ja) * | 1987-04-10 | 1988-10-20 | Fujikura Ltd | 部分放電測定用終端装置 |
| JPH0628709Y2 (ja) * | 1988-02-17 | 1994-08-03 | 昭和電線電纜株式会社 | ケーブル試験装置 |
| JPH0827325B2 (ja) * | 1988-05-12 | 1996-03-21 | 関西電力株式会社 | 電力機器の故障検査装置 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP20772081A patent/JPS58108472A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58108472A (ja) | 1983-06-28 |
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