JPH0157183B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は布を把持および位置決めし、さらに１
枚又は多数枚の布を自動的に縫製する自動縫製シ
ステムにおいて、布の柄や色、背景等に無関係に
布形状を検出する方法に関する。

従来の技術 布形状の検出は従来、透過光等により高コント
ラスト画像を得て、輪郭形状を検出する手法、又
は一旦画像を計算機にて入力し、デイジタル画像
処理する手法、例えばラプラスフイルタリングを
用い輪郭形状を検出する手法がある。

透過光を用いて手法は、第５図に示すように光
を散乱させるガラス板５１の下側から強い光量の
照明５２を照射し、ガラス板５１上に検出する布
地５３を置き、上方の撮像装置５４に透過ガラス
光をさえ切る布地５３の像を入力するものであ
る。透過ガラス光と布地における光量差は大き
く、一定レベルの画像信号値にて二値化して鮮明
な布形状画像を得ることができる。

ラプラスフイルタリングを用いた手法とは、第
６図のようなフイルタリング演算子６１を用いデ
イジタル高周波ろ波するものである。演算の結果
は第７図のプロフイール図に示すように、エツジ
部分が山（辺縁強度が強い）となる。

この山の部分を二値化や細線化等の手法により
稜線抽出し、布形状の輪郭線を得る。

発明が解決しようとする問題点 前記従来技術において、透過光手法は透過光を
設置するスペースが必要となる。又、布地の色の
変化により二値化時の閾値を対応して変える必要
がある。柄物の布地の場合、固定閾値での二値化
は困難になると予想される。

さらに第８図に示すように布を重ねた場合の内
側輪郭線８１の検出は、柄物の布地の場合等で
は、二値化以外の手法を用いても難しい。

フイルタリングを用いた手法では、透過光等の
スペースは不要となる。また、高周波ろ波である
ため照明のDC的な（低周波の）変化をも吸収す
る。しかしながら、前記の如く稜線抽出する場
合、辺縁強度の変化が多様であり、単純な二値化
では抽出が難しい。さらに柄物の布地の場合、多
数稜線が出現し、輪郭線との区別が難しい。

問題点を解決するための手段 本発明の第１の発明は、所定の方向と角度に位
置決めした平行光をスリツト光又はステツプ光に
変換し、前記変換した光を布面に対し鋭角に照射
し、得られた光切断面を画像処理装置にて画像デ
ータに変換し、布のエツジ部分に生じる光切断面
の段差にてエツジ検出するという構成を備えたも
のである。

本発明の第２の発明は、所定の方向と角度に位
置決めした平行光をスリツト光又はステツプ光に
変換し、前記変換した光を布面に対し鋭角とし、
さらに予想されるエツジ線に対し鋭角に照射し、
得られた光切断面を画像処理装置にて画像データ
に変換し、布のエツジ部分に生じる光切断面の段
差にてエツジ検出するという構成を備えたもので
ある。

作 用 本発明の第１の発明は、布面に対し鋭角の光切
断面を発生させ、布のエツジ部分に生じる光切断
面の段差にてエツジを検出するもので、通常厚さ
の薄い布地では段差が出にくいが、これを出し易
くするため、布面に対し鋭角に光を投射してお
り、さらにその反射にて検出するため、柄や色に
より発生する問題点をも解決するものである。

本発明の第２の発明は、布面に対し鋭角とし、
さらに予想されるエツジ線に対し鋭角の光切断面
を発生させ、布のエツジ部分に生じる光切断面の
段差にてエツジ検出するもので、通常厚さの薄い
布地では段差が出にくいが、これを出し易くする
ため、布面に対し鋭角に、さらに予想されるエツ
ジ線に鋭角に光を投射しており、さらにその反射
にて検出するため、柄や色により発生する問題点
をも解決するものである。

実施例 以下本発明の一実施例の布形状検出方法につい
て、図面を参照しながら説明する。

第１図は本発明の第１の実施例における布形状
検出方法の全構成を示すものである。第１図にお
いて１１は検出対象となる布地である。１２は平
行光源、１４は平行光源１２を位置決めする治
具、１３は平行光をスリツト光又はステツプ光に
変換する変換系、１６は変換系１３を経由し布面
に照射して得られた段差を含む光切断面、１５は
光切断面１６を含む布地１１の全画像を撮像し画
像データに変換する画像処理装置である。

第２図ａ，ｂは布と段差面の関係を側面図およ
び平面図にて示した図である。平行光の変換系１
３による変換結果がスリツト光になるものとす
る。この場合布面上側にて反射するスリツト光２
１と布面下側にて反射するスリツト光２２との段
差L₁は、布の厚さをω、布面とスリツトの間の
角度をθとして、L₁＝ω／tanθとなる。

このためθを適当な値に設定すれば、低倍率す
なわち比較的大きい視野の画像中の布形状検出も
可能となる。

以上のように本実施例によれば、布面に対して
鋭角に位置決めしたスリツト光を用いることによ
り、布のエツジ部を示す段差面を容易に得ること
ができる。また、光を積極的に用いることによ
り、布の柄・色に無関係に段差面を得ることがで
きる。

第３図は本発明の第２の実施例における布形状
検出方法の全構成を示すものである。第３図にお
いて３２は平行光源、３４は平行光源３２を位置
決めする治具、３３は平行光源３２をステツプ光
又はスリツト光に変換する変換系、３６は変換系
３３を経由し、布面に照射して得られた段差を含
む光切断面、３５は光切断面３６を含む布地３１
の全面像を撮像し、画像データに変換する画像処
理装置である。

第４図ａ，ｂは布と段差面との関係を側面図お
よび平面図にて示した図である。平行光の変換系
３３による変換結果がスリツト光になるものとす
る。この場合布面上側にて反射するスリツト光４
１と布面下側にて反射するスリツト光４２との段
差L₂は、布の厚さをω、布面とスリツト側の角
度をθ、エツジ線とスリツト間の角度をαとし
て、L₂＝ω／（tanθ）（Sinα）となる。

このためθのみならずαも適当な値に設定すれ
ば、第１の実施例よりもさらに低倍率すなわち、
さらに大きい視野の画像中の布形状検出も可能と
なる。

以上のように本実施例によれば、布面に対して
鋭角に、さらに予想されるエツジ線に対して鋭角
に位置決めしたスリツト光を用いることにより、
布のエツジ部を示す段差面を第１の実施例よりも
さらに容易に得ることができる。

また、光を積極的に用いることにより、布の
柄・色に無関係に段差面を得ることができる。

尚、本発明は、布を重ねた場合の上側の布と下
側の布との間の内側輪郭線の検出も同様に行うこ
とができる。

発明の効果 以上述べたように本発明の第１の発明によれ
ば、布面に対して鋭角に位置決めしたスリツト光
ないしステツプ光を用いることにより、布のエツ
ジ部を示す段差面を容易に得ることができる。ま
た光を積極的に用いることにより、布の柄・色に
無関係に段差面を得ることができる。

また、本発明の第２の発明によれば、布面に対
して鋭角に、さらに予想されるエツジ線に対して
鋭角に位置決めしたスリツト光ないしステツプ光
を用いることにより、布のエツジ部を示す段差面
を第１の発明よりもさらに容易に得ることができ
る。また、光を積極的に用いることにより、布の
柄・色に無関係に段差面を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例における布形状
検出方法の構成を示す図、第２図ａ，ｂは同段差
面の側面図と平面図、第３図は第２の実施例にお
ける布形状検出方法の構成を示す図、第４図ａ，
ｂは同段差面の側面図と平面図、第５図は透視光
手法を示す図、第６図はラプラシアン・フイルタ
リング演算子を示す図、第７図はラプラシアン・
フイルタの演算前後のプロフイール図、第８図は
重ね布の円側輪郭線を示す図である。 １１，３１……布地、１２，３２……平行光
源、１３，３３……変換系、１５，３５……画像
処理装置、１６，３６……光切断面。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 平面状に置かれた布のエツジ検出に際し、所
   定の方向と角度に位置決めした平行光をスリツト
   光又はステツプ光に変換し、前記変換した光を布
   面に対し鋭角に照射し、得られた光切断面を画像
   処理装置にて画像データに変換し、布のエツジ部
   分に生じる光切断面の段差にてエツジ検出するこ
   とを特徴とする布形状検出方法。 ２ 平面状に置かれた布のエツジ検出に際し、所
   定の方向と角度に位置決めした平行光をスリツト
   光又はステツプ光に変換し、前記変換した光を布
   面に対し鋭角とし、さらに予想される布のエツジ
   線に対し鋭角に照射し、得られた光切断面を画像
   処理装置にて画像データに変換し、布のエツジ部
   分に生じる光切断面の段差にてエツジ検出するこ
   とを特徴とする布形状検出方法。