JPH0174570U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0174570U JPH0174570U JP1987169915U JP16991587U JPH0174570U JP H0174570 U JPH0174570 U JP H0174570U JP 1987169915 U JP1987169915 U JP 1987169915U JP 16991587 U JP16991587 U JP 16991587U JP H0174570 U JPH0174570 U JP H0174570U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- printed circuit
- inspected
- boards
- inspection jig
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例の構成を示す断面図
、第２図は従来技術による一例の構成を示す断面
図。 １……被検査プリント基板、６……コンタクト
プローブ、７……検査治具用ダミープリント基板
、８……検査治具用プリント基板、９……サポー
ト、１０……配線パターン、１１……コンタクト
プローブ用スルーホール。
、第２図は従来技術による一例の構成を示す断面
図。 １……被検査プリント基板、６……コンタクト
プローブ、７……検査治具用ダミープリント基板
、８……検査治具用プリント基板、９……サポー
ト、１０……配線パターン、１１……コンタクト
プローブ用スルーホール。
Claims (1)
- 被検査プリント基板と比べて少なくとも同一加
工を行つた少なくとも２枚の基板をその面に垂直
方向に離隔してスペーサを挟み相互に固定すると
共に、前記被検査プリント基板の加工箇所に対応
した前記基板の加工箇所を通して前記被検査プリ
ント板に接触するコンタクトプローブを設け、前
記コンタクトプローブ間にあらかじめ定められた
配線を行つたことを特徴とするプリント基板検査
治具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987169915U JPH0174570U (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987169915U JPH0174570U (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0174570U true JPH0174570U (ja) | 1989-05-19 |
Family
ID=31460396
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987169915U Pending JPH0174570U (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0174570U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03117362U (ja) * | 1990-03-12 | 1991-12-04 | ||
| JP2017146120A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | 富士ゼロックス株式会社 | 検査装置、検査装置の製造方法 |
-
1987
- 1987-11-05 JP JP1987169915U patent/JPH0174570U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03117362U (ja) * | 1990-03-12 | 1991-12-04 | ||
| JP2017146120A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | 富士ゼロックス株式会社 | 検査装置、検査装置の製造方法 |
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