JPH0191415A - ウエハサセプタ - Google Patents
ウエハサセプタInfo
- Publication number
- JPH0191415A JPH0191415A JP61193394A JP19339486A JPH0191415A JP H0191415 A JPH0191415 A JP H0191415A JP 61193394 A JP61193394 A JP 61193394A JP 19339486 A JP19339486 A JP 19339486A JP H0191415 A JPH0191415 A JP H0191415A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- wafers
- support plate
- holding sheets
- holding
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、半導体製造装置の処理室内等に配置されウェ
ハを保持するウェハサセプタに関する。
ハを保持するウェハサセプタに関する。
(従来の技術)
例えば、CVD装置等の半導体製造装置に用いられ、ウ
ェハを保持するウェハサセプタは、−般に第5図に示す
ように構成されており、石英等からなるウェハボート1
上には、同じく石英等からなる円板状の支持板2が多数
立設され、この支持板2の一方または両方の面には、ウ
ェハを支持するための爪3が1または複数突設されてい
る。
ェハを保持するウェハサセプタは、−般に第5図に示す
ように構成されており、石英等からなるウェハボート1
上には、同じく石英等からなる円板状の支持板2が多数
立設され、この支持板2の一方または両方の面には、ウ
ェハを支持するための爪3が1または複数突設されてい
る。
そして、点線で示すように、ウェハ4は、この支持板2
によって側面を支持さ°れ、爪3によって下部を支持さ
れて支持板2の表面に平行に保持されて、一つのウェハ
ボート1上に多数のウェハ4が配置されて、CVD装置
等の半導体製造装置の処理室内へ配置され、バッチ処理
によって処理が行なわれる。
によって側面を支持さ°れ、爪3によって下部を支持さ
れて支持板2の表面に平行に保持されて、一つのウェハ
ボート1上に多数のウェハ4が配置されて、CVD装置
等の半導体製造装置の処理室内へ配置され、バッチ処理
によって処理が行なわれる。
また、CVD装置用のウェハサセプタ等では、ウェハ4
上の成膜速度を均一化するため、ウェハ4の径に対して
支持板2の径を大径として、ウェハ4の端部と支持板2
の端部との間に間隔を設は支持板2の中央部にウェハ4
が配置ζtされるよう構成されたものが多い。
上の成膜速度を均一化するため、ウェハ4の径に対して
支持板2の径を大径として、ウェハ4の端部と支持板2
の端部との間に間隔を設は支持板2の中央部にウェハ4
が配置ζtされるよう構成されたものが多い。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら上記説明の従来のウェハサセプタでは、半
導体製造装置の処理室内での発塵およびガス等の発生を
避けるため、ウェハボート、支持板等が石英等により荀
)成さ゛れており、ウェハの大径化等により、支持板等
か大径化し、ウェハ1ナセプタの重量が増大する傾向に
ある。このため、処理室内へのロード、アン[1−ドの
際に例えば自動装置等を用いてウェハボートを持ら上げ
、処理室内へ配置するいわゆるソフトランディングを行
なうことが困ガ]となるという問題があった。
導体製造装置の処理室内での発塵およびガス等の発生を
避けるため、ウェハボート、支持板等が石英等により荀
)成さ゛れており、ウェハの大径化等により、支持板等
か大径化し、ウェハ1ナセプタの重量が増大する傾向に
ある。このため、処理室内へのロード、アン[1−ドの
際に例えば自動装置等を用いてウェハボートを持ら上げ
、処理室内へ配置するいわゆるソフトランディングを行
なうことが困ガ]となるという問題があった。
本発明は係る従来の事情に対処してなされたもので、従
来に比べてウェハ1ナセプタを軽帛化ゴることができ、
自動装置等によるソフトランディングにより半導体製)
告装置の処理室内への「1−ド、アンロードを行なうこ
とができるウエハナセプタを提供しようとする・bので
ある。
来に比べてウェハ1ナセプタを軽帛化ゴることができ、
自動装置等によるソフトランディングにより半導体製)
告装置の処理室内への「1−ド、アンロードを行なうこ
とができるウエハナセプタを提供しようとする・bので
ある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
すなわち本発明は、支持板表面に平行にウェハを保持す
るウェハサセプタにおいて、前記支持板を、1または複
数の前記ウェハより小径な透孔を有する板状体により構
成したことを特徴とする。
るウェハサセプタにおいて、前記支持板を、1または複
数の前記ウェハより小径な透孔を有する板状体により構
成したことを特徴とする。
(作 用)
本発明のウェハサセプタでは、ウェハを支持する支持板
をウェハより小径の透孔を1または複数形成された板状
体により構成したので、この支持板の巾■を軽量化する
ことができ、ウェハ1セプタ重量を軽量化することがで
きる。
をウェハより小径の透孔を1または複数形成された板状
体により構成したので、この支持板の巾■を軽量化する
ことができ、ウェハ1セプタ重量を軽量化することがで
きる。
(実施例)
以下、本発明のウエハナセプタを図面を参照して一実施
例について説明する。
例について説明する。
第1図は本発明の一実施例のウエハナセプタの要部を示
すもので、この実施例のウェハ4ノセプタでは、少なく
とも各辺の部位に配置された、例えば太さ12mm程度
の石英からなる角型または丸型棒状部材により幅12c
m、艮ざ60cm、高さ5cm程度の直方体形状の枠体
に構成されたウェハボー1・11には、両端に同様な棒
状部材により構成された取手11aが配置されており、
長手方向上側に平行して配置された2本の棒状部材11
bの内側には、例えば3.1mm程度の幅を有する溝1
1Gがそれぞれ両(令状部材11b間で対向するよう例
えば5mm程度の一定間隔おきに、多数形成されている
。
すもので、この実施例のウェハ4ノセプタでは、少なく
とも各辺の部位に配置された、例えば太さ12mm程度
の石英からなる角型または丸型棒状部材により幅12c
m、艮ざ60cm、高さ5cm程度の直方体形状の枠体
に構成されたウェハボー1・11には、両端に同様な棒
状部材により構成された取手11aが配置されており、
長手方向上側に平行して配置された2本の棒状部材11
bの内側には、例えば3.1mm程度の幅を有する溝1
1Gがそれぞれ両(令状部材11b間で対向するよう例
えば5mm程度の一定間隔おきに、多数形成されている
。
また支持板12は、例えば外径18cm、幅2cm厚ざ
3mm程度の石英からなる環状板から(8成されており
、その中央部は、支持板12に同心的に載置される点線
で示す直径的15cmのウェハ13より小径の直径約1
4cm程度の透孔部12aとされている。
3mm程度の石英からなる環状板から(8成されており
、その中央部は、支持板12に同心的に載置される点線
で示す直径的15cmのウェハ13より小径の直径約1
4cm程度の透孔部12aとされている。
また、支持板12の両面には、載置されるウェハ13の
外周縁部に沿って、このウェハ13の下部を支持するた
めの石英からなる爪14が複数突設されでいる。
外周縁部に沿って、このウェハ13の下部を支持するた
めの石英からなる爪14が複数突設されでいる。
そして、例えば3cm程度の所定の間隔を設けて、支持
板12の周縁部がウェハボー1・11の2本の棒状部材
11bの対向する溝11Gにそれぞれ看脱自在に嵌合さ
れ、支持板12がウェハボート11上に多数立設される
。
板12の周縁部がウェハボー1・11の2本の棒状部材
11bの対向する溝11Gにそれぞれ看脱自在に嵌合さ
れ、支持板12がウェハボート11上に多数立設される
。
上記構成のこの実施例のウェハサセプタでは、支持板1
2上の爪14によってウェハ13の下部を支持し、支持
板12によってウェハ13の側面を支持づることによっ
て、ウェハ13を支持板12の表面に平行に保持する。
2上の爪14によってウェハ13の下部を支持し、支持
板12によってウェハ13の側面を支持づることによっ
て、ウェハ13を支持板12の表面に平行に保持する。
そしてウェハボー1・11上に多数配置された支持板1
2の両面または片面にそれぞれ「ウェハ13が・載置さ
れ、半導体装置 このとき、例えばCVD装置によってウェハ13上にリ
ンドープポリシリコン等の不純物をドーピングす≧膜や
tリブアン等の膜を形成する場合は、一般に膜厚を均一
化することが困難であるか、第2図に5示すように、支
持板12間のピッチPがウェハ13の端部と支持板12
の端部との距離Lに対して、 P≧3/L なる関係を満たすようにPおよびLをWU定すると、ウ
ェハ13上に形成される膜厚を均一化寸ることができる
。すなわち、この実施例の場合直i子約15cmのウェ
ハ13を載置すると、ウェハ13の端部と支持板12の
端部との距離Lが約1.5cmとなるので、支持板12
間のピッチPは、2cm以上とすることが好ましい。な
お、このような場合、ウェハボート11の多数の溝11
cへ支持板12を仲人する位置を変えることによって、
支持板12間のピッチPを所望の距離にB2定する。
2の両面または片面にそれぞれ「ウェハ13が・載置さ
れ、半導体装置 このとき、例えばCVD装置によってウェハ13上にリ
ンドープポリシリコン等の不純物をドーピングす≧膜や
tリブアン等の膜を形成する場合は、一般に膜厚を均一
化することが困難であるか、第2図に5示すように、支
持板12間のピッチPがウェハ13の端部と支持板12
の端部との距離Lに対して、 P≧3/L なる関係を満たすようにPおよびLをWU定すると、ウ
ェハ13上に形成される膜厚を均一化寸ることができる
。すなわち、この実施例の場合直i子約15cmのウェ
ハ13を載置すると、ウェハ13の端部と支持板12の
端部との距離Lが約1.5cmとなるので、支持板12
間のピッチPは、2cm以上とすることが好ましい。な
お、このような場合、ウェハボート11の多数の溝11
cへ支持板12を仲人する位置を変えることによって、
支持板12間のピッチPを所望の距離にB2定する。
ずなわら、この実施例のウェハ1ノレプタでは、支持板
12を石英からなる中空の環状板により構成したので、
ウェハサセプタの重量を従来に比べて大幅に軽量化する
ことができ、CvD装置等の処理室内へロード、アンロ
ードする際にも自動装置等を用いてソフトランディング
によりロード、アンロードすることができる。
12を石英からなる中空の環状板により構成したので、
ウェハサセプタの重量を従来に比べて大幅に軽量化する
ことができ、CvD装置等の処理室内へロード、アンロ
ードする際にも自動装置等を用いてソフトランディング
によりロード、アンロードすることができる。
なお、この実施例では支持板12を中央部に円形の透孔
12aを有する環状の石英板により構成したが、本発明
は係る実施例に限定されるものではなく、石英と同様に
発塵やガスの発生が少なく化学的に安定な物質であれば
どのようなものを用いても良く、透孔12aの形状は例
えば第3図に示すように円形ではなく正方形等の形状と
された透孔21aを有する支持板21、第4図に示すよ
うに、複数の透孔22aを有する支持板22等、どのよ
うな形状としても良いことはもちろんである。
12aを有する環状の石英板により構成したが、本発明
は係る実施例に限定されるものではなく、石英と同様に
発塵やガスの発生が少なく化学的に安定な物質であれば
どのようなものを用いても良く、透孔12aの形状は例
えば第3図に示すように円形ではなく正方形等の形状と
された透孔21aを有する支持板21、第4図に示すよ
うに、複数の透孔22aを有する支持板22等、どのよ
うな形状としても良いことはもちろんである。
[発明の効果]
上述のように本発明のウェハ4ノ−セプタでは、従来に
比べて大幅に軽量化することができ、白!!J 装置等
によるソフトランディングにより半導体製造装置の処理
室内へロード、アンロードを行なうことができる。
比べて大幅に軽量化することができ、白!!J 装置等
によるソフトランディングにより半導体製造装置の処理
室内へロード、アンロードを行なうことができる。
第1図は本発明の一実施例のウェハサセプタの要部を示
す斜視図、第2図は第1図の側面図、第3図および第4
図は第1図に示すウェハサセプタの変形例の要部を示す
正面図、第5図は従来のウエハリ−セブタを示す斜視図
である。 11・・・ウェハボート、12・・・支持板、12a・
・・透孔、13・・・ウェハ、14・・・爪。 出願人 東京エレクトロン株式会社代理人 弁理
士 須 山 佐 − 第1図 第3図 第4図 第5図 3、補正をする者 事件との関係・特RfF出願人 東京都新宿区西新宿1丁目26番2号 東京エレクトロン株式会社 4、代理人 〒101 東京都千代田区神田多町2丁目1番地 (2)明11I出第1頁第10行の「細な説明」を侍許
晶求の範囲 (1)支持仮に夫々平行に多数のウェハを夫々離間保持
する如く支持板を設けたウェハ1ナセプタにおいて、前
記支持板を、1または複数の前記ウェハより小径な透孔
を有する板状体により構成したことを特徴とするウエハ
リセプタ。
す斜視図、第2図は第1図の側面図、第3図および第4
図は第1図に示すウェハサセプタの変形例の要部を示す
正面図、第5図は従来のウエハリ−セブタを示す斜視図
である。 11・・・ウェハボート、12・・・支持板、12a・
・・透孔、13・・・ウェハ、14・・・爪。 出願人 東京エレクトロン株式会社代理人 弁理
士 須 山 佐 − 第1図 第3図 第4図 第5図 3、補正をする者 事件との関係・特RfF出願人 東京都新宿区西新宿1丁目26番2号 東京エレクトロン株式会社 4、代理人 〒101 東京都千代田区神田多町2丁目1番地 (2)明11I出第1頁第10行の「細な説明」を侍許
晶求の範囲 (1)支持仮に夫々平行に多数のウェハを夫々離間保持
する如く支持板を設けたウェハ1ナセプタにおいて、前
記支持板を、1または複数の前記ウェハより小径な透孔
を有する板状体により構成したことを特徴とするウエハ
リセプタ。
Claims (1)
- (1)支持板に夫々平行に多数のウェハを夫々距間保持
する如く支持板を設けたウェハサセプタにおいて、前記
支持板を、1または複数の前記ウェハより小径な透孔を
有する板状体により構成したことを特徴とするウェハサ
セプタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61193394A JPH0191415A (ja) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | ウエハサセプタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61193394A JPH0191415A (ja) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | ウエハサセプタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0191415A true JPH0191415A (ja) | 1989-04-11 |
Family
ID=16307213
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61193394A Pending JPH0191415A (ja) | 1986-08-19 | 1986-08-19 | ウエハサセプタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0191415A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5743967A (en) * | 1995-07-13 | 1998-04-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co. | Low pressure CVD apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61201695A (ja) * | 1985-03-05 | 1986-09-06 | Nec Corp | 気相成長装置 |
-
1986
- 1986-08-19 JP JP61193394A patent/JPH0191415A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61201695A (ja) * | 1985-03-05 | 1986-09-06 | Nec Corp | 気相成長装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5743967A (en) * | 1995-07-13 | 1998-04-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co. | Low pressure CVD apparatus |
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