JPH0196382A - Bi3Fe5O12薄膜製造用ターゲット及びその製造方法 - Google Patents
Bi3Fe5O12薄膜製造用ターゲット及びその製造方法Info
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- JPH0196382A JPH0196382A JP25306387A JP25306387A JPH0196382A JP H0196382 A JPH0196382 A JP H0196382A JP 25306387 A JP25306387 A JP 25306387A JP 25306387 A JP25306387 A JP 25306387A JP H0196382 A JPH0196382 A JP H0196382A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Materials Engineering (AREA)
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- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、磁気光学効果の大きい強磁性化合物の薄膜製
造に用いられるターゲットの製造方法に関する。
造に用いられるターゲットの製造方法に関する。
[従来の技術J
近年、情報の処理、貯蔵、伝達の高性能化、高密度化、
高信頼化のため、光技術の重要性が増しつつあり、光技
術開発の一環として、磁気光学新材料の研究開発が行な
われている。磁気光学材料は磁気光学素子や、光熱磁気
記録の媒体に用いられるものであり、前者では、高性能
化とともに、光集積回路に組みこむために集積化技術と
め整合性のよい薄膜形成法の開発が重要となっている。
高信頼化のため、光技術の重要性が増しつつあり、光技
術開発の一環として、磁気光学新材料の研究開発が行な
われている。磁気光学材料は磁気光学素子や、光熱磁気
記録の媒体に用いられるものであり、前者では、高性能
化とともに、光集積回路に組みこむために集積化技術と
め整合性のよい薄膜形成法の開発が重要となっている。
光集積回路では、光部品の端面や光線路の曲部での反射
により、戻り光が発生する。戻り光は光源であるレーザ
ーの発振を不安定に、する。磁気光学効果を利用して、
一方向にだけ光を通す光アイソレーターは、戻り光をカ
ットする重要な光回路。
により、戻り光が発生する。戻り光は光源であるレーザ
ーの発振を不安定に、する。磁気光学効果を利用して、
一方向にだけ光を通す光アイソレーターは、戻り光をカ
ットする重要な光回路。
部品である。さらに、入出力光を分離するサーキュレー
タ−9光回路を切り換える光スィッチ、光の方向を一定
の角度範囲で掃引する光偏向器などは、磁気光学効果を
利用して実現できる。
タ−9光回路を切り換える光スィッチ、光の方向を一定
の角度範囲で掃引する光偏向器などは、磁気光学効果を
利用して実現できる。
磁気光学材料としては、素子長を小さくするために、使
用する光の波長帯域でファラデー回転(θ1;単位は度
/cm)などの磁気光学効果が大きく、また、挿入損失
の点から光吸収係数(α;単位は1/cm)が小さいこ
とが大切である。磁気光学性能指数は、単位吸収当りの
ファラデー回転角(θF/α;単位は度)で定義される
。
用する光の波長帯域でファラデー回転(θ1;単位は度
/cm)などの磁気光学効果が大きく、また、挿入損失
の点から光吸収係数(α;単位は1/cm)が小さいこ
とが大切である。磁気光学性能指数は、単位吸収当りの
ファラデー回転角(θF/α;単位は度)で定義される
。
現在、実用化されている材料は、希土類鉄ガーネット(
R3Fe50+2; Rは希土類金属元素およびイツト
リウムを表わす)系だけである。現在知られている材料
の中で、室温で磁気光学性能指数が高く、光学的に等方
性という条件を、一応満足しているのは、YIG(Y3
Fe5O12)に代表される鉄ガーネットである。YI
Gの波長633nmにおけるθ、は÷835度/cm、
aは7001/cmであり、磁気光学性能指数は1.2
度である。素子化するには、偏光面が45度回転すれば
よいから、必要な光路長は、約500μmである。しか
し、光集積回路の構成要素として扱うには、光路長をも
う2桁程短縮することが必要となる。そのためにはθ「
が2桁程大きい材料の開発が必要である。R3Fe50
+2のRをBiで置換した結晶は、高いθ、をもつ材料
として注目される。
R3Fe50+2; Rは希土類金属元素およびイツト
リウムを表わす)系だけである。現在知られている材料
の中で、室温で磁気光学性能指数が高く、光学的に等方
性という条件を、一応満足しているのは、YIG(Y3
Fe5O12)に代表される鉄ガーネットである。YI
Gの波長633nmにおけるθ、は÷835度/cm、
aは7001/cmであり、磁気光学性能指数は1.2
度である。素子化するには、偏光面が45度回転すれば
よいから、必要な光路長は、約500μmである。しか
し、光集積回路の構成要素として扱うには、光路長をも
う2桁程短縮することが必要となる。そのためにはθ「
が2桁程大きい材料の開発が必要である。R3Fe50
+2のRをBiで置換した結晶は、高いθ、をもつ材料
として注目される。
薄膜を製造する方法であるイオンビームスパッタ堆積(
IBS) は本質的に非熱平衡的過程である。
IBS) は本質的に非熱平衡的過程である。
スパッタされた粒子は、数eV付近にエネルギー分布の
ピークをもつ。この壬ネルギーは堆積に適しており、エ
ツチングはほとんど起こらない。このエネルギーを熱エ
ネルギーに換算すると数万度におけるエネルギーに相当
し、堆積粒子の表面拡散や結晶化反応を促進する。その
結果、膜の密度。
ピークをもつ。この壬ネルギーは堆積に適しており、エ
ツチングはほとんど起こらない。このエネルギーを熱エ
ネルギーに換算すると数万度におけるエネルギーに相当
し、堆積粒子の表面拡散や結晶化反応を促進する。その
結果、膜の密度。
平滑度、付着力の向上および結晶化温度の低温化が期待
できる。
できる。
IBS法は、ArやN2などの不活性ガスイオンビーム
を、基板上に堆積しようとする物質の組成元素を含むタ
ーゲットに照射し、ターゲットからスパッタされた物質
を基板上に堆積させる方法である。酸化物膜を形成する
には、雰囲気ガスあるいはイオンとして酸素を供給し、
堆積物と反応させる。
を、基板上に堆積しようとする物質の組成元素を含むタ
ーゲットに照射し、ターゲットからスパッタされた物質
を基板上に堆積させる方法である。酸化物膜を形成する
には、雰囲気ガスあるいはイオンとして酸素を供給し、
堆積物と反応させる。
IBS法で堆積する膜の組成は、膜組成原子のスパッタ
収率およびそれらの基板への付着率によって決定される
。スパッタ収率も付着率もともに原子の種類に依存する
。
収率およびそれらの基板への付着率によって決定される
。スパッタ収率も付着率もともに原子の種類に依存する
。
一般に、堆積膜とターゲットとでは組成比が異なる。所
望の組成比をもち、膜厚と組成とが均質である膜を得る
ためには、スパッタされた粒子のビームの、■組成比を
最適化し、■組成比および強度を空間的にも時間的にも
均一化しなければならない。IBSは1O−5Torr
台の高真空中で実施されるため、ターゲットと基板との
距離が10〜20cm程度では、ビーム内での原子間衝
突による均質化は期待できない。従って、上述の■の条
件は、スパッタされた時点でのビームの均質化が必要で
あることを要請する。
望の組成比をもち、膜厚と組成とが均質である膜を得る
ためには、スパッタされた粒子のビームの、■組成比を
最適化し、■組成比および強度を空間的にも時間的にも
均一化しなければならない。IBSは1O−5Torr
台の高真空中で実施されるため、ターゲットと基板との
距離が10〜20cm程度では、ビーム内での原子間衝
突による均質化は期待できない。従って、上述の■の条
件は、スパッタされた時点でのビームの均質化が必要で
あることを要請する。
[発明が解決しようとする問題点]
このようなビームを得るためには、ターゲットの組成比
の最適化とターゲットの組成および構造の微視的均質化
をはからねばならない。しかしながら、このようなター
ゲットは、組成金属元素単体の混合配置もしくは合金化
では実現が困難であるという問題点があった。
の最適化とターゲットの組成および構造の微視的均質化
をはからねばならない。しかしながら、このようなター
ゲットは、組成金属元素単体の混合配置もしくは合金化
では実現が困難であるという問題点があった。
本発明の目的は、上述の問題点を解決し、磁気光学効果
の大きい強磁性化合物の薄膜製造に用いられるスパッタ
用ターゲットの製造方法を提供することにある。
の大きい強磁性化合物の薄膜製造に用いられるスパッタ
用ターゲットの製造方法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
このような目的を達成するために、本発明は、11i酸
化物およびFe酸化物の混合粉末を温度800〜840
℃で焼結する工程と、銀ペーストを用いて焼結体を銅板
に接着する工程とを含むことを特徴とする。
化物およびFe酸化物の混合粉末を温度800〜840
℃で焼結する工程と、銀ペーストを用いて焼結体を銅板
に接着する工程とを含むことを特徴とする。
[作 用]
本発明においては、目的とする薄膜の組成金属元素の酸
化物の混合微粉末を低温で焼結し、かつ、この焼結体、
を銀ペーストを用いて銅板に接着するようにしたので、
組成および構造が微視的に均質化されたスパッタ用のタ
ーゲットを得ることができる。
化物の混合微粉末を低温で焼結し、かつ、この焼結体、
を銀ペーストを用いて銅板に接着するようにしたので、
組成および構造が微視的に均質化されたスパッタ用のタ
ーゲットを得ることができる。
[実施例]
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図はターゲット製造工程のフローチャートである。
ターゲットは、目的とする薄膜の組成金属元素酸化物の
混合微粉末を低温で焼結することによって得られる。B
13FesO+□薄膜を製造するのに用いられるターゲ
ットの製造工程■〜■を第1図に沿って説明する。
混合微粉末を低温で焼結することによって得られる。B
13FesO+□薄膜を製造するのに用いられるターゲ
ットの製造工程■〜■を第1図に沿って説明する。
■ 純度99.999%のBi2O*とa−Fe203
の粉末をそれぞれ秤量し、これらを混合する。
の粉末をそれぞれ秤量し、これらを混合する。
■ 混合物を600kg/cm2以上の圧力で円板状に
圧縮成形する。
圧縮成形する。
■ 圧縮成形物を常圧大気中で温度800〜840℃で
6時間焼成する。
6時間焼成する。
■ この焼成物をできる限り粉砕して微粉末とする。
■ 工程■および■を繰り返す。
■ 工程■で得られた焼結体を平行平板に加工して、純
度99.99%の無酸素銅板に銀ペーストで接着する。
度99.99%の無酸素銅板に銀ペーストで接着する。
工程■はセラミック組織の微細化と均質化をはかるため
の工程である。
の工程である。
工程■はイオン照射によりターゲットに供給されるエネ
ルギーが熱に変り、ターゲット温度が上3昇することを
防ぐための熱放散対策として不可欠である。
ルギーが熱に変り、ターゲット温度が上3昇することを
防ぐための熱放散対策として不可欠である。
焼成温度を800〜840℃に選んだ理由は、できる限
り高密度で、均質な微細構造をもつ焼結体がこの温度範
囲で得られるからである。この温度よりも高温ではBi
、O5とFe、03との多様の比率の化合物の粗大な結
晶粒が成長し、このため空間的な均質化が困難になる。
り高密度で、均質な微細構造をもつ焼結体がこの温度範
囲で得られるからである。この温度よりも高温ではBi
、O5とFe、03との多様の比率の化合物の粗大な結
晶粒が成長し、このため空間的な均質化が困難になる。
また、この温度よりも低温では焼結が進行せず、このた
め低密度の焼結体しか得られない。
め低密度の焼結体しか得られない。
なお、IBS法で薄膜を製造する際に堆積膜でガーネッ
ト層が得られるターゲットの組成範囲は、Bi2O3/
Fe2O,(モル単位)が375〜3.574.5であ
った。また、本実施例においてはBi2O3とα−Fe
203とを用いたが、所定のBi/Fe比が実現できる
ものであれば、これに限るものではない。
ト層が得られるターゲットの組成範囲は、Bi2O3/
Fe2O,(モル単位)が375〜3.574.5であ
った。また、本実施例においてはBi2O3とα−Fe
203とを用いたが、所定のBi/Fe比が実現できる
ものであれば、これに限るものではない。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明においては、目的とする薄
膜の組成金属元素の酸化物の混合微粉末を低温で焼結し
、かつ、この焼結体を銀ペーストを用いて銅板に接着す
るようにしたので、組成および構造が微視的に均質化さ
れたスパッタ用のターゲットを得ることができる。
膜の組成金属元素の酸化物の混合微粉末を低温で焼結し
、かつ、この焼結体を銀ペーストを用いて銅板に接着す
るようにしたので、組成および構造が微視的に均質化さ
れたスパッタ用のターゲットを得ることができる。
第i図はターゲット製造工程のフローチャートである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)Bi酸化物およびFe酸化物の混合粉末を温度80
0〜840℃で焼結する工程と、銀ペーストを用いて該
焼結体を銅板に接着する工程と を含むことを特徴とするBi_3Fe_5O_1_2薄
膜製造用のターゲットの製造方法。 2)前記Bi酸化物およびFe酸化物はBi_2O_3
およびα−Fe_2O_3であってモル比が3:5〜3
.5:4.5であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載のターゲットの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25306387A JPH0196382A (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | Bi3Fe5O12薄膜製造用ターゲット及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25306387A JPH0196382A (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | Bi3Fe5O12薄膜製造用ターゲット及びその製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0196382A true JPH0196382A (ja) | 1989-04-14 |
| JPH0242899B2 JPH0242899B2 (ja) | 1990-09-26 |
Family
ID=17245976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25306387A Granted JPH0196382A (ja) | 1987-10-07 | 1987-10-07 | Bi3Fe5O12薄膜製造用ターゲット及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0196382A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58164780A (ja) * | 1982-03-23 | 1983-09-29 | Hitachi Metals Ltd | スパツタ用タ−ゲツトの作成方法 |
-
1987
- 1987-10-07 JP JP25306387A patent/JPH0196382A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58164780A (ja) * | 1982-03-23 | 1983-09-29 | Hitachi Metals Ltd | スパツタ用タ−ゲツトの作成方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0242899B2 (ja) | 1990-09-26 |
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